устройство для калибровки магнитных дефектоскопов

Классы МПК:G01N27/82 обнаружение локальных дефектов 
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Могилевский машиностроительный институт (BY)
Приоритеты:
подача заявки:
1992-06-16
публикация патента:

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Технический результат изобретения повышение достоверности калибровки магнитных дефектоскопов. Это достигается тем, что в устройстве для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащем контрольный образец без дефекта, закрепленные на нем имитаторы дефекта и сварного шва, два источника тока, подключенные соответственно к имитаторам, имитатор сварного шва выполнен в виде полого цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усиления имитируемого шва, и стрелой, равной высоте его усиления, толщина стенки сегмента 0,5 1 мм, а имитатор дефекта выполнен в виде проводника и расположен в полости цилиндрического сегмента. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КАЛИБРОВКИ МАГНИТНЫХ ДЕФЕКТОСКОПОВ, содержащее контрольный образец без дефекта, закрепленные на нем имитаторы дефекта и сварного шва и два источника тока, подключенные соответственно к имитаторам, отличающееся тем, что имитатор сварного шва выполнен в виде полого цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усиления имитируемого шва, и стрелой, равной высоте его усиления, толщина стенки сегмента 0,5 1 мм, а имитатор дефекта выполнен в виде проводника и расположен в полости цилиндрического сегмента.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов.

Известно устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащее контрольный образец без дефекта, закрепленный на нем имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины и источник тока, подключенный к имитатору дефекта (авт.св. СССР N 911305, кл. G 01 N 27/82, 1982).

Недостаток устройства заключается в низкой достоверности калибровки дефектоскопов, предназначенных для контроля сварных соединений, так как устройство не моделирует поле валика усиления шва.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату является устройство для калибровки магнитных дефектоскопов, которое содержит бездефектный контрольный образец, закрепленный на нем имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, подключенной к первому источнику тока, размещенный между имитатором дефекта и контрольным образцом имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины, ширина которой больше ширины имитатора дефекта, подключенной к второму источнику тока (авт.св. СССР N 1589190, кл. G 01 N 27/82, 1990).

Недостаток этого устройства заключается в низкой достоверности калибровки при имитации дефектов, расположенных в усилении сварного шва (невозможно разместить имитатор дефекта в имитаторе шва).

Задачей предлагаемого изобретения является повышение достоверности калибровки магнитных дефектоскопов.

Для этого в устройстве для калибровки магнитных дефектоскопов, содержащем контрольный образец без дефекта, закрепленные нем имитаторы дефекта и сварного шва, два источника тока, подключенные соответственно к имитаторам, имитатор сварного шва выполнен в виде полого цилиндрического сегмента с хордой, равной ширине усиления имитируемого шва, и стрелой, равной высоте его усиления, толщина стенки сегмента 0,1-1 мм, а имитатор дефекта выполнен в виде проводника и расположен в полости цилиндрического сегмента.

На чертеже представлено устройство для калибровки, поперечное сечение.

Устройство состоит из бездефектного образца 1, имитатора 2 дефекта и имитатора 3 сварного шва. Источник питания не показаны.

П р и м е р. Калибруют магнитографический дефектоскоп МД-11Г для контроля сварного соединения с толщиной основного металла 10 мм со следующими размерами усиления шва: ширина 22 мм, высота 2 мм. Необходимо откалибровать дефектоскоп на выявление дефектов в усилении сварного шва.

Толщина бездефектного образца 10 мм. Имитатор шва представляет собой в поперечном сечении полый цилиндрический сегмент с толщиной стенки 0,5 мм, хордой 22 мм и стрелой 2 мм. Имитатор дефекта провод диаметром 0,8 мм. Имитатор шва укладывают на бездефектный образец, между ними размещают имитатор дефекта. На имитаторе шва размещают ленту И-4701.

Образец намагничивают полем 300 А/см, а по имитаторам шва и дефекта пропускают ток силой 350 и 55 А соответственно. Считывают магнитограмму с ленты и калибруют дефектоскоп.

Класс G01N27/82 обнаружение локальных дефектов 

устройство для диагностики технического состояния металлических трубопроводов -  патент 2525462 (20.08.2014)
способ оперативного обнаружения дефектов и механических напряжений в протяженных конструкциях -  патент 2521753 (10.07.2014)
способ диагностики рельсового пути -  патент 2521095 (27.06.2014)
способ и устройство диагностики технического состояния подземного трубопровода -  патент 2510500 (27.03.2014)
промышленный металлодетектор для конвейерных линий -  патент 2509305 (10.03.2014)
способ дистанционной магнитометрии для диагностики трубопроводов и устройство для его осуществления -  патент 2506581 (10.02.2014)
инструмент для обнаружения отверстий и онлайновой интерпретации данных -  патент 2505805 (27.01.2014)
способ и устройство диагностики технического состояния подземных трубопроводов -  патент 2504763 (20.01.2014)
способ и устройство бесконтактной внетрубной диагностики подземных трубопроводов -  патент 2504762 (20.01.2014)
способ контроля колесных пар железнодорожного транспорта -  патент 2493992 (27.09.2013)
Наверх