способ отбора прохождения двух частиц через детектор

Классы МПК:G01T1/38 распознавание элементарных частиц и измерение их относительных масс, например измерением потерь энергии в зависимости от расстояния dE/dx)
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Институт физики высоких энергий
Приоритеты:
подача заявки:
1992-06-05
публикация патента:

Сущность изобретения: в способе отбора прохождения двух частиц через детектор в N пропорциональных камерах сигнальные проволоки объединяют (в каждой камере). Сигнал с каждой камеры подают на усилитель-формирователь. Напряжение на высоковольтных электродах камер устанавливают таким пониженным, что суммарная эффективность регистрации одиночной частицы и двух частиц отличались на заданную величину. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

СПОСОБ ОТБОРА ПРОХОЖДЕНИЯ ДВУХ ЧАСТИЦ ЧЕРЕЗ ДЕТЕКТОР по ионизационным потерям, отличающийся тем, что в N пропорциональных камерах устанавливают пониженное давление, соответствующее эффективности регистрации частицы в одном зазоре способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262, меньше единицы, сигналы с проволок в каждой камере объединяют в одну группу, усиливают и формируют в стандартный сигнал и подают на вход регистра, с выхода которого отбирают событие с числом сработавших камер не менее способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262, где

способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к физике высоких энергий и может быть использовано везде, где нужно отбирать случаи прохождения через детектор двух частиц.

Известны способы отбора событий прохождения двух частиц через детектор по числу сработавших сцинтилляторов сцинтилляционного годоскопа [1]

Однако из-за конечной вероятности одной частице пройти одновременно через два соседних сцинтиллятора отбор двух частиц находится на низком уровне (не лучше 90%). Кроме того, этот способ предполагает достаточно большое пространственное разделение частиц равное ширине сцинтилляционных пластин.

Наиболее близким к изобретению является способ отбора событий прохождения двух частиц через детектор по ионизационным потерям в сцинтилляционном счетчике [2]

Однако из-за распределения Ландау амплитуд сигналов отбор двух частиц находится на низком уровне (не лучше 70%).

Сущность изобретения заключается в том, что в N пропорциональных камерах устанавливается пониженное напряжение, соответствующее эффективности регистрации частицы в одной камере способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 меньше единицы, сигналы с проволок в каждой камере объединяются в одну группу, усиливаются и формируются в стандартный сигнал и подаются на вход регистра, с выхода которого отбираются события с числом сработавших камер большим или равным Х, где

X способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 а эффективность регистрации одиночной частицы S связана с числом пропорциональных камер N следующим соотношением:

S способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 где n2 N(2 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 20592622).

Предлагаемый способ не имеет ограничения на коэффициент отбора частиц и определяется только числом пропорциональных камер. Для иллюстрации возможности предлагаемого способа положим способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 0,3 и N 100. Тогда, как легко вычислить, S 0,05. Кроме того, здесь нет ограничения и на пространственное положение траекторий частиц.

На фиг.1 показано устройство для реализации предлагаемого способа.

Устройство состоит из пропорциональных камер 1, усилителей-формирователей 2 и регистра 3. В пропорциональных камерах 1 в каждой камере сигналы с проволок объединяются в одну группу, усиливаются и формируются усилителем-формирователем 2 и поступают на вход регистра 3. Напряжение на высоковольтных электродах пропорциональных камер 1 устанавливается таким образом, чтобы эффективность регистрации способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 одиночной частицы одной пропорциональной камерой была менее 100% Тогда при прохождении через одну камеру двух частиц одновременно эффективность регистрации будет равна 1 Р(0), где Р(0) вероятность того, что камера не сработает ни от одной из двух частиц. Поскольку вероятность того, что камера не сработает от одной частицы равна 1 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262, а вероятность не срабатывания камеры от двух частиц равна квадрату этой величины, т.е.

Р(0) (1 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262)2, то окончательно имеем:

1 Р(0) 1 (1 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262)2 2 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 20592622.

Для N пропорциональных камер распределение числа сработавших камер подчиняется биномиальному распределению, а среднее число сработавших камер (для биноминального распределения средняя величина равна произведению числа возможных вариантов (в данном случае N) на вероятность одиночного события) для 1 и 2 частиц равно соответственно:

n1 N способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262

n N(2 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 20592622).

При больших значениях N (N способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 205926210) биноминальное распределение хорошо аппроксимируется распределением Пуассона. Тогда распределение срабатываний N камер для 1 и 2 частиц можно записать в виде

P(n1,N) способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262

P(n2,N) способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262

На фиг.2 показан пример таких распределений со средними значениями n1 и n2. Коэффициентом разделения событий с 1 и 2 частицами можно считать отношение заштрихованной части распределения (где невозможно определить, связано ли срабатывание с прохождением 1 частицы или 2) к полному распределению, площадь которого по определению равна 1. Точка пересечения распределений nx определяется из условия P(n1,N) P(n2,N):

способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262

Отсюда находим:

nx= способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262

Подставляя значения n1 и n2, имеем:

x nx= способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262

Таким образом, если отбирать события с числом сработавших камер большим или равным х, то коэффициент разделения частиц (площадь заштрихованной части распределения)

S способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262 способ отбора прохождения двух частиц через детектор, патент № 2059262

Класс G01T1/38 распознавание элементарных частиц и измерение их относительных масс, например измерением потерь энергии в зависимости от расстояния dE/dx)

устройство регистрации микрометеороидов и частиц космического мусора -  патент 2476908 (27.02.2013)
способ определения параметров радиоактивного распада -  патент 2284045 (20.09.2006)
устройство для регистрации потоков нейтрино ультранизких энергий -  патент 2055372 (27.02.1996)
Наверх