триангуляционный способ измерения отклонения объекта
Классы МПК: | G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения |
Автор(ы): | Рейнганд Н.О., Тихомиров Г.И. |
Патентообладатель(и): | Институт проблем машиноведения РАН |
Приоритеты: |
подача заявки:
1991-04-08 публикация патента:
20.05.1996 |
Использование: измерительная техника для неразрушающего контроля изделий, в частности способы измерения отклонений объекта. Сущность изобретения: с целью повышения точности измерения за счет исключения погрешности измерения, связанной с изменением формы освещенного пятна при переходе от одной точки исследуемого объекта к другой, исследуемый объект освещают узким световым пучком, рассеянный свет наблюдают по разным направлениям, вычисляют расстояние между центрами полученных изображений, производят отклонение исследуемого объекта, а искомую величину этого отклонения определяют по изменению этого расстояния. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3
Формула изобретения
Триангуляционный способ измерений отклонения объекта, заключающийся в том, что освещают исследуемую точку объекта узким световым пучком, фокусируют рассеянный объектом пучок в плоскость экрана и определяют величину отклонения по смещению центра изображения точки с учетом средневзвешенного значения координаты пятна, отличающийся тем, что рассеянный свет наблюдают по разным направлениям, а величину отклонения определяют по изменению расстояния между центрами изображений, полученных в результате этого наблюдения.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении, приборостроении, оптической промышленности при разработке систем неразрушающего контроля отклонений объектов. Наиболее близким техническим решением является триангуляционный способ измерений отклонений объекта, заключающийся в том, что освещают исследуемую точку объекта узким световым пучком, пропускают рассеянный объектом пучок в плоскость экрана и определяют величину отклонения по смещению центра изображения точки с учетом средневзвешенного значения координаты пятна. Недостатком известного устройства является невысокая точность определения внешних смещений центра полученного изображения вследствие того, что помимо его смещения, связанного с отклонением исследуемой точки объекта, происходит еще дополнительное случайное смещение, связанное с изменением формы самого освещенного пятна (например, вследствие перепада рельефа или попадания в область пятна мельчайших песчинок, капель масла и пр.). Целью изобретения является повышение точности измерений отклонений объекта. На фиг. 1 представлено изображение, наблюдаемое в плоскости экрана при проведении измерений по предлагаемому способу; на фиг. 2 схема экспериментальной установки; на фиг. 3 принципиальная оптическая схема. На фиг. 1 использованы следующие обозначения: 2x1" расстояние между центрами изображений A1 и A2, полученными до отклонения объекта; 2x1 расстояние между центрами изображений A1" и A2" после отклонения объекта. Искомое отклонение исследуемой точки определяют, исходя из величины x1"-x1 и геометрических параметров установки. Измерительная система, реализующая способ (фиг. 2), состоит из лазера 1 (ЛГ-52-1), оптической системы 2 фокусировки луча (использование этой оптической системы не обязательно), объекта 3 исследования (3" и 3"" до и после отклонения), поворотных зеркал 4 или других оптических элементов для совмещения двух изображений исследуемого объекта в плоскости экрана одной оптической системы (использование одной оптической системы для наблюдения удобно, но не обязательно), оптической системы 5 наблюдения и плоскости экрана 6. Способ измерения заключается в следующем. Настраивают оптическую систему таким образом, что на экране 6 получают два изображения исходной точки. Точная формулировка оптической системы не требуется. Необходимо лишь получить оба изображения в поле зрения объектива. Некоторая размытость изображения будет только способствовать более точному определению его весового центра. Затем определяют расстояние между центрами полученных изображений. Эта величина и есть 2x1". Затем производят отклонение объекта. Вновь измеряют расстояние между полученными изображениями 2x1. Таким образом в ходе процесса определяют лишь два параметра x1 и x1". Искомой величиной отклонения является расстояние вдоль оптической оси между точками В и В", соответствующими двум положениям объекта до и после нагрузки. На фиг. 3 отсутствуют поворотные зеркала 4. Это объясняется тем, что важно не собственное наличие зеркал, а то, что они формируют мнимые изображения точек В и В". Этими мнимыми изображениями являются точки В, В2, В1" и В2". Средневзвешенное значение координаты каждого пятна определяют по формуле, и оно равняется (r1 + r2)/2 для левого пятна и (r3 + r4)/2 для правого соответственно. Отклонение объекта определяется расстоянием между центрами полученных изображений, равнымM= M(r4-r2)
Класс G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения