электронно-проекционный способ измерения формы и перемещений поверхности объекта

Классы МПК:G01B21/00 Приспособления или их детали к измерительным устройствам, не относящиеся к конкретному типу измерительных устройств, упомянутым в других группах данного подкласса
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Тюменский индустриальный институт
Приоритеты:
подача заявки:
1992-02-07
публикация патента:

Использование: в измерительной технике для измерения формы и перемещений поверхности объекта. Сущность изобретения: с целью повышения объективности контроля, сетку проектируют так, чтобы темная линия пересекала главную оптическую ось проектора, изображение сетки сканируют телекамерой так, чтобы главные оптические оси проектора и телекамеры пересекались в точке на поверхности объекта, параметры (координаты) полученного таким образом контрольного растра сравнивают в ЭВМ с заранее введенными в нее параметрами "мнимого растра". 1 з.п.ф-лы, 4 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4

Формула изобретения

1. Электронно-проекционный муаровый способ контроля формы и перемещений объекта, заключающийся в том, что на поверхность объекта проецируют со слайда изображение сетки, сканируют это изображение телевизионным преобразователем, видеосигналы полученного таким образом контрольного растра вводят в ЭВМ, в которую предварительно вводят "мнимый" растр, сравнивают его с введенным контрольным растром и по результатам сравнения определяют состояние формы поверхности объекта или ее перемещение, отличающийся тем, что положение главных оптических осей проектора и телевизионного преобразователя устанавливают согласно выражению:

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где i 0, 1, 2, 3, при

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570,

i 0, -1, -2, -3, при

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

fk, fg главные фокусные расстояния для объективов телекамеры и проектора;

K101 расстояние от оптического центра объектива проектора до "мнимого" растра;

C10" расстояние от оптического центра объектива телекамеры до точки пересечения главных оптических осей;

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i = 180электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570;

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i (i=0);

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i (i=0);

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 угол между главными оптическими осями;

K1C расстояние от "мнимого" растра до точки на исследуемой поверхности вдоль главной оптической оси проектора;

а шаг сетки на слайде в проекторе;

x1 расстояние от главной оптической оси телекамеры до проекции точки пересечения главной оптической оси проектора и "мнимого" растра на приемную плоскость телекамеры; "мнимый" растр плоскость, перпендикулярная к главной оптической оси проектора, располагаемая на задаваемом расстоянии до точки пересечения главной оптической оси проектора и поверхности объекта.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что форма поверхности объекта определяется с помощью ЭВМ как расстояние ее точек для двух соседних "мнимых" муаровых полос до контрольной плоскости согласно выражению:

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где а шаг линий сетки на слайде;

mg масштаб проекции сетки;

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655701,электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655702- углы освещения и наблюдения контрольной плоскости.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения формы и перемещений поверхности объекта.

Известны интерференционные способы [1] измерения поверхности, использующие интерферометры высокой точности измеряющие небольшую площадь поверхности.

Недостатками способов являются жесткие требования виброизоляции, ограничение верхнего предела измерений и малая площадь исследования. Известны методы голографической интерферометрии [2] использующие высокоразрешающие фоторегистрирующие средства. Известны муаровые методы (отражательной, теневой, проекционной) [3, 4, 5, 6] позволяющие исследовать топографию поверхности. Методы включают фотографический процесс. Обработка картин полос может быть выполнена и на устройствах типа микроденситометра [3] Известен способ преобразования муаровой картины в электрический сигнал [7] обработка которого позволяет преобразовать разность уровней измеряемой поверхности в электрический сигнал.

Наиболее близким техническим решением является муаровый метод [3] заключающийся в том, что на поверхность объекта проецируют со слайда изображение сетки. Затем это изображение сканируют телевизионным преобразователем. Полученные видеосигналы контрольного растра вводят в ЭВМ, причем предварительно вводят мнимый растp, сравнивают его с введенным контрольным растром. Затем по результатам сравнивая определяют состояние формы поверхности объекта или ее перемещение.

Однако известный способ получения измерения формы и перемещения поверхности объекта очень трудоемок и сложен для автоматизации процесса.

Для того, чтобы объективизировать контроль необходимо, чтобы положение главных оптических осей проектора и телевизионного преобразователя были установлены так, чтобы они пересекались в одной точке поверхности объекта, а ось проектора пересекала темную линию сетки.

Форма поверхности объекта определяется с помощью ЭВМ как расстояние двух соседних точек на "мнимых" муаровых полосах до контрольной плоскости.

Для описания предлагаемого способа приводятся фиг. 1, 2, 3, 4.

На фиг. 1 представлена структурная схема предлагаемого способа.

На фиг. 2 структурная схема системы регенерации и обработки муаровых картин.

На фиг. 3 оптическая схема способа.

На фиг. 4 схема определения углов освещения и наблюдения.

Структурная схема (фиг. 1) для реализации предлагаемого способа содержит: проектор 2 и телекамеру 3, устройство ввода и вывода видеоинформации 4, а также ЭВМ 5, видеоконтроллер 6, дисплей 7 и растр 8.

Предлагаемый метод реализуется следующим образом. На исследуемую поверхность 1 проектором 2 проецируется линейчатая сетка, состоящая из темных и светлых линий. Изображение сетки, содержащее информацию о геометрии поверхности воспринимается телекамерой 2. Проектор 2 и телекамера 3 установлены на площадке так, чтобы оптические центры О" и О" их объективов и точка С пересечения главных оптических осей находились в одной плоскости. Видеоинформация с телевизионной камеры 3 поступает в устройство ввода и вывода видеоинформации 4. На устройство ввода и вывода видеоинформации возложены функции кодирования, определения координат линий сетки и посылки их в память ЭВМ, вывод изображения муаровых полос на дисплей 7. В ЭВМ 5 вводится контрольная сетка в виде координат центров темных линий, которые являются функцией шага сетки на слайде в проекторе, расстояния от базовой плоскости К1C, угла между оптическими осями объектов электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570, масштаба изображения и порядкового номера линии сетки. Функциональное задание контрольной сетки соответствует расположению растра 8 (фиг. 1) в известном теневом муаровом методе [3]

Поэтому в дальнейшем базовую плоскость отсчета будем называть "мнимый" растр 8. Функция "мнимого" растра приведена к координатной системе, находящейся в приемной плоскости видикона телекамеры 3.

В ЭВМ производится формирование муаровой картины в виде координат центров муаровых полос. Определение центра муаровой полосы осуществляется путем сравнения координат изображения проекции сетки при построчном сканировании и контрольной ("мнимого" растра) на принципе теневого муарового метода [3] В теневом муаровом методе муаровая полоса образуется при совпадении середины темной линии растра и светлой его тени.

Юстировка оптической системы выполняется в следующей последовательности (см. фиг. 1). Линия О"О", соединяющая оптические центры объективов проектора и телекамеры с главной оптической осью (линия О"С) проектора составляет прямой угол. Телекамера располагается на вращающейся площадке с центром О". При измеренном расстоянии О"О" и угла b можно определить необходимые в дальнейшем расстояния О"C и О"C. Для обеспечения пересечения главных оптических осей проектора и телекамеры в точке С можно использовать лазер или диафрагмы с центральным отверстием на слайде для проектора и для объектива телекамеры. Пересечение осей определяется по светлому пятну на телемониторе. Слайд с линейчатой сеткой изготовляется так, чтобы через его центр проходила темная линия. Слайд с сеткой устанавливается в проектор так, чтобы центральную линию сетки пересекла главная оптическая ось.

Блоки 4, 5, 6, 7 фиг. 1 образуют систему регенерации и обработки муаровых картин. В состав блока 4 входит: а) драйвер телекамеры (9 фиг. 2), служащий для преобразования аналогового сигнала телекамеры в цифровой код и запись его в видеопамять блока 5 (фиг. 1); б) видеоконтроллер (10 фиг. 2), служащий для визуализации исходных и обработанных муаровых картин на видеомониторе 7 (фиг. 1), а также для отображения графической информации, полученной в результате расшифровки муаровых картин.

В состав блока 5 (фиг. 1) входит: а) микро ЭВМ МС 12012 (1 фиг. 2); б) алфавитно-цифровой видеотерминал (2 фиг. 2); в) накопитель на магнитном диске (4 фиг. 2); г) накопитель на гибком диске (5 фиг. 2); буферная видеопамять (8 фиг. 2).

Программное обеспечение выполняет следующие функции:

1. Ввод картины проецируемой сетки с исследуемого объекта в видеопамять.

2. Генерацию картины "мнимого" растра в видеопамяти по формулам (17).

3. Получение разностной муаровой картины из введенной проецируемой сетки и сгенерированного растра.

4. Визуализации на мониторе (7), полученной муаровой картины.

5. Выбор требуемого сечения и нумерация порядка муаровых полос, определение координат центров муаровых полос по сечению.

6. Построение функции W W(p,N,x) по формуле (19) с использованием сплайнинтерполяции, где p шаг растра, N номер полосы, х координаты центров муаровых полос.

Перейдем к выводу функции "мнимого" растра, засылаемой в память ЭВМ. С этой целью воспользуемся фиг. 3.

Примем следующее обозначение:

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570Oэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570COэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = 90электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570Oэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570Oэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570C. (1)

Определим расстояния:

Oэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570C = Oэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570Oэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570tgэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570, (2)

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

Базовая плоскость отсчета ("мнимый" растр) совмещена с координатной плоскостью ХY с началом координат в т. К1 пересечение главной оптической оси Z проектора и середины темной линии сетки, ось Y направлена от наблюдателя (см. фиг. 3). Координатная плоскость Х1Y1 совпадает с приемной плоскостью видикона телекамеры, ось Y1 направлена к наблюдателю, начало координат С2 на главной оптической оси (ось Z1).

Из треугольников СК1C1, C1О"L1 имеем:

K1C1 = K1Ctgэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570, (4)

CC1 = K1Csinэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570, (5)

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где С1О" О"C CC1. (7)

Из прямоугольного треугольника О"L1К1 следует

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

т.к. K1О" О"L1, K1L1 О"О".

Согласно теореме синусов из треугольника К2K1C1 имеем

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = 180электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 -электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570.

Изображение т. К1 (начало координат в системе ХY) в системе координат Х1Y1 определяется геометрическим законом оптики для объективов, т.е.

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где К3C1 по формуле (9);

mк масштаб изображения объективом телекамеры.

Масштаб изображения вычисляется по известной формуле

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

Здесь С1О" соответствует формулам (7) и (5), fк главное фокусное расстояние для объектива телекамеры.

Изображение точки М, находящейся в плоскости XY на середине темной линии слева от т. К1, в координатной системе X1Y1 соответствует т. М", а ее координата вдоль оси Х1 расстоянию С2M". Построим координатную плоскость Х2Y2 нормально к оси Z1 с началом координат в точке С1. Тогда координата

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

K1C1 по формуле (4),

p amg шаг "мнимого" растра;

а шаг линий сетки на слайде АВ (фиг. 3);

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 масштаб проекции сетки в плоскости "мнимого" растра;

fg -> главное фокусное расстояние для объектива телекамеры

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

ML1 О"О" + p,

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655701 = 180электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655701- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570.

После подстановки получим координату точки М" в координатной плоскости Х1Y1 получим

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

Для точки М на (фиг. 3 не показана), находящейся на соседней темной линии аналогично получим

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655702 = 180электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655702 - электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570.

Для любой i-й точки, находящейся на середине темной линии и положительно полуоси Х1, имеем

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где i 1, 2, 3,

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i = 180электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i - электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570.

Для координат изображений центров темных линий, находящихся между точками К1 и С1 в системе XY, выполняя аналогичные выкладки0 получим:

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i = 180электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i - электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

i 1, 2, 3 отсчет вправо от т. К1.

Обобщая результаты запишем функцию координат сетки, записываемой в память ЭВМ:

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 (16)

i 0, 1, 2, 3, при Х1 электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 C2K2,

i 0, -1, -2, -3, при Х1 электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 C2K2.

Преобразуем выражение (16), используя ранее полученные соотношения:

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

i 0, 1, 2, 3, при электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570,

i 0, -1, -2, -3, при электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

где электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570,

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i = 180электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i- электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570, электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i(i=0), электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570i(i=0),

K1О расстояние от оптического центра объектива проектора до "мнимого" растра, С1О" расстояние от оптического центра объектива телекамеры до точки пересечения главных оптических осей;

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570- угол между главными оптическими осями;

fg, fк главные фокусные расстояния для объективов проектора и телекамеры;

K1C расстояние от "мнимого" растра до точки на исследуемой поверхности вдоль главной оптической оси проектора;

а шаг сетки на слайде в проекторе.

Для образования муаровых полос производится построчное сканирование изображения проекции сетки на исследуемой поверхности в приемной плоскости видикона, т. е. в координатной плоскости Х1Y1 и через блок ввода и вывода видеоинформации координаты светлых линий засылаются в ЭВМ. В ЭВМ производится поиск точек, где выполняется условие:

X1pX1п (18)

Здесь Х1p определяется формулой (17), а Х1п координата светлой линии проекции сетки.

Изменение расстояния от базовой плоскости ("мнимого" растра) до исследуемой поверхности для двух соседних муаровых полос определяется также как и для теневого муарового метода [3]

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

a шаг линий сетки на слайде;

mg масштаб проекции в плоскости "мнимого" растра;

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655701, электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655702 углы освещения и наблюдения "мнимого" растра.

Углы электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655701, электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655702 определяются формулой из [8]

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570

Здесь (см. фиг. 4):

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = Oэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570K1 при электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655701,

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = Oэлектронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570C1 при электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655702,

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570o = 0 при электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655701,

электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570o = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 при электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 2065570 = электронно-проекционный способ измерения формы и   перемещений поверхности объекта, патент № 20655702.

Z1 оптическая ось телекамеры,

Z оптическая ось диапроектора,

X ось, лежащая в плоскости "мнимого" растра,

AB сетка на слайде в диапроекторе,

A1B1 проекция сетки на исследуемой поверхности,

A2B2 изображение проекции сетки на приемной поверхности видикона телекамеры,

X1 ось, лежащая в приемной плоскости видикона,

X2 ось, нормальная к оси Z1 и проходящая пересечение осей Х и Z1,

О точка на оси вращения площадки с диапроектором и телекамерой,

О" оптический центр объектива диапроектора,

О" оптический центр объектива телекамеры,

C точка пересечения осей Z и Z1 на исследуемой поверхности,

C1 точка пересечения осей Х и Z1,

M1 точка посередине темной линии на "мнимом" растре",

M2 изобретение точки М1 на приемной плоскости видикона,

K1 точка пересечения осей Х и Z,

K2 изображение точки К1 на приемной плоскости видикона,

C2 изображение точек С и С1 на приемной плоскости видикона,

D середина светлой полосы на проекции сетки на исследуемой поверхности,

D2 изображение точки D на приемной плоскости видикона,

О"L1 нормаль к оси Х.

1. Оптические приборы в машиностроении. Справочник. М. Машиностроение, 1974, 238 с.

2. Островский Ю.И. Бутусов М.М. Островская Г.В. Голографическая интерферометрия. М. Наука, 1977, 336 с.

3. Теокарис Т. Муаровые полосы при исследовании деформаций. М. Мир, 1972, 236 с.

4. Новицкий В. В. Андреева Е.Н. Исследование изгиба пластинок методом муаров. В кн, Расчет пространственных конструкций, вып. 9. М. Стройиздат, 1964, 201-242 с.

5. Новицкий В. В. Новые исследования по методу муаров. В кн. Расчет пространственных конструкций, вып. 11. М. Стройиздат, 1968, с. 13-30.

6. Денисов П.И. Некит В.А. Заикин А.В. и др. Авт.свид. N 623598. "Бюлл. Открытия, Изобретен, Пром. образцы, Тов. знаки". 1978, N 38, 18 c.

7. Заякин В.В. Кучерюк В.И. Гребенщикова М.А. Муравина В.М. Об определении прогибов методами голографии и муаровых полос. Киев: Проблемы прочности N 3, 1979, 70-73 c.

Класс G01B21/00 Приспособления или их детали к измерительным устройствам, не относящиеся к конкретному типу измерительных устройств, упомянутым в других группах данного подкласса

акустооптический способ измерения смещений -  патент 2523780 (20.07.2014)
адаптивный датчик идентификации и контроля положения изделий повышенной надежности -  патент 2522114 (10.07.2014)
адаптивный датчик идентификации и контроля положения нагретых неметаллических и ненагретых неметаллических изделий -  патент 2518977 (10.06.2014)
способ и устройство для измерения толщины отложений -  патент 2518017 (10.06.2014)
способ сбора и обработки информации о поверхности образца -  патент 2516022 (20.05.2014)
адаптивный датчик идентификации и контроля положения четырех видов изделий -  патент 2515046 (10.05.2014)
цифровой многокомпонентный датчик перемещений -  патент 2500986 (10.12.2013)
способ контроля линейных и угловых отклонений от вертикального направления для дистанционного мониторинга антенно-мачтовых сооружений -  патент 2477454 (10.03.2013)
оптическая система для определения пространственного положения магистрального трубопровода -  патент 2476822 (27.02.2013)
устройство идентификации и контроля положения изделий -  патент 2473045 (20.01.2013)
Наверх