спектрометр заряженных частиц

Классы МПК:H01J49/48 с использованием электростатических анализаторов, например цилиндрических секторов, фильтров Вьена
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):Санкт-Петербургский государственный технический университет
Приоритеты:
подача заявки:
1994-07-06
публикация патента:

Назначение: электронная и ионная спектроскопия поверхности твердых тел или газов. Сущность изобретения: спектрометр состоит из осесимметричного энергоанализатора типа "электростатического зеркала" с осью симметрии Z, плоского позиционно-чувствительного детектора (ПЧД), расположенного перпендикулярно оси Z, и образца, центр области эмиссии которого находится на оси Z. Полезадающие электроды имеют вид двух электрически изолированных друг от друга соосных круговых конических поверхностей с общей вершиной. Входная и выходная кольцевая диафрагмы вырезаны во внутреннем электроде так, что границы их располагаются в плоскостях, перпендикулярных оси Z. Входная диафрагма уже, чем выходная и расположена ближе к общей вершине конусов. Центр источника эмиссии находится на оси, в средней плоскости входной диафрагмы. Воспринимающая поверхность ПЧД находится дальше от вершины конусов, чем любая из плоскостей, ограничивающих размеры диафрагм, в направлении точек пересечения этих плоскостей с осью Z. Устройство позволяет одновременно регистрировать спектры эмиссии частиц, летящих из источника в любом направлении вблизи определенной плоскости, перпендикулярной оси Z. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

Спектрометр заряженных частиц, состоящий из осесимметричного электростатического энергоанализатора, плоского источника анализируемых частиц и плоского позиционно-чувствительного детектора, причем энергоанализатор состоит из двух полезадающих электродов с входной и выходной диафрагмами и общей осью симметрии, лежащей в плоскости источника частиц и проходящей через его центр, а воспринимающая плоскость позиционно-чувствительного детектора перпендикулярна общей оси симметрии, отличающийся тем, что полезадающие электроды имеют вид двух электрически изолированных друг от друга соосных круговых конических поверхностей с общей вершиной, входная и выходная диафрагмы вырезаны во внутреннем электроде так, что их границы представляют собой круговые линии пересечения поверхности внутреннего электрода с плоскостями, перпендикулярными общей оси симметрии конусов Z, причем входная диафрагма расположена ближе к вершине конусов, чем выходная, центр источника находится между плоскостями, ограничивающими размеры входной диафрагмы, воспринимающая поверхность позиционно-чувствительного детектора расположена дальше от вершины конусов, чем любая из плоскостей, ограничивающих размеры диафрагм, в направлении точек пересечения этих плоскостей с осью Z.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к физической электронике, в частности, к электронной и ионной спектроскопии, и может быть использовано для анализа по энергиям и направлениям движения потоков заряженных частей, эмиттируемых поверхностью твердого тела или испускаемых из объема газа.

Основной частью известного устройства являются два полезадающих осесимметричных концентрических электрода тороидальной формы: внутренний и внешний; ось Z является осью симметрии тороидов. Кроме них предусмотрены две линзы: цилиндрическая входная и коническая выходная, а также плоский позиционно-чувствительный детектор (ПЧД).

Прибор работает следующим образом. Образец располагается так, что его поверхность (если он твердый, а не газообразный) находится в одной из меридиональных плоскостей всей анализирующей системы, т.е. вдоль поверхности образца проходит ось симметрии анализатора Z. При таком расположении полярный угол эмиссии спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387e из центральной точки эмиссии образца S с точностью до постоянного слагаемого совпадает с азимутом спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 изображенного на рисунке сечения всей системы меридиональной плоскостью YZ. Диапазон азимутальных углов эмиссии J ограничивается в пределах нескольких градусов размером входной диафрагмы. Входная линза формирует полукольцевое изображение источника эмиссии вблизи поверхности электрода, компенсирующего искажение потенциала у краев тороидальных полезадающих электродов. Двигаясь в зазоре между этими электродами, анализируемый пучок под действием диспергирующего поля тороида подвергается разложению на моноэнергетические составляющие, причем составляющая, соответствующая энергии настройки анализатора Еo, фокусируется на выходной щели, вблизи выходного компенсирующего электрода. Выходная линза переносит это промежуточное изображение на поверхность ПЧД, азимутальная координата точек которого с точностью до постоянного слагаемого равна полярному углу эмиссии из образца.

Создание такого спектрометра представляет значительные трудности. Сложно изготовить и взаимно съюстировать полезадающие электроды тороидальной геометрии.

Принципиальным недостатком прототипа является то, что запись энергетического спектра происходит последовательно. В каждый конкретный момент времени через выходную диафрагму к ПЧД пролетают лишь электроны, энергии которых лежат в узком интервале, определяемом энергией настройки Еo и разрешающейспособностью энергоанализатора. Таким образом, в прототипе для записи спектра используется лишь один энергетический канал. Скорость записи пропорциональна числу таких каналов. Следовательно, включив каким-либо образом дополнительно "n-1" каналов регистрации, можно в "n" раз увеличить скорость записи. Сделать это можно, либо совместив линию фокусов (фокальную поверхность) с плоскостью ПЧД, либо уменьшив размытие изображения на детекторе до размеров, при которых это размытие сильно не сказывается на разрешении прибора.

Техническим результатом является увеличение скорости записи энергетических спектров заряженных частиц с угловым разрешением по полярным углам эмиссии в 20-30 раз, упрощение конструкции собственно энергоанализатора и всего спектрометра в целом, увеличение разрешающей способности спектрометра.

Для достижения указанного результата предлагается использовать осесимметричный энергоанализатор зеркального типа следующей геометрии (фиг. 1). Внутренний 1 и внешний 2 полезадающие электроды имеют форму двух соосных круговых конических поверхностей с общей вершиной в точке О. Хотя в идеале поверхности пересекаются в этой точке, в реальном приборе они электрически изолированы друг от друга. Исследуемый образец 3 (фиг. 2) располагается так, что общая ось симметрии электродов OZ проходит через его поверхность и параллельна ей. Входная 4 и выходная 5 диафрагмы вырезаны во внутреннем электроде. Каждая граница каждой диафрагмы представляет собой линию пересечения внутреннего конусообразного электрода и плоскости, перпендикулярной оси OZ. Ширина входной диафрагмы определяется несколькими факторами: размером пятна эмиссии (на фиг. 2, он равен нулю, т.е. источник точечный), диапазоном захватываемых диафрагмой азимутальных углов эмиссии Dv1 и выбранными условиями фокусировки, т.е. режимом работы анализатора.

Плоский ПЧД 6 расположен перпендикулярно оси Z, так что точка А фокусировки частиц с начальной энергией Eo, соответствующей середине исследуемого диапазона энергий спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E, находится на середине рабочей области ПЧД, т.е. приблизительно на половине радиуса ПЧД. При этом область ПЧД с минимальным радиусом соотносится с нижним краем исследуемого диапазона, т.е. с энергией электронов спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387, а область ПЧД с максимальным значением радиуса рабочей поверхности с верхним краем, т.е. с спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387

Согласно расчетам, вдоль радиуса плоского круглого ПЧД 6 можно разложить участок энергетического спектра спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E, составляющего несколько процентов от средней энергии настройки Ео при разрешении спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E/Eo= 0,05-0,2% и спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871 1-2 градуса. Это означает, что одновременно можно регистрировать 10-30 точек энергетического спектра при одновременном полном угловом анализе по полярным углам эмиссии. Таким образом, достигается цель изобретения.

Ранее анализатор предлагаемой геометрии не применялся для анализа потоков заряженных частиц одновременно по энергиям и полярным углам эмиссии.

Рассмотрим теперь, как работает предлагаемое устройство. Выберем систему физических единиц, в которой единицей массы является масса частицы из анализируемого потока, а единицей электрического заряда ее заряд. Пусть (r, z, спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 цилиндрические координаты, а (спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387,спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387,спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387) сферические координаты, так что спектрометр заряженных частиц, патент № 20763872= r2+z2. Тогда электростатический потенциал анализатора будет иметь вид

спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387

Очевидно, что при спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 = спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387/2 спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 = 0, а при спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387, стремящемся к нулю, f стремится к минус бесконечности. Уравнения динамики в цилиндрических координатах

спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387

где две точки означают двойное дифференцирование по времени, аналитически не решаются.

Все параметры и характеристики спектрометра определялись на основе анализа траекторий движения частиц в потенциале спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387, рассчитанных численно на ЭВМ методом Рунге-Кутта.

Пусть анализируемые частицы эмиттируются из одной точки на поверхности образца (фиг. 2) так, что сначала они летят вблизи плоскости, проходящей через эту точку и перпендикулярной сразу и поверхности образца и оси Z (назовем эту плоскость"плоскостью эмиссии"). Азимутальный угол эмиссии v1 при этом мало отличается от нуля, а азимутальный угловой разброс пучка спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871 составляет не более нескольких градусов. Таким образом, осевые траектории пучка на начальных участках, т.е. до влета частиц в область поля, лежат в плоскости эмиссии. Полярный угол эмиссии спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387e с точностью до постоянного слагаемого равен азимутальному углу спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 всей цилиндрической системы координат, и пусть в дальнейшем это слагаемое равно нулю, т.е. qe= спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387.

Пусть теперь анализатор настроен таким образом, что через его входную и выходную диафрагму пролетают частицы с энергиями, лежащими внутри диапазона спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387, и с азимутальными углами эмиссии из диапазона спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387. Назовем Еo энергией настройки анализатора, спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E его энергетическим диапазоном, а главными осевыми траекториями траектории частиц, у которых начальная энергия эмиссии Е Еo, а азимутальный угол эмиссии спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871= 0. Для частиц с энергиями, отличными от Еo, будут свои (не главные) осевые траектории, начальные участки которых лежат в плоскости эмиссии. Рассмотрим частицы (например, электроны) с начальной энергией Еo. Те из них, траектории которых лежат в одной меридиональной плоскости, например, в плоскости фиг. 2, после вылета из области поля анализатора, пролетят в окрестности точки фокусировки первого порядка А. Все частицы, эмиттированные под другим полярным углом спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871, и траектории которых лежат в другой меридиональной плоскости сечения спектрометра, пролетят вблизи своей точки фокусировки А1, находящейся на таком же расстоянии от оси Z, как и точка А. Обобщая это рассуждение, можно сказать, что частицы с энергией Еo будут фокусироваться вблизи линии фокусировки, представляющей собой отрезок окружности, перпендикулярной оси Z и концентричной с ней. Электроны с энергиями Еo 1/2 спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E сфокусируются на своей окружности, большего радиуса и расположенной ближе к началу координат. На фиг. 2, точка В изображает след пересечения этой окружности с плоскостью рисунка. Электроны с энергией Еo + 1/2 спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E сфокусируются на окружности, дающей на фиг. 2, точку С. Множество линий фокусировки образует непрерывную поверхность фокусов, по форме близкую к круговой конической поверхности с углом раствора 2спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387. На фиг. 2, пересечение поверхности фокусов с плоскостью рисунка дает линию ВАС, близкую к прямой.

Расположим теперь ПЧД 6 так, чтобы его плоская воспринимающая поверхность была перпендикулярна оси Z, и на этой поверхности находилась точка А. Тогда, как видно из рисунка, вдоль радиуса на плоскости ПЧД будет разложен на составляющие весь спектр анализируемых частиц от Е Еo 1/2 dЕ до Е спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387. По азимуту же на детекторе будут распределены частицы, стартовавшие с поверхности образца под разными полярными углами спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387. Очевидно, что разрешение анализатора будет различным для разных участков спектра. Наилучшее (наименьшее) разрешение достигается при Е Еo, так как для энергии настройки размытие изображения точечного источника на поверхности детектора вызвано лишь аберрациями второго порядка по v1. Аберрационное размытие ничтожно, так как спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871/ мал (составляет несколько градусов). По краям спектрального диапазона, при E = Eoспектрометр заряженных частиц, патент № 20763871/2спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E, разрешение будет наихудшим, так как размытие изображения спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387r определяется в основном не аберрациями, а расстоянием от точки фокусировки до детектора и углом расходимости пучка на выходе. Так, для низкоэнергетического края диапазона спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387rlспектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 ABспектрометр заряженных частиц, патент № 2076387sin(спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763872), а для высокоэнергетической границы спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387rhспектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 ACспектрометр заряженных частиц, патент № 2076387sin(спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763872). Здесь АВ, АС расстояния между соответствующими точками фокусировки. Если бы угол расходимости пучка на выходе спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763872 был равен углу расходимости пучка на входе спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871 или мало отличался от последнего: спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763872спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871, спектрометр описываемой конструкции было бы нецелесообразно делать. Действительно, поскольку угол спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 не превышает 15o, образующая фокальной поверхности почти перпендикулярна плоскости ПЧД, а наилучшие условия работы последнего реализуются в прямо противоположной ситуации, т.е. когда ПЧД и фокальная поверхность параллельны.

Однако потенциал (1) представляет собой однородную функцию ортогональных координат нулевой кратности, и поэтому в нем специфическим образом проявляет себя принцип подобия траекторий, так что пучок, удаляющийся в аксиальной плоскости от начала координат, увеличивается в аксиальном сечении ("распухает"), но в такое же число раз уменьшается и угол его расходимости Dv. Расчеты показывают, что реально в предлагаемом устройстве отношение 4 спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871/спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763872спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 5.. Поэтому при азимутальном угловом разбросе эмиттируемых частиц спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763871 2-3 градуса, что реализуется, например, в методах фотоэлектронной спектроскопии с угловым разрешением, на выходе величина спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 20763872 составит всего 0,4-0,75 градуса. Именно по этой причине спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387rh и спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387rl оказываются величинами такого порядка, который обеспечивает разрешающую способность, достаточную для большинства методов электронной и ионной спектроскопии.

В тех методах, где диаметр зондирующего пучка мал и источник эмиссии можно считать точечным, наихудшее по диапазону спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E разрушение определяется двумя факторами: аберрационным размытием изображения спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 и величиной Drl (или спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387rh, причем последний фактор, как было показано, значительно существеннее. К таким методам относится, например, оже-электронная спектроскопия, где диаметр зондирующего пучка электронов может измеряться нанометрами, в худшем случае, десятками микрон.

В случае точечного источника ни спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E, ни спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E не зависят от абсолютного габаритного размера прибора. Относительное разрешение спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E/E определяется лишь величиной спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387l.

Для того чтобы корректно сравнить с прототипом предлагаемое устройство, необходимо принять во внимание конечный размер источника эмиссии. В прототипе он равен 0,35 мм при базовом размере (расстоянии от источника до изображения) около 100 мм и разрешении спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387.

Как было сказано выше, в предлагаемом спектрометре весь диапазон энергий спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387E/E составляет несколько процентов. Следовательно, делать такой прибор с ПЧД при разрешении спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 (то есть таком же, как в прототипе) бессмысленно, так как количество одновременно регистрируемых точек спектра nспектрометр заряженных частиц, патент № 20763871, и выигрыша в скорости записи спектра по сравнению с прототипом не будет.

Согласно расчетам, если диаметр пятна эмиссии в предлагаемом спектрометре равен 0,35 мм, то при базовом размере 700 мм разрешение в различных режимах работы 0,08% спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387, а спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387. Соответствующее количество точек спектра 20 спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 n спектрометр заряженных частиц, патент № 2076387 30.. Разрешение прототипа с базовым размером, увеличенным в семь раз, то есть до 700 мм, составит около 0,3% что заметно хуже, чем в предлагаемом приборе. Но наиболее существенное отличие между двумя приборами состоит в том, что в предлагаемом спектрометре можно одновременно регистрировать около 20-30 точек спектра, вместо одной точки в прототипе. Следовательно, скорость регистрации спектра также будет в 20-30 раз выше. Очевидно также, что конструкция предлагаемого прибора значительно проще, чем конструкция прототипа.

Класс H01J49/48 с использованием электростатических анализаторов, например цилиндрических секторов, фильтров Вьена

Наверх