датчик деформации

Классы МПК:H01L29/84 управляемые только изменением приложенных механических усилий, например изменением давления
Патентообладатель(и):Никольский Юрий Анатольевич
Приоритеты:
подача заявки:
1993-07-02
публикация патента:

Использование: в измерительной технике. Сущность: датчик содержит тензорезистор, представляющий собой поликристаллическую пленку антимонида индия n-типа проводимости толщиной 1-5 мкм с концентрацией носителей заряда 1016 - 1017 см-3. Такие пленки обладают повышенной тензочувствительностью (S= 20-40), что связано с изменением потенциальных барьеров на границе кристаллитов. Кроме тензорезистора, датчик содержит источник белого света. Под действием интегрального излучения при освещенности 1000-1500 лк величина тензочувствительности возрастает в 1,5-2,0 раза (S=40-80) за счет добавки концентрации неравновесных носителей заряда.

Формула изобретения

Датчик деформации, содержащий тензорезистор, выполненный из поликристаллической пленки антимонида индия n-типа проводимости на слюдяной подложке, отличающийся тем, что датчик дополнительно содержит источник белого света, установленный с возможностью облучения пленок антилюнида индия освещенностью 1000 1500 лк.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к устройствам, используемым в измерительной технике, для измерения деформаций, вибраций, колебательных процессов.

Тензодатчики из конденсированных в вакууме пленок германия имели коэффициент тензочувствительности от 38 до 50. Тензодатчики из вырожденного арсенида галлия при хорошей температурной стабильности имели коэффициент тензочувствительности приблизительно 40 [1]

Тензорезистор из поликристаллической пленки антимонида индия n-типа проводимости на слюдяной подложке, имеющий концентрацию носителей заряда 1016-1017 см-3 при комнатной температуре, имел тензочувствительность 20.40 [2]

Имеющиеся тензорезисторы отличаются незначительной тензочувствительностью.

Техническим результатам является повышение тензочувствительности.

Предлагаемый датчик деформации, содержащий тензорезистор, выполненный из поликристаллической пленки антимонида индия n-типа проводимости на слюдяной подложке, дополнительно содержит источник белого света, установленный с возможностью облучения пленки антимонида индия освещенностью 1000-1500 лк.

Датчик работает следующим образом.

Поликристаллическая пленка антимонида индия n-типа проводимости на слюдяной подложке приклеивается клеем ВФ-2 к деформируемому объекту, и при облучении ее белым светом освещенностью 1000-1500 лк во время работы тензорезистора тензочувствительность возрастает в 1,5-2 раза.

Класс H01L29/84 управляемые только изменением приложенных механических усилий, например изменением давления

наклеиваемый полупроводниковый тензорезистор -  патент 2511209 (10.04.2014)
интегральный тензопреобразователь ускорения -  патент 2504866 (20.01.2014)
наклеиваемый полупроводниковый тензорезистор -  патент 2481669 (10.05.2013)
конструкция чувствительного элемента преобразователя давления на кни-структуре -  патент 2474007 (27.01.2013)
интегральный преобразователь давления с одним жестким центром -  патент 2469437 (10.12.2012)
интегральный преобразователь давления с тремя жесткими центрами -  патент 2469436 (10.12.2012)
полупроводниковый преобразователь давления -  патент 2464539 (20.10.2012)
наклеиваемый полупроводниковый тензорезистор -  патент 2463687 (10.10.2012)
наклеиваемый полупроводниковый тензорезистор -  патент 2463686 (10.10.2012)
многофункциональный измерительный модуль -  патент 2457577 (27.07.2012)
Наверх