способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел с плоской поверхностью

Классы МПК:G01R33/16 измерения магнитной восприимчивости 
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Акционерное общество открытого типа "Уралчерметавтоматика"
Приоритеты:
подача заявки:
1990-09-07
публикация патента:

Сущность изобретения: определяют магнитную восприимчивость в виде отношения сигналов, возбуждаемых в приемных катушках магнитным телом и катушкой отраженного источника, затем меняют местами катушки намагничивающую и отраженного источника и определяют новое значение магнитной восприимчивости, вычисляют по среднему значению окончательное значение кажущейся магнитной восприимчивости тела. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЖУЩЕЙСЯ МАГНИТНОЙ ВОСПРИИМЧИВОСТИ ТЕЛ С ПЛОСКОЙ ПОВЕРХНОСТЬЮ, включающий проведение измерительного цикла путем последовательных воздействий на систему измерительных катушек полем последовательно соединенных намагничивающей катушки и катушки отраженного источника, измерения выходного сигнала системы измерительных катушек, воздействия на систему измерительных катушек полем намагничивающей катушки в присутствии исследуемого тела со стороны его плоской поверхности и повторное измерение выходного сигнала системы измерительных катушек, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, измерительный цикл повторяют, поменяв местами намагничивающую катушку и катушку отраженного источника, а кажущуюся магнитную восприимчивость способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т исследуемого тела определяют из соотношения

способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т=способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 и способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153,

где Iт1 , Iт2 - выходные сигналы системы измерительных катушек при воздействии на них полем намагничивающей катушки в присутствии исследуемого тела до и после смены мест намагничивающей катушки и катушки отраженного источника соответственно;

Iou1 , Iou2 - выходные сигналы системы измерительных катушек при воздействии на них полем катушки отраженного источника и намагничивающей катушки до и после смены их мест соответственно.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к технике измерений кажущейся магнитной восприимчивости тел, имеющих хотя бы одну плоскую поверхность, например, ферритового образца, дробленой руды на плоской поверхности и т.д., в лабораторных условиях.

Известен способ измерения кажущейся магнитной восприимчивости методом непосредственного моделирования отраженного источника, основанный на использовании системы параллельных плоских (намагничивающей) и приемных катушек, симметрично расположенных в одной или нескольких параллельных плоскостях, и отраженного источника ОИ, представляющего собой катушку, идентичную намагничивающей катушке, которая располагается на некотором расстоянии D от последней и включена с ней последовательно встречно. Сначала измеряют сигнал Iои, возбуждаемый в приемных катушках отраженным источником, являющимся физическим эквивалентом плоского магнитного полупространства с предельным значением кажущейся магнитной восприимчивости способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153ои" =2 ед. СИ, затем измеряют сигнал Iт, возбуждаемый в приемных катушках, контролируемым телом с величиной кажущейся магнитной восприимчивости способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т". Причем плоская поверхность контролируемого образца параллельна плоскости намагничивающей катушки и отстоит от последней на расстоянии d = D/2. Из линейной зависимости возбуждаемых в приемных катушках сигналов от кажущейся магнитной восприимчивости следует

Iои = Сспособ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 ; (1)

Iт = С2 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 (2)

В формулах (1) и (2) коэффициенты преобразования С1 и С2 не равны из-за неидентичности намагничивающей катушки и катушки отраженного источника.

Недостаток известного способа заключается в низкой точности измерения, обусловленной неидентичностью катушек намагничивающей и отраженного источника, что приводит к погрешности моделирования намагниченного полупространства с способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153ои"=2 ед. СИ и соответствующей погрешности измерения кажущейся магнитной восприимчивости ферромагнитных тел.

Причина неидентичности катушек заключается в технологии изготовления катушек, конструктивной особенностью которых является большое отношение длины к ширине (> 5), в результате чего неизбежно неконтролируемое вспучивание обмоток по длинной стороне каркаса и непостоянство сечения катушек в целом.

Это является причиной несоответствия тарировки от отраженного источника (коэффициент С1) чувствительности при измерении кажущейся магнитной восприимчивости тел, которая зависит от размеров намагничивающей катушки (коэффициент С2).

Обозначая через способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 C и способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 абсолютную и относительную неидентичности катушек (т.е. неодинаковость коэффициентов С1 и С2), причем способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 С = С1 - С2 и способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 ,

получим

способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153=2способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153. (3)

Из формулы (4) легко получить формулу относительной погрешности измерения способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т" кажущейся магнитной восприимчивости тел, имея в виду, что

способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153, (4) где способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 при способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153=0 (т.е. при отсутствии неидентичности). С учетом (3) и (4) имеем

способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153. (5)

Следовательно, относительная погрешность измерения известного способа (прототипа) равна относительной неидентичности катушек намагничивающей и отраженного источника.

Исследования показали, что величины коэффициент способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 < 0,02 - 0,03 (2-3%) добиться не удается.

Целью изобретения является повышение точности измерения кажущейся магнитной восприимчивости тел.

Суть предлагаемого способа состоит в том, что производится поочередно определение отношения сигналов способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 и способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 , причем катушки меняются местами, в результате чего знак коэффициента неидентичности способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 меняется на обратный и погрешность способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т"способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 . При определении среднего значения погрешности способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т"* по предлагаемому способу получим на основе (5) в виде

способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153*т=0,5способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 - способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 0,5способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 20181532. (6)

Из (6) следует, например, что при способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 = 0,02 (2%) погрешность предлагаемого способа способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т"* =0,5способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 0,02 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 0,02 = 2 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 10-4 или 0,02%, что в 100 раз лучше, чем у способа прототипа.

Предлагаемый способ поясняется фиг.1 и 2.

Сначала систему плоских симметрично расположенных катушек, состоящую из намагничивающей (НК) 1 и приемных 3 катушек, располагают на расстоянии D от катушки отраженного источника (ОИ) 2 (см. фиг.1,а) и измеряют сигнал Iои1, возбуждаемый в приемных катушках 3 катушкой ОИ 2. Затем намагничивающую 1 и приемные 3 катушки размещают на расстоянии d = D/2 от плоской поверхности контролируемого тела 4 (см. фиг.1, б) и измеряют сигнал Iт1, возбуждаемый в приемных катушках 3 контролируемым телом. Величину кажущейся магнитной восприимчивости способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т1" тела вычисляют по формуле

способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153=2способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153.

После этого меняют местами катушки намагничивающую 1 и отраженного источника 2. Систему симметрично расположенных катушек, состоящую из катушки ОИ 2 и приемных катушек 3, располагают на расстоянии D от НК 1 (см. фиг. 2, а) и измеряют сигнал Iои2, возбуждаемый в приемных катушках 3 намагничивающей катушкой 1. Затем катушку ОИ 2 и приемные катушки 3 размещают на расстоянии d = D/2 от плоской поверхности контролируемого тела 4 (см. фиг. 2,б) и измеряют сигнал Iт2, возбуждаемый в приемных катушках 3 контролируемым телом. Величину кажущейся магнитной восприимчивости способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153т2" тела вычисляют по формуле

способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153=2способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153.

Окончательное значение кажущейся магнитной восприимчивости определяется по формуле

способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153+способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153= способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 + способ определения кажущейся магнитной восприимчивости тел   с плоской поверхностью, патент № 2018153 ед. CИ

С помощью данного способа определено значение кажущейся магнитной восприимчивости ферритового образца, используемого при нормировании выходных характеристик датчиков МВ-3, выпускаемых серийно. Благодаря внедренному способу, погрешность нормирования выходной характеристики датчиков МВ-3 снижена с 1 до 0,1%, что позволило увеличить точность определения процентного содержания магнитного железа в руде.

Класс G01R33/16 измерения магнитной восприимчивости 

способ оперативного контроля подлинности изделий из золота от подделок -  патент 2516604 (20.05.2014)
устройство для измерения магнитной вязкости ферромагнетиков -  патент 2488841 (27.07.2013)
устройство для проверки магнитной вязкости ферромагнетиков -  патент 2488840 (27.07.2013)
устройство для измерения динамического распределения магнитной восприимчивости ферромагнетика -  патент 2467342 (20.11.2012)
прибор для измерения кривой намагничивания ферромагнетика -  патент 2462729 (27.09.2012)
способ определения магнитной проницаемости цилиндрических ферромагнитных проводников -  патент 2423717 (10.07.2011)
способ определения намагниченности насыщения феррита -  патент 2410706 (27.01.2011)
измеритель магнитной вязкости ферромагнетиков -  патент 2357241 (27.05.2009)
способ измерения магнитной вязкости ферроматериалов -  патент 2357240 (27.05.2009)
способ определения магнитного момента квадратной катушки с током -  патент 2307370 (27.09.2007)
Наверх