способ измерения параметров электромагнитного излучения

Классы МПК:G01R29/00 Устройства для измерения или индикации электрических величин, не отнесенные к группам  19/00
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Анисин Владимир Ильич,
Орлов Андрей Петрович
Приоритеты:
подача заявки:
1992-03-02
публикация патента:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено при разработке приборов для измерения параметров электромагнитных излучений (ЭМИ), регистрации быстропротекающих процессов в различных физических экспериментах. Способ, основанный на его преобразовании и записи на носитель информации, заключается в том, что временную зависимость электрического поля ЭМИ преобразуют в пространственное распределение магнитного поля, вмороженного в плазму, создаваемую в газе волной ионизации, движущейся навстречу импульсу регистрируемого ЭМИ. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ путем его преобразования и записи на носителе информации, отличающийся тем, что, с целью увеличения диапазона измеряемых длин волн и повышения точности измерений, временную зависимость электрического поля электромагнитного излучения преобразуют в пространственное распределение магнитного поля, вмороженного в плазму, создаваемую в газе волной ионизации, движущейся навстречу импульсу регистрируемого электромагнитного излучения.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при разработке приборов для измерения параметров электромагнитных излучений (ЭМИ).

На чертеже представлена схема устройства для реализации предлагаемого способа.

Способ регистрации параметров ЭМИ может быть реализован следующим образом.

В неподвижный газ, заполняющий трубу 1, при давлении, обеспечивающем при ионизации необходимую концентрацию электронов, вводится какое-либо ионизирующее воздействие, например, лазерное электромагнитное излучение, которое при отражении от зеркала 2 ионизует газ около зеркала. Далее энергия лазерного излучения поглощается в образующейся плазме, и от зеркала начинает распространяться фронт волны 3 ионизации. Скорость фронта зависит от мощности ионизирующего лазерного излучения и может приближаться к скорости света.

Если навстречу фронту ионизации падает ЭМИ, то при определенных условиях за фронтом образуется вмороженное магнитное поле. Оно может фиксироваться с помощью магнитной ленты 4, расположенной вдоль трубы. Воспроизведение записанной формы ЭМИ осуществляется считыванием информации с ленты обычными методами, например, с помощью магнитофона.

Класс G01R29/00 Устройства для измерения или индикации электрических величин, не отнесенные к группам  19/00

устройство контроля электромагнитного поля вторичных излучателей -  патент 2527315 (27.08.2014)
способ измерения характеристик диаграммы направленности активной/пассивной фазированной антенной решетки -  патент 2526891 (27.08.2014)
автоматизированная система измерений радиотехнических характеристик головок самонаведения ракет -  патент 2526495 (20.08.2014)
способ определения энергетического спектра электронов в электронном пучке -  патент 2523424 (20.07.2014)
цифровой измеритель амплитудно-частотных характеристик -  патент 2520956 (27.06.2014)
способ определения амплитуды нановибраций по спектру частотномодулированного полупроводникового лазерного автодина -  патент 2520945 (27.06.2014)
измерительный модуль селективной оценки отношения мощностей сигнал/помеха в радиоканале -  патент 2520567 (27.06.2014)
способ мониторинга контроллера трехфазного электродвигателя и/или электродвигателя -  патент 2520162 (20.06.2014)
способ и система мониторинга электромагнитных помех во временной области -  патент 2516201 (20.05.2014)
способ встроенного контроля характеристик активной фазированной антенной решетки -  патент 2511032 (10.04.2014)
Наверх