способ определения комплексных параметров свч-устройств

Классы МПК:G01R27/06 для измерения коэффициентов отражения; для измерения коэффициента стоячих волн 
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Севастопольский приборостроительный институт (UA)
Приоритеты:
подача заявки:
1991-04-26
публикация патента:

Использование: для измерения с высокой точностью комплексных параметров СВЧ-устройств. Сущность изобретения: формируют три независимые импульсные последовательности из отсчетов измеренных мощностей путем их перестановок во времени, путем дискретного преобразования Фурье определяют аргументы первого коэффициента разложения этих последовательностей способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222841 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222843 и расчитывают реальную и мнимую части комплексного параметра Г по соответствующим формулам. 3 ил., 3 табл.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4

Формула изобретения

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОМПЛЕКСНЫХ ПАРАМЕТРОВ СВЧ-УСТРОЙСТВ, заключающийся в подаче гармонического сигнала на вход линейного калибруемого многополюсника и измерении мощностей на выходах линейного калибруемого многополюсника, к которому подключено измеряемое устройство, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, формируют три независимые импульсные последовательности из отсчетов измеренных мощностей путем их перестановок во времени, определяют начальные фазы первых гармоник спектра этих последовательностей способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222841, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222843 и расчитывают реальную Re и мнимую части Im комплексного параметра способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 по формулам

Rспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284

Iспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 ;

где Mi = tgспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i(i = 1, 2, 3) ;

Cm, Um, Vm (m = 0, - ,7) - постоянные величины, определяемые при калибровке.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах и может быть использовано при измерении комплексных коэффициентов отражения, комплексных коэффициентов передачи, полных сопротивлений СВЧ-устройств различного целевого назначения.

В технике измерений на СВЧ широко используется способ, основанный на анализе амплитудного распределения поля вдоль линии передачи (метод измерительной линии). Недостатком этого способа является низкая производительность измерений.

Этот недостаток устранен в способе, основанном на анализе амплитудного распределения поля в дискретных точках линии передачи (так называемый многозондовый метод). Недостатком этого способа является малая широкополосность и, как следствие, низкая точность при работе в полосе частот.

Этот недостаток устранен в способе калибруемого двенадцатиполюсника. Суть способа заключается в том, что осуществляется измерение мощностей на выходах линейного калибруемого двенадцатиполюсника и по ним вычисляют измеряемые параметры. Причем предварительно в процессе калибровки по образцовым мерам на каждой частоте определяют и запоминают эквивалентные параметры многополюсника, которые используются в дальнейшем для расчета измеряемых параметров.

Наиболее близким по технической сущности является способ, который заключается в том, что измеряют мощности на выходах линейного калибруемого двенадцатиполюсника, к которому подключены источник гармонических колебаний и измеряемое устройство, а реальную и мнимую части комплексного параметра рассчитывают по формулам

X = Rспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (1)

Y = Iспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (2) где способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284, i = 1,2,3 . (3)

Рi - мощности, измеренные на выходах линейного двенадцатиполюсника;

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 - ноpмированные значения мощностей, причем нормировка осуществляется относительно мощности на выходе индексом "0" (Ро);

Аi, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 - эквивалентные параметры, характеризующие i-й выход двенадцатиполюсника;

Un,Vnn - константы, которые однозначно связаны с эквивалентными параметрами двенадцатиполюсника, эти константы рассчитываются на этапе калибровки и запоминаются.

Недостаточно высокая точность определения комплексных параметров по способу-прототипу связана с тем, что существенный вклад в результирующую погрешность вносят шумы. Из-за влияния шумов, возникающих при обработке сигналов, снимаемых с датчиков мощности, измерение мощностей Рiосуществляется с погрешностями, а это в соответствии с формулами (1) и (2) приводит к ошибке в определении составляющих комплексного параметра.

Целью изобретения является повышение точности.

Это достигается тем, что при способе определения комплексных параметров СВЧ-устройств, заключающемся в измерении мощностей на выходах линейного калибруемого двенадцатиполюсника, к которому подключены источник гармонического сигнала и измеряемое устройство, формируют три независимые импульсные последовательности из отсчетов измеренных мощностей путем их перестановок во времени, путем дискретного преобразования Фурье определяют аргументы первого коэффициента разложения этих последовательностей способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222841, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222843 и рассчитывают реальную и мнимую части комплексного параметра способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 по формулам

X = Rспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (4)

Y = Iспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (5)

где Мi=tg способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 i (i=1,2,3);

Сm,Um,Vm (m=0...7) - постоянные величины, определяемые при калибровке.

Таким образом, в отличие от прототипа исходными данными для определения комплексных параметров являются не измеренные мощности, а аргументы коэффициентов разложения Фурье, которые оказываются менее чувствительными к шумам. Это и приводит к новому свойству, заключающемуся в повышении точности определения комплексных параметров. Данное свойство обеспечивается введением заявленных отличительных признаков и без этих признаков не может быть получено.

Таким образом, отличительные признаки заявленного технического решения являются существенными.

На фиг. 1 изображена структурная схема одного из вариантов устройства для измерения комплексного коэффициента отражения на основе калибруемого двенадцатиполюсника; на фиг.2 - структурная схема возможной реализации блока измерения мощности; на фиг.3 - эпюры дискретных сигналов, полученных из отсчетов мощностей путем их перестановок во времени.

Устройство для измерения комплексного коэффициента отражения содержит СВЧ-генератор 1, выход которого через линейный калибруемый двенадцатиполюсник 2 подключен к входу измеряемой нагрузки 3. Четыре измерительных выхода калибруемого двенадцатиполюсника 2 подключены к блоку измерения мощности 4. Выход блока измерения мощности 4 соединен с входом вычислительно-управляющего устройства 5, в состав которого входят последовательно соединенные блок памяти 6, блок 7 дискретного преобразования Фурье и решающее устройство 8, а также блок управления 9, выходы которого соединены с блоком измерения мощности 4, блоком памяти 6, блоком 7 дискретного преобразования Фурье и решающим устройством 8. Выход решающего устройства 8 соединен с индикаторным блоком 10.

СВЧ-генератор 1 предназначен для формирования гармонических колебаний соответствующей частоты. В качестве СВЧ-генератора 1 может быть реализован любой генератор соответствующего диапазона волн из группы приборов Г4 либо генератор качающейся частоты из комплекта панорамных приборов (группы приборов Р2 и Р4).

Линейный калибруемый двенадцатиполюсник 2 предназначен для формирования измерительных сигналов. Возможны различные конструктивные варианты на основе как направленных, так и ненаправленных элементов.

Блок измерения мощности 4 предназначен для измерения уровней мощности сигналов, поступающих с измерительных выходов калибруемого двенадцатиполюсника 2. Одна из возможных реализаций блока измерения мощности 4 приведена на фиг. 2. Блок состоит из СВЧ-коммутатора 11, датчика мощности 12, аналого-цифрового преобразователя 13 (АЦП), элемента задержки 14.

Блок измерения мощности работает следующим образом. Блок управления 9 осуществляет последовательное переключение каналов СВЧ-коммутатора 11. При этом вход датчика мощности 12 поочередно подключается к выходам калибруемого двенадцатиполюсника 2. В качестве датчика мощности может быть использован квадратичный СВЧ-детектор либо термисторный (болометрический) преобразователь, включенный в мост. Напряжения, пропорциональные уровням мощностей, поступают поочередно на вход АЦП 12, который осуществляет преобразование этих напряжений в цифровой код, поступающий далее в вычислительно-управляющее устройство 5. Запуск АЦП 13 осуществляется с некоторой задержкой относительно момента переключения СВЧ-коммутатора 11. Задержка обеспечивается с помощью элемента задержки 14, который легко реализуется на логических схемах.

Вычислительно-управляющее устройство 5 с входящими в него блоком памяти 6, блоком 7 дискретного преобразования Фурье, решающим устройством 8 и блоком управления 9 предназначен для формирования дискретных последовательностей, определения аргументов коэффициентов разложения Фурье этих последовательностей и вычисления действительной и мнимой частей комплексного коэффициента отражения по формулам (4), (5).

Вычислительно-управляющее устройство 5 может быть реализовано на основе управляющей микроЭВМ типа "ДВК", "Электроника-60" и др. Возможна реализация этого блока на основе микропроцессорного вычислителя.

Индикаторный блок 10 предназначен для отображения результатов измерения в удобной форме. Для этих целей могут быть использованы цифровые, аналоговые, осциллографические и прочие индикаторы.

Устройство для измерения комплексного коэффициента отражения работает следующим образом.

Гармонический сигнал от СВЧ-генератора 1 через калибруемый двенадцатиполюсник 2 поступает на измеряемый двухполюсник 3 с комплексным коэффициентом отражения способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284. При этом в линии передачи формируется режим смешанных волн. На измерительных выходах калибруемого двенадцатиполюсника 2 появляются сигналы. Эти сигналы поступают на входы блока измерения мощности 4, в котором по командам из блока управления 9 осуществляется поочередное измерение мощностей и преобразование их в цифровые коды. Эти коды поступают в блок памяти 6, где осуществляется их запоминание. Далее по командам из блока управления 9 запомненные значения мощностей в требуемой последовательности и полярности (см.фиг.3) подаются в блок 7 дискретного преобразования Фурье. В этом блоке для каждой из трех последовательностей определяются аргументы первого коэффициента разложения. Полученные значения аргументов поступают далее в решающее устройство 8, где по формулам (4), (5) рассчитываются действительная и мнимая части комплексного коэффициента отражения. По полученным значениям в решающем устройстве при необходимости могут быть вычислены модуль и аргумент комплексного коэффициента отражения. С выхода решающего устройства 8 сигналы поступают в индикаторный блок 10, где осуществляется индикация в удобной форме.

При осуществлении предложенного способа выполняют следующие операции:

устанавливают требуемую частоту СВЧ-генератора 1;

осуществляют измерение мощностей на измерительных выходах линейного калибруемого двенадцатиполюсника 2;

запоминают измеренные значения мощностей;

формируют три независимые импульсные последовательности из отсчетов измеренных мощностей путем их перестановок во времени;

осуществляют дискретное преобразование Фурье, в результате которого определяют аргументы первого коэффициента разложения этих последовательностей;

рассчитывают реальную и мнимую части комплексного параметра по формулам (4), (5).

Рассмотрим предложенный способ определения комплексных параметров СВЧ-устройств.

Отсчеты мощностей Рi (i=0,1,2,3), измеренных на выходах двенадцатиполюсника 2, могут быть сформированы во временные четырехточечные последовательности путем перестановок по времени. Причем общее число перестановок из N элементов равно N! . В нашем случае N=4 (число измерительных выходов двенадцатиполюсника 2). Таким образом число перестановок будет N!=4!=24. Из этих перестановок только 3 последовательности будут обладать свойством независимости с точки зрения аргументов коэффициентов разложения, в чем легко убедиться. Эти последовательности приведены на фиг.3, выглядят следующим образом: Р0, -Р1, -Р2, Р3; Р0, -Р1, -Р3, Р2; Р0, -Р2, -Р1, Р3.

Проведем дискретное преобразование Фурье (ДФП) этих последовательностей. В общем случае комплексные коэффициенты ДФП равны

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284Xmспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284e-j способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (6)

Хm - отсчеты дискретного сигнала;

n - номер коэффициента ДПФ;

m - номер отсчета.

Проведем расчет первого (n=1) коэффициента разложения для нашего случая (N=4)

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284eспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284xo+x1eспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 + x2e-jспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 + x3eспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (7)

Применяя формулу Эйлера, получим

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284(xo-x2)+j(x3-x1)способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (8) Определим аргумент коэффициента разложения

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222841= arctg способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (9) Теперь определим способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222841 для трех последовательностей, представленных на фиг.3. Подставляя в формулу (9) соответствующие отсчеты мощностей, получим

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284(11)= arctg способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (10)

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284(12)= arctg способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (11)

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284(13)= arctg способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (12) В соотношениях (10)-(12) возьмем тангенсы от обеих частей, а также разделим числители и знаменатели дробей на Ро. Введем обозначения tg способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222841(i)i (i=1,2,3). При этом получим

M1= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (13)

M2= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (14)

M3= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (15) где способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 - нормированные значения мощностей, определяемые соотношением (3).

Подставляя соотношение (3) в формулы (13)-(15), получим систему из трех уравнений

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (16)

Введем обозначения: способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284e jспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284; способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= =способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284ejспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i. Подставим эти значения в систему (16). Взяв модули и возведя их в квадрат, получим после преобразований

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (18)

Полученная система уравнений является нелинейной относительно способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 и способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 . Однако ее можно свести к линейной относительно квадрата модуля |способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284|2, действительной Х= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 cos способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 и мнимой Y=способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 sin способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 частей ком- плексного коэффициента отражения. Для этого воспользуемся формулой для косинуса суммы и проведем перегруппировку. В результате система (18) может быть записана в виде

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (19) где

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284cosспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284; способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284

Систему уравнений (19) решим относительно X и Y /используя правило Крамера.Решение имеет вид

X = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (21)

Y = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (22) где

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 Таким образом, формулы (21) и (22) определяют реальную и мнимую части комплексного параметра. Причем в этих формулах Сm,Um,Vm являются постоянными величинами, однозначно через соотношения (23) и (20) связанными с эквивалентными параметрами двенадцатиполюсника 2. Коэффициенты Сm,Um,Vm определяются при калибровке измерителя, которая проводится по образцовым мерам перед измерениями. Коэффициенты Сm,Um,Vm(m=0...7) в данном случае не совпадают с коэффициентами Сn,Un,Vn(n=0...3) для способа-прототипа ни численно, ни количественно. Одинаковые буквы для обозначения коэффициентов выбраны для удобства восприятия. В дальнейшем в обозначениях введем следующие индексы: индекс "1" будем относить к предложенному способу, а индекс "2" - к способу-прототипу.

Докажем достижение положительного эффекта.

Случайные среднеквадратичные погрешности при косвенных измерениях для предложенного способа и способа-прототипа определим в виде

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 ; (24)

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222841(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)=способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 ; (25)

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 ; (26)

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 ; (27) где способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 , способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222841(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284) - относительная погрешность определения модуля и абсолютная погрешность определения фазы для предложенного способа;

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 , способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284) - то же самое для способа-прототипа;

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 , способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 - коэффициенты чувствительности предложенного способа по параметру способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i;

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 , способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 - коэффициенты чувствительности способа-прототипа по параметру Рi.

Модуль и фазу комплексного параметра определим через действительную и мнимую части

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (28)

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = arctg Y/X . (29) Используя выражения (28)-(29), (21)-(22), (1)-(2), определим коэффициенты чувствительности. Для удобства представим Х=а/f; Y= b/f. Тогда после дифференцирования получим

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284

Теперь определим дисперсии способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i2 и способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284рi2. Для этого предположим, что сигналы, снимаемые с датчика мощности, усиливаются усилителем с прямоугольной АЧХ коэффициентом усиления Ко и полосой пропускания от нуля до способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284m, где способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284m = 2 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 fm - максимальная частота. Предположим, что в системе действует белый шум с энергетическим спектром Wо. Тогда для способа-прототипа дисперсия способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284рi2 будет равна

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842pi= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 K2oWodспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 WoK2oспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284m = 2fmWoK2o (31)

Поскольку результат измерения в способе-прототипе и в предложенном способе не зависит от абсолютного уровня сигналов, то коэффициент Коможно выбрать любым. Для удобства в дальнейшем положим Ко=1.

В предложенном способе после усиления осуществляется операция ДПФ, которая обладает фильтрующим свойством. Амплитудно-частотная характеристика ДПФ имеет вид

K(n, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284, (32) где N - число отсчетов дискретного сигнала;

n - номер коэффициента ДПФ;

Т=1/2fm - интервал дискретизации, определяемый по теореме Котельникова.

Для нашего случая N=4, n=1, тогда получим

K(1,способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (33) Последнее выражение преобразуем к виду

K(1, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)= Kспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284cosспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284T-способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284/2)способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284cos(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284T-способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284/2) (34) где К"о=4 - коэффициент передачи устройства ДПФ на частоте первой гармоники дискретного сигнала.

Энергетический спектр шума после фильтрации

W(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284) = WoK2(1, способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)= Wo(K1o)2 cosспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284T-способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284/2)способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284cos2(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284T-способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284/2) (35) Считая, что после фильтрации процесс становится узкополосным, используемым следующее соотношение для энергетического спектра фазы:

Wспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)= 2Wспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 +способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284/A2выхi (36) где Авыхi - амплитуда первой гармоники на выходе устройства ДПФ. Подставляя выражение (35) в выражение (36), получим

Wспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284

С учетом того/что способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284mT/2 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284/2,а также Aвых1/Kспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = Aвхi- амплитуда первой гармоники/ приведенная к входу устройства ДПФ/получим

Wспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284) = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (37) Определим дисперсию выходного процесса, воспользовавшись соотношением

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 Wспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i(способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284)dспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (38)

Подставляя выражение (37) в выражение (38) получим

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 cos2 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284T cos2способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284Tdспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (39)

Проведем замену переменной 1/2 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284T = Z.Это приводит к следующему:

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284cos2Zcos22ZdZ

Подынтегральную функцию представим в виде

Cos2Zспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284Cos22Z= Cos2Z(Cos2Z- Sin2Z)=

= Cos6Z + Cos2Z Sin4Z- 2Cos4Z Sin2Z (41)

При этом интеграл (40) сводится к трем известным берущимся интегралам. После некоторых преобразований получим

способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 20222842способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284i= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 + способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 Z+ способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 sin2Z +

+ способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 sin4Z - способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 sin3Z cos3Zспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284/8 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (42)

Подставив формулы (31) и (42) в формулы (24)-(27), получим формулы для расчета погрешностей.

Сравнение результатов (оценку эффективности) осуществим путем использования отношений погрешностей способа-прототипа и предложенного способа. В результате получим

Эг= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (43)

Эспособ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 = способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (44)

Амплитуды Авх.i для каждой из дискретных последовательностей определяются как

Aвх.1= 2способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= 0,5способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284

Aвх.2= 2способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= 0,5способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 (45)

Aвх.3= 2способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= 0,5способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284

Ввиду громоздкости вычислений расчеты по оценке эффективности предложенного способа были проведены на ЭВМ lВМ РS/ХТ. Программа позволяет в диалоговом режиме задать любые параметры измерительного двенадцатиполюсника и параметры нагрузки. После чего осуществляется расчет обобщенных коэффициентов С,V,U для предложенного способа и способа-прототипа, расчет коэффициентов чувствительности и расчет эффективности по формулам (43), (44).

Проведены многочисленные расчеты для различных моделей двенадцатиполюсников. Эти расчеты подтверждают повышение точности предложенного способа определения комплексных параметров. В качестве примера в табл.1,2,3 приведены результаты расчета эффективности для случая, когда в двенадцатиполюснике использован один направленный и три ненаправленных датчика. Расчеты проведены для различных значений модуля и фазы коэффициента отражения нагрузки.

Из таблиц следует, что предложенный способ обеспечивает повышение точности измерения модуля комплексного параметра практически во всем диапазоне изменения модуля и фазы. Так, при способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 =1 точность повышается максимум в 5,24 раза (при способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 =270о), при способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 =0,3 - в 2,97 раза (при способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 =90о), при способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284= 0,1 - в 2,14 раза (при способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 =90о). При других значениях фазы точность измерения модуля также возрастает, исключая значения фазы, близкие 0 и 360о, где точности одинаковы (Эг=1). Во всех случаях отсутствует повышение точности измерения фазы, практически во всем диапазоне изменения модуля и фазы погрешности определения фазы для предложенного способа и способа-прототипа приблизительно одинаковы (Э способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 способ определения комплексных параметров свч-устройств, патент № 2022284 1). Это объясняется тем, что для обоих способов коэффициенты чувствительности таковы, что реальная и мнимая части комплексного параметра отклоняются в одном направлении, так как фаза определяется отношением мнимой и реальной частей, то это не приводит к существенному ее изменению в обоих случаях.

Таким образом предложенный способ обеспечивает повышение точности определения комплексных параметров. Это объясняется тем, что исходными данными для определения комплексных параметров являются не измеренные мощности, а аргументы (фазы) коэффициентов разложения Фурье дискретных последовательностей, которые оказываются менее чувствительными к шумам.

Класс G01R27/06 для измерения коэффициентов отражения; для измерения коэффициента стоячих волн 

способ измерения коэффициента отражения плоского отражателя в свч-диапазоне и устройство для его осуществления -  патент 2503021 (27.12.2013)
устройство для измерения параметров рассеяния четырехполюсника на свч -  патент 2494408 (27.09.2013)
способ измерения коэффициента отражения свч нагрузки -  патент 2488838 (27.07.2013)
рефлектометр -  патент 2436107 (10.12.2011)
способ измерения коэффициента отражения и устройство для его осуществления -  патент 2362176 (20.07.2009)
способ измерения коэффициента отражения по мощности радиопоглощающего материала в сверхширокой полосе частот -  патент 2346286 (10.02.2009)
устройство для измерения коэффициента отражения радиоволн от радиопоглощающих покрытий -  патент 2339048 (20.11.2008)
способ измерения локальных энергетических частотных спектров и коэффициента отражения радиопоглощающего материала -  патент 2321007 (27.03.2008)
способ панорамного измерения модуля коэффициента отражения свч двухполюсника -  патент 2253874 (10.06.2005)
способ измерения коэффициента отражения радиоволн от радиопоглощающих покрытий -  патент 2234101 (10.08.2004)
Наверх