способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации в условии магнитного насыщения линии ямр

Классы МПК:G01N24/08 с использованием ядерного магнитного резонанса
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Мавлоназаров Имом Останкулович,
Микушев Владимир Михайлович,
Чарная Елена Владимировна
Приоритеты:
подача заявки:
1992-05-22
публикация патента:

Использование: при анализе структуры и контроле качества изучаемых образцов. Сущность изобретения: наблюдают процесс восстановления ядерной намагниченности к равновесному значению после воздействия инвертирующего 180-градусного импульса в присутствии насышающего стационарного переменного магнитного поля ларморовской частоты и по ходу наблюдаемого восстановления определяют решеточный и примесный вклады в спин-решеточную релаксацию ядер. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЯДЕРНОЙ СПИН-РЕШЕТОЧНОЙ РЕЛАКСАЦИИ В УСЛОВИИ МАГНИТНОГО НАСЫЩЕНИЯ ЛИНИИ ЯМР, заключающийся в инвертировании ядерной намагниченности вещества посредством внешнего воздействия 180-градусным радиоимпульсом и определении постоянной времени способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 восстановления продольной составляющей ядерной намагниченности к равновесному значению и по ней времени ядерной спинрешеточной релаксации Т1, отличающийся тем, что дополнительно производят внешнее воздействие на систему ядерных спинов стационарным переменным магнитным полем с частотой ларморовской прецессии ядер вещества, измеряют постоянные времени способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561 и способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562 восстановления продольной составляющей намагниченности М ядер при значениях М < 0 и М > 0 соответственно, изменяют величину внешнего воздействия до получения максимальной величины отношения способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max / способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max и определяют решеточную компоненту времени спин- решеточной релаксации ядер T1l по формуле

T1l = (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max / способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max)способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 ,

а примесную компоненту T1i по формуле

T1i = способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max / (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max-способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max)способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к радиоспектроскопическим методам измерения характеристик вещества и может быть применено при анализе свойств твердых тел.

Известен способ прямого измерения путем разделения решеточного Т1lи примесного Т1i вкладов в ядерную спин-решеточную релаксацию (1), основанный на применении варианта двойных ядерных резонансов - квадрупольного насыщения линии ЯМР электрическим или акустическим полем. При реализации этого способа используется эффект подавления примесного вклада в суммарное время T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 , характеризующее спин-решеточную релаксацию квадрупольных ядер в целом. Наряду с высокой трудоемкостью задачи создания электрического или акустического поля в объеме изучаемого образца недостатком способа (1) является ограниченность объектов исследования, а это только спиновые системы ядер с достаточно б большими величинами квадрупольных моментов для эффективного акустического или электрического насыщения лини ЯМР.

Известен способ импульсного измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации (2), наиболее близкий по технической сущности, основанный на инвертировании ядерной намагниченности в образце и сравнении сигналов прецессии ядерных спинов, следующих после поворачивающих суммарную намагниченность на 90о импульсов, разделенных заданным регулируемым интервалом времени. Инвертирование суммарной ядерной намагниченности производится так называемым 180-градусным радиоимпульсом, частота заполнения которого есть резонансная частота наблюдаемого сигнала ЯМР.

Недостатком известного способа (2) импульсного измерения времени спин-решеточной релаксации (прототипa) является малая информативность, обусловленная тем, что в результате его применения получают T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856, характеризующее процесс спин-решеточной релаксации в целом, который может осуществляться в твердых телах за счет различных механизмов.

Целью предлагаемого изобретения является повышение информативности измерений времени спин-решеточной релаксации ядер анализируемых твердых тел за счет разделения решеточного и примесного вкладов в процессе ядерной спин-решеточной релаксации.

Поставленная цель достигается тем, что, в известном способе измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации методом ЯМР, заключающимся в инвертировании ядерной намагниченности вещества посредством внешнего воздействия 180-градусным радиоимпульсом и определении постоянной времени способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 восстановления продольной составляющей ядерной намагниченности к равновесному значению, и по ней времени ядерной спин-решеточной релаксации T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856, в соответствии с изобретением дополнительно производят внешнее воздействие на систему ядерных спинов стационарным переменным магнитным полем с частотой ларморовской прецессии ядер вещества, в результате этого воздействия устанавливают состояние динамического насыщения, в условии которого измеряют постоянные времени способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561 и способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562 восстановления продольной составляющей намагниченности ядер М при значениях М<0 и М>0, соответственно, насыщение ядерной спин-системы усиливают до получения максимальной величины отношения (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max/ способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max) и определяют решеточную компоненту времени спин-решеточной релаксации ядер Т1l по формуле: Т1l=(способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max/способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max) способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856, а примесную компоненту T1i по формуле: T1i= (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max/способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max- способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max) T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 .

Изобретение поясняется чертежами, на которых изображено на фиг. 1 - восстановление продольной составляющей М к равновесному значению Мо в координатах М/Mo= f(t); на фиг. 2 и фиг. 3 - восстановление продольной составляющей М к равновесному значению Мо в координатах t=f[-ln{1/2(1-M/Mo)}, где t - время.

Способ осуществляется следующим образом.

Исследуемый образец помещается в измерительную головку приемника импульсного спектрометра ядерного магнитного резонанса, который позволяет создавать последовательности электромагнитных импульсов с заданными промежутками времени между ними и регулируемой длительностью. Спектрометр позволяет фиксировать после считывающего 90о - импульса амплитуду сигнала прецессии ядер изучаемого вещества, пропорциональную величине продольной составляющей ядерной намагниченности. Описанный выше процесс измерения постоянной времени способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 восстановления продольной составляющей ядерной намагниченности М образца к своему равновесному значению Мо иллюстрируется на фиг. 1. Как показано в (2), постоянная времени восстановления способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 определяется по формуле: способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 = способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856, где f(M)=-ln{1/2 (1-M/Mo)}. В отсутствии стационарного магнитного насыщения спиновой системы ядер T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 = способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856. Процесс восстановления М удобно изображать в виде графика, где по оси ординат отложено время t, а по оси абсцисс f(М) как это показано на фиг. 2. В этом случае экспоненциальный ход зависимости М(t) изображается в виде прямой, тангенс угла наклона которой к оси абсцисс равен постоянной времени.

Насыщающее магнитное поле создается с помощью дополнительной катушки, в которую помещен исследуемый образец. Величина вектора магнитной индукции переменного магнитного поля регулируется величиной силы тока, регулируемой от внешнего генератора. В присутствии дополнительного стационарного насыщающего магнитного поля в ядерной спин-системе устанавливается состояние динамического равновесия с новым равновесным значением величины ядерной намагниченности Мst. Постоянная времени способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 тогда будет равна: способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856=T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 Mst/Мо, а в случае чисто решеточной релаксации способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561l способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 Mst/Мо. Если дополнительное насыщающее магнитное поле достаточно велико для подавления примесного механизма релаксации, то при значениях М<0 ядерная намагниченность будет восстанавливаться со временем способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561=T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856Mst/Мо, тогда, как при значениях М>0 со временем способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562 = Т1l способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 Mst/Мо. Отсюда, очевидно, что решеточную компоненту времени спин-решеточной релаксации ядер можно найти как: Т1l=(способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562/способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561) способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856, а примесную компоненту в виде Т1i=(способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562/(способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562-способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561)) способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856. Критерием полного подавления примесного механизма и осуществления чисто решеточной релаксации является достижение посредством магнитного насыщения максимальной величины отношения (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max/способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max), которая в случае дальнейшего усиления насыщения остается неизменной в соответствии с величиной времени решеточной релаксации Т1l.

Конкретное применение способа измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации в условии магнитного насыщения линии ЯМР было проведено на ядерной спин-системе 23Na в монокристалле NaJ при температуре Т=77К. Результаты измерений показаны на фиг. 3, где по оси ординат отложено время t, в течение которого восстанавливалась М после инвертирования, а по оси абсцисс f(М)= -ln{ 1/2 (1-М/Mst)}. Кристаллографическое направление образца [100] было ориентировано в зазоре магнита спектрометра по направлению внешнего постоянного магнитного поля Но. Темные кружки на фиг. 3 соответствуют значениям M<0, светлые -М>0. Линия 1 построена для случая Mst/Мо=1, т.е. в отсутствии магнитного насыщения сигнала ЯМР. В этом случае получается прямая, тангенс угла наклона которой к оси абсцисс равен способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561= способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562 = T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856. Линия 2 получена для Mst= =0,81 Мо (при величине амплитуды вектора магнитной индукции насыщающего поля способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856~ (0,3способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 202485610-4) Т. Она также является прямой с способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561= способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562, что говорит о прежней эффективности примесного механизма релаксации. Суммарное время ядерной спин-решеточной релаксации имеет то же значение T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 = способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 Mst/Mo = (119способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562) с. При увеличении насыщения до Mst=0,49 Mo (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856~ (0,4способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 202485610-4) Т), что соответствует линии 3 на фиг. 3, в точке f(М)= ln2 появляется излом и постоянная времени способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562. Это происходит вследствие начавшегося торможения примесной релаксации при М>0 и уменьшения вклада Т1i в T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856. Для Mst = 0,3 Мо (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856~ (0,5способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 202485610-4)Т) происходит полное подавление примесной релаксации (линия 4 на фиг. 3) и достижение максимальной величины отношения (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max/способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max)= 1,7, которое не меняется при дальнейшем уменьшении Мst. Таким образом, для ядер 23Na в монокристалле NaJ получаем величину Т1l= (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max/способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max)T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 = (200способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 202485610) с и Т1i= (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max/ (способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248562max- способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 20248561max))T1способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 2024856 = (300способ измерения времени ядерной спин-решеточной релаксации   в условии магнитного насыщения линии ямр, патент № 202485630) с.

Полученные результаты в пределах погрешности измерений полностью согласуются с измерениями, проведенными в данном образце по методике (1), где в качестве дополнительного насыщающего возмущения применено акустическое поле двойной ларморовской частоты ядер 23Na.

Класс G01N24/08 с использованием ядерного магнитного резонанса

способ дистанционного обнаружения вещества -  патент 2526594 (27.08.2014)
способ оперативного контроля качества нефти и нефтепродуктов -  патент 2519496 (10.06.2014)
импульсная последовательность для измерения параметров самодиффузии методом ядерного магнитного резонанса -  патент 2517762 (27.05.2014)
способ геохимической разведки для геоэкологического мониторинга морских нефтегазоносных акваторий -  патент 2513630 (20.04.2014)
способ определения содержания твердого жира по данным ямр-релаксации -  патент 2506573 (10.02.2014)
способ определения содержания твердого жира по данным ямр-релаксации, прямой метод -  патент 2506572 (10.02.2014)
магнитная резонансная томография с расширенной зоной обзора -  патент 2505803 (27.01.2014)
способ дистанционного обнаружения вещества -  патент 2498279 (10.11.2013)
физиологический фармакокинетический анализ для комбинированной молекулярной магнитно-резонансной томографии и динамической позитронно-эмиссионной томографии -  патент 2498278 (10.11.2013)
устройство прецизионного перемещения полноразмерного керна в датчике ямр -  патент 2495407 (10.10.2013)
Наверх