электрогидродинамический источник ионов

Классы МПК:H01J27/26 с использованием поверхностной ионизации, например ионные источники с эмиссией под действием поля, термоионные источники ионов
H01J27/22 металлические ионные источники
H01J37/08 источники ионов; ионные пушки 
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Коптелов Сергей Сергеевич,
Власенко Михаил Иванович
Приоритеты:
подача заявки:
1993-03-10
публикация патента:

Использование: получение пучков заряженных частиц, в частности ионов, заряженных кластеров и микрокапель, получение субмикронных ионных пучков, а также для нанесения тонких пленок и покрытий кластерными и микрокапельными пучками. Сущность изобретения: уменьшение потерь рабочего вещества за счет уменьшения его испарения с боковой поверхности иглы, что особенно важно при работе с веществами, имеющими большое давление паров (до 10 Па) при рабочей температуре, и уменьшение гидродинамического импеданса иглы. Капиллярная игла источника ионов выполнена в виде спеченных проволочек, спирально навитых на центральную стержневую проволочку, при этом внутренние капиллярные каналы иглы образованы поверхностями соприкасающихся проволочек. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

ЭЛЕКТРОГИДРОДИНАМИЧЕСКИЙ ИСТОЧНИК ИОНОВ, содержащий резервуар с рабочим веществом, нагреватель рабочего вещества, тепловые экраны резервуара, электрод-экстрактор и эмиттер, выполненный в виде острия иглы, в которой образованы внутренние капиллярные каналы, соединяющие полость резервуара с острием иглы, отличающийся тем, что игла выполнена в виде спеченных проволочек, спирально навитых на центральную стержневую проволочку, при этом внутренние капиллярные каналы иглы образованы поверхностями соприкасающихся проволочек.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к устройствам для получения пучков заряженных частиц, в частности ионов, заряженных кластеров и микрокапель, и может быть использовано для получения с последующим формированием субмикронных ионных пучков, находящих все более широкое применение при микрообработке распылением; микроанализе и растровой ионной микроскопии; прямом безмасочном легировании полупроводников; в ионной литографии, а также для нанесения тонких пленок и покрытий кластерными и микрокапельными пучками.

Известно устройство [1] включающее иглу, тигель, рабочее вещество, нагревательный элемент, экстрактор и тепловые экраны. Рабочее вещество плавится в тигле и по боковой поверхности иглы подтекает к ее острию, на котором формируется конус Тейлора и с которого идет эмиссия ионов. При работе с веществами, имеющими при рабочей температуре давление паров > 10-1 Па (например, серебро) затруднено получение эмиссии вещество испаряется с боковой поверхности иглы, не доходя до острия.

Наиболее близким к заявляемому, является устройство [2] включающее резервуар с рабочим веществом, нагреватель рабочего вещества, тепловые экраны резервуара, электрод-экстрактор и эмиттер, выполненный в виде острия иглы, в которой образованы внутренние капиллярные каналы, соединяющие полость резервуара с острием иглы. В этом устройстве игла выполнена из спеченного вольфрамового порошка и капиллярные каналы образованы порами.

При такой конструкции иглы поры соединяются с боковой поверхностью иглы и рабочее вещество частично испаряется, не доходя до острия, с которого идет эмиссия.

Задача, решаемая изобретением, состояла, во-первых, в уменьшении потерь рабочего вещества с боковой поверхности иглы, что особенно важно при работе с драгметаллами и веществами, у которых давление паров при рабочей температуре > 10-1 Па, а также для уменьшения запыления высоковольтных изоляторов и повышения ресурса работы всего устройства, во-вторых, в уменьшении гидродинамического импеданса иглы.

Решение поставленной задачи достигается организацией подачи рабочего вещества из полости резервуара к острию иглы эмиттера по ее внутренним капиллярным каналам, не соединяющимся с ее боковой поверхностью. Для этого игла выполнена в виде спеченных проволочек, спирально навитых на центральную стержневую проволоку, и внутренние капиллярные каналы иглы образованы поверхностями соприкасающихся проволочек.

На фиг. 1 показан предложенный источник ионов; на фиг. 2 капиллярная игла.

Вокруг резервуара 1, выполненного из графита и закрытого графитовой пробкой 2, расположен проволочный вольфрамовый нагреватель 3 рабочего вещества и тепловые экраны 4. Резервуар 1 частично заполнен рабочим вещество 5. В днище резервуара, имеющем отверстие, размещена игла 6, а перед острием иглы установлен электрод-экстрактор 7.

При подводе достаточной мощности к нагревателю 3 рабочее вещество 5 в резервуаре 1 и внутренних капиллярных каналах иглы 6 плавится. При приложении между иглой 6 и электродом-экстрактором 7 напряжения, достаточного для образования конуса Тейлора, с него начинается эмиссия ионов. Убыль вещества с острия иглы, вызванная переносом массы заряженными частицами, компенсируется его подтеканием из резервуара по капиллярным каналам в теле иглы.

При дальнейшем росте напряжения между острием иглы и электродом-экстрактором начинается эмиссия кластеров и микрокапель.

Была получена стабильная эмиссия ионных и смешанных пучков (ионно-кластерно-микрокапельных) с током до 1электрогидродинамический источник ионов, патент № 2036531 10-3 А.

Класс H01J27/26 с использованием поверхностной ионизации, например ионные источники с эмиссией под действием поля, термоионные источники ионов

устройство создания ионных потоков -  патент 2389105 (10.05.2010)
способ получения потока положительных ионов -  патент 2288520 (27.11.2006)
автоэмиссионный источник ионов с пониженным рабочим напряжением -  патент 2206937 (20.06.2003)
эмиттер заряженных частиц -  патент 2143766 (27.12.1999)
способ получения отрицательных ионов в поверхностно- плазменных источниках -  патент 2109367 (20.04.1998)
источник интенсивных ионных пучков -  патент 2075132 (10.03.1997)
способ получения пучка отрицательных ионов фуллеренов и/или их производных -  патент 2074451 (27.02.1997)
полевой ионный источник -  патент 2071138 (27.12.1996)
способ получения потока положительных ионов -  патент 2019880 (15.09.1994)

Класс H01J27/22 металлические ионные источники

Класс H01J37/08 источники ионов; ионные пушки 

Наверх