полупроводниковый тензорезистор
Классы МПК: | H01C10/10 регулируемые путем приложения механического давления или усилия G01B7/16 для измерения деформации твердых тел, например проволочными тензометрами |
Автор(ы): | Горбачук Николай Тихонович[UA] |
Патентообладатель(и): | Киевский технологический институт легкой промышленности (UA) |
Приоритеты: |
подача заявки:
1990-10-15 публикация патента:
10.09.1995 |
Использование: измерительная техника, в частности измерение величин деформаций в машиностроении, строительстве, авиации, атомной энергетике. Сущность изобретения: полупроводниковый тензорезистор содержит подложку из полуизолирующего арсенида галлия в виде прямоугольной пластины и тензочувствительную пленку германия толщиной 510-6 м. Подложка имеет ширину, превышающую ее толщину не более чем в два раза, что позволяет повысить точность измерения упругой деформации.
Формула изобретения
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ТЕНЗОРЕЗИСТОР, содержащий прямоугольную пластину из изолирующего материала, размещенную на ней тензочувствительную полупроводниковую пленку и контактные площадки с токовыводами, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, размеры пластины выбраны из соотношения1 < a/b 2,
где a ширина пластины, м;
b толщина пластины, м.
Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к измерительной технике и может эффективно использоваться в преобразователях механических величин. Известен полупроводниковый тензорезистор типа гедистор ГДГ, выполненный в виде прямоугольной пластины, с электрическими выводами, укрепленными на концах пластины и с резистивным покрытием в средней части, не подлежащей креплению [1]Однако этот тензорезистор не обладает требуемой точностью измерения из-за возникновения напряжений в области контактных площадок при изменении температуры, влияния поперечных деформаций на электрическое сопротивление в указанной области, а также из-за возникновения напряжений в слое резинового покрытия при низких температурах. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к предложенному тензорезистору является полу- проводниковый тензорезистор, содержащий подложку из полуизолирующего арсенида галлия и тензочувствительный слой из монокристаллической пленки германия [2]
Однако и этот тензорезистор не обладает высокой точностью измерений, так как обладает значительной поперечной тензочувствительностью. Целью изобретения является повышение точности измерений путем исключения поперечной тензочувствительности. Указанная цель достигается тем, что в полупроводниковом тензорезисторе, выполненном в виде тензочувствительной пленки, снабженной контактными площадками с токовыводами, нанесенной на подложку в виде прямоугольной пластины из изолирующего материала, ширина а подложки и толщина b связаны соотношением 1 < a/b 2. Полупроводниковый тензорезистор, выполненный в виде тензочувствительной пленки, нанесенной на изолирующую подложку в виде прямоугольной пластины, представляет собой, например, пленку германия, полученную методом термического испарения германия в вакууме на подложку из арсенида галлия. Пленка снабжена контактными площадками с токовыводами. Удельное сопротивление подложки из арсенида галлия 107 Ом см. Пленка германия изготовлена толщиной 5 10-6 м. Размеры подложки составляли величины:
длина l 7,5 10-3 м;
ширина а 0,4 10-3 м;
толщина b 0,3 10-3 м. Электрическое сопротивление тензочувствительной пленки R0 1948 Ом. Для градуировки один из тензорезисторов партии, полученной в одном технологическом режиме, монтируется на метрологическую балку посредством связующего, которое наносится со стороны подложки. К метрологической балке прикладывается деформация = 1,0 10-3, измеряется изменение величины сопротивления R 65 Ом тензорезистора и рассчитывается коэффициент тензочувствительности при данной температуре kR/R0= 33,5. Затем один из тензорезисторов партии монтируется на исследуемый объект, который приводится в рабочее состояние (напряженно-деформированное) и одновременно измеряется изменение сопротивления тензорезистора R 32 Ом. Используя полученный при градуировке k 33,5, устанавливаем, что деформация равна
= R/R0k 4,86 10-4.
Класс H01C10/10 регулируемые путем приложения механического давления или усилия
Класс G01B7/16 для измерения деформации твердых тел, например проволочными тензометрами