способ определения базовой линии пика после окончания фазового превращения в образце в дифференциальном термическом анализе

Классы МПК:G01N25/02 исследование фазовых изменений; исследование процесса спекания 
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Самарский государственный технический университет
Приоритеты:
подача заявки:
1991-11-25
публикация патента:

Использование: в технике измерения параметров физико-химических превращений, осуществляемых методом дифференциального термического анализа. Сущность изобретения: проводят дополнительный нагрев термоаналитической установки, при котором измеряют скорость нагрева держателя образца при нахождении в держателе индифферентного в диапазоне температур фазового превращения образца, измеряют разность температур между держателем образца и нагревательным элементом термоаналитической установки, величину термической инерции образца рассчитывают с учетом временной (температурной) нестационарности по известной формуле, параметры полинома аппроксимирующего базовую линию пика рассчитывают из системы уравнений.

Формула изобретения

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ БАЗОВОЙ ЛИНИИ ПИКА ПОСЛЕ ОКОНЧАНИЯ ФАЗОВОГО ПРЕВРАЩЕНИЯ В ОБРАЗЦЕ В ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОМ ТЕРМИЧЕСКОМ АНАЛИЗЕ, заключающийся в нагреве держателя образца с исследуемым образцом и держателя эталона с помощью нагревательного элемента, измерения текущей разности температур между держателем образца и держателем эталона, расчете параметров полинома, аппроксимирующего базовую линию пика, отличающийся тем, что осуществляют дополнительную стадию нагрева, при которой нагревают в держателе образца индифферентный в диапазоне исследуемого фазового превращения образец, измеряют текущие скорость нагрева держателя образца способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 и разность температур между держателем образца и нагревательным элементом способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSP(ti-tc), по которым рассчитывают величину термической инерции способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048(ti-tc) держателя образца в зависимости от времени нагрева по формуле

способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048

а параметры полинома находят из системы линейных условных уравнений вида

способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048

где i 0,1,2. m n; n>>m целые числа;

ti дискретный момент времени измерений, причем tcспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048tiспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048tn;

tc момент времени окончания фазового превращения в исследуемом образце и начала измерений;

tn момент времени окончания измерений;

a0, a1. ai.am искомые параметры полинома a0+a1(t1-tc) + + ai(ti-tc)i +.+ am(ti-tc)m, аппроксимирующего базовую линию пика;

способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSR(ti-tc) разность температур между держателем образца и эталоном в дискретные моменты времени измерений;

A предэкспоненциальный множитель, обусловленный исходной разностью температур, определяемый при ti=tc.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к физико-химическому анализу, в частности дифференциальному термическому анализу (ДТА). Для получения информации в ДТА ограничивают разными способами площадь пика фазового превращения путем восстановления (получения) базовой линии пика.

Известные способы получения базовой линии пика аналитически не формализованы, следовательно, не точны [1]

Для повышения точности используются способы, при которых считается, что базовая линия пика после окончания превращения в образце является горизонтальной прямой, представляющей собой базу измерения экспоненциального процесса, под которым подразумевается нисходящая ветвь пика ДТА [2] В этих способах полагают, что величина термической инерции образца измерена в отдельном эксперименте и, аппроксимируя нисходящую ветвь пика экспонентой, параметром которой является величина термической инерции, можно аналитически корректно получить базовую линию пика после окончания превращения в образце.

Недостатками известных способов является необходимость восстанавливать базовую линию аналитически не формализованными способами, исходя из эвристических положений, либо считать величину термической инерции образца постоянной, не зависящей от температуры нагрева.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому способу является способ, основанный на аналитической формализации процесса получения базовой линии путем совокупных измерений [3] Для восстановления базовой линии нисходящей ветви пика составляют систему условных уравнений, в левой части которых записывают сумму двух процессов с искомыми параметрами: полиномиального процесса, описывающего изменение базовой линии пика, и экспоненциального процесса, характеризующего процесс возврата образца в квазистационарное состояние нагрева после фазового превращения, а в правой части величины измерения разности температур между держателем образца и держателем эталона. В результате решения этой нелинейной системы уравнений определяются параметры полинома, позволяющие получить базовую линию пика после окончания превращения в образце.

Недостатком способа является необходимость постулировать постоянство величины термической инерции образца, характеризующей экспоненциальный процесс возврата образца в квазистационарное состояние после фазового превращения (нисходящая ветвь пика), а также обеспечить практическое решение нелинейной системы условных уравнений, которая при составлении часто становится некорректной из-за погрешностей измерения разности температур между держателем образца и эталоном.

Целью изобретения является повышение точности в получении базовой линии пика после окончания превращения в исследуемом образце в ДТА за счет учета зависимости величины термической инерции образца от времени нагрева (температуры).

Способ осуществляется следующим образом.

В основной стадии нагрева в держатель образца (индекс S) помещают исследуемый термоактивный образец и производят нагрев термоаналитической установки, в процессе которого осуществляют дискретные измерения в момент времени ti текущей разности температур между держателем образца и держателем эталона (индекс R) способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 TSR(ti tc) в интервале времени tc способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 tiспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 tn, где tс момент времени окончания фазового превращения в исследуемом образце и начала измерения; tn момент времени окончания процесса измерения. В дополнительной стадии нагрева в держатель образца помещают индифферентный в диапазоне исследуемого фазового превращения образец, одновременно измеряют текущие скорость способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048(ti tc) роста температуры при нагреве держателя образца и разность температуры между нагревательным элементом (индекс Р) и держателем образца способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 TSP(ti tc), далее рассчитывают термическую инерцию способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 держателя образца по формуле, как величину, зависящую от времени нагрева (температуры)

способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048(ti-tc), (1) а параметры полинома (ao, a1.am), аппроксимирующего базовую линию пика и предэкспоненциальный множитель А (обусловлен начальной разностью температур способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSR(ti to) ao + A при ti tc и является вспомогательным параметром при составлении уравнений), определяют из системы n линейных уравнений

ao+a1(ti-tc)+.+ai(ti-tc)i+.+am(ti-tc)m+A expспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048- способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSR(ti-tc) (2) где i 0, 1, 2.mn; n >> m.

Рассмотрим определение базовой линии пика в соответствии с предлагаемым способом в предположении что базовая линия пика после окончания фазового превращения в образце представляет собой полином первой степени ao + a1(ti tc).

Система уравнений для определения базовой линии в этом случае, согласно (2) принимает вид

ao + A способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSR(ti tc)

ao+a1(t1-tc)+A expспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048- способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048=способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSR(t1-tc)



ao+a1(ti-tc)+A expспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048- способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048=способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSR(ti-tc)



ao+a1(tn-tc)+A expспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048- способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048=способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSR(tn-tc) где i 0, 1, 2.n; n>>2,

способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048(ti-tc) способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 вычисляется по данным дополнительной стадии нагрева.

Решение линейной системы уравнений с неизвестными ao, a1 и А эффективно осуществляется методом наименьших квадратов, устойчивым к погрешности измерений способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048TSR(ti tc)

Введем обозначения

ti=x1(i); expспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048- способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048=x2(i); способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048T(ti-tc)=y(i);

ao C1; a1 C2; A C3

Тогда можно записать

y(i) C1 + C2x1(i) + C3x2(i) для вычисления С1, С2 и С3 выпишем функционал невязок

F способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048[C1+C2x1(i)+C3x2(i)-y(i)]2, минимизируя его по С1, С2 и С3

способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 2способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048C1+C2x1(i)+C3x2(i)-y(i)способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048=0;

способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 2способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048C1+C2x1(i)+C3x2(i)-y(i)способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x1(i)=0;

способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 2способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048C1+C2x1(i)+C3x2(i)-y(i)способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x2(i)=0, получим систему уравнений

C1(n+1)+C2 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x1(i)+Cспособ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x2(i)способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048y(i);

C1 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x1(i)+C2 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x21(i)+C3 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x1(i)x2(i) способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048y(i)x1(i);

C1 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x2(i)+C2 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x1(i)x2(i)+C3 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048x22(i) способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048y(i)x2(i).

Для решения системы уравнений удобно применить правило Крамера, предварительно рассчитав определители способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 20450481 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 20450482 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 20450483, а затем C1 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048; C2 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048; C3 способ определения базовой линии пика после окончания   фазового превращения в образце в дифференциальном   термическом анализе, патент № 2045048.

Класс G01N25/02 исследование фазовых изменений; исследование процесса спекания 

способ оценки охлаждающей способности жидкостей -  патент 2504758 (20.01.2014)
способ исследования теплофизических свойств жидкостей и устройство для его осуществления -  патент 2504757 (20.01.2014)
устройство для определения фазового состояния газожидкостного потока -  патент 2501001 (10.12.2013)
способ определения температуры полного полиморфного превращения жаропрочных двухфазных титановых сплавов (альфа+бета)-мартенситного класса -  патент 2498280 (10.11.2013)
способ определения температуры кристаллизации парафинов в нефти -  патент 2495408 (10.10.2013)
способ неразрушающего определения температурных характеристик структурных переходов в полимерных материалах -  патент 2493558 (20.09.2013)
способ определения летучести и теплоты испарения смеси жидких веществ -  патент 2488811 (27.07.2013)
способ построения солидуса -  патент 2472140 (10.01.2013)
способ определения термоокислительной стабильности смазочных материалов -  патент 2453832 (20.06.2012)
способ определения температуры начала полиморфного превращения в двухфазных титановых сплавах с использованием метода акустической эмиссии -  патент 2447413 (10.04.2012)
Наверх