способ измерения сверхнизких температур

Классы МПК:G01N24/00 Исследование или анализ материалов с помощью ядерного магнитного резонанса, электронного парамагнитного резонанса или других спин-эффектов
G01K7/32 с использованием изменения резонансной частоты кристаллов 
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Пермский государственный университет им.А.М.Горького
Приоритеты:
подача заявки:
1992-01-09
публикация патента:

Сущность изобретения: используют в качестве активного элемента магнитноупорядоченные соединения, содержащие квадрупольные ядра. Регистрируют спектр ЯКР этих ядер. Для линий, обусловленных переходами способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 m способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 (m+1) во внутреннем магнитном поле, где m магнитное квантовое число, определяют резонансные частоты и отношение интенсивностей. С учетом данных параметров судят о температуре. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СВЕРХНИЗКИХ ТЕМПЕРАТУР, включающий измерения разонансных частот и интенсивностей линий спектра ядерного квадрупольного резонанса активного элемента, отличающийся тем, что в качестве активного элемента используют магнитоупорядоченные соединения, содержащие квадрупольные ядра, на которых наблюдают спектры ЯКР, измеряют резонансные частоты и отношения интенсивностей линий спектра ЯКР, обусловленных переходами способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 m _способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 (m+1) во внутреннем магнитном поле, где m магнитное квантовое число, и по полученным значениям судят о величине температуры.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к физике и технике сверхнизких температур (микро- и миллиградусной области абсолютных температур), и может найти применение в научном эксперименте, например, при исследовании сверхпроводимости.

Известен способ измерения сверхнизких температур до 1 К, основанный на радиоспектроскопических методах, в частности на стационарном и импульсном методах ЯМР измерения намагниченности ядерной спин-системы активного элемента, содержащего магнитные ядра, путем измерения амплитуд сигналов ЯМР и их зависимости от температуры по закону Кюри [1] Термометры, основанные на этом способе измерений, является вторичными термометрами, работающими в миллиградусном диапазоне (до 10 мК). Точность измерения по такому способу и, следовательно, чувствительность термометров (способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378Т/Т) невелика, что связано с погрешностями измерения амплитуд сигналов, зависящих от многих факторов.

Наиболее близким к изобретению является способ измерения сверхнизких температур в микро- и миллиградусном диапазоне, включающий измерения амплитуд и резонансных частот сигналов ядерного квадрупольного резонанса активного элемента, содержащего квадрупольные ядра с большими полуцелыми спинами и помещенного в слабое магнитное поле [2] В кристаллических образцах внешнее магнитное поле вызывает расщепление энергетических уровней и появление в спектрах ЯКР дублетных сигналов, измерение амплитуд и частот которых позволяет определять температуру. В качестве активных элементов использовались: металлическая сурьма Sb и монокристаллический ICl.

Основным недостатком указанного способа является относительная сложность и недостаточная точность измерений. Сложность известного способа связана с необходимостью использования стабилизированного постоянного внешнего магнитного поля для создания тонкой структуры спектров ЯКР, величина которого определяется диапазоном частот ЯКР активного элемента, наблюдаемыми резонансными переходами, гиромагнитным отношением и спином квадрупольного ядра. Кроме того, способ измерения температуры связан с необходимостью измерения величины внешнего магнитного поля в случае использования поликристаллических образцов и угловой ориентации поля в случае применения в качестве активного элемента монокристаллов. Измерение этих параметров вносит значительную погрешность в определение величины температуры.

Задачей изобретения является разработка такого способа измерений сверхнизких температур, который бы наиболее просто позволил повысить точность и расширить диапазон измерений.

Задача достигается тем, что согласно способу измерения сверхнизких температур, включающему измерения резонансных частот и интенсивной линий спектра ядерного квадрупольного резонанса активного элемента, в качестве активного элемента используют антиферромагнитные соединения, содержащие квадрупольные ядра, на которых наблюдают спектры ЯКР, измеряют резонансные частоты и отношения интенсивностей линий спектра ЯКР, обусловленных переходами способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378m _способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378(m + 1) во внутреннем магнитном поле, где m магнитное квантовое число, и по полученным значениям судят о величине температуры.

К антиферромагнитным соединениям, содержащим квадрупольные ядра, на которых наблюдаются спектры ЯКР, относятся металлооксидные соединения, которые ниже температуры Нееля проявляют магнитоупорядоченные свойства, т. е. в них имеются внутренние магнитные поля, расщепляющие спектр ЯКР с полуцелым спином большим или равным 3/2. Например, в купрате лантана La2CuO4 на ядрах меди и лантана действуют внутренние магнитные поля, создаваемые электронными оболочками атомов меди и исчезающие при температуре выше 245 К. На ядрах 139La (спин 7/2) при низких температурах действует внутреннее магнитное поле 1000 Э, которое приводит к расщеплению энергетических уровней способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378m и появлению тонкой структуры спектров.

На фиг. 1 представлены энергетические уровни квадрупольных ядер со спином 7/2 во внутреннем поле (Нвнспособ измерения сверхнизких температур, патент № 20513780) и частоты способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378+=способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378-m_способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378-(m+1)и способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378-=способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378m_способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378(m+1) линий спектра, по которым определяется величина температуры.

На фиг. 2 показан вид спектра, по частотам и интенсивностям линий, обусловленных переходами -m_способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378-(m+1) и m_способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378(m+1), определяют температуру. При сверхнизких температурах (Т << 1 К) отношение интенсивностей линий способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378+ и способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378- определяется по формуле

способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 eспособ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 где I+ и I- интенсивности линий спектра с частотами способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378+ и способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378-, соответственно; к константа Больцмана; h постоянная Планка. Расщепления способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378 способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378m определяются по измеренным частотам спектра.

На фиг. 3 показаны графические температурные зависимости отношений интенсивностей линий для переходов способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378m_способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378(m+1)в случае использования в качестве активного элемента La2CuO4. Кривая 1 отношение интенсивностей I2:I3, соответствующих частотам способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513782 и способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513783; 2 I6:I5; 3 I8:I7. Для расчета по приведенным формулам использованы резонансные частоты ЯКР способ измерения сверхнизких температур, патент № 2051378i, полученные при 1,3 К способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513781 5,34; способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513782 5,71; способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513783 7,72; способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513784 8,10; способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513785 12,59; способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513786 12,82; способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513787 19,01; способ измерения сверхнизких температур, патент № 20513788 19,26 МГц.

Использование отношений интенсивностей близких по резонансным частотам линий позволяет избежать необходимости калибровки усиления спектрометра, поддерживать стабильность в широком диапазоне частот, регистрировать оба сигнала одной радиочастотной катушкой, что не требует внесения поправок. В данном способе отпадает такая операция, как определение величины и ориентации внутреннего магнитного поля, которые одинаковы для всех кристаллитов. При этом существенно повышается точность измерения Т, которая зависит лишь от точности измерения резонансных частот и отношения интенсивностей линий дублетов. Из графиков фиг. 2 видно, что рабочим диапазоном измерения температуры является участок линейной зависимости отношения интенсивностей от Т, которые различаются при использовании разных дублетов как по местоположению в шкале температур, так и по ширине диапазона. Варьирование диапазона измеряемых температур может быть осуществлено путем использования в качестве активного элемента других соединений как из класса металлооксидных соединений, так и других типов магнитоупорядоченных веществ с внутренним магнитным полем. Могут быть использованы следующие уже исследованные методом ЯКР соединения: La2NiO4, La2CO4, Bi2CuO4 и др. Объемы веществ, требующихся для получения сигналов ЯКР с достаточно высоким значением отношения сигнал/шум при сверхнизких температурах, составляют порядка 1-10-3 см3.

Класс G01N24/00 Исследование или анализ материалов с помощью ядерного магнитного резонанса, электронного парамагнитного резонанса или других спин-эффектов

устройство для воздействия инфракрасным излучением на коллагеновый слой кожи человека с визуализацией процесса -  патент 2527318 (27.08.2014)
мрт с гиперполяризационным устройством, использующим фотоны с орбитальным угловым моментом -  патент 2526895 (27.08.2014)
способ дистанционного обнаружения вещества -  патент 2526594 (27.08.2014)
способ оценки качества кварцевого сырья -  патент 2525681 (20.08.2014)
способ оперативного контроля качества нефти и нефтепродуктов -  патент 2519496 (10.06.2014)
импульсная последовательность для измерения параметров самодиффузии методом ядерного магнитного резонанса -  патент 2517762 (27.05.2014)
способ геохимической разведки для геоэкологического мониторинга морских нефтегазоносных акваторий -  патент 2513630 (20.04.2014)
способ дистанционного обнаружения вещества -  патент 2510015 (20.03.2014)
способ определения содержания твердого жира по данным ямр-релаксации -  патент 2506573 (10.02.2014)
способ определения содержания твердого жира по данным ямр-релаксации, прямой метод -  патент 2506572 (10.02.2014)

Класс G01K7/32 с использованием изменения резонансной частоты кристаллов 

Наверх