способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала
Классы МПК: | G01R29/08 для измерения характеристик электромагнитного поля G01R29/12 для измерения электростатических полей |
Автор(ы): | Ковалев С.В., Нестеров С.М., Скородумов И.А. |
Патентообладатель(и): | Военный объединенный Совет ВОИР |
Приоритеты: |
подача заявки:
1994-03-17 публикация патента:
10.11.1996 |
Способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, заключающийся в изготовлении образца материала по профилю коаксиального блока измерений, установке этого образца в коаксиальный блок измерений и подводе к нему СВЧ-сигнала необходимого диапазона длин волн, отличающийся тем, что выполняют образец толщиной d <
/100, где
- минимальная длина волны в измеряемом дипазоне волн, проводят одно измерение комплексных коэффициентов отражения R и прохождения T, а комплексные диэлектрической e и магнитной m проницаемостей определяют по зависимостям
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052t.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052-2t.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052-3t.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052-4t.gif)
где![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052-5t.gif)
R = 2
/
;
R, T - комплексные коэффициенты отражения и прохождения волны.
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069028/955.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069028/955.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052t.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052-2t.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052-3t.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052-4t.gif)
где
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069052/2069052-5t.gif)
R = 2
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069012/960.gif)
![способ определения комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающего материала, патент № 2069052](/images/patents/403/2069028/955.gif)
R, T - комплексные коэффициенты отражения и прохождения волны.
Описание изобретения к патенту
Класс G01R29/08 для измерения характеристик электромагнитного поля
Класс G01R29/12 для измерения электростатических полей