способ измерения поляризации рентгеновского излучения
Классы МПК: | G01T1/32 измерение поляризации частиц |
Автор(ы): | Тиндо И.П., Бейгман И.Л. |
Патентообладатель(и): | Физический институт им.П.Н.Лебедева РАН |
Приоритеты: |
подача заявки:
1993-07-29 публикация патента:
27.12.1996 |
Сущность изобретения: рентгеновское излучение направляют в анизотропную поглощающую среду и определяют параметры азимутальной асимметрии распределения генерируемых в среде первичных фотоэлектронов. По этим параметрам затем вычисляют с использованием калибровочных данных степень поляризации и позиционный угол плоскости поляризации. В качестве поглощающей среды используют слоистую структуру, с попарно чередующимися слоями: активным, поглощающим рентгеновские фотоны и люминесцирующий компонент, и пассивным, поглощающим фотоэлектроны. При этом пучок рентгеновских фотонов направляют вдоль продольной оси конвертора, соответственно, вдоль или поперек - в зависимости от конфигурации - элементов структуры, поперечный размер которых порядка длины пробега первичных фотоэлектронов. Определение параметров азимутальной анизотропии распределения фотоэлектронов проводят по угловому распределению люминесцентных треков фотоэлектронов. Изобретение может быть использовано при создании поляриметров для диагностики горячей неравновесной и неоднородной, в том числе термоядерной, плазмы в лабораторных, натурных и астрофизических экспериментах.
Формула изобретения
Способ измерения поляризации рентгеновского излучения, при котором поток рентгеновских фотонов направляют в поглощающую среду, а затем определяют параметры азимутальной анизотропии распределения генерируемых в среде первичных фотоэлектронов и по ним вычисляют степень поляризации и позиционный угол плоскости поляризации, отличающийся тем, что в качестве поглощающей среды используют слоистую структуру, слои которой параллельны направлению распространения пучка рентгеновского излучения, с оптической толщей порядка единицы для рентгеновского излучения, попарно чередующиеся слои структуры различны по величине коэффициента рентгеновского поглощения и люминесцентным свойствам, а толщина слоев порядка длины пробега первичных фотоэлектронов, при этом определение параметров азимутальной анизотропии распределения фотоэлектронов производят по угловому распределению их люминесцентных треков.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к технике измерения линейной поляризации рентгеновского излучения "классического" диапазона энергий фотонов: 10 100 кэВ. Изобретение может быть использовано при создании поляриметров для диагностики горячей, неравновесной и неоднородной плазмы, в том числе термоядерной, в лабораторных, натурных и астрофизических экспериментах. Известен способ измерения степени поляризации и позиционного угла плоскости поляризации рентгеновского излучения, основанный на измерении азимутальной анизотропии интенсивности поляризованного рентгеновского излучения, рассеянного (соответственно, отраженного) в приборе под углами, близкими к 90o, в различных азимутальных направлениях. Основным элементом томсоновских, комптоновских и брэгговских поляриметров, в которых реализован описываемый способ измерения поляризации, является рассеиватель (соответственно, отражатель), выполненный из материала, слабо поглощающего рентгеновское излучение с малым эффективным атомным номером (см. соответственно, I.Tindo et al. Rontgenpolarimeter von "Interkosmos-7" fur die Untersuchung von Strahlung der Sonneneruptionen/ Radio-Fernsehen-Elektronik, 1974, 23, 18); G. Сhanan et al. Prospekt for solar flare Х-ray polarimetry /Sol.Рhys. 1988, 118, N 1/2, 309/; Е. Silver et al. Bragg cristal polirimeters/ Opt.Engn. 1990, 29, N 7, 759/). Анализируемый пучок рентгеновских лучей направляют на рассеиватель и регистрируют интенсивность излучения, рассеянного (отраженного) на углы, близкие к 90o, под различными азимутальными углами. Степень поляризации находят по измеренной степени анизотропии интенсивности с использованием калибровочных данных. По характеристикам примененных рассеивателей (соответственно, отражателей) и схем регистрации поляриметры, основанные на рассеянии, разделяются на три основных типа: томсоновские с рассеивателем из аморфного или поликристаллического материала, комптоновские с рассеивателем и сцинтиллирующего материала (что позволяет регистрировать также электрон отдачи с целью дискриминации фона корпускулярных частиц) и брэгговские в которых рассеяние реализуется в когерентной форме как отражение от дифракционных кристаллов (или искусственных периодических интерференционных структур). Основными недостатками описываемого способа измерения поляризации, являются у томсоновских и комптоновских поляриметров низкая абсолютная эффективность, обусловленная неблагоприятной геометрией рассеяния при типичном соотношении сечений рассеяния и поглощения в "классической" области энергий, у брэгговскимх поляриметров узкая рабочая область энергий фотонов: доли кэВ, и ограничение энергетического диапазона со стороны высоких энергий (ЕБ < 10 кэВ). Известен также способ измерения рентгеновской поляризации по поляризационной зависимости выхода CsI-фотокатода "векторному эффекту" в фотоэлектронной эмиссии, открытому Дж. У. Фрэзером в 1988 году (G.Fraser et al. Measurement of vectorial effects in the Х-ray and UV photoemission from CsI: a novel polarimeter for soft Х-ray astronomy/NIМ, 1989, А284, 483). При реализации этого способа измерения пучок рентгеновских лучей направляют под скользящим углом на CsI-фотокатод и регистрируют эмиттируемые электроны чувствительным приемником, например, на основе МКП-пластины. Для измерения поляризационного эффекта детектор вращают вокруг оси рентгеновского пучка (см. G.Fraser et al. Photoemission polarimeter in soft Х-ray astronomy /Opt. Engn. 1990, 29, N 8, 959/). Основным недостатком фотоэмиссионного способа является ограничение рабочего диапазона со стороны высоких энергий величиной в несколько кэВ. Наиболее близким к предлагаемому является способ измерения поляризации, принятый за прототип, предложенный Х.Цунеми и др. (Н. Tsunemi et al. Detection of Х-ray polarisation with a charge coupled device /NIМ, 1992, А321, 629/), основанный на измерении азимутальной ассимметрии распределения зарядовых треков, возникающих в полупроводнике после пролета первичных фотоэлектронов, генерируемых при поглощении в нем поляризованного рентгеновского излучения. При данном способе измерения поляризации анализируемый поток рентгеновских фотонов направляют на фотоэлектрический конвертор двумерную ПЗС-фотоматрицу с размером элементов (пикселей), сравнимым с длиной пробега в кремнии первичных фотоэлектронов (при данной энергии фотонов). При этом в части актов поглощения рентгеновского фотона сигнал регистрируется не в одном, а одновременно в двух (или более, при достаточно малом размере элемента) пикселях, расположенных вдоль трека электрона. В случае регистрации поляризованного излучения наблюдается некоторая асимметрия распределения парных событий, отражающая преимущественный вылет фотоэлектронов в направлении электрического вектора рентгеновского фотона (внутренний фотоэффект). Основным недостатком способа-прототипа является низкая эффективность регистрации рентгеновских фотонов (в рабочем диапазоне энергий порядка 15 37 кэВ), связанная с весьма неблагоприятным соотношением длин пробега в веществе рентгеновских фотонов и генерируемых ими первичных фотоэлектронов (соответственно, миллиметры и сантиметры у фотонов по сравнению с микронами и десятками микрон у электронов). В результате, в конверторе используется ничтожная часть энергии падающего на него рентгеновского потока, а именно та, что поглощается в активном слое ПЗС-матрицы толщиной в несколько микрон. В цитируемой работе получена также крайне низкая поляризационная чувствительность (фактор поляризационной модуляции
