способ определения фокусного расстояния длиннофокусных оптических систем и устройство для его осуществления
Классы МПК: | G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам |
Автор(ы): | Мещеряков В.И., Филиппов О.К., Синельников М.И. |
Патентообладатель(и): | Научно-исследовательский институт комплексных испытаний оптико-электронных приборов и систем Государственного научного центра "ГОИ им.С.И.Вавилова" |
Приоритеты: |
подача заявки:
1994-09-28 публикация патента:
20.01.1997 |
1. Способ определения фокусных расстояний длиннофокусных оптических систем, заключающийся в том, что генерируют оптическое излучение, формируют из него рабочий пучок излучения, направляют его в оптическую систему, измеряют пространственные параметры пучка и определяют на их основе фокусное расстояние, отличающийся тем, что рабочий пучок организуют параллельным, фиксируют пространственное положение пучка на выходе системы, вводят в посылаемый в оптическую систему пучок заданное угловое смещение и по новому положению пучка на выходе оптической системы рассчитывают фокусное расстояние. 2. Устройство для осуществления способа, содержащее источник излучения, испытуемую оптическую систему, оптический прибор для измерения пространственных характеристик источника излучения, отличающееся тем, что оно дополнительно содержит расположенные на оптической оси между источником излучения и испытуемой оптической системой блок формирования параллельного пучка оптического излучения и оптический элемент оптического клина, снабженного механизмом перемещения в направлении, перпендикулярном оптической оси, при этом фокусное расстояние определяется из формулы
где угол клина;
d - расстояние между осевым и смещенными пучками;
n - показатель преломления материала клина.
где угол клина;
d - расстояние между осевым и смещенными пучками;
n - показатель преломления материала клина.
Описание изобретения к патенту
Класс G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам