способ интерференционного контроля оптической системы микроскопа
Классы МПК: | G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам |
Патентообладатель(и): | Гусев Владимир Георгиевич |
Приоритеты: |
подача заявки:
1993-12-14 публикация патента:
10.04.1997 |
Способ интерференционного контроля качества оптической системы микроскопа, включающий освещение диффузного рассеивателя излучением с плоской когерентной волной, пропускание диффузно рассеянного излучения через контролируемый объект с известной величиной f фокусного расстояния, запись на светочувствительной среде голограммы с помощью плоской опорной волны, введение взаимных фазовых изменений в световые волны, повторную запись голограммы и регистрацию интерферограммы контроля при проведении пространственной фильтрации в плоскости голограммы, отличающийся тем, что выбирают расстояние от диффузного рассеивателя до главной плоскости объектива l = f1(f1+)/, где f1 - фокусное расстояние объектива, - оптическая длина тубуса микроскопа, а расстояние от главной плоскости окуляра до светочувствительной среды L= f2(f2+)/, где f2 - фокусное расстояние окуляра, осуществление взаимных изменений в световых волнах проводят путем смещения светочувствительной среды в плоскости ее размещения и изменения в направлении смещения угла наклона плоской волны освещения диффузного рассеивателя на величину = arcsin a/f, где a - величина смещения светочувствительной среды, f= f1f2/.п
Описание изобретения к патенту
Класс G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам