устройство для выверки оптических осей

Классы МПК:G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Акционерное общество открытого типа "Красногорский завод им.С.А.Зверева"
Приоритеты:
подача заявки:
1993-03-19
публикация патента:

Устройство для выверки параллельности оптических осей многоканальной системы, включающее коллиматор, состоящий из объектива с маркой, установленный в одном из каналов, при этом спектральный диапазон коллиматора совпадает со спектральным диапазоном одного оптического канала, плоское зеркало и призму, отличающееся тем, что в него введены по крайней мере один дополнительный коллиматор со спектральным диапазоном, совпадающим со спектральным диапазоном другого канала, призма, а плоское зеркало обоих коллиматоров выполнено общим.

Описание изобретения к патенту

Класс G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам

установка для измерения углового поля зрения и контроля величины шага линий миры тест-объекта -  патент 2521152 (27.06.2014)
интерферометр для контроля телескопических систем и объективов -  патент 2518844 (10.06.2014)
волоконно-оптическая система и способ измерения множественных параметров турбомашинной системы -  патент 2513646 (20.04.2014)
способ оценивания очковой линзы, способ проектирования очковой линзы и способ изготовления очковой линзы -  патент 2511711 (10.04.2014)
способ оценивания очковых линз, способ проектирования очковых линз, способ изготовления очковых линз, система изготовления очковых линз и очковая линза -  патент 2511706 (10.04.2014)
устройство контроля, юстировки и сведения оптических осей каналов многоканальных приборов и широкополосный излучатель в видимой и ик-областях спектра -  патент 2511204 (10.04.2014)
способ оценки состояния контролируемого объекта -  патент 2508528 (27.02.2014)
способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур -  патент 2507495 (20.02.2014)
мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем с матричными фотоприемными устройствами и способ ее использования -  патент 2507494 (20.02.2014)
способ определения места повреждения оптического волокна -  патент 2503939 (10.01.2014)
Наверх