способ коррекции оптической системы

Классы МПК:G02B3/02 с несферическими поверхностями
C23C14/04 нанесение покрытия на выбранный участок поверхности, например с использованием масок
Автор(ы):, , , , ,
Патентообладатель(и):Акционерное общество открытого типа "Красногорский завод им.С.А.Зверева"
Приоритеты:
подача заявки:
1994-09-22
публикация патента:

Способ коррекции оптической системы, заключающийся в том, что рассчитывают оптическую систему со сферическими поверхностями при небольших остаточных аберрациях, вводят в систему асферические поверхности для получения допустимых значений остаточных аберраций, подбирают ближайшие к асферическим поверхностям сферы, вычисляют толщины слоев, подлежащих нанесению или съему с этих сфер в вакууме, рассчитывают и изготавливают маски для асферизации и изготавливают оптические элементы с заданными асферическими поверхностями, отличающийся тем, что проводят коррекционный перерасчет оптической системы, снижая толщину наносимого или снимаемого слоя материала до технологически освоенных величин на каждой асферической поверхности за счет увеличения общего количества вводимых в систему асферических поверхностей, определяют группу поверхностей, подлежащих асферизации в едином технологическом процессе, рассчитывают и изготавливают для каждой поверхности соответствующую ей маску, выбирая при этом значение максимального угла раскрытия выреза для каждой из масок по следующей математической зависимости:

способ коррекции оптической системы, патент № 2078468

где способ коррекции оптической системы, патент № 2078468 - максимальный угол раскрытия вырезов маски для асферизации i-того оптического элемента, угл. град;

способ коррекции оптической системы, патент № 2078468 - максимальная асферичность (максимальное отступление асферики от ближайшей сферы) i-го элемента, мкм;

способ коррекции оптической системы, патент № 2078468 - максимальная асферичность опорной поверхности, т.е. поверхности с наибольшей асферичностью из всей группы элементов, подлежащих асферизации, мкм;

способ коррекции оптической системы, патент № 2078468 - максимальный угол раскрытия вырезов маски для асферизации опорной поверхности, угл. град;

проводят процесс асферизации с помощью масок одновременно всей группы оптических элементов, а прекращают процесс в момент достижения на опорной асферизуемой поверхности толщины наносимого или снимаемого слоя, равной расчетному значению способ коррекции оптической системы, патент № 2078468ю

Описание изобретения к патенту

Класс G02B3/02 с несферическими поверхностями

градиентная линза с апланатическими и телескопическими свойствами -  патент 2529775 (27.09.2014)
оптическое устройство для световых источников сид -  патент 2427012 (20.08.2011)
линза-фокон -  патент 2069380 (20.11.1996)

Класс C23C14/04 нанесение покрытия на выбранный участок поверхности, например с использованием масок

способ изготовления rfid-антенн, работающих в диапазоне ультравысокой частоты -  патент 2507301 (20.02.2014)
способ маскировки охладительных отверстий и устройство для использования в процессе маскировки охладительных отверстий -  патент 2485207 (20.06.2013)
устройство для напыления в вакууме тонких слоев многослойных изделий -  патент 2432417 (27.10.2011)
способ получения легирующих покрытий на поверхности металлического материала -  патент 2394939 (20.07.2010)
защитная маска для обработки поверхности лопаток турбомашины -  патент 2369443 (10.10.2009)
испарительное устройство с резервуаром для содержания испаряемого материала -  патент 2335575 (10.10.2008)
способ обработки поверхности лопаток газотурбинного двигателя -  патент 2296181 (27.03.2007)
система для изготовления массива материалов с покрытиями (варианты) -  патент 2270881 (27.02.2006)
комбинаторные системы и способы нанесения покрытий с использованием органических веществ -  патент 2268777 (27.01.2006)
способ нанесения декоративного нитридтитанового покрытия на изделия из керамики, металла, стекла и полимерных материалов -  патент 2266351 (20.12.2005)
Наверх