способ аттестации телескопа

Классы МПК:G02B23/00 Телескопические устройства, например бинокли; перископы; приборы для просмотра внутренней полости полых тел; видоискатели; устройства оптического наведения или прицеливания
G01M11/02 испытание оптических свойств 
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):Товарищество с ограниченной ответственностью "Интеллект"
Приоритеты:
подача заявки:
1991-06-15
публикация патента:

Использование: в астрономии, в частности в способах аттестации телескопа в атмосферных условиях. Сущность изобретения: световое излучение принимают, коллимируя его, разделяют на два пучка равной интенсивности и сдвигают друг относительно друга на величину, меньшую величины пространственного радиуса корреляции атмосферных флюктуаций. Затем суммируют сдвинутые пучки, дискретизируют и детектируют в каждой области дискретизации, интегрируют результаты детектирования в двух взаимоортогональных направлениях и восстанавливают карту аберрационных искажений телескопа. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

Способ аттестации телескопа, включающий дискретизацию на области порядка радиуса корреляции атмосферных флюктуаций прошедшего через аттестуемый телескоп отфильтрованного излучения, квадратичное детектирование излучения в каждой области дискретизации и математическую обработку результатов детектирования за время, большее интервала временной корреляции атмосферных флюктуаций, отличающийся тем, что перед дискретизацией оптическое излучение коллимируют, разделяют на два пучка равной интенсивности, пространственно сдвигая их в двух взаимно ортогональных направлениях на величину, на один или несколько порядков меньшую пространственного радиуса корреляции атмосферных флюктуаций, затем их суммируют, а детектирование осуществляют матричным квадратичным детектором с периодом детекторов, равным величине сдвига пучков в схеме разделения, после чего восстанавливают карту аберрационных искажений телескопа путем интегрирования результатов детектирования в двух взаимно перпендикулярных направлениях.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к астрономии, причем предпочтительным является использование его для аттестации телескопа в атмосферных условиях его эксплуатации.

Известен способ аттестации телескопа, основанный на формировании изображения точечного источника и последующей оценки разрешающей способности телескопа по функции размытия изображения точек. Этот способ был предложен В. И.Проником и А.Г.Щербаковым и описан в (1).

Недостаток этого способа аттестации телескопа заключается в том, что он применим только в цеховых условиях при изготовлении телескопа и, во-вторых, он не позволяет восстановить карту аберрационных искажений телескопа.

Известно также, что основным способом аттестации телескопа является метод Гартманна, предложенный и описанный им в работе (2). Этот метод основан на дискретизации светового излучения, прошедшего через аттестуемый телескоп, квадратичном детектировании излучения, фокусируемого в каждой области, и восстановлении карты аберрационных искажений телескопа по результатам детектирования в каждой области дискретизации.

Недостаток этого способа заключается в том, что при квадратичном детектировании светового излучения в каждой области дискретизации за время меньше интервала временной корреляции атмосферных флуктуаций способ аттестации телескопа, патент № 2079156A=(0,2способ аттестации телескопа, патент № 20791560,001) сек восстанавливается суммарная карта аберрационных искажений телескопа и атмосферы, то есть этот метод применим для аттестации телескопа только в цеховых условиях при его изготовлении, когда искажения светового излучения в турбулентной атмосфере практически отсутствуют.

В действительности чрезвычайно актуальной является аттестация телескопа в условиях его эксплуатации. Во первых, это позволяет принять решение о необходимости демонтажа зеркала телескопа и его покрытий и, во-вторых, что особенно важно, позволяет выявить карту аберрационных искажений телескопа, и скомпенсировать эти искажения при последующей обработке изображения.

Для устранения аберраций атмосферы и восстановления карты аберрационных искажений телескопа в атмосферных условиях его эксплуатации был предложен способ аттестации телескопа, являющийся модификацией метода Гартманна (3). Этот метод в отличие от метода Гартманна основан на том, что осуществляют квадратичное детектирование принимаемого светового излучения, прошедшего через аттестуемый телескоп в каждый области дискретизации за время большее интервала временной корреляции атмосферных флуктуаций. При этом происходит усреднение атмосферных фазовых флуктуаций, но вместе с тем снижается и точность аттестации телескопа по сравнению с аттестацией его в цеховых условиях методом Гартманна. Снижение точности обусловлено тем, что при усреднении атмосферных флуктуаций теряется вся высокочастотная информация в восстанавливаемой карте аберрационных искажений телескопа для пространственных частот f больших величин способ аттестации телескопа, патент № 2079156, где r0 пространственный радиус корреляции атмосферных флуктуаций светового излучения (r0способ аттестации телескопа, патент № 207915610 см), способ аттестации телескопа, патент № 2079156 средняя длина волны принимаемого светового излучения, и F фокусное расстояние аттестуемого телескопа. способ аттестации телескопа, патент № 2079156 простанственно-частотный вектор в плоскости приемной апертуры аттестуемого телескопа способ аттестации телескопа, патент № 2079156 изменяется от 0 до D/2, где D- диаметр апертуры телескопа.

Данный способ по изобретению лишен указанного недостатка.

Цель способа заключается в повышении точности аттестации телескопа в атмосферных условиях его эксплуатации. Поставленная цель достигается тем, что в способе аттестации телескопа, основанном на дискретизации оптического излучения, прошедшего через аттестуемый телескоп, квадратичном детектировании этого оптического излучения в каждой области дискретизации и интегрировании результатов детектирования за время большее интервала временной корреляции атмосферных флуктуаций, перед дискретизацией оптическое излучение коллимируют, спектрально фильтруют, разделяют на два пучка равной интенсивности, пространственно сдвигают пучки в двух взаимно-ортогональных направлениях на величину, меньшую пространственного радиуса корреляции атмосферных флуктуаций, суммируют сдвинутые пучки, и после дискретизации суммарного излучения на области, ограниченные пространственным радиусом корреляции атмосферных флуктуаций, кваддетектирования оптического излучения в каждой области дискретизации и интегрирования результатов детектирования в двух взаимноортогональных направлениях, восстанавливают карту аберрационных искажений телескопа путем сшивания результатов интегрирования в двух взаимоортогональных направлениях. На чертеже представлена возможная схема его реализации.

Здесь 1 точечный источник светового излучения (звезда),

2 турбулентная атмосфера,

3 аттестуемый телескоп,

4 коллимирующая линза,

5 интерференционный светофильтр,

6 полупрозрачное светоделительное зеркало;

7 плоские зеркала,

8 полупрозрачное суммирующее зеркало,

9 матричный квадратичный детектор,

10 делительное устройство,

11 устройство сшивания фазы.

Дадим краткое математическое обоснование способа и рассмотрим его реализацию по схеме, представленной на чертеже.

Световое излучение от точечного широкополосного источника (звезды), прошедшее через турбулентную атмосферу и аттестуемый телескоп, можно представить в виде произведения трех сомножителей.

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Здесь

E0 комплексная амплитуда плоской волны от точечного источника.

способ аттестации телескопа, патент № 2079156 функция атмосферного изменения параметров светового излучения от объекта E0 определяемая

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

где

способ аттестации телескопа, патент № 2079156 и способ аттестации телескопа, патент № 2079156, соответственно, функции атмосферных флуктуаций амплитуды и фазы светового излучения в атмосфере.

способ аттестации телескопа, патент № 2079156 функция изменения параметров светового излучения в телескопе, определяемая

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

где

способ аттестации телескопа, патент № 2079156 функция зрачка телескопа, а способ аттестации телескопа, патент № 2079156 карта аберрационных искажений аттестуемого телескопа. Тогда с учетом (2) и (3) выражение (1) можно представить в виде

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

После прохождения светового излучения (4) через узкополосный светофильтр имеем

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

где

способ аттестации телескопа, патент № 2079156 средняя длина волы излучения в полосе пропускания интерференционного светофильтра Dl. После пропускания интерференционного светофильтра Dl выбирается из условия когерентности принимаемого светового излучения.

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

где

способ аттестации телескопа, патент № 2079156т среднеквадратичное отклонение неоднородностей поверхности телескопа от идеальной фокусирующей поверхности.

Задача аттестации телескопа заключается в выделении функции способ аттестации телескопа, патент № 2079156 по принимаемому световому излучению (5).

Для достижения поставленной цели разделяют принимаемое световое излучение (5) на два пучка разной интенсивности и сдвигают эти пучки друг относительно друга на величину способ аттестации телескопа, патент № 2079156, меньшую (по крайней мере на порядок) величины пространственного радиуса коррекции атмосферных флуктуаций с учетом коллимаций способ аттестации телескопа, патент № 2079156

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

где с учетом коллимации

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

а

r0 пространственный радиус корреляции атмосферных флуктуаций на приемной апертуре телескопа, f фокусное расстояние коллимирующей линзы.

В результате указанного сдвига имеет

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

где

kспособ аттестации телескопа, патент № 2079156способ аттестации телескопа, патент № 2079156 разница в оптической длине световых путей пучка (10) относительно пучка (9), способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Заметим, что практически удобно оценивать сдвиг пучков в двух взаимно-ортогональных направления по U и V где способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Суммируя сдвинутые пучки, получим

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Далее суммарное поле (II) дискретизируют и квадратично детектируют матричным приемником, у которого расстояние между центрами соседних элементов матрицы и их размеры вибрируются равными способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Тогда электрический сигнал на выходе К-го элемента матрицы можно записать

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Осуществляя квадратичное детектирование за время, более интервала временной корреляции атмосферных флуктуаций T способ аттестации телескопа, патент № 2079156 способ аттестации телескопа, патент № 2079156A, и усредняя при этом атмосферные флуктуации, имеем:

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Здесь

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

где способ аттестации телескопа, патент № 2079156 способ аттестации телескопа, патент № 2079156,способ аттестации телескопа, патент № 2079156,

где способ аттестации телескопа, патент № 2079156

структурная функция атмосферных фазовых флуктуаций, определяемая

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Учитывая, что величина сдвига способ аттестации телескопа, патент № 2079156способ аттестации телескопа, патент № 2079156 выбрана таким образом, что выполняется условие (7), то нетрудно убедиться, что

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Таким образом введение преддетекторного сдвига способ аттестации телескопа, патент № 2079156 позволяет усреднить атмосферные эффекты в отличие от прототипа так, что это усреднение практически не влияет на точность измерения величины способ аттестации телескопа, патент № 2079156. При этом точность измерения будет тем выше, чем меньше величина упомянутого сдвига.

В результате усреднения выражения (13) можно написать в виде

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

При выборе величины пространственного сдвига, удовлетворяющего (7), из дополнительного условия

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

где

n целое число, получаем

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Учитывая далее, что для малого аргумента sinспособ аттестации телескопа, патент № 2079156 способ аттестации телескопа, патент № 2079156 способ аттестации телескопа, патент № 2079156, после соответствующей нормировки окончательно получаем, что сигнал на выходе К-го канала дискретизации пропорционален разности фаз.

способ аттестации телескопа, патент № 2079156,

где способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Сшивая далее полученные разности для всех каналов дискретизации восстанавливаем карту оберрационных искажений аттестуемого телескопа.

способ аттестации телескопа, патент № 2079156

Положительный эффект от использования способа заключается в повышении точности аттестации телескопа в атмосферных условиях его эксплуатации. При этом точность восстановления карты аберрационных искажений телескопа тем выше, чем меньше величина сдвига и соответствующего ему элемента дискретизации.

Предварительные испытания с применением фотоматриц на приборах с зарядовой связью (ПЗС) позволили выявить предлагаемым способом неоднородности поверхности зеркал телескопа в пределах размеров элементов фотоматриц, площадь фотовхода которых ограничена квадратом со стороной 80х80 мкм, а зазоры между элементами 20 мкм. Таким образом, неоднородности зеркал телескопа, выявлены предлагаемым способом лежат в пределах 100 мкм, в то время, как известным способом выявляются неоднородности от 2 до 10 см.

Класс G02B23/00 Телескопические устройства, например бинокли; перископы; приборы для просмотра внутренней полости полых тел; видоискатели; устройства оптического наведения или прицеливания

космический телескоп -  патент 2529052 (27.09.2014)
оптический прицел -  патент 2528121 (10.09.2014)
телевизионный эндоскоп -  патент 2527663 (10.09.2014)
прибор наблюдения-прицел со встроенным импульсным лазерным дальномером -  патент 2526230 (20.08.2014)
способ изготовления зеркала для рентгеновского телескопа -  патент 2525690 (20.08.2014)
оптическая система проекционного бортового индикатора -  патент 2518863 (10.06.2014)
оптический модуль с мультифокальной оптикой для регистрации дальней и ближней зоны в одном изображении -  патент 2516033 (20.05.2014)
оптическое устройство -  патент 2514162 (27.04.2014)
оптическая система -  патент 2514161 (27.04.2014)
инерционная система стабилизации изображения оптических приборов -  патент 2514145 (27.04.2014)

Класс G01M11/02 испытание оптических свойств 

установка для измерения углового поля зрения и контроля величины шага линий миры тест-объекта -  патент 2521152 (27.06.2014)
интерферометр для контроля телескопических систем и объективов -  патент 2518844 (10.06.2014)
способ оценивания очковой линзы, способ проектирования очковой линзы и способ изготовления очковой линзы -  патент 2511711 (10.04.2014)
способ оценивания очковых линз, способ проектирования очковых линз, способ изготовления очковых линз, система изготовления очковых линз и очковая линза -  патент 2511706 (10.04.2014)
способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур -  патент 2507495 (20.02.2014)
мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем с матричными фотоприемными устройствами и способ ее использования -  патент 2507494 (20.02.2014)
способ определения места повреждения оптического волокна -  патент 2503939 (10.01.2014)
способ измерения параметров световозвращения -  патент 2497091 (27.10.2013)
способ отбора многомодового оптического волокна с одномодовым оптическим передатчиком для многомодовой волоконно-оптической линии передачи -  патент 2496236 (20.10.2013)
метод интерферометрического контроля на рабочей длине волны качества изображения и дисторсии оптических систем -  патент 2491525 (27.08.2013)
Наверх