способ спектрального исследования импульсного излучения
Классы МПК: | G01R23/16 анализ спектра;гармонический анализ G01J3/26 с использованием эффекта многократного отражения, например интерферометры Фабри-Перро, переменные интерференционные фильтры |
Автор(ы): | Ким А.С. |
Патентообладатель(и): | Пермский государственный университет им.А.М.Горького |
Приоритеты: |
подача заявки:
1993-02-03 публикация патента:
27.01.1998 |
Относится к радиоизмерительной технике, в частности, к квантовой физике и может быть использовано для анализа импульсного излучения. Способ спектрального исследования импульсного излучения, включает воздействие импульсного излучения на датчик и формирование вторичного излучения, вторичное излучение формируют воздействием опорного, исследуемого и дополнительного импульса на вещество датчика, содержащее ядра с трехуровневым неэквидистантным энергетическим спектром, при этом сначала воздействуют исследуемым импульсом, затем через время
1 , меньшее времени поперечной релаксации - опорным импульсом, частота заполнения которых равна частоте одного из трех переходов, а через время
2 , меньшее времени продольном релаксации - дополнительным импульсом с частотой заполнения, равной частоте второго перехода, после этого наблюдают вторичное излучение на частоте третьего перехода, являющейся смешанной частотой двух частот возбуждения, и по его спектру определяют спектр исследуемого импульса излучения. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
Формула изобретения
Способ спектрального исследования импульсного излучения, включающий воздействие импульсного излучения на датчик и формирование вторичного излучения, отличающийся тем, что формирование вторичного излучения производят в результате воздействия на вещество датчика, содержащее ядра с трехуровневым неэквидистантным энергетическим спектром, исследуемым, опорным и дополнительным импульсами, при этом сначала воздействуют исследуемым импульсом, затем через время![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к радиоизмерительной технике, в частности к квантовой радиофизике, и может быть использовано для спектрального анализа импульсного излучения. Известен способ спектрального исследования импульсного излучения, включающий воздействие на рабочее вещество тремя импульсами, один из которых исследуемый импульс, второй - дельта импульс, третий - ЛЧМ импульс, и анализ отклика, который соответствует спектральной плотности исследуемого импульса - Иванов Ю.В. Радиотехника и электроника, 1977, N 5, С. 1008 - 1013. Недостатком данного способа является то, что он позволяет исследовать малый диапазон длительностей исследуемых сигналов с большой базой, т.к. накладывается ограничение: длительность исследуемого импульса должна быть намного меньше длительности ЛЧМ импульса. Кроме того, этот способ обладает малой чувствительностью и точностью, а также плохой помехозащищенностью. Известен также способ спектрального исследования импульсного излучения, включающий воздействие импульсного излучения на датчик и формирование вторичного излучения - Рагульский В.В. Способ спектрального исследования излучения. / А.с. N 724942 (СССР), G 01 J 3/26, Бюл. N 12, 1980. Он взят нами за прототип. Недостатками данного способа являются малая чувствительность и точность, а также плохая помехозащищенность. Задачей данного изобретения является разработка способа спектрального анализа импульсного излучения, позволяющего получить высокую чувствительность и точность, а также хорошую помехозащищенность. Эта задача решается о помощью существенных признаков указанных в формуле изобретения: общих с прототипом - способа спектрального исследования импульсного излучения, включающего воздействие импульсного излучения на датчик и формирование вторичного излучения - и отличительных от наиболее близкого аналога существенных признаков - формирование вторичного излучения производят в результате воздействия на вещество, содержащее ядра с трехуровневым неэквидистантным энергетическим спектром, исследуемым, опорным и дополнительным импульсами, при этом сначала воздействуют исследуемым импульсом, затем через время![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103697/2103697-2t.gif)
Рассмотрим в качестве примера два варианта (два последних из шести) для радиочастотного диапазона (спиновый анализатор в этом случае реализован на основе квадрупольного резонанса). Вариант первый
Частота заполнения информационного (исследуемого) импульса излучения и опорного импульса равна частоте
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103697/2103697-3t.gif)
Вариант второй
Частота заполнения информационного импульса и опорного импульса равна частоте
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103697/2103697-4t.gif)
Здесь
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103697/2103697-5t.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103697/2103697-6t.gif)
где
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103152/969.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
![способ спектрального исследования импульсного излучения, патент № 2103697](/images/patents/368/2103070/964.gif)
Класс G01R23/16 анализ спектра;гармонический анализ
Класс G01J3/26 с использованием эффекта многократного отражения, например интерферометры Фабри-Перро, переменные интерференционные фильтры