интегральный преобразователь деформации и температуры

Классы МПК:G01K7/22 с резисторами, имеющими нелинейную характеристику, например с терморезисторами
G01L9/04 резисторных тензометров 
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Научно-исследовательский институт физических измерений
Приоритеты:
подача заявки:
1996-07-23
публикация патента:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при разработке малогабаритных полупроводниковых высокочувствительных преобразователей деформации и температур. Интегральный преобразователь деформации и температуры содержит кремниевый кристалл с тензорезисторами и терморезистором. Терморезистор размещен в плоскости тензорезисторов над отверстием, сформированным в теле кристалла вне тензорезисторов, и закреплен на кристалле с помощью электропроводящих коммутационных металлических шин в виде плоских пружин. Изобретение повышает точность измерений температуры за счет исключения изменения сопротивления терморезистора от деформации преобразователя и точность измерений деформации за счет температурной компенсации. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

Интегральный преобразователь деформации и температуры, содержащий кремниевый кристалл с тензорезисторами и терморезистором, отличающийся тем, что терморезистор размещен в плоскости тензорезисторов над отверстием, сформированным в теле кристалла вне тензорезисторов, и закреплен на кристалле с помощью электропроводящих коммутационных металлических шин в виде плоских пружин.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано при разработке малогабаритных полупроводниковых высокочувствительных преобразователей деформации и температуры.

Известен полупроводниковый преобразователь давления, содержащий профилированный кремниевый кристалл с тензорезисторами, расположенными на мембране, и терморезистором, расположенным вне профиля (пат. США N 4530244, кл. G 01 L 9/06).

Недостатком данного преобразователя при его использовании для измерения деформаций является низкая точность измерений температуры, обусловленная изменениями сопротивления терморезистора от воздействия деформации.

Наиболее близким к предлагаемому решению по технической сущности является интегральный преобразователь давления, содержащий кремниевый кристалл с тензорезисторами и терморезистором, который выполнен из двух одинаковых взаимноперпендикулярных полосок и расположен на чувствительной мембране (а. с. N 1425487, кл. G 01 L 9/04).

Недостатком известного устройства является наличие погрешностей измерений за счет влияния на терморезистор деформаций различной величины, воздействующих на части терморезистора и обусловленных погрешностями совмещения терморезистора относительно мембраны.

В предлагаемом техническом решении достигается повышение точности измерений температуры за счет исключения изменения сопротивления терморезистора от деформации преобразователя и точности измерений деформации за счет температурной компенсации.

Терморезистор, используемый для измерения температуры или для температурной компенсации, размещен в плоскости терморезисторов над отверстием, сформированным в теле кристалла вне тензорезисторов, и закреплен на кристалле с помощью электропроводящих коммутационных металлических шин в виде плоских пружин.

Предлагаемое устройство поясняется фиг. 1 и 2.

На фиг. 1 изображен преобразователь деформации в виде кремниевого кристалла (1) со сформированными в нем тензорезисторами (2) с контактными площадками (3) и содержащего терморезистор (4), который находится в плоскости тензорезисторов над отверстием (5) и закреплен с телом кристалла с помощью металлических шин (6) в виде плоских пружин. На фиг. 2 изображен преобразователь деформации (в разрезе).

Принцип работы преобразователя заключается в следующем: деформация измеряемого объекта предается на закрепленный на нем кристалл преобразователя и воздействует на тензорезисторы, изменяя их сопротивления. При этом на терморезистор, находящийся на кристалле в подвешенном состоянии на пружинах, деформация не действует, и он не изменяет свое сопротивление. В то же время, в связи с тем, что терморезистор находится в непосредственной близости к тензорезисторам, он используется для температурной компенсации преобразователя.

Изобретение поясняется примером.

Кремниевый кристалл с "n"-типом проводимости толщиной 0,3 мм содержит четыре тензорезистора с "p"-типом проводимости, выполненные локальным легированием бора с концентрацией 5интегральный преобразователь деформации и температуры, патент № 21158971019см-3 в теле кристалла, и терморезистор с "p"-типом проводимости, выполненный легированием бора с концентрацией 1017см-3. Терморезистор размещен на участке кристалла толщиной 0,05-0,08 мм закрепленным с основным кристаллом коммутационными металлическими пружинами из меди толщиной 0,02-0,03 мм.

Участок кристалла с терморезистором и пружины формируются методами электрохимического наращивания меди и прецизионного травления кремния.

Класс G01K7/22 с резисторами, имеющими нелинейную характеристику, например с терморезисторами

устройство регистрации ослабления затяжки гайки резьбового контактного соединения -  патент 2527567 (10.09.2014)
устройство для измерения температуры -  патент 2451913 (27.05.2012)
термостат с дискретными полупроводниковыми термоэлектрическими преобразователями -  патент 2368877 (27.09.2009)
способ итерационного терморезистивного измерения температуры -  патент 2326354 (10.06.2008)
способ итерационного терморезистивного измерения температуры -  патент 2324155 (10.05.2008)
способ определения температуры полупроводниковым терморезистором -  патент 2269102 (27.01.2006)
компенсационный способ измерения температуры -  патент 2257553 (27.07.2005)
способ измерения температуры и устройство для его осуществления -  патент 2255313 (27.06.2005)
способ определения температуры полупроводниковым терморезистором -  патент 2249798 (10.04.2005)
способ терморезистивного измерения температуры -  патент 2198384 (10.02.2003)

Класс G01L9/04 резисторных тензометров 

высокотемпературный полупроводниковый преобразователь давления -  патент 2526788 (27.08.2014)
датчик давления -  патент 2523754 (20.07.2014)
датчик давления на основе нано- и микроэлектромеханической системы для прецизионных измерений -  патент 2516375 (20.05.2014)
способ измерения давления и интеллектуальный датчик давления на его основе -  патент 2515079 (10.05.2014)
способ изготовления тензорезисторного датчика давления на основе тонкопленочной нано- и микроэлектромеханической системы -  патент 2512142 (10.04.2014)
высокотемпературный полупроводниковый преобразователь давления -  патент 2507491 (20.02.2014)
датчик абсолютного давления повышенной точности на основе полупроводникового чувствительного элемента с жестким центром -  патент 2507490 (20.02.2014)
способ изготовления тензорезисторного датчика давления на основе тонкопленочной нано- и микроэлектромеханической системы -  патент 2505791 (27.01.2014)
преобразователь давления -  патент 2502970 (27.12.2013)
способ измерения давления, калибровки и датчик давления на основе нано- и микроэлектромеханической системы -  патент 2498250 (10.11.2013)
Наверх