способ определения геофизических структур объектов, образуемых полями микролептонов, и устройство для его реализации

Классы МПК:G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения
G01V9/00 Разведка или обнаружение способами, не отнесенными к группам  1/00
G01V8/00 Разведка или обнаружение оптическими средствами
Автор(ы):, , , , , ,
Патентообладатель(и):Охатрин Федор Анатольевич (RU),
Машошин Юрий Федорович (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
1997-09-19
публикация патента:

Использование: в геологии при поисках месторождений полезных ископаемых и геофизических структур объектов, образованных полями микролептонов, для уменьшения трудозатрат и повышения точности определения залегания полезных ископаемых, сокращения времени обработки данных о месторасположении полезных ископаемых. Сущность изобретения: проводят обработку космического снимка микролептонным излучением, повторяющим микролептонную структуру пространственного микролептонного поля, воспринятого эмульсией при фотографировании, выделяют характеристические пространственно-частотные спектры фильтрацией модулированного микролептонного излучения искомых структур объектов, подают отфильтрованное по полезной микролептонной компоненте излучение на фотоматериал, подвергаемый физико-химическому воздействию, обеспечивающему возможность фоторегистрации микролептонных излучений. Для осуществления способа используется устройство, которое снабжено микролептонным генератором, химическим микролептонным фильтром, люминесцентным экраном с расположенным на нем фотоматериалом, и источником ультрафиолетового излучения, причем химический микролептонный фильтр выполнен двухмерным, пропускающим характеристические пространственные частоты микролептонных излучений искомых структур объектов. 2 с. и 1 з.п.ф-лы, 11 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10, Рисунок 11

Формула изобретения

1. Способ определения геофизических структур объектов, образуемых полями микролептонов, включающий обработку космического фотоснимка микролептонным излучением, повторяющим микролептонную структуру пространственного микролепторного поля, воспринятого эмульсией при фотографировании, выделение характеристических пространственно-частотных спектров фильтрацией модулированного микролептонного излучения искомых структур объектов, подачу отфильтрованного по полезной микролептонной компоненте излучения на фотоматериал, подвергаемый физико-химическому воздействию, обеспечивающему возможность фоторегистрации микролептонных излучений.

2. Способ по п.1, включающий изменение расстояния от точки съемки аппарата, фиксирующего видимое изображение, и обеспечение визуализации глубинной структуры Земли.

3. Устройство для определения геофизических структур объектов снабжено микролептонным генератором, химическим микролептонным фильтром, люминесцентным экраном с расположенным на нем фотоматериалом и источником ультрафиолетового излучения, причем химический микролептонный фильтр выполнен двухмерным, пропускающим характеристические пространственные частоты микролептонных излучений искомых структур объектов.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области физики взаимодействия тонких энергий, в частности может быть использовано в геологии для поиска месторождений полезных ископаемых.

Из патентной литературы известен способ аэрогеофизической съемки, выполняемой с целью поисков и разведки месторождений полезных ископаемых, картирования горных пород, геологических структур и геофизических полей. При проведении аэрогеофизической съемки дополнительно определяют минимальный угол повышения навигационных спутников над горизонтом, осуществляют измерение параметров геофизических полей в течение определенных интервалов времени. /см. Авторское свидетельство СССР N 1753846, кл. G 01 V 11/00, опубл. 1993 г./

Известно, что для регистрации ИК-излучения на обычную фотопленку можно воспользоваться устройством, в состав которого входят лазер, создающий пучок ИК-излучения, светодиод, испускающий видимый свет, блок синхронизации и фотопленку. /см., книгу В. Круг и Г.Г.Вайде Применение научной фотографии, перевод с немецкого к.т.н. М.Р. Шпольский и И.С.Янина, под редакцией д.т.н., проф., Г.А. Истомина, издательство "Мир", М., 1975/

Фиг. 1 - общий вид устройства;

фиг. 2 - блок-схема технологии микролептонного геосканирования;

фиг. 3 - космоснимок континентальной территории;

фиг. 4 - космоснимок расположения месторождения нефти, после микролептонной обработки;

фиг. 5 - структура месторождения, полученная по технологии микролептонного геосканирования, изображенного на фиг. 3;

фиг. 6 - космический снимок части побережья континента и зоны шельфа;

фиг. 7 - изображение месторождения нефти на территории, снятой на фиг. 6;

фиг. 8 - космоснимок дельты реки с островами;

фиг. 9 - результат микролептонной обработки;

фиг. 10 - структура нефтяных линз;

фиг. 11 - структура нефтяных линз, нанесенных сплошными линиями на космоснимок.

Сущность способа заключается в определении геофизических структур объектов, образующих поля микролептонов и включающий осуществление космической съемки определенного района Земли и измерение его параметров геофизических полей. Заявляемый способ отличается тем, что космический снимок обрабатывают микролептонным излучением, измеряющим микролептонную структуру пространственного микролептонного поля, воспринятого эмульсией при фотографировании. Выделяют характеристические пространственно-частотные спектры фильтрацией модулированного микролептонного излучения искомого вещества. Отфильтрованное по полезной микролептонной компоненте излучение подают на чистый специальный фотоматериал, подвергаемый специальному физико-химическому воздействию, обеспечивающему возможность фоторегистрации микролептонных излучений. Путем изменения расстояния от точки съемки аппарата, фиксирующего видимое изображение, обеспечивают визуализацию глубинной структуры Земли. Микролептонная обработка обеспечивает получение информации и в областях за пределами космоснимка.

Устройство для регистрации геофизических структур объектов, образуемых полями микролептонов включает генератор, фотоматериал с фотоаппаратурой и источником излучения. Устройство отличается тем, что снабжено микролептонным генератором, химическим микролептонным фильтром, люминесцентным экраном с расположенным на нем фотоматериалом и источник УФ-излучения, причем химический микролептонный фильтр выполнен двухмерным, пропускающим характеристические пространственные частоты микролептонных излучений искомого вещества.

Достигаемый технический результат заключается в повышении точности определения залегания полезных ископаемых, уменьшении трудозатрат на определение места залегания полезных ископаемых, сокращении времени обработки данных о месторасположении полезных ископаемых.

Атомы во всех молекулах и кристаллах имеют не только определенное пространственное положение, но и строго определенную взаимную ориентацию. Кроме того, все молекулы и все кристаллы имеют собственное микролептонное поле с характеристическим пространственно-частотным распределением интенсивности /пространственно-частотным, голографическим спектром/. Большое количество однородного вещества будет создавать коллективное характеристическое /для данного вещества/ микролептонное поле. Микролептонные поля не поглощаются природными средами и их интенсивность не уменьшается с расстоянием, то локально сосредоточенное однородное вещество, находящееся на произвольной глубине Земли, будет создавать вне Земли такое же характеристическое микролептонное поле, как если бы это вещество находилось на поверхности Земли. Поэтому, регистрируя пространственно-частотное и голографическое отображение микролептонного поля Земли, можно получить важную информацию о ее внутреннем строении и наличии полезных ископаемых. Экспериментально подтверждено, что при фотографировании любых объектов, попадающие на фотоэмульсию вместе с электромагнитным /световым/ потоком собственные микролептонные поля этих объектов, изменяют и повторяют пространственную структуру этого внешнего микролептонного поля. В результате на любом космическом или аэрофотоснимке помимо видимого изображения всегда существует невидимое голографическое изображение. Этот факт позволил по аналогии с оптической обработкой изображений построить методику выделения микролептонных изображений с фотографией и их обработкой. Полученный снимок просвечивается / обрабатывается/ микролептонным генератором. Атомы /фото/ эмульсии возбуждение микролептонным генератором, выполняют роль микролептонного модулятора /фильтр/.

После прохождения микролептонного излучения через исходный космоснимок, модулирование микролептонного излучения будет повторять микролептонную структуру пространственного /голографического/ микролептонного поля, которое было воспринято эмульсией при фотографировании. Однако это исходное микролептонное поле представляет собой сумму всех микролептонных полей от всех источников в толще Земли. Этими источниками могут быть геологические образования или залежи полезных ископаемых. Так как эти структурные образования имеют характеристические пространственно-частотные спектры, то задача заключается в выделении зоны концентрации какого-либо вещества /полезного ископаемого/. Затем модулированное микролептонное излучение необходимо подвергнуть соответствующей фильтрации. Для этого используют двухмерные микролептонные химические фильтры, которые пропускают только те пространственные частоты, которые соответствуют характеристическим пространственным частотам микролептонных излучений искомых структур объектов.

После прохождения микролептонного фильтра микролептонное излучение будет присутствовать только в тех местах относительно исходного снимка, где есть искомое вещество. Это отфильтрованное по полезной микролептонной компоненте излучение подается на чистый специальный фотоматериал, подвергаемый специальному физико-химическому воздействию, которое обеспечивает возможность фоторегистрации микролептонных излучений. Микролептонная обработка космоснимков дает информацию как на самом снимке, так и в областях за краями снимка.

При выбранных параметрах аппаратуры микролептонной обработки космических и аэрофотоснимков, полученное микролептонное изображение соответствует слою /исходному слою/ на вполне определенном расстоянии от точки, где находится аппарат, фиксирующий видимое изображение.

Метод позволяет построить методику обработки и получать другие слои как до, так и после исходного слоя. Это оказалось важным, так как при микролептонной обработке изображенной Земли это открывает возможность визуализировать и анализировать ее глубинную структуру дифференциально на разных глубинах.

Устройство для определения геофизических структур объектов, образуемых полями микролептонов включает микролептонный генератор 1, фотоувеличитель 2, космоснимок 3, химический микролептонный фильтр 4, стандартный фотоприемный материал 5, люминесцентный экран 6 и УФ-излучатель 7.

Устройство работает следующим образом.

Исходный космоснимок 3 в виде негатива на листовой фотопленке закладывается в стандартный фотоувеличитель 2. Под объективом фотоувеличителя 2 расположен химический микролептонный фильтр 4, состоящий из плоскопараллельных стекол, между которыми находится особый раствор химических реактивов. Этот раствор, главным образом, служит для перевода невидимой микролептонной компоненты в видимое излучение. Микролептонный генератор 1 используется для возбуждения атомов фотоэмульсии стандартного фотоприемного материала 5. Таким образом, стандартный фотоматериал 5 приобретает способность к восприятию невидимого голографического микролептонного излучения. Под приемным стандартным светочувствительным фотоматериалом расположен люминофорный экран, который в процессе экспозиции подсвечивается источником УФ-света. Весь процесс микролептонной фотосъемки происходит в атмосфере излучений, испускаемых люминофорным экраном.

После прохождения микролептонного излучения через исходный космоснимок, модулирование микролептонного излучения будет повторять микролептонную структуру пространственного /голографического/ микролептонного поля, представляет собой сумму всех микролептонных полей от всех источников в толще Земли. Этими источниками могут быть геологические образования или залежи полезных ископаемых. Затем модулированное микролептонное излучение необходимо подвергнуть соответствующей фильтрации. Микролептонные фильтры пропускают только те пространственные частоты, которые соответствуют характеристическим пространственным частотам микролептонных излучений искомого вещества. После прохождения микролептонного фильтра, микролептонное излучение будет присутствовать только в тех местах относительно исходного снимка, где есть искомое вещество.

Класс G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения

установка для рентгеновского контроля сварных швов цилиндрических изделий -  патент 2529754 (27.09.2014)
способ определения загрязненности неметаллическими включениями стальных изделий -  патент 2526227 (20.08.2014)
устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности -  патент 2524792 (10.08.2014)
мобильный обнаружитель опасных скрытых веществ (варианты) -  патент 2524754 (10.08.2014)
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов -  патент 2524559 (27.07.2014)
способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава -  патент 2524454 (27.07.2014)
способ измерения поверхностной плотности преимущественно гетерогенных грунтов -  патент 2524042 (27.07.2014)
усовершенствованная система безопасности для досмотра людей -  патент 2523771 (20.07.2014)
способ изготовления эталонов для рентгенофлуоресцентного анализа состава тонких пленок малокомпонентных твердых растворов и сплавов -  патент 2523757 (20.07.2014)
установка для проверки объектов посредством электромагнитных лучей, прежде всего рентгеновских лучей -  патент 2523609 (20.07.2014)

Класс G01V9/00 Разведка или обнаружение способами, не отнесенными к группам  1/00

способ определения палеотемператур катагенеза безвитринитовых отложений по оптическим характеристикам микрофитофоссилий -  патент 2529650 (27.09.2014)
способ определения контуров промышленного оруденения золоторудного месторождения -  патент 2523766 (20.07.2014)
способ обнаружения возможности наступления катастрофических явлений -  патент 2520167 (20.06.2014)
способ прогнозирования зон развития вторичных коллекторов трещинного типа в осадочном чехле -  патент 2520067 (20.06.2014)
способ краткосрочного прогноза землетрясений -  патент 2519050 (10.06.2014)
способы, установки и изделия промышленного производства для обработки измерений струн, вибрирующих в флюидах -  патент 2518861 (10.06.2014)
способ определения трех компонент вектора смещений земной поверхности при разработке нефтяных и газовых месторождений -  патент 2517964 (10.06.2014)
способ прогноза и поисков месторождений углеводородов в ловушках антиклинального типа по топографическим картам дневной поверхности -  патент 2517925 (10.06.2014)
способ прогнозирования землетрясений в пределах коллизионных зон континентов -  патент 2516617 (20.05.2014)
способ оценки ширины зоны динамического влияния активного разлома земной коры -  патент 2516593 (20.05.2014)

Класс G01V8/00 Разведка или обнаружение оптическими средствами

модульная донная станция -  патент 2521218 (27.06.2014)
способ дистанционного определения характеристик среды открытого водоема -  патент 2503041 (27.12.2013)
способ исследования керна горных пород -  патент 2501046 (10.12.2013)
способ дистанционного поиска новых месторождений нефти и газа -  патент 2498358 (10.11.2013)
способ исследования скважин оптическими методами для определения количества остаточных извлекаемых запасов разрабатываемого месторождения -  патент 2496982 (27.10.2013)
датчик для использования с автоматической дверью -  патент 2471208 (27.12.2012)
способ поиска подземных вод -  патент 2465621 (27.10.2012)
способ определения источников выбросов в атмосферу по изображениям мегаполисов -  патент 2463630 (10.10.2012)
способ генерирования численных псевдокернов с использованием изображений скважины, цифровых образов породы и многоточечной статистики -  патент 2444031 (27.02.2012)
система определения координат трассы подземного трубопровода -  патент 2437127 (20.12.2011)
Наверх