способ определения альбедо (варианты)

Формула изобретения

1. Способ определения альбедо, включающий актинометрические наблюдения с измерением с помощью, по крайней мере, одного прибора с чувствительным термоэлектрическим датчиком падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или с помощью не менее чем двух приборов - ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации и определение альбедо по отношениям отраженной радиации к падающей, отличающийся тем, что перед измерениями фиксируют центр исследуемого ограниченного фрагмента и концентрично ему располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки с заданными отражательными характеристиками, а при производстве актинометрических наблюдений измерение, по крайней мере, отраженной радиации производят при установленной накладке, после чего определяют истинное альбедо исследуемого ограниченного фрагмента по формуле



где h - высота превышения приемной поверхности датчика над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

А_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

А_ф - альбедо фона, равное паспортным данным кольцевой фоновой накладки.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что, по крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку выполняют составной из нескольких концентрических, или секторных, или секторно-концентрических, или сегментных частей, или из сочетаний или комбинаций перечисленных выше частей.

3. Способ по п.1 или 2, отличающийся тем, что, по крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку выполняют с концентрически неоднородным альбедо - плавно или ступенчато изменяющимся по радиусу, исходящему из центра исследуемого фрагмента.

4. Способ по п.3, отличающийся тем, что изменение альбедо принимают с увеличением от центра исследуемого фрагмента к его периферии или наоборот в зависимости от соотношения отражательных характеристик альбедо фона и альбедо исследуемого фрагмента.

5. Способ по любому из пп.1 - 4, отличающийся тем, что накладки выполняют гибкими, или жесткими, или полужесткими, или комбинированными, или гибкими с контурным и/или внутренним каркасом, или композиционными по структуре, или с накладным отражающим слоем, или с комплектом сменных отражающих слоев с различным альбедо.

6. Способ определения альбедо, включающий актинометрические наблюдения с измерением с помощью, по крайней мере, одного прибора с чувствительным термоэлектрическим датчиком, падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или с помощью не менее чем двух приборов - ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации и определение альбедо по отношениям отраженной радиации к падающей, отличающийся тем, что перед измерениями фиксируют центр исследуемого ограниченного фрагмента и концентрично ему располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки с заданными отражательными характеристиками, а, по крайней мере, перед первым измерением отраженной радиации после наложения кольцевой накладки закрывают ее центральный проем центральным вкладышем с отражательными характеристиками, идентичными отражательным характеристикам кольцевой накладки, а при производстве актинометрических наблюдений измеряют отраженную радиацию сначала фоновой кольцевой накладки с центральным вкладышем, затем вкладыш удаляют и измеряют отраженную радиацию от фрагмента с кольцевой накладкой, после чего, используя уточненные по результатам измерений значения альбедо фона, определяют истинное значение альбедо исследуемого ограниченного фрагмента по формуле



где h - высота превышения приемной поверхности датчика над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

А_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

А_ф - альбедо фона, равное данным актинометрических наблюдений в одном случае - с установленными кольцевой накладкой и вкладышем и в другом случае - только с кольцевой накладкой.

7. Способ по п.6, отличающийся тем, что, по крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку выполняют составной из нескольких концентрических, или секторных, или секторно-концентрических, или сегментных частей, или из сочетаний или комбинаций перечисленных выше частей.

8. Способ по п.6 или 7, отличающийся тем, что, по крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку выполняют с концентрически неоднородным альбедо - плавно или ступенчато изменяющимся по радиусу, исходящему из центра исследуемого фрагмента.

9. Способ по п.8, отличающийся тем, что изменение альбедо принимают с увеличением от центра исследуемого фрагмента к его периферии или наоборот в зависимости от соотношения отражательных характеристик альбедо фона и альбедо исследуемого фрагмента.

10. Способ по любому из пп.6 - 9, отличающийся тем, что накладки выполняют гибкими, или жесткими, или полужесткими, или комбинированными, или гибкими с контурным и/или с внутренним каркасом, или композиционными по структуре, или с накладным отражающим слоем, или с комплектом сменных отражающих слоев с различным альбедо.

11. Способ определения альбедо, включающий актинометрические наблюдения с измерением с помощью, по крайней мере, одного прибора с чувствительным термоэлектрическим датчиком падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или с помощью не менее двух приборов - ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации и определение альбедо по отношениям отраженной радиации к падающей, отличающийся тем, что перед измерениями фиксируют центр исследуемого ограниченного фрагмента и концентрично ему располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки с заданными отражательными характеристиками, а до начала актинометрических наблюдений организуют, по крайней мере, один дополнительный контрольный пост наблюдений (фрагмент) со стабилизированным отражающим приспособлением в виде кольцевой накладки с центральным вкладышем или в виде сплошного круга с внешним радиусом, равным внешнему радиусу кольцевой накладки и отражательными характеристиками, идентичными отражательным характеристикам кольцевой фоновой накладки, которую устанавливают собственно на исследуемом фрагменте, а при производстве актинометрических наблюдений отраженную радиацию на первом и втором фрагментах измеряют в параллельном режиме, и, используя результаты измерений, определяют истинное значение альбедо по формуле



где h - высота превышения приемной поверхности датчика над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

А_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

А_ф - альбедо фона, равное данным параллельных актинометрических наблюдений на исследуемом и контрольном фрагментах.

12. Способ по п.11, отличающийся тем, что, по крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку выполняют составной из нескольких концентрических, или секторных, или секторно-концентрических, или сегментных частей, или из сочетаний или комбинаций перечисленных выше частей.

13. Способ по п.11 или 12, отличающийся тем, что, по крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку выполняют с концентрически неоднородным альбедо - плавно или ступенчато изменяющимся по радиусу, исходящему из центра исследуемого фрагмента.

14. Способ по п.13, отличающийся тем, что изменение альбедо принимают с увеличением от центра исследуемого фрагмента к его периферии или наоборот в зависимости от соотношения отражательных характеристик альбедо фона и альбедо исследуемого фрагмента.

15. Способ по п.11 - 14, отличающийся тем, что накладки выполняют гибкими, или жесткими, или полужесткими, или комбинированными, или гибкими с контурным каркасом, или композиционными по структуре, или с накладным отражающим слоем, или с комплектом сменных отражающих слоев с различным альбедо.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных техногенных объектов или природных образований с недостаточными размерами или одним из размеров в плоскости исследуемого фрагмента отражающей поверхности, необходимыми для получения репрезентативных результатов инструментальных замеров и/или при наличии сложного неорганизованного разнородно отражающего фона в окрестностях исследуемого фрагмента и может быть использовано для определения альдо - одной из важнейших характеристик внешнего лучистого теплообмена в поле солнечной радиации различных объектов, преимущественно в эксплуатационных условиях.

Исследование закономерностей радиационного теплообмена гелиотехнических и других конструктивных элементов техногенных объектов и лучистых характеристик материалов необходимо для правильного понимания, анализа и оценки работы объектов в поле солнечной радиации, выработки критериев эффективности, совершенствования теплотехнических расчетов и конструирования облучаемых ограждений, а также определения отдельных параметров радиационного баланса и теплового режима исследуемых объектов: мобильных аппаратов, зданий и сооружений в натурных условиях.

Известные интегральные методы исследования отражательной способности различных поверхностей, разработанные и применяемые в актинометрии для регулярных сетевых и выборочных наблюдений, а также спектральные методы исследования коротковолновых и длинноволновых характеристик различных материалов не обеспечивают решения ряда задач лучистого теплообмена. Например, некритическое распространение биполусферического метода измерения отражательной способности пиранометром-альбедометром на элементы машин или здания приводит к грубым ошибкам, если такие наблюдения выполнять, в частности, на локальных участках ограждений со сложной системой светопроемов и других неоднородных участков, т.к. трудно, а подчас и просто невозможно определить долевое участие сложного фона в измеряемых показаниях пиранометра-альбедометра.

На неприменимость альбедометра для оценки локальных величин альбедо неоднородных (неорганизованных) участков поверхности указано, в частности, в книге Кедроливанский В.Н., Стернзат М.С., Метеорологические приборы, Гидрометеоиздат, М, 1953, с.131.

Одна из первых попыток определять альбедо круглых локальных участков (проталин) при бесконечном монотонном фоне описана в книге Березкин В.А., Руководство по актинометрии для полярных станций, Главсевморпути, Л, 1937, вып.1.

Аналогичные методические указания содержатся в Наставлении гидрометеорологическим станциям и постам, вып.5, Актинометрические наблюдения на станциях, М, Гидрометеоиздат, 1947. Все упомянутые работы рассматривали теоретические и методические аспекты определения альбедо, строго говоря, только плоских круговых объектов. И использовать их, например, в актинометрических исследованиях космических аппаратов или в строительной актинометрии без риска получения дополнительных неконтролируемых погрешностей нельзя, поскольку плоские круговые конструкции в современных техногенных объектах встречаются крайне редко, а фон, влияющий на показания альбедометра, например, у простенка летательного аппарата или здания, как правило, неоднороден по интенсивности отраженных потоков, спектральным и интегральным характеристикам, геометрии прилегающих участков. Эти обстоятельства объясняют объективную актуальность поиска и разработки специальных методов измерения альбедо локальных фрагментов конструкций и материалов с точностью, соответствующей точности прибора либо характеру решаемой задачи.

Еще большие трудности возникают при попытках определить истинные значения коэффициента отражения, излучения различных покрытий материалов и композиционных гелиотехнических элементов в естественных условиях при конкретной сложившейся запыленности поверхности отражающего, излучающего слоя или при частичной неравномерной увлажненности (обледенелости) конструкций; общего коэффициента излучения квазимонотонных конструкций, например, волнистого гелиоприемника со стекающими по желобкам струями жидкости-теплоносителя, рельефных конструкций, частично покрытых снегом, либо несплошным солнцезащитным слоем растительности и т.д.

С другой стороны, в космическом строительстве крайне важное значение приобретает решение задач инсоляции инженерных сооружений и аппаратов, что необходимо для оценки их радиационного теплообмена, приобретающего исключительные функции в условиях отсутствия атмосферы.

Наиболее близким к изобретению по своей сущности и достигаемому результату является способ определения альбедо, включающий актинометрические наблюдения с измерением с помощью, по крайней мере, одного прибора с чувствительным термоэлектрическим датчиком падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или с помощью не менее чем двух приборов измерения ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации и определение альбедо по отношениям отраженной радиации к падающей (см., например, Наставление гидрометеорологическим станциям и постам, выпуск 5, Актинометрические наблюдения, часть 1. Федеральная служба России по гидрометеорологии и мониторингу окружающей среды, М, 1997, с.88-96).

Недостатком известного способа является невысокая точность получаемых результатов вследствие наличия искажающего влияния на результаты измерения отражения неорганизованного, неопределенно дифференцированного по отражательным характеристикам фона.

Задачей изобретения является исключение искажающего влияния на результаты измерения отражения неорганизованного, неопределенно дифференцированного по отражательным характеристикам фона при производстве актинометрических наблюдений на ограниченных фрагментах машиностроительных, строительных, градостроительных и других техногенных ландшафтных объектов и других природных образований со сложнодифференцированными характеристиками отражения падающей радиации.

Задача решается за счет того, что, согласно первому варианту, в способе определения альбедо, включающем актинометрические наблюдения с измерением с помощью, по крайней мере, одного прибора с чувствительным термоэлектрическим датчиком падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или с помощью не менее чем двух приборов измерения ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации и определение альбедо по отношениям отраженной радиации к падающей, перед измерениями фиксируют центр исследуемого ограниченного фрагмента и концентрично ему располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки с заданными отражательными характеристиками, а при производстве актинометрических наблюдений измерение, по крайней мере, отраженной радиации производят при установленной накладке, после чего определяют истинное альбедо исследуемого ограниченного фрагмента по формуле



где h - высота превышения приемной поверхности датчика актинометрического прибора - пиранометра над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

A_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

A_ф - альбедо фона, равное паспортным данным кольцевой фоновой накладки.

Согласно второму варианту задача решается за счет того, что в способе определения альбедо, включающем актинометрические наблюдения с измерением с помощью, по крайней мере, одного прибора с чувствительным термоэлектрическим датчиком падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или с помощью не менее чем двух приборов измерения ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации и определение альбедо по отношениям отраженной радиации к падающей, перед измерениями фиксируют центр исследуемого ограниченного фрагмента и концентрично ему располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки с заданными отражательными характеристиками, а по крайней мере, перед первым измерением отраженной радиации после наложения кольцевой накладки закрывают ее центральный проем центральным вкладышем с отражательными характеристиками, идентичными отражательным характеристикам кольцевой накладки, а при производстве актинометрических наблюдений измеряют отраженную радиацию сначала фоновой кольцевой накладки с центральным вкладышем, затем вкладыш удаляют и измеряют отраженную радиацию от фрагмента с кольцевой накладкой, после чего, используя уточненные по результатам измерений значения альбедо фона, определяют истинное значение альбедо исследуемого ограниченного фрагмента по формуле



где h - высота превышения приемной поверхности датчика над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

A_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

A_ф - альбедо фона, равное данным актинометрических наблюдений с установленными кольцевой накладкой и вкладышем и только с кольцевой накладкой.

Согласно третьему варианту задача решается за счет того, что в способе определения альбедо, включающем актинометрические наблюдения с измерением с помощью, по крайней мере, одного прибора с чувствительным термоэлектрическим датчиком падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или с помощью не менее чем двух приборов - ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации и определение альбедо по отношениям отраженной радиации к падающей, отличающийся тем, что перед измерениями фиксируют центр исследуемого ограниченного фрагмента и концентрично ему располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки с заданными отражательными характеристиками, а до начала актинометрических наблюдений организуют, по крайней мере, один дополнительный контрольный пост наблюдений (фрагмент) со стабилизированным отражающим приспособлением в виде кольцевой накладки с центральным вкладышем или в виде сплошного круга с внешним радиусом, равным внешнему радиусу кольцевой накладки, и отражательными характеристиками, идентичными отражательным характеристикам кольцевой фоновой накладки, которую устанавливают собственно на исследуемом фрагменте, а при производстве актинометрических наблюдений отраженную радиацию на первом и втором фрагментах измеряют в параллельном режиме и, используя результаты измерений, определяют истинное значение альбедо по формуле:



где h - высота превышения приемной поверхности датчика над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

A_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

A_ф - альбедо фона, равное данным параллельных актинометрических наблюдений на исследуемом и контрольном фрагментах.

При этом для всех трех вариантов, по крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку могут выполнять составной из нескольких концентрических, или секторных, или секторно-концентрических, или сегментных частей, или из сочетаний или комбинаций перечисленных выше частей.

По крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку могут выполнять с концентрически неоднородным альбедо, плавно или ступенчато изменяющимся по радиусу, исходящему из центра исследуемого фрагмента.

Изменение альбедо могут принимать с увеличением от центра исследуемого фрагмента к его периферии или наоборот в зависимости от соотношения отражательных характеристик альбедо фона и альбедо исследуемого фрагмента.

Накладки могут выполнять гибкими, или жесткими, или полужесткими, или комбинированными, или гибкими с контурным и/или внутренним каркасом, или композиционными по структуре, или с накладным отражающим слоем, или с комплектом сменных отражающих слоев с различным альбедо.

Технический результат, обеспечиваемый приведенной совокупностью существенных признаков, состоит в том, что обеспечивается исключение или максимальная нейтрализация неопределенного или трудноопределимого искажающего влияния, привносимого от неорганизованного фона, под которым следует понимать как смежные, примыкающие к исследуемому фрагменту объекты, в том числе конструкции, с собственными локальными характеристиками поглощения, отражения, пропускания или излучения, так и любые другие посторонние объекты, находящиеся в "поле видения" датчика измерительного прибора с полусферическим или с широкоформатным "углом видения", либо фрагментарно нанесенные неустранимые или трудноустранимые слои и/или участки пыли, гари, копоти или краски.

Сущность изобретения поясняется чертежами, где

на фиг.1 изображен исследуемый ограниченный фрагмент с наложенной на нем кольцевой фоновой накладкой;

на фиг. 2 - то же, с дополнительным контрольным постом наблюдений (фрагментом);

на фиг. 3 - выполнение кольцевой накладки составной из концентрических частей;

на фиг.4 - то же, из секторных частей;

на фиг.5 - то же, из секторно-концентрических частей;

на фиг.6 - то же, из сегментных частей;

на фиг.7 - то же, из сочетания различных частей.

Способ осуществляют следующим образом:

При актинометрических наблюдениях по всем вариантам осуществления способа проводят измерения с помощью, по крайней мере, одного прибора с чувствительным термоэлектрическим датчиком падающей на исследуемый ограниченный фрагмент отражающей поверхности с дифференцированно отражающим фоном суммарной радиации или с помощью не менее чем двух приборов - ее составляющих - прямой и рассеянной радиации и отраженной от этого фрагмента радиации.

По первому варианту осуществления способа перед измерениями фиксируют центр O исследуемого ограниченного фрагмента 1 и концентрично центру O располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки 2 с внешними радиусом R, внутренним радиусом r и заданными отражательными характеристиками.

При производстве актинометрических наблюдений измерение по крайней мере отраженной радиации согласно первому варианту производят при установленной накладке 2, после чего определяют истинное альбедо исследуемого ограниченного фрагмента по формуле



где h - высота превышения приемной поверхности датчика над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

A_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

A_ф - альбедо фона, равное паспортным данным кольцевой накладки.

Согласно второму варианту перед измерениями фиксируют центр O исследуемого ограниченного фрагмента 1 и концентрично ему располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки 2 с заданными отражательными характеристиками, а, по крайней мере, перед первым измерением отраженной радиации после наложения кольцевой накладки 2 закрывают ее центральный проем центральным вкладышем 3 с отражательными характеристиками, идентичными отражательным характеристикам кольцевой накладки 2, а при производстве актинометрических наблюдений измеряют отраженную радиацию сначала фоновой кольцевой накладки 2 с центральным вкладышем 3, затем вкладыш 3 удаляют и измеряют отраженную радиацию от фрагмента с кольцевой накладкой 2, после чего, используя уточненные по результатам измерений значения альбедо фона, определяют истинное значение альбедо исследуемого ограниченного фрагмента по формуле



где h - высота превышения приемной поверхности датчика над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

A_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

A_ф - альбедо фона, равное данным актинометрических наблюдений с установленными кольцевой накладкой и вкладышем и только с кольцевой накладкой.

Согласно третьему варианту перед измерениями фиксируют центр O исследуемого ограниченного фрагмента 1 и концентрично ему располагают приспособление для стабилизации отражения в виде, по крайней мере, одной кольцевой фоновой накладки 2 с заданными отражательными характеристиками, а до начала актинометрических наблюдений организуют, по крайней мере, один дополнительный контрольный пост наблюдений (фрагмент) 4 со стабилизированным отражающим приспособлением в виде кольцевой накладки 5 с центральным вкладышем 6 или в виде сплошного круга с внешним радиусом, равным внешнему радиусу кольцевой накладки и отражательными характеристиками, идентичными отражательным характеристикам кольцевой фоновой накладки, которую устанавливают собственно на исследуемом фрагменте, а при производстве актинометрических наблюдений отраженную радиацию на первом 1 и втором 4 фрагментах измеряют в параллельном режиме и, используя результаты измерений, определяют истинное значение альбедо по формуле



где h - высота превышения приемной поверхности датчика над исследуемым фрагментом;

r - радиус вкладыша, равный внутреннему радиусу накладки и радиусу исследуемого фрагмента;

A_изм - альбедо, определенное по отношению суммарной падающей и измеренной с фоновой накладкой отраженной радиации;

A_ф - альбедо фона, равное данным параллельных актинометрических наблюдений на исследуемом и контрольном фрагментах.

Первый вариант используют при производстве серийных измерений во всех случаях, когда нет сомнений в нестабильности каких-либо характеристик окружающей среды и используемого оборудования.

Второй вариант используют в начальный период серийных измерений, или после длительного перерыва, или после транспортировки к новому объекту наблюдений, или когда возникает необходимость подтверждения паспортных данных используемого оборудования, или при сертификации используемого оборудования перед его введением в действие, или при необходимости проведения серии последовательных частых контрольных наблюдений при недостаточно устойчивых условиях состояния окружающей среды - изменяющихся облачности и высоты расположения солнца.

Третий вариант используется при необходимости получения измерений повышенной точности, при проведении научно-исследовательских работ, проверке показаний приборов в процессе проведения научно-исследовательских работ в различных условиях, в том числе во всем диапазоне высот расположения солнца.

При этом для всех вариантов по крайней мере одну кольцевую фоновую накладку могут выполнять составной из нескольких концентрических 7, или секторных 8, или секторно-концентрических, или сегментных 9 частей, или из сочетаний или комбинаций перечисленных выше частей.

По крайней мере, одну кольцевую фоновую накладку могут выполнять с концентрически неоднородным альбедо, плавно или ступенчато изменяющимся по радиусу, исходящему из центра исследуемого фрагмента.

Изменение альбедо могут принимать с увеличением от центра исследуемого фрагмента к его периферии или наоборот в зависимости от соотношения отражательных характеристик альбедо фона и альбедо исследуемого фрагмента.

Накладки могут выполнять гибкими, или жесткими, или полужесткими, или комбинированными, или гибкими с контурным и/или внутренним каркасом, или композиционными по структуре, или с накладным отражающим слоем, или с комплектом сменных отражающих слоев с различным альбедо.

Способ применим в натурных условиях или на различных этапах эксплуатации техногенных объектов и не требует отбора проб или иного нарушения целостности исследуемого фрагмента. Способ позволяет контролировать альбедо спускаемых и находящихся на орбите аппаратов, космических комплексов и их элементов, авиационных, морских и сухопутных средств транспорта, ограждающих конструкций, деталей и узлов промышленных и гражданских зданий и сооружений.

При этом первый вариант способа предназначен, преимущественно, для производства серийных, в том числе в последующем - стандартизированных или подлежащих стандартизации наблюдений, в первую очередь на техногенных объектах с использованием паспортных данных применяемого оборудования.

Второй вариант способа позволяет, при необходимости, дополнительно, в том числе периодически, а также в начале и при завершении серии наблюдений производить измерения с учетом текущих колебаний или изменений значения альбедо фоновых накладок, происходящих под влиянием окружающей среды углов падения солнечных лучей, соотношений в составе суммарной падающей радиации ее составляющих прямой и рассеянной радиации, а также конкретного состояния отражающей поверхности фоновых накладок.

Третий вариант способа применим в условиях, отмеченных для первого и второго вариантов, при этом позволяет с наибольшей точностью оперативно учитывать динамику альбедо фоновых накладок в течение светового дня или более длительного периода наблюдений.