пленочный датчик электрического поля

Классы МПК:G01B11/16 для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры 
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Никольский Юрий Анатольевич
Приоритеты:
подача заявки:
1998-02-17
публикация патента:

Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей. Пленочный датчик электрического поля создан на основе перекристаллизованной пленки n-InSb (полученной перекристаллизацией в вакууме) на слюдяной подложке с низкоомными включениями двухфазной системы р-InSb+In, пленка n-InSb имеет толщину 1 - 2 мкм, концентрацию носителей заряда n = (3 - 5)пленочный датчик электрического поля, патент № 21487911017 см-3, электропроводность пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 = (1,5 - 2,0)пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791103 Ом-1см-1 и подвижность носителей заряда пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 = (2,9 - 3,0)пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791104 см2/(Впленочный датчик электрического поля, патент № 2148791с) при Т = 300 К, что позволяет достигать значений плотности тока j = (4 - 6)пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791104 А/см2 при Е = (30 - 40) В/см в диапазоне температур 77 - 300 К.

Формула изобретения

Пленочный датчик электрического поля, содержащий перекристаллизованную пленку антимонида индия n-типа проводимости, на слюдяной подложке, с низкоомными включениями двухфазной системы p - InSb + In, отличающийся тем, что пленка n - InSb, получена перекристаллизацией в вакууме, имеет толщину 1 - 2 мкм, концентрацию носителей заряда n = (3 - 5) пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 1017 см-3, электропроводность пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 = (1,5 - 2,0) пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 103 Ом-1см-1 и подвижность носителей заряда пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 = (2,9 - 3,0) пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 104 см2/(Впленочный датчик электрического поля, патент № 2148791с) при T = 300 К, что позволяет достигать значений плотности тока j = (4 - 6) пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 104 А/см2 при E = 30 - 40 В/см в диапазоне температур 77 - 300 К.

Описание изобретения к патенту

Область техники, к которой относится изобретение.

Изобретение относится к области устройств, используемых в электронной технике, при действии сильных электрических полей.

Уровень техники.

Монокристаллические датчики электрического поля характеризуются выполнением закона Ома до напряженности электрического поля E = 30 - 40 В/см при плотности тока j = (102 - 104) А/см2 в диапазоне температур 77 - 300 К (RU 95104014, G 01 B 11/16, 21.03.95. Никольский Ю.А.).

Сущность изобретения.

Пленочный датчик электрического поля на основе перекристаллизованной пленки n-InSb толщиной 1 - 2 мкм на слюдяной подложке с концентрацией носителей заряда n = (3 - 5)пленочный датчик электрического поля, патент № 21487911017 см-3, электропроводностью пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 = (1,5 - 2,0)пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791103 Ом-1см-1 и подвижностью носителей заряда пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 = (2,9 - 3,0)пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791104 см2/(Впленочный датчик электрического поля, патент № 2148791с) при Т = 300 К может достигать при выполнении закона Ома (пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791 = const) значений плотности тока j = (4 - 6)пленочный датчик электрического поля, патент № 2148791104 А/см2 при E = (30 - 40) В/см в диапазоне температур 77 - 300 К.

Сведения, подтверждающие возможность осуществления изобретения.

Пленка n-InSb, полученная термической перекристаллизацией в вакууме на слюдяной подложке, представляет монокристаллическую матрицу n-InSb стехиометрического состава с низкоомными включениями двухфазной системы InSb + In p-типа проводимости. Пленочный датчик электрического поля изготавливают из такой пленки, для чего на нее напыляют индиевые контакты, к которым припаивают эвтектическим сплавом In + Sn медные проволочки для измерения тока и напряжения.

Класс G01B11/16 для измерения деформации твердых тел, например оптические тензометры 

способ контроля внешнего композиционного армирования строительных конструкций -  патент 2519843 (20.06.2014)
устройство оптической идентификации измерительных каналов системы встроенного неразрушающего контроля на основе волоконно-оптических брэгговских датчиков -  патент 2510609 (10.04.2014)
оптоэлектронное устройство для исследования деформационных характеристик волокнистых систем -  патент 2507479 (20.02.2014)
устройство для измерения продольной и поперечной деформации легкодеформируемых трикотажных полотен -  патент 2499257 (20.11.2013)
способ управления промышленной безопасностью и диагностики эксплуатационного состояния промышленного объекта -  патент 2494434 (27.09.2013)
способ неразрушающего контроля деталей из полимерных композиционных материалов -  патент 2488772 (27.07.2013)
устройство для измерения деформаций грунта -  патент 2485448 (20.06.2013)
распределенный оптоволоконный датчик -  патент 2482449 (20.05.2013)
способ неразрушающего экспресс-контроля сварных соединений и устройство, его реализующее -  патент 2475725 (20.02.2013)
устройство для измерения малых перемещений или деформаций объекта -  патент 2473044 (20.01.2013)
Наверх