эллипсометрический датчик

Классы МПК:G01J4/04 поляриметры с использованием электрических детекторов
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Конструкторско-технологический институт прикладной микроэлектроники СО РАН
Приоритеты:
подача заявки:
1999-03-05
публикация патента:

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материалов. Эллипсометрический датчик содержит источник излучения, поляризатор, компенсатор, исследуемый объект. Падающее на поляризатор излучение разделяется по фронту световой волны на два пучка. Отраженные или прошедшие исследуемый объект пучки регистрируются двумя фотоприемниками. Перед фотоприемниками установлены два анализатора. Плоскости поляризации анализаторов развернуты на 90° относительно друг друга. Конструкция датчика позволяет уменьшить оптическую длину, применить пленочные поляризаторы и обеспечивает высокую чувствительность измерений. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

Эллипсометрический датчик, содержащий источник излучения, поляризатор, компенсатор, исследуемый объект, фотоприемник, отличающийся тем, что излучение, прошедшее или отраженное от исследуемого объекта, разделено на два пучка, регистрируемых двумя фотоприемниками, перед которыми установлены два анализатора, плоскости поляризации которых развернуты на 90o относительно друг друга.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств поверхности и может быть использовано для измерения физических постоянных и параметров материала и тонких пленок.

Известна схема эллипсометра, содержащая источник когерентного излучения, поляризатор, четвертьволновую пластинку, исследуемый объект, анализатор, фотоприемное устройство [Горшков М. М. Эллипсометрия. М., 1974. С. 199]. Принцип измерения основан на нулевом методе. Состояние поляризации излучения измеряется путем определения азимутов ориентации поляризатора и анализатора в момент, когда на выходе фотоприемного устройства наблюдается минимальный сигнал. Основной недостаток данной схемы состоит в том, что высокая чувствительность измерений может быть обеспечена в случае применения поляризационных элементов с высокой степенью поляризации, высокой мощностью источника когерентного излучения.

Прототипом изобретения служит схема спектроэллипсометра [Рыхлицкий C.B. и др. авт. св. N 1495648 от 22.03.1989], содержащая источник излучения, поляризатор, исследуемый объект, компенсатор, анализирующий блок. Анализирующий блок состоит из двоякопреломляющей призмы, разделяющей по амплитуде световую волну на два пучка со взаимно ортогональной поляризацией, механического модулятора, обеспечивающего модуляцию пучков в противофазе, системы линз, фокусирующих излучение на площадку фотоприемника. Применение данной схемы регистрации обеспечивает высокую чувствительность измерений при низких значениях мощности потока излучения, а также позволяет работать с объектами, имеющими низкую степень поляризации без заметного снижения чувствительности. Недостатком данной конструкции эллипсометра является применение в конструкции анализирующего устройства, системы линз, модулятора, двоякопреломляющей призмы. Использование этих узлов позволяет реализовать данное схемное решение только в виде стационарного прибора, характеризующегося значительными габаритами и энергопотреблением.

Целью изобретения являются снижение энергопотребления и массогабаритных характеристик устройства.

Указанная цель достигается тем, что в изобретении излучение, падающее на вход поляризационной части устройства фиг 1а, фиг 1б, состоящего из источника излучения 1 поляризатора 2, компенсатора 3, пространственно разделено по фронту световой волны на два пучка равной интенсивности, падающих под углом Q к исследуемой поверхности 4, но в различных плоскостях, разнесенных в пространстве на определенный угол эллипсометрический датчик, патент № 2157513. Излучение, отраженное от объекта или прошедшее через него, регистрируется с помощью двух фотоприемников 7,8, перед которыми установлены два анализатора 5,6 со взаимно ортогональной ориентацией плоскости поляризации. Применение в предлагаемом изобретении схемы измерения с пространственно разнесенными каналами по фронту световой волны позволяет применить в системе пленочные поляризационные элементы типа поляроидных пленок, уменьшить оптическую длину и в качестве излучателя применить источник с низким энергопотреблением типа светодиода без предварительной каллимации.

Автору неизвестны конструкции эллипсометров, обладающие признаками сходными с признаками, отличающими предлагаемую конструкцию от прототипа, поэтому данная конструкция эллипсометра обладает существенным отличием.

Предлагаемое изобретение иллюстрируется следующими графическими материалами:

фиг.1а - схема эллипсометрического датчика на отражение;

фиг.1б - схема эллипсометрического датчика на пропускание;

фиг. 2 - пример конкретного исполнения эллипсометрического датчика для измерения давления.

Работа устройства состоит в следующем: известно что величина потока F, падающего на фотоприемники, связана с положением азимутов ориентации элементов схемы соотношением (1) [Оптика и спектроскопия, т. 50, вып. 5, 1991, с. 1169-1176.]

F=F0(Rs2cos2(A)+Rp2sin2(A)+RsRpsin2A cos(2P-90+ эллипсометрический датчик, патент № 2157513)), (1)

где F0 - величина начального потока излучения, P - азимут ориентации поляризатора, A - азимут анализатора, R5,Rp (Ts,Tp) - коэффициенты отражения [пропускания) взаимно ортогональных компонент поляризации, эллипсометрический датчик, патент № 2157513 - разность фаз между поляризационными компонентами, вносимая измеряемым объектом.

Измерение эллипсометрический датчик, патент № 2157513 производится при исходной ориентации анализаторов A1 = 45o, A2 = 135o, соответственно в первом и втором каналах, компенсатора C = 45o. Соотношение (1) приобретает вид

F1=F0(0,5(Rs3+Rp3)+ RsRpcos(2P-90+ эллипсометрический датчик, патент № 21575131 ));

F2=F0(0,5(Rs3+Rp2)- RsRpcos(2P-90+ эллипсометрический датчик, патент № 21575132 )). (2)

Система обработки обеспечивает измерение сигнала Jэллипсометрический датчик, патент № 2157513 где

эллипсометрический датчик, патент № 2157513 полагая, что в пределах измеряемой площади S1, S2 параметры объекта эллипсометрический датчик, патент № 21575131,эллипсометрический датчик, патент № 21575132 по каналам равны или незначительно отличаются друг от друга, соотношение (3) примет вид

эллипсометрический датчик, патент № 2157513

Измерение эллипсометрический датчик, патент № 2157513 проводится при ориентации анализаторов A1=0o, A2=90o соответственно по каналам и C = 0. Соотношение (3) примет вид

эллипсометрический датчик, патент № 2157513

где Jэллипсометрический датчик, патент № 2157513 измеряемый сигнал.

эллипсометрический датчик, патент № 2157513

При установке азимута поляризатора в положение P, близкое к эллипсометрический датчик, патент № 2157513. изменение сигнала эллипсометрический датчик, патент № 2157513Jэллипсометрический датчик, патент № 2157513 связано с изменением эллипсометрический датчик, патент № 2157513эллипсометрический датчик, патент № 2157513 соотношением (6)

эллипсометрический датчик, патент № 2157513

Сопоставительный анализ с прототипом, где излучение, отраженное от исследуемого объекта, направляется на поляризационную призму и после прохождения ее делится по амплитуде световой волны на два пучка со взаимно ортогональной поляризацией, отличается тем, что в заявленном устройстве деление излучения происходит по фронту падающей волны до падения его на исследуемую поверхность и регистрируется с помощью двух фотоприемников, перед которыми установлены анализаторы с азимутами поляризаций, развернутыми на 90o относительно друг друга, показывает, что такое схемное решения позволяет использовать в качестве поляризатора и анализатора пленочные элементы типа поляроидных пленок и тем самым уменьшить оптический путь и габариты устройства, применить источники излучения с низким энергопотреблением. На фиг.2 приведена конкретная схема исполнения эллипсометрического датчика, предназначенного для измерения величины давления. Принцип работы устройства основан на фотоупругом эффекте кварцевой пластины, в которой под действием приложенной нагрузки возникает двулучепреломление, характеризующееся величиной эллипсометрический датчик, патент № 2157513. Соотношение между величиной нагрузки и значением эллипсометрический датчик, патент № 2157513 определяется выражением

эллипсометрический датчик, патент № 2157513

где эллипсометрический датчик, патент № 2157513x,эллипсометрический датчик, патент № 2157513y - - величина нагрузки в двух взаимно перпендикулярных направлениях, эллипсометрический датчик, патент № 2157513 - длина волны излучения, эллипсометрический датчик, патент № 2157513 - постоянная материала.

Использование данного схемного решения в конструкции эллипсометрического датчика позволило получить следующие технические характеристики:

Линейный диапазон измерений эллипсометрический датчик, патент № 2157513 - эллипсометрический датчик, патент № 215751310o

Чувствительность к изменению эллипсометрический датчик, патент № 2157513 - 0,005o

Масса датчика - 40 г

Габариты оптического блока - 10 х 30 мм

Энергопотребление датчика - 20 мВт

Литература

1. Горшков М.М. Эллипсометрия. М., 1974, с.199.

2. Рыхлицкий C.B. и др., авт. св. N 1495648 от 22.03.1989.

3. Оптика и спектроскопия, т. 50, вып. 5, 1991, с. 1169-1176.

Класс G01J4/04 поляриметры с использованием электрических детекторов

способ определения отклонения угла наклона плоскости поляризации оптического излучения -  патент 2527654 (10.09.2014)
оптоэлектронный анализатор поляризации оптического излучения -  патент 2477457 (10.03.2013)
способ определения знака циркулярной поляризации лазерного излучения -  патент 2452924 (10.06.2012)
способ измерения поляризационной чувствительности приемника оптического излучения (варианты) -  патент 2426078 (10.08.2011)
устройство измерения поляризационных параметров оптического излучения -  патент 2422783 (27.06.2011)
устройство компенсации фарадеевского вращения плоскости поляризации света -  патент 2365957 (27.08.2009)
устройство измерения параметров поляризации оптического излучения -  патент 2340879 (10.12.2008)
способ измерения азимута плоскости поляризации оптического излучателя -  патент 2337331 (27.10.2008)
устройство упругой поляризационной спектроскопии -  патент 2292531 (27.01.2007)
способ измерения изменений азимута плоскости поляризации оптического излучения -  патент 2276348 (10.05.2006)
Наверх