микрополосковый корректор группового времени запаздывания
Классы МПК: | H01P1/18 фазовращатели H01P9/00 Линии задержки типа волноводов |
Автор(ы): | Беляев Б.А., Лексиков А.А., Никитина М.И. |
Патентообладатель(и): | Институт физики им. Л.В. Киренского СО РАН |
Приоритеты: |
подача заявки:
1999-07-23 публикация патента:
20.04.2001 |
Сущность изобретения: микрополосковый корректор группового времени запаздывания содержит микрополосковую структуру, образованную Т-образным соединением отрезков микрополосковых линий, при этом заземляемое основание выполнено сплошным и полосковые проводники структуры соединены между собой гальванически. Технический результат заключается в упрощении конструкции. 3 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3
Формула изобретения
Микрополосковый корректор группового времени запаздывания, содержащий микрополосковую структуру, образованную Т-образным соединением отрезков микрополосковых линий, отличающийся тем, что заземляемое основание выполнено сплошным и полосковые проводники структуры соединены между собой гальванически.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к технике сверхвысоких частот. Известен корректор группового времени запаздывания на основе C-секции [1] , содержащий связанные реберно-диэлектрические линии и комплексное шунтирующее сопротивление, включенное в перемычку, соединяющую концы линий. Недостатками такого корректора являются неинтегральность исполнения и большие габариты. Наиболее близким по совокупности существенных признаков является корректор [2] , содержащий диэлектрическую подложку, на одной стороне которой размещено металлизированное основание, а на другой - расположен проводник, концы которого являются входом и выходом, и шлейф, подключенный через конденсатор к проводнику одним концом и разомкнутый на другом конце, а в металлизированном основании выполнена полуволновая щель, короткозамкнутая на концах и размещенная вдоль шлейфа. Недостатками такого корректора являются сложность конструкции и наличие сосредоточенного элемента - конденсатора. Техническим результатом при использовании изобретения является упрощение конструкции. Указанный технический результат достигается тем, что заявляемый корректор содержит микрополосковую структуру, образованную T-образным соединением отрезков микрополосковых линий, которые для уменьшения габаритов выполняются со скачками волнового сопротивления. Отличия заявляемого корректора от наиболее близкого аналога заключаются в том, что в заземляемом основании отсутствует щелевой резонатор, а отрезки микрополосковых линий имеют гальваническую связь друг с другом. Изобретение поясняется чертежом (фиг. 1), на котором изображен вид сверху заявляемого корректора, чертежом (фиг. 2), поясняющим принцип работы корректора, и графиками (фиг. 3), демонстрирующими характеристики конкретных реализаций корректора. Заявляемый корректор содержит микрополосковую структуру, образованную T-образным соединением отрезков микрополосковых линий, подложка и проводники которой обозначены (фиг. 1) позициями 1 и 2 соответственно. Вход и выход подключаются к плечам структуры, а для уменьшения габаритов устройства микрополосковые проводники структуры выполняются со скачком волнового сопротивления. Корректор работает следующим образом. Фактически такая микрополосковая структура представляет собой двухмодовый микрополосковый резонатор в том смысле, что в полосе рабочих частот в нем возбуждаются два типа колебаний. На фиг. 2 схематически показаны направления высокочастотных токов в структуре, соответствующие этим двум модам. Назовем моду, направление высокочастотных токов которой совпадает с направлением вход-выход (фиг. 2а), продольной, а вторую моду (фиг. 2б) - поперечной. При соответствующем выборе размеров микрополосковых проводников резонансные частоты вышеуказанных мод сближаются, образуя полосу пропускания устройства. При этом СВЧ-сигнал, проходящий структуру и попадающий на резонанс продольной моды, претерпевает фазовый сдвиг на , а фаза сигнала, попадающего на резонанс поперечной моды, не меняется. Благодаря этому фазово-частотная характеристика такой структуры в полосе пропускания является нелинейной, а частотная зависимость группового времени запаздывания - неравномерной. Взаимное положение мод по частоте зависит от соотношения размеров микрополосковых проводников структуры, чем определяется и крутизна фазово-частотной характеристики и соответственно знак наклона частотной зависимости группового времени запаздывания в рабочем диапазоне частот. Частоту продольной моды можно вычислить приближенно по формуле [3]:где c - скорость света; l1 и l2 - размеры структуры в соответствии с фиг. 1; Z1, Z2 и 1эф, 2эф - соответственно волновые сопротивления и эффективные диэлектрические проницаемости [4] отрезков микрополосковых линий, ширина которых на фиг. 1 обозначена w1 и w2. Знак наклона частотной зависимости г.в.з. (фиг. 3) определяется соотношением частот продольной (fl) и поперечной (ft) мод:
1) если fl > ft, то наклон отрицательный (кривая 1),
2) если fl < ft, то наклон положительный (кривая 2). Этим двум условиям соответствуют эмпирические соотношения:
1) 1+2/2 < 3+4,
2) 1+2/2 > 3+4,
где электрические длины отрезков микрополосковых линий, ширина которых на фиг. 1 обозначена соответственно wi. Здесь, как и ранее, c - скорость света, а iэф - эффективная диэлектрическая проницаемость микрополосковой линии соответствующей ширины. Шириной входного и выходного отрезков микрополосковых линий регулируется скачок волнового сопротивления между ними и линиями передачи на входе и выходе устройства, тем самым изменяется связь резонатора с трактом, а вместе с этим и нагруженная добротность его рабочих резонансов, что позволяет управлять шириной полосы пропускания. На фиг. 3 приведены графики частотной зависимости группового времени запаздывания (г. в. з.) для двух примеров реализации корректора со следующими конструктивными параметрами. 1) l1 = 22 мм, l2 = 11 мм, l3 = 9.5 мм, l4 = 5 мм, w1 = w4 = 5 мм, w2 = w3 = 1 мм. 2) l1 = 25.8 мм, l2 = 12 мм, w1 = 5.5 мм, w2 = w3 = 1 мм, w4 = 5 мм. Подложки из керамики ТБНС ( = 80) толщиной 1 мм. Обе конструкции симметричны относительно вертикальной оси. Измерения проведены с использованием 50-омного тракта. Вносимые потери в рабочем диапазоне частот составляли 0.2-0.5 дБ, а минимум обратных потерь 14 дБ. К достоинствам заявляемого корректора можно отнести следующее. Технологичность изготовления устройства; отсутствие щелевого резонатора в заземляемом основании, исключающее необходимость подвешивания подложки; характеристики устройства с высокой точностью рассчитываются в квазистатическом приближении, требующем на два-три порядка меньше машинного времени, чем электродинамический расчет. Последнее обстоятельство особенно важно при интегрировании конструкции в систему автоматизированного проектирования. Литература
1. Дрогалев С. В. , Малютин Н.Д., Использование C-секции с неуравновешенной электромагнитной связью в корректорах группового времени замедления. - Радиотехника, 1994, N 12, с. 30-32. 2. А.с. СССР N 1603455, кл. H 01 P 1/18 (прототип). 3. Беляев Б. А., Тюрнев В.В., Васильев В.А., Рагзин Г.М., Исследование микрополосковых резонаторов и устройств СВЧ на их основе. Часть II, Препринт N 448Ф, Институт физики СО АН СССР, Красноярск, 1987, с. 14. 4. Гвоздев В. Н. , Нефедов В.И. Объемные интегральные схемы СВЧ. - М.: Наука, 1985, с. 34.
активный фазовращатель (варианты) - патент 2510980 (10.04.2014) | |
малогабаритный фазовращатель свч-диапазона - патент 2510551 (27.03.2014) | |
фазовращатель - патент 2510106 (20.03.2014) | |
способ и устройство электрического управления фазой волноводного фазовращателя - патент 2494500 (27.09.2013) | |
фазовращатель - патент 2454759 (27.06.2012) | |
широкополосный 180-градусный фазовращатель свч - патент 2436202 (10.12.2011) | |
фазовращатель (варианты) - патент 2419924 (27.05.2011) | |
фазовращатель свч - патент 2401489 (10.10.2010) | |
свч-фазовращатель на основе полупроводниковой схемы - патент 2379798 (20.01.2010) | |
фазовый манипулятор - патент 2379797 (20.01.2010) |
Класс H01P9/00 Линии задержки типа волноводов