измеритель длины концевых мер длины

Классы МПК:G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения
G01B11/02 для измерения длины, ширины или толщины
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Сибирский государственный научно-исследовательский институт метрологии
Приоритеты:
подача заявки:
2001-01-25
публикация патента:

Прибор относится к устройствам измерения длины плоскопараллельных концевых мер длины. Содержит концевую меру длины, притертую к плоской стеклянной пластине, установленную на предметном столике, оптический блок, выполненный в виде "нуль - индикатора" - лазера, оптически связанного с плоской стеклянной пластиной или концевой мерой длины, цилиндрической линзой и позиционно-чувствительным фотоэлементом, и отсчетного устройства - измерителя перемещений лазерного, отражатель которого связан с предметным столиком и установлен на линии измерения, предметный столик выполнен подвижным в двух перпендикулярных направлениях. Технический результат: повышение производительности процесса измерений. 2 з.п.ф-лы, 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

1. Измеритель длины плоскопараллельных концевых мер длины, содержащий концевую меру длины, притертую к плоской стеклянной пластине, установленной на предметном столике, оптический блок, отличающийся тем, что оптический блок выполнен в виде "нуль - индикатора" - источника света - лазера, оптически связанного с плоской стеклянной пластиной или концевой мерой длины, цилиндрической линзой и позиционно-чувствительным фотоэлементом, и "отсчетного устройства" - измерителя перемещений лазерного с отражателем.

2. Измеритель длины плоскопараллельных концевых мер длины по п. 1, отличающийся тем, что отражатель измерителя перемещений лазерного связан с предметным столиком и установлен на линии измерения.

3. Измеритель длины плоскопараллельных концевых мер длины по п. 1, отличающийся тем, что предметный столик выполнен подвижным в двух перпендикулярных направлениях.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к устройствам измерения длины плоскопараллельных концевых мер длины (КМД) и может быть использовано в машиностроении, приборостроении и других отраслях промышленности с реализацией указанного назначения.

Известны устройства, измеряющие длину КМД, притертую к плоскопараллельной измерительной пластине (ПИ), оптическим методом поочередно в 4-х длинах волн, где по совпадению дробных интерференционных полос судят об отклонении от предварительно измеренного с погрешностью 0,5 мкм значения длины меры.

Известны интерферометры по ГОСТ 8.367-79 (приложение 1 - интерферометр Кестерса; приложение 10 - горизонтальный интерферометр ВНИИМ; приложение 11 - относительный интерферометр ВНИИМ; приложение 12 - двойной контактный интерферометр мод. 272). Из них наиболее близкий аналог - интерферометр Кестерса, который решает ту же задачу измерений длины КМД.

Для этого в измерителе длины КМД, содержащем КМД, притертую к ПИ, установленной на предметном столике, оптический блок, предметный столик выполнен подвижным в двух перпендикулярных направлениях, оптический блок выполнен в виде "нуль - индикатора" - источника света - оптического квантового генератора, оптически связанного с плоской стеклянной пластиной или концевой мерой длины, цилиндрической линзой и позиционно-чувствительным фотоэлементом, и отсчетного устройства - измерителя перемещений лазерного, отражатель которого связан с предметным столиком и установлен на линии измерения.

Схематическое изображение предлагаемого измерителя представлено на чертеже. Нуль-индикатор состоит из лазера 1, цилиндрической линзы 2 и позиционно-чувствительного фотоэлемента (ПЧФ) 3, оптически связанные с ПИ 4 или притертой к ней КМД 5, установленных на предметном столике 6 с кареткой 7 поперечного перемещения и кареткой 8 вертикального перемещения. Отсчетное устройство состоит из измерителя перемещений лазерного (ИПЛ) 9, отражатель 10 которого связан с предметным столиком 6 таким образом, чтобы его центр совпадал с линией измерения (I-I). Двусторонними стрелками обозначены направления перемещений предметного столика.

Луч лазера направлен на ПИ 4 под углом примерно 40o в точку "А", расположенную на линии измерения (I-I), отражаясь, проходит цилиндрическую линзу и попадает на ПЧФ, который устанавливают в нулевое положение. Устанавливают нулевой отсчет на блоке ИПЛ. Перемещая столик в поперечном и вертикальном направлениях до попадания лазерного луча (его светового пятна) примерно в точку "A1" (середина измерительной поверхности КМД), добиваются получения нулевого положения по ПЧФ. Снимают отсчет по ИПЛ, который будет характеризовать длину КМД. Контроль параллельности ПИ 4 (с КМД 5) во время снятия отсчетов осуществляют при помощи автоколлиматора (условно не показан).

Предлагаемый измеритель позволяет повысить производительность процесса измерений относительно известных приборов - интерферометров.

Класс G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения

способ определения остаточной сферичности отражающей поверхности -  патент 2528272 (10.09.2014)
устройство для изучения геометрических несовершенств резервуаров муаровым методом с двумя опорами -  патент 2528122 (10.09.2014)
устройство для диагностики состояния внутренней поверхности труб -  патент 2528033 (10.09.2014)
способ измерения толщин нанометровых слоев многослойного покрытия, проводимого в процессе его напыления -  патент 2527670 (10.09.2014)
способ анализа фазовой информации, носитель информации и устройство формирования рентгеновских изображений -  патент 2526892 (27.08.2014)
способ геодезических измерений инженерных объектов и устройство для его осуществления -  патент 2523751 (20.07.2014)
способ измерения двугранных углов зеркально-призменных элементов и устройство для его осуществления -  патент 2523736 (20.07.2014)
способ и устройство для измерения геометрии профиля сферически изогнутых, в частности, цилиндрических тел -  патент 2523092 (20.07.2014)
способ фотограмметрического измерения размеров и контроля формы тела, ограниченного набором связанных между собой поверхностей -  патент 2522809 (20.07.2014)
способ пассивной локализации ребер прямоугольного металлического параллелепипеда в инфракрасном излучении -  патент 2522775 (20.07.2014)

Класс G01B11/02 для измерения длины, ширины или толщины

способ измерения объектов малых размеров с неровными краями и интерферограмм на базе фотоэлектрических приемников излучения -  патент 2505783 (27.01.2014)
волоконно-оптический датчик перемещений -  патент 2489679 (10.08.2013)
оптико-телевизионное устройство для дистанционного визуального контроля и измерения линейных размеров -  патент 2480799 (27.04.2013)
способ анализа вяжущего материала на основе альфа-оксида алюминия (экспресс-метод) -  патент 2477452 (10.03.2013)
устройство для измерения физических параметров прозрачных объектов -  патент 2475701 (20.02.2013)
дальномер -  патент 2463553 (10.10.2012)
устройство контроля закрытой конструкции, система и способ контроля состояния лифтовой шахты -  патент 2461513 (20.09.2012)
способ измерения линейного смещения объекта и устройство для его осуществления -  патент 2456542 (20.07.2012)
устройство для измерения износа контактного провода путем обработки изображения -  патент 2430331 (27.09.2011)
устройство для измерения износа контактного провода -  патент 2416068 (10.04.2011)
Наверх