термоэлектрический способ контроля толщины слоев двухслойных проводящих материалов

Классы МПК:G01N25/32 термоэлементов 
G01B7/06 для измерения толщины
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Орловский государственный технический университет
Приоритеты:
подача заявки:
2002-08-07
публикация патента:

Изобретение относится к измерительной технике. При термоэлектрическом способе контроля толщины слоев электропроводящих двухслойных материалов, заключающемся в определении толщины слоя по термоэлектродвижущей силе, развиваемой в результате возникновения разности температур по толщине слоев при контакте одной из поверхностей контролируемого материала с горячим и холодным наконечниками, в качестве наконечников используют головки одинаковых термопар, позволяющих измерять температуру в местах контакта. Устанавливают дополнительный холодный наконечник в виде такой же термопары на внешней поверхности другого слоя напротив горячего наконечника и по величинам электродвижущих сил, измеряемых между одноименными электродами термопар, судят о толщине одного из слоев. Толщину другого слоя определяют как разность толщин двухслойного материала и измеренного слоя. Технический результат состоит в уменьшении погрешности измерения и расширении области возможного применения термоэлектрического метода. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10

Формула изобретения

Термоэлектрический способ контроля толщины слоев электропроводящих двухслойных материалов, заключающийся в определении толщины слоя по термоэлектродвижущей силе, развиваемой в результате возникновения разности температур по толщине слоев при контакте одной из поверхностей контролируемого материала с горячим и холодным наконечниками, отличающийся тем, что в качестве наконечников используют головки одинаковых термопар, позволяющих измерять температуру в местах контакта, устанавливают дополнительный холодный наконечник в виде такой же термопары на внешней поверхности другого слоя напротив горячего наконечника и по величинам электродвижущих сил, измеряемых между одноименными электродами термопар, судят о толщине одного из слоев, толщину другого слоя определяют как разность толщин двухслойного материала и измеренного слоя.

Описание изобретения к патенту

Таблицы

Класс G01N25/32 термоэлементов 

устройство для разбраковки металлических изделий -  патент 2495410 (10.10.2013)
датчик для определения реакционной способности газообразных и конденсированных продуктов -  патент 2456583 (20.07.2012)
установка для определения эффективной теплопроводности порошково-вакуумной и экранно-вакуумной теплоизоляций -  патент 2356038 (20.05.2009)
устройство измерения интенсивности лучистых потоков при тепловакуумных испытаниях космических аппаратов и способ его эксплуатации -  патент 2354960 (10.05.2009)
способ контроля наличия контакта нагреваемого электрода с контролируемым изделием при разбраковке металлических изделий -  патент 2331064 (10.08.2008)
устройство контроля наличия контакта нагреваемого электрода с контролируемым изделием при разбраковке металлических изделий -  патент 2329493 (20.07.2008)
устройство для разбраковки металлических изделий -  патент 2313082 (20.12.2007)
термоэлектрическое устройство для контроля неоднородности поверхностного слоя металлов и сплавов -  патент 2307345 (27.09.2007)
термоэлектроимпульсное устройство для контроля неоднородности поверхностного слоя металлов и сплавов -  патент 2306553 (20.09.2007)
установка для исследования теплопроводности теплоизоляционных материалов -  патент 2289126 (10.12.2006)

Класс G01B7/06 для измерения толщины

способ и установка для удаления двойной индикации дефектов при контроле труб по дальнему полю вихревых токов -  патент 2523603 (20.07.2014)
устройство для контроля толщины проводящей пленки изделий электронной техники -  патент 2495370 (10.10.2013)
устройство для определения толщины льда -  патент 2495369 (10.10.2013)
способ определения толщины отложений на внутренней поверхности труб вихретоковым методом и устройство для его осуществления -  патент 2487343 (10.07.2013)
способ обнаружения неоднородностей листа и устройство для его осуществления -  патент 2483276 (27.05.2013)
способ и устройство для измерения толщины слоя частично кристаллизованных расплавов -  патент 2480708 (27.04.2013)
анализатор-измеритель состояния слоя воды/льда с примесями на дорожной поверхности -  патент 2464580 (20.10.2012)
вихретоковый толщиномер -  патент 2419763 (27.05.2011)
толщиномер покрытий с электромагнитом -  патент 2419066 (20.05.2011)
измерение толщины стенки, в частности стенки лопатки, при помощи токов фуко -  патент 2418963 (20.05.2011)
Наверх