способ определения гранулометрического состава тонкодисперсного материала
| Классы МПК: | G01N23/06 с последующим измерением поглощения |
| Автор(ы): | Корсак Л.Л., Лаптев А.И., Сорокин М.Н., Бобров А.Н., Боброва О.В. |
| Патентообладатель(и): | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный институт стали и сплавов" (технологический университет) |
| Приоритеты: |
подача заявки:
2003-03-05 публикация патента:
20.12.2003 |
Способ может быть использован во всех отраслях народного хозяйства для контроля качества тонкодисперсных минеральных порошков. Гранулометрический состав тонкого материала определяют путем сегрегации навески его в воде в заданные промежутки времени при постоянном уровне пульпы в емкости с последующим расчетом содержания отдельных классов крупности в исходном материале. Содержание отдельных классов определяют по коэффициенту поглощения низкоэнергетического гамма-излучения. 2 ил., 1 табл.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6
Формула изобретения
Способ определения гранулометрического состава тонкого материала путем сегрегации навески его в воде в заданные промежутки времени при постоянном уровне пульпы в емкости с последующим расчетом содержания отдельных классов крупности в исходном материале, отличающийся тем, что содержание отдельных классов определяют по коэффициенту поглощения низкоэнергетического гамма-излучения.Описание изобретения к патенту
Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть)еКласс G01N23/06 с последующим измерением поглощения
