способ измерения свойств цвета поверхности
Классы МПК: | G01J3/46 измерение цвета; устройства для измерения цвета, например колориметры |
Автор(ы): | |
Патентообладатель(и): | Панов Евгений Алексеевич |
Приоритеты: |
подача заявки:
2001-10-24 публикация патента:
27.01.2004 |
Изобретение относится к колориметрии. В способе измеряемую поверхность освещают заданными и спектрально различимыми видами излучения света, причем дневной свет считают эталонным видом излучения. При этом компоненты матрицы цвета вычисляют, используя измеренные спектральные плотности светового потока, рассеянного от измеряемой поверхности, с их нормировкой к спектральной плотности светового потока от эталонного вида излучения света, а также к нормируемой величине измеренной освещенности поверхности от эталонного вида излучения света и к нормируемому измеряемому телесному углу для светового потока, рассеянного измеряемой поверхностью. Техническим результатом изобретения является его многообразное применение. 1 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7
Формула изобретения
Способ измерения свойств цвета поверхности, при котором измеряемую поверхность освещают заданными и спектрально различимыми видами излучения света, измеряют спектральные плотности светового потока, рассеянного измеряемой поверхностью, вычисляют компоненты матрицы цвета, по которым судят о свойствах цвета измеряемой поверхности и при вычислении которых используют спектральную плотность светового потока от эталонного источника, отличающийся тем, что, с целью идентификации свойств цвета измеряемой поверхности по характеристикам природной цветопередачи, дополнительно измеряют величину освещенности Е измеряемой поверхности дневным светом или светом, близким по своему спектральному составу к дневному, который считают эталонным видом излучения света, компоненты матрицы цвета Nn() вычисляют из ниже приведенной системы уравнений, используя измеренные спектральные плотности светового потока Nn,изм(), рассеянного от измеряемой поверхности, с их нормировкой к спектральной плотности светового потока от эталонного вида излучения света N0(), а также к нормируемой величине измеренной освещенности измеряемой поверхности от эталонного вида излучения света и к нормируемому измеренному телесному углу видимости поверхности:Nn()=Nn,изм()К1()·К2·К3,где n - виды излучения света, падающие на измеряемую поверхность (n=l,2,...N); - длина волны света;0 - нормируемая длина волны света;Nn,изм() - измеренная спектральная плотность светового потока, рассеянного от измеряемой поверхности, для n-видов излучения света;K1()=N0(0)/N0() - относительный коэффициент нормирования для измеряемой спектральной плотности эталонного светового потока;N0() и N0(0) - спектральная плотность светового потока эталонного излучения света, освещающего измеряемую поверхность, и ее значение при нормируемой длине волны света 0;К2=(E0/E) - коэффициент нормирования для освещенности измеряемой поверхности эталонным видом излучения света;Е - величина освещенности и нормируемая величина освещенности Е0;К3=(0/) - коэффициент нормирования телесного угла видимости измеряемой поверхности, где - телесный угол видимости самой поверхности при измерении рассеянного от нее светового потока и 0 - нормируемый телесный угол.Описание изобретения к патенту
Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть)вКласс G01J3/46 измерение цвета; устройства для измерения цвета, например колориметры