способ температурных волн для определения теплофизических свойств материалов
| Классы МПК: | G01N25/18 путем определения коэффициента теплопроводности |
| Автор(ы): | Ищук И.Н. |
| Патентообладатель(и): | Тамбовский военный авиационный инженерный институт |
| Приоритеты: |
подача заявки:
2001-11-12 публикация патента:
20.02.2004 |
Изобретение относится к измерительной технике. Способ относится к нестационарным методам неразрушающего контроля материалов с использованием гармонического источника тепла. В способе используют две неограниченно протяженные пластины - испытуемую и эталонную заданной толщины. В результате действия гармонического источника тепла в двух точках контроля регистрируют отношение значений температур и сдвиг фаз температур. Технический результат - повышение точности и упрощение измерений. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7
Формула изобретения
Способ определения теплофизических свойств материалов с использованием температурных волн, заключающийся в использовании гармонического нагревателя, воздействующего на эталонный и испытуемый материалы, и измерении температур эталона и испытуемого материала, отличающийся тем, что измеряют температуру в двух точках контроля - на теплоизолированной поверхности эталона и на теплоизолированной поверхности испытуемого материала в момент равенства нулю теплового потока от нагревателя, проводят моделирование процессов измерений теплофизических свойств с использованием аппроксимирующих степенных функций и искомые теплофизические свойства испытуемого материала рассчитывают по формулам
где 
2 - коэффициент температуропроводности испытуемого материала;
2 - коэффициент теплопроводности испытуемого материала;1 - коэффициент температуропроводности эталона;1 - коэффициент теплопроводности эталона;
2 - сдвиг фазы между изменением температуры на теплоизолированной поверхности испытуемого материала и изменением теплового потока от нагревателя;1 - сдвиг фазы между изменением температуры на теплоизолированной поверхности эталона и изменением теплового потока от нагревателя;T1 - значение температуры на теплоизолированной поверхности эталона в момент равенства нулю теплового потока от нагревателя;Т2 - значение температуры на теплоизолированной поверхности испытуемого материала в момент равенства нулю теплового потока от нагревателя;C1, C2 - аппроксимирующие коэффициенты математической модели.
Описание изобретения к патенту
Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть)лКласс G01N25/18 путем определения коэффициента теплопроводности
