устройство для деформации материала подложки и измерения разновременности выхода детонации

Формула изобретения

Устройство для деформации материала подложки и измерения разновременности выхода детонации на поверхность матрицы, снаряженной взрывчатым веществом, включающее световоды, обращенные одними торцами к матрице, другими к регистрирующему устройству, при этом матрица расположена между световодами и исследуемой подложкой, деформация которой продуктами взрыва определяет ее состояние, подложка установлена таким образом, чтобы под воздействием продуктов взрыва после подрыва матрицы она имела возможность перемещения в направлении ловушки-преграды.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области взрывных работ и может быть использовано при исследовании взрывных процессов в различных отраслях промышленности.

Известно устройство для измерения деформаций материалов (а.с. РФ 1747879, G 01 B 11/16, опубл. 15.07.92, БИ №26), содержащее источник света, приемный и передающий световоды, соединенные чувствительным элементом, в виде стыкового узла, приемник излучения и регистратор. Чувствительный элемент выполнен в виде подложки, на которой с помощью низкомодульного компаунда зафиксированы торцы приемного и передающего световодов, образующие базу измерений, а на участке базы измерений на подложку и торцы световодов нанесен антиадгезив.

Недостатком данного устройства является то, что невозможно измерять равномерность выхода детонации.

Известно также устройство для измерения деформациии материалов (з. РФ №93012659, G 01 В 11/16, опубл. 20.11.95), в котором чувствительный элемент выполнен в виде подложки, на ней зафиксированы торцы приемного и передающего световодов, в пространстве между которыми установлена перекрывающая проходящий поток света шторка, жестко скрепленная одним концом с демпфируемой поверхностью. Длина незакрепленной части шторки является базой измерения.

Недостатком данного устройства является невозможность измерения равномерности выхода детонации.

Задачей изобретения является возможность одновременного определения разновременности выхода детонации на поверхность матрицы, снаряженной ВВ и деформации материала.

Поставленная задача решается тем, что в устройстве измерения деформации материала подложки и разновременности выхода детонации на поверхность матрицы, снаряженной ВВ, содержащем чувствительный элемент, выполненный в виде световодов, одни торцы которых обращены к матрице, другие - к регистрирующему устройству, при этом матрица расположена между световодами и исследуемой подложкой, деформация которой продуктами взрыва определяет ее состояние. Подложка установлена таким образом, чтобы под воздействием продуктов взрыва после подрыва матрицы она имела возможность перемещения в направлении ловушки-преграды.

Наличие в устройстве световодов, обращенных одними торцами к матрице, а другими к регистрирующему устройству вкупе с наличием ловушки-преграды, позволило надежно получать информацию о воздействии заряда на подложку за счет сохранения целостности подложки.

На чертеже изображено устройство, в котором

1 - подложка,

2 - матрица,

3 - световоды,

4 - ловушка-преграда.

Устройство измерения деформации материала подложки 1 и разновременности выхода детонации на поверхность матрицы 2, снаряженной ВВ, содержит световоды 3, обращенные одними торцами к регистрирующему устройству (на чертеже не показан), при этом матрица 2 расположена между световодами 3 и исследуемой подложкой 1. При этом подложка 1 установлена таким образом, чтобы под воздействием продуктов взрыва матрицы 2 она имела возможность перемещения в направлении ловушки-преграды 4.

Устройство работает следующим образом.

Взрываемое вещество матрицы 2 подрывается с помощью детонатора. При выходе детонационной волны (ДВ) на одну из поверхностей матрицы 2 свечение на фронте детонационной волны воспринимается световодами 3 в каждой регистрируемой точке и информацию передают регистрирующему устройству. Одновременно ДВ деформирует подложку 1, которая под действием продуктов взрыва летит и улавливается ловушкой-преградой 4. После чего деформированная ДВ поверхность подложки 1 измеряется любыми измерительными приборами.