способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство для его осуществления

Классы МПК:G01N23/20 с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения 
G01N23/22 измерением вторичной эмиссии
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Федеральное государственное унитарное предприятие "Государственный научный центр Российской Федерации Институт теоретической и экспериментальной физики им. А.И. Алиханова" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2004-10-15
публикация патента:

Использование: для качественного и количественного элементного анализа исследуемого объекта. Сущность: заключается в том, что облучают объект зондирующими гамма-квантами с энергией Е 0 и измеряют энергетическое распределение гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта на связанном электроне в режиме временных совпадений с рентгеновскими фотонами К-серии, при этом сначала выбирают список анализируемых элементов в порядке возрастания атомного номера Z1<Z2, <...<Zn и соответствующий ему список энергий связи К-электронов E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) и вычисляют последовательные диапазоны углов рассеяния способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 1, способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 2, ...способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 n зондирующих гамма-квантов, в которые эти кванты рассеиваются после возбуждения К-вакансии по одной дополнительной К-серии из списка E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) в каждый из диапазонов, а затем размещают внутри каждого такого диапазона детекторы для регистрации рассеянных гамма-квантов, причем амплитуду сигнала из каждого диапазона усиливают и стандартизуют независимо, после чего накапливают результаты одновременного суммирования стандартизованных амплитуд с амплитудами, полученными от детектора, регистрирующего рентгеновские фотоны различных К-серий, при этом селективность одновременной регистрации рентгеновского фотона и фотона, рассеянного по механизму комптон-эффекта, позволяет идентифицировать атомные номера элементов, а по результатам одновременного суммирования определяют искомые концентрации элементов в изучаемом объекте. Технический результат: неразрушающий многоэлементный анализ в условиях повышенного радиационного фона. 2 н.п. ф-лы, 1 табл., 4 ил. способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

Формула изобретения

1. Способ элементного анализа при наличии фона, включающий облучение объекта зондирующими гамма-квантами с энергией Е 0 и измерение энергетического распределения гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта на связанном электроне в режиме временных совпадений с рентгеновскими фотонами К-серии, отличающийся тем, что сначала выбирают список анализируемых элементов в порядке возрастания атомного номера Z1<Z2, <...<Zn и соответствующий ему список энергий связи К-электронов E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) и вычисляют последовательные диапазоны углов рассеяния способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 1, способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 2, ...способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 n зондирующих гамма-квантов, в которые эти кванты рассеиваются после возбуждения К-вакансии по одной дополнительной К-серии из списка E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) в каждый из диапазонов, а затем размещают внутри каждого такого диапазона детекторы для регистрации рассеянных гамма-квантов, причем амплитуду сигнала из каждого диапазона усиливают и стандартизуют независимо, после чего накапливают результаты одновременного суммирования стандартизованных амплитуд с амплитудами, полученными от детектора, регистрирующего рентгеновские фотоны различных К-серий, при этом селективность одновременной регистрации рентгеновского фотона и фотона, рассеянного по механизму комптон-эффекта, позволяет идентифицировать атомные номера элементов, а по результатам одновременного суммирования определяют искомые концентрации элементов в изучаемом объекте.

2. Устройство для элементного анализа по по п.1, содержащее излучатель зондирующих гамма-квантов с коллиматором, держатель объекта и детектор гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта, выход которого подан на контрольный вход схемы линейных ворот, а также детектор фотонов рентгеновской К-серии, выход которого подан на управляющий вход линейных ворот, выход которых согласован с амплитудным анализатором и накопителем импульсов, отличающееся тем, что использовано несколько детекторов рассеянных гамма-квантов, которые расположены в расчетных диапазонах угла рассеяния, причем выход каждого детектора через независимый нормализатор амплитуды поступает на первый вход линейного сумматора, на ответный второй вход линейного сумматора подан выход от детектора фотонов рентгеновской К-серии, а выход линейного сумматора согласован с накопителем импульсов.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области измерения искусственных и естественных вариаций элементного состава в условиях повышенного радиационного фона и (или) повышенной температуры в объектах техногенного и геологического происхождения и может быть использовано для работы в аварийных условиях повышенной радиации, в горячей камере или на заводах для переработки отработанного ядерного горючего, в аппаратах дистанционного управления, например в буровых скважинах или в зондирующих космических модулях.

В качестве аналога рассмотрен способ рентген-флюоресцентного анализа [1], включающий облучение объекта энергичными фотонами с образованием атомных К-вакансий и последующее измерение характеристических К-серий анализируемых элементов. Этот способ основан на высоком разрешении детектора рентгеновских фотонов и не позволяет анализировать элементный состав радиоактивного объекта или выполнить элементный анализ в условиях повышенного радиационного фона, поскольку он не предусматривает наличие механизма приоритетной регистрации полезного сигнала в условиях фона, и регистрация фона происходит в отношении "один к одному".

В качестве прототипа рассмотрен способ селективного измерения комптоновского профиля К-электронов [2], когда объект сначала облучают энергичными фотонами (и порождают К-вакансии в электронной оболочке изучаемого атома), а затем, в режиме временных совпадений с рентгеновскими фотонами К-серии, измеряют энергетическое распределение фотонов, рассеянных по механизму комптон-эффекта. Этот способ следует рассматривать как неразрушающий одноэлементный анализ в условиях повышенного радиоактивного фона (который генерируется за счет возбуждения атомных К-вакансий по механизму фотоэффекта). Однако он не пригоден для выполнения многоэлементного анализа, поскольку в нем не предусмотрено разделение вкладов от различных элементов, а энергетическая ширина регистрируемого комптоновского распределения фотонов больше расстояния между смещениями рентгеновских К-линий соседних элементов.

Целью изобретения является неразрушающий многоэлементный анализ в условиях повышенного радиационного фона.

Поставленная цель достигается тем, что в известном способе элементного анализа, включающем облучение объекта зондирующими гамма-квантами с энергией Е0 и измерение энергетического распределения гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта в режиме временных совпадений с рентгеновскими фотонами К-серии, сначала выбирают список анализируемых элементов в порядке возрастания атомного номера Z1<Z2, <...<Zn и соответствующий ему список энергий связи К-электронов E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) и вычисляют последовательные диапазоны углов рассеяния способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 1, способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 2, ...способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 n зондирующих гамма-квантов, в которые эти кванты рассеиваются после возбуждения К-вакансии по одной дополнительной К-серии из списка E(Z1)<E(Z2)<...<E(Zn) в каждый из диапазонов, а затем размещают внутри каждого такого диапазона детекторы для регистрации рассеянных гамма-квантов, причем амплитуду сигнала из каждого диапазона усиливают и стандартизуют независимо, после чего накапливают результаты одновременного суммирования стандартизованных амплитуд с амплитудами, полученными от детектора, регистрирующего рентгеновские фотоны различных К-серий.

Поставленная цель достигается также тем, что в устройстве для элементного анализа, содержащем излучатель зондирующих гамма-квантов с коллиматором, держатель объекта и детектор гамма-квантов, рассеянных по механизму комптон-эффекта, выход которого подан на контрольный вход схемы линейных ворот, а также детектор фотонов рентгеновской К-серии, выход которого подан на управляющий вход линейных ворот, выход которых согласован с амплитудным анализатором и накопителем импульсов, использовано несколько детекторов рассеянных гамма-квантов, расположенных в расчетных диапазонах угла рассеяния, причем выход каждого детектора через независимый нормализатор амплитуды поступает на первый вход линейного сумматора, на ответный второй вход линейного сумматора подан выход от детектора фотонов рентгеновской К-серии, а выход линейного сумматора согласован с накопителем импульсов.

На Фиг.1 приведена схема комптон-флюоресцентного элементного анализатора.

Рассмотрим работу устройства Фиг.1 согласно списку анализируемых элементов в порядке возрастания атомного номера

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

и соответствующего ему списка энергий связи К-электронов

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

в этих атомах.

В исходном состоянии устройства Фиг.1 выключен блок детекторов 3, выключен детектор 4, отсутствует или перекрыт защитой излучатель гамма-квантов в коллиматоре 1.

При работе устройства гамма-кванты излучателя 1 проходят коллиматор и, после рассеяния в объекте - 2 на К-оболочках атома с порядковым номером Z1, попадают в детектор 3g. Рассеяние на малые углы сопровождается малой передачей энергии электрону, так что гамма-кванты, рассеянные в сектор g, ионизуют только атомы с наименьшим порядковым номером Z1. В следующий сектор f рассеиваются фотоны, способные ионизовать уже два вида атомов: Z1 и Z1+1 и т.д. по спискам (1) и (2), где с увеличением угла рассеяния в каждый последующий сектор рассеиваются гамма-кванты после ионизации всех предыдущих анализируемых атомов списка и одного дополнительного атома с порядковым номером, большим на единицу, чем в предыдущем секторе.

Атом с ионизованной К-оболочкой испускает рентгеновские фотоны К-серии, которые регистрируются в детекторе 4. Устройство Фиг.1 регистрирует и накапливает акты одновременных событий появления рассеянного фотона в каждом из секторов рассеяния а, b, ...g и рентгеновского фотона в детекторе 4. Разделение информации, поступающей из различных секторов рассеяния, достигают с помощью набора различных коэффициентов усиления амплитуд стандартного сигнала в различных усилителях-формирователях 5 (а, b, ...g), принадлежащих различным секторам рассеяния. Это различие коэффициэнтов усиления выбирают из условия такого разделения суммарных амлитуд на выходе линейного сумматора 6, чтобы их можно было накапливать в различных каналах накопителя. В результате набора статистики в различных секторах регистрируют некоторые числа импульсов, удовлетворяющие уравнениям:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

где Ng, Nf, Ne ...Na - количество отсчетов, зарегистрированных в каждом из секторов рассеяния.

В системе линейных уравнений (3) неизвестные коэффициенты a1, b1, b2, ... определяют посредством калибровочных измерений с эталонным объектом, где известны концентрации всех элементов n(Z), n(Z+1), ... после чего, используя полученные значения а1, b1, b2, ... определяют искомые концентрации элементов в изучаемом объекте.

При облучении объекта гамма-квантами наиболее интенсивно проявляются два эффекта: фотопоглощение фотона и комптоновское рассеяние фотона.

При фотопоглощении фотона на К-оболочке атома фотон исчезает, и образуется атомная К-вакансия, заполнение которой сопровождается только излучением характеристической рентгеновской К-серии фотонов. Регистрация характеристических фотонов позволяет идентифицировать атомный номер возбужденного атома, что и является основой рентген-флюоресцентного способа элементного анализа. Ограничение этого способа связано с тем, что для подобной идентификации атомного номера необходимо располагать детектором рентгеновского излучения, способным различать рентгеновские линии соседних элементов. В таблице 1 приведены значения энергий рентгеновских линий (эВ) для легких элементов от бора (Z=5) до кремния (Z=14), причем линии, принадлежащие соседним элементам, а также линии, принадлежащие рентгеновской серии одного элемента, нельзя разрешить, например, с помощью Ge(Li)-детектора.

ТАБЛИЦА 1.

ZЭлемент Кспособ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 1, эВКспособ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 2, эВКспособ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 1, эВ 
5В183    
6С 277    
7N 392    
8O524    
9F 676    
10Ne 848848.6   
11Na1040 10401071 
12Mg 125312531302  
13Al I4861486 1557 
14 Si1739 17391835 

При комптоновском рассеянии зондирующего фотона с энергией E0 в объекте 2 на угол способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 , Фиг.1, рассеянный фотон получает энергию, которую вычисляют по формуле А.

Комптона:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

где m - масса электрона, с - скорость света, mc2˜511 КэВ. При рассеянии часть энергии фотона Ее0, способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 ) передается электрону:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

Энергия связи электронов на К-оболочке различных атомов Ek(z) изменяется в широких пределах (˜0.01-120 КэВ), определяется законом Мозли и уточняется экспериментально. Она является функцией атомного номера z. Если Ее 0, способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 )>Ek(z), то К-электрон покидает атом, где в К-оболочке остается вакансия, а рассеянный фотон вылетает под углом способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 , который содержится в формуле (4). Если энергия связи электрона на К-оболочке равна Ek, то зондирующие фотоны с энергией E0 начинают ионизовать атом при рассеянии на критический угол способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 k:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

Практически одновременно с появлением рассеянного фотона (:10-8 сек) каждый ионизованный атом заполняет эту вакансию, испуская характеристические рентгеновские фотоны К-серии.

Сущность предлагаемого изобретения заключается в том, что селективность одновременной регистрации рентгеновского фотона и фотона, рассеянного по механизму комптон-эффекта, определяется временным разрешением детекторов, и это позволяет не только идентифицировать атомный номер таких элементов, которые не удается идентифицировать рентген-флюоресцентным способом за счет энергетического разрешения детектора рентгеновских фотонов (см., например, Таблицу 1), но также и подавлять регистрацию фоновых частиц. Ожидаемый эффект заключается в том, что критический угловой фактор комптоновского рассеяния (6) проявляет достаточно высокую чувствительность к энергии связи К-электрона. При этом регистрацию рассеянного фотона осуществляют в диапазоне углов между соседними критическими углами рассеяния способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 k(Z) и способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 k(Z+1), а вклады рассеяния в различные секторы рассеяния разделяют посредством различных нормализованных амплитуд "комптоновского" сигнала и суммирования этих амплитуд (в режиме временных совпадений) с амплитудой сигнала от детектора рентгеновских фотонов.

На Фиг.2 приведены критические углы рассеяния (градусы), рассчитанные по (6) для элементов, приведенных в Таблице 1.

Критические углы рассеяния способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 kSn рассчитаны для зондирующих фотонов излучателя 119mSn с энергией 23.875 КэВ, и для него диапазоны углов рассеяния изменяются от ˜8° до 22°. Критические углы способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 kEu рассчитаны для зондирующих фотонов излучателя 151Eu с энергией 21.6 КэВ, и диапазоны углов равссеяния изменяются от ˜9° до -26°. Такие диапазоны углов рассеяния вполне достаточны для идентификации атомного номера.

Комптоновский элементный анализатор, Фиг.1, регистрирует акты одновременного появления рентгеновских фотонов К-серии (детектор 4) и комптоновски рассеянных фотонов (блок детекторов 3) с помощью схемы линейного сумматора (ЛС) 6, временное разрешение которого обычно не хуже: 10-7 сек.

Кроме одновременного суммирования амплитуд, селективность по элементному составу обеспечивают за счет выполнения еще двух условий:

1. Энергетическая ширина зондирующих фотонов Еспособ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 0 меньше, чем измеряемый энергетический сдвиг способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 Eспособ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 0<Ek(способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 z)). Это условие выполняется для большого числа ядерных гамма-излучателей.

2. Энергетическая ширина регистрируемого комптоновски рассеянного излучения способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 E(способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 ) меньше, чем измеряемый энергетический сдвиг Ek (способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 z):

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

где способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 - эффективный угловой разброс, возникающий при коллимации зондирующих и рассеянных фотонов (коллиматор детекторов 3 не показан, пучок ограничен размерами каждого детектора). Это условие обеспечивают согласованием энергетической ширины регистрируемого комптоновского распределения и допустимого диапазона угла рассеяния.

Из (4), (6) и (8) оценивают допустимый, эффективный диапазон угла рассеяния (сектор рассеяния):

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

затем уточняют его из соображений способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 ˜способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 ·способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 k(Z)min, где способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 k(Z)min - минимальный критический угловой диапазон, а способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 , 0<способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 <1 - это величина допустимой ошибки при элементном анализе.

Оценка величины геометрической светосилы для узкого пучка зондирования имеет вид:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

где способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 x - телесный угол регистрации рентгеновских фотонов.

На Фиг.1 изображена принципиальная схема устройства, светосила которого невелика. На Фиг.3 представлена аксиальная геометрия этого же устройства, в которой геометрическая светосила и представительность анализа увеличиваются на фактор К:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

где а и b - характерные линейные размеры объекта и детектора рентгеновских фотонов в "старой" геометрии, Фиг.1.

На Фиг.4 по табличным значениям энергии связи электронов на К-оболочке Ek(Z) представлен расчет зависимости критических углов способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 k (градусы) от атомного номера элементов Z для двух излучателей:

Am241, E0=59.54 КэВ, T1/2˜458 лет и

Cd109, E 0=87.7 КэВ, T1/2˜453 дня

Из Фиг.4 следует, что, используя излучатель Am241, можно выполнить элементный анализ на легких элементах от Z=20 (кальций) до Z=32 (германий), тогда как применение излучателя Cd109 удлиняет список анализируемых элементов до Z=42 (молибден). При атомных номерах Z>44 энергии гамма-квантов Am241 и Cd109 недостаточно для ионизации атомов по механизму комптон-эффекта.

Оценки угловых диапазонов, приведенные на Фиг.4, показывают, что при уменьшении атомного номера Z диапазоны углов рассеяния в секторах рассеяния способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 k(Z) для Am241 плавно убывают от ˜21° до ˜4.4°, а для Cd109 - от ˜17.5° до ˜2.5°. Оценка скорости счета по (10) с учетом этих значений способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 k(Z) для излучателей активностью 1-10 Кюри указывает на возможность измерения концентрации элементов от Са до Мо с точностью ˜0.1-0.01% за время ˜10-100 часов (без учета фактора (11), Фиг.2).

При Е0˜60-90 КэВ возможность анализа легких элементов Z<20 ограничена двумя факторами:

1. Уменьшение энергии рентгеновских фотонов увеличивает вероятность их поглощения внутри объекта и поэтому уменьшает вероятность временных совпадений.

2. Ионизация легких атомов по механизму комптон-эффекта происходит при малоугловом рассеянии фотонов, где диапазон углов рассеяния уменьшается, и уменьшается светосила регистрации легких элементов.

Излучатели с более низкой энергией гамма-квантов, например 119mSn с энергией 23.875 КэВ или 151Eu с энергией 21.6 КэВ, позволяют уменьшить атомный номер анализируемых элементов, как это показано ранее для элементов в интервале 14>Z>5, Таблица 1.

Можно указать и другие долгоживущие излучатели гамма-квантов, пригодные для использования в предлагаемом устройстве, например:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

Эти изотопы излучают по два зондирующих фотона с различной энергией, что позволяет расширить диапазон атомных номеров для анализируемых элементов.

Работа устройства Фиг.1 с излучателями Am241 и Cd109 не ограничена только возможностью анализа элементного состава по легким элементам. При наличии в объекте более тяжелых элементов, Z>44, эти элементы ионизуются по механизму фотоэффекта и доступны к (одновременному с легкими элементами) анализу в режиме рентген-флюоресцентного анализа. Поскольку ионизация элементов по механизму фотоэффекта не сопровождается одновременным появлением рассеянного фотона, то энергетический порог этого процесса гораздо выше и определяется неравенством:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

что для излучателя Am241 удовлетворяется до Z=69 (тулий), а для излучателя Cd109 удовлетворяется до Z=81 (таллий). Если в излучателе существует стартовый сигнал, то и режим рентген-флюоресцентного анализа также можно защитить от регистрации фоновых фотонов. Так, например, распад Am 241 сопровождается излучением способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 -частицы, после чего за время ˜10-8 сек дочернее ядро Np237 излучает зондирующий фотон с энергией Eспособ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 0=59.54 КэВ:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

На Фиг.1 пунктиром показано возможное в подобном случае включение схемы совпадений 7 стартового сигнала, зарегистрированного от способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 -частицы, и сигнала, зарегистрированного от рентгеновского фотона.

Пусть среднее число посторонних частиц, попадающих в первый канал, равно n1, а среднее число посторонних частиц, попадающих во второй канал, равно n2, и соответствующие длительности сигналов (˜10-7) соответственно равны способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 1 и способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028 2. Тогда вероятность случайных двойных совпадений оценивается формулой:

способ комптон-флюоресцентного элементного анализа и устройство   для его осуществления, патент № 2284028

Пусть n00 - число истинных двойных совпадений в единицу времени, а n1=k1·n 00, n2=k2·n00, где k1, k2 - коэффициенты отношения средней скорости появления фона над средней скоростью появления истинных парных совпадений. Тогда оценка вклада случайных совпадений по (15) при типичном значении n00˜103 имп/сек и произведении k1·k2˜1 находится в интервале 1-3%, что указывает на достаточно эффективное подавление фоновых сигналов.

Основное отличие и преимущество предлагаемого способа проявляется в нештатной ситуации (например, повышенная радиация и (или) повышенная температура), когда применение Ge(Li) детекторов (требующих постоянного охлаждения до температуры жидкого азота) недопустимо. Способ позволяет использовать для элементного анализа детекторы излучения, не обладающие высоким энергетическим разрешением и не требующие азотных температур, например пластиковые сцинтилляторы, йодистый цезий, теллурид кадмия и др.

ЛИТЕРАТУРА

1. Абрамов А.И., Казанский Ю.А., Матусевич Е.С. // Основы экспериментальных методов ядерной физики. М.: Атомиздат, 1977.

2. Fukamachi Т., Hosoya S. Binding effect due to К-electrons observed on a Compton Profile of Si. Separate measurement of Compton Profile // Phys. Lett. A. 1972. v.41. P.5. ibid. P.416; Phys. Lett. V.38A. N5, p.341.

Класс G01N23/20 с помощью дифракции, например для исследования структуры кристаллов; с помощью отраженного излучения 

способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава -  патент 2524454 (27.07.2014)
способ определения термостойкости изделий из сверхтвердой керамики на основе кубического нитрида бора -  патент 2522762 (20.07.2014)
способ контроля и управления непрерывной термообработкой -  патент 2518039 (10.06.2014)
способ рентгенометрической оценки температурных условий эксплуатации трубных элементов котлов -  патент 2509298 (10.03.2014)
способ рентгеноструктурного контроля детали -  патент 2488099 (20.07.2013)
фосфат лития-железа со структурой оливина и способ его анализа -  патент 2484009 (10.06.2013)
способ и устройство для регистрации кривых дифракционного отражения -  патент 2466384 (10.11.2012)
рентгенодифракционный способ идентификации партий фармацевтической продукции -  патент 2452939 (10.06.2012)
прибор для рентгеновского анализа -  патент 2450261 (10.05.2012)
рентгеновская установка для формирования изображения исследуемого объекта и ее применение -  патент 2449729 (10.05.2012)

Класс G01N23/22 измерением вторичной эмиссии

способ определения загрязненности неметаллическими включениями стальных изделий -  патент 2526227 (20.08.2014)
способ определения элементного состава и толщины поверхностной пленки твердого тела при внешнем воздействии на поверхность -  патент 2522667 (20.07.2014)
подсчет включений в сплавах путем анализа изображений -  патент 2507508 (20.02.2014)
способ рентгеноспектральной сепарации материала и устройство для его реализации -  патент 2494379 (27.09.2013)
предварительно покрытые пленкой ячейки точного дозирования для рентгеноструктурного анализатора -  патент 2479836 (20.04.2013)
способ рентгеноспектрального определения эффективного атомного номера материала и устройство для определения эффективного атомного номера материала -  патент 2432571 (27.10.2011)
способ рентгеноспектрального определения содержания водорода, углерода и кислорода в органических соединениях и устройство для определения содержания водорода, углерода и кислорода в органических соединениях -  патент 2426104 (10.08.2011)
способ формирования изображения топографии поверхности объекта -  патент 2419089 (20.05.2011)
рентгеноспектральный анализатор для идентификации и сепарации материалов -  патент 2406277 (10.12.2010)
устройство для исследования совершенства структуры кристаллических слоев -  патент 2370758 (20.10.2009)
Наверх