способ определения скорости термокапиллярного течения у боковой поверхности шайбовидного пузырька
Классы МПК: | G01P5/20 с использованием частиц, погруженных в поток текучей среды G01F1/704 с использованием меток или существующих неоднородностей внутри потока текучей среды, например статистических отклонений параметров текучей среды |
Автор(ы): | Иванова Наталья Александровна (RU), Безуглый Борис Антонович (RU) |
Патентообладатель(и): | ГОУ ВПО "Тюменский государственный университет" (RU) |
Приоритеты: |
подача заявки:
2005-05-23 публикация патента:
27.02.2007 |
Изобретение может быть использовано для диагностики течения жидкостей в канале микрофлуидного насоса или оптического переключателя. Термокапиллярное течение возбуждают пучком света. Измеряют статическую кривизну и суммарную кривизну наблюдаемой визуально боковой поверхности шайбовидного пузырька, деформация которой вызвана термокапиллярным течением. По результатам измерения находят скорость этого течения. Изобретение обеспечивает упрощение диагностики течения в микромасштабе. 3 ил., 1 табл.
Формула изобретения
Способ определения скорости термокапиллярного течения у боковой поверхности шайбовидного пузырька, причем термокапиллярное течение возбуждают пучком света, отличающийся тем, что измеряют статическую кривизну и суммарную кривизну наблюдаемой визуально боковой поверхности пузырька, деформация которой вызвана термокапиллярным течением, и по результатам измерения находят скорость этого течения.
Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к области бесконтактных методов диагностики течения жидкостей в микромасштабе и может быть использовано для определения скорости течения у поверхности пузырька, движущегося в канале микрофлуидного насоса или оптического переключателя [1-2].
Известен способ [3] измерения скорости течения жидкости, состоящий в следующем: жидкий поток засевают трассерными частицами меченными флюоресцирующим красителем, затем поперечное сечение потока облучают последовательными импульсами лазерного света сфокусированного цилиндрической линзой в лист и, одновременно с подачей импульсов, выполняют видеозахват изображений. Далее, на основе этих изображений, с помощью компьютерной программы фиксируют положение выбранной частицы на последовательности кадров и измеряют ее смещение за период между двумя импульсами, затем вычисляют скорость.
Однако в микрофлуидике этот метод имеет ряд недостатков. Выбор трассерных частиц критичен для каждого изучаемого случая. С одной стороны, частицы должны быть достаточно малыми, чтобы отслеживать линии тока и не блокировать течение, а с другой стороны - достаточно большими, чтобы демпфировать броуновское движение, которое вносит погрешность в измерения скорости. Кроме того, сложный алгоритм обработки данных требует специализированной компьютерной программы.
При диагностике течения индуцируемого малыми (до 10°С) локальными тепловыми возмущениями (например, конвекция в микромасштабе вызванная тепловым действием пучка света [1, 4]), применение этого способа налагает ограничения на выбор длины волны индуцирующего излучения, которое не должно нагревать трассерные частицы и интерферировать на них.
Целью данного изобретения является упрощение способа определения скорости термокапиллярного течения у поверхности шайбовидного пузырька.
Цель достигается путем измерения статической кривизны и суммарной кривизны наблюдаемой визуально боковой поверхности пузырька, деформация которой вызвана термокапиллярным течением индуцированным пучком света. При этом суммарная кривизна наблюдаемой визуально деформированной поверхности пузырька находится согласно принципу суперпозиции кривизн [5, 6].
Детальный механизм формирования суммарной кривизны (Фиг.1) и вывод выражения для скорости следующие. Боковая поверхность шайбовидного пузырька 1, зажатого между двумя прозрачными для излучения пластинами 2 имеет постоянную статическую кривизну S, Фиг.1(а). В момент, когда прилегающая к боковой поверхности пузырька 1, поглощающая жидкость 3 нагревается пучком света 4, Фиг.1(б), поверхностное натяжение на поверхности пузырька уменьшается, и возникает поле термокапиллярных сил 5, вызывающих унос жидкости из зоны облучения. Вследствие этого боковая поверхность пузырька приобретает динамическую кривизну d, которая складывается по принципу суперпозиции [5, 6] с кривизной S до облучения. В итоге, визуально наблюдаемая деформация 6 боковой поверхности пузырька 1 имеет суммарную кривизну [6]
Динамическая кривизна d создает избыточное капиллярное давление в пузырьке p = · d и возвратные потоки жидкости с динамическим напором pi= u2/2, генерирующие два согласованных вихря 7 в жидкости [4]. Здесь u - искомая скорость термокапиллярного течения у поверхности шайбовидного пузырька, которая из условия баланса этих давлений и принципа суперпозиции (1) имеет вид
плотность жидкости и ее коэффициент поверхностного натяжения являются табличными величинами.
Далее, скорость u термокапиллярного течения находят по результату измерения суммарной кривизны боковой поверхности пузырька и ее статической кривизны S Фиг.1(а).
На Фиг.2 показана схема измерения кривизны . Используя снимок деформированного пузырька, полученный фотографированием или видеосъемкой, и считая, что деформированная поверхность 6 представляет собой участок некой окружности 8, в любом графическом редакторе достраивают эту окружность и измеряют радиус ее кривизны R= -1. Зная статическую кривизну пузырька S=RS -1, по формуле (2) вычисляют скорость термокапиллярного течения u.
На Фиг.3 приведены кадры пузырьков: (а) - пучок света спроецирован в смачивающую пленку под пузырьком и не оказывает теплового действия на боковую поверхность; (б) - пучок света нагревает приповерхностную область пузырька, что вызывает термокапиллярное течение, которое деформирует боковую поверхность пузырька. Здесь измерение кривизн проводили в редакторе MSWord, куда вставляли эти кадры и с помощью инструмента WordArt достраивали окружность и измеряли ее кривизну.
Пример. В таблице даны средние значения скорости термокапиллярного течения в разных жидкостях, возбуждаемого пучком света у поверхности пузырьков, полученные предлагаемым способом.
Ацетон | Этанол | Бутанол | 10% этанольно-водная смесь | |
u, мм/с | 250 | 160 | 180 | 142 |
В опытах использовали пузырьки с RS от 0.4 до 0.6 мм, зажатые в ячейке с зазором 50 мкм, заполняемой окрашенными жидкостями, которые облучали сфокусированным излучением ртутной лампы. Поглощаемая мощность жидкостей была одинаковой и равной 30 мВт.
Разница между значениями, полученными по предлагаемому способу и оцененными с помощью трассерных частиц, составляет менее 15%.
Таким образом, предлагаемый способ, отличаясь простотой, имеет ряд преимуществ: не требует засева трассерных частиц, дополнительных зондирующих пучков и оптики для них, а также не требует программного обеспечения для расчета скорости.
Способ можно использовать для определения скорости термокапиллярных течений, вызванных не только локальным действием пучка света на поверхность пузырька, но и за счет локального нагрева этой поверхности резистивными нагревателями. В этом случае необходимо лишь подсвечивать пузырек рассеянным светом.
ЛИТЕРАТУРА
1. Sato M., Horie M., Kitano N. et. al. Thermocapillary optical switch. // Hitachi Cable Review. 2001. №.20. P.19-24.
2. Jun Т.К., Kim C.-J. Valveless pumping using traversing vapor bubbles in microchannels. // J. Applied Physics. 1998. Vol.83. №.11. P.5658-5664.
3. URL: http://www.lavison.de/download/educational/pivintroduction.pdf
4. Безуглый Б.А., Иванова Н.А. Манипуляция газовым пузырьком в ячейке Хеле-Шоу с помощью пучка света. // Письма в ЖТФ. 2002. Том. 28. Вып.19. С.71-75.
5. Безуглый Б.А., Тарасов О.А., Федорец А.А. Модифицированный метод наклонной пластинки измерения краевого угла смачивания. // Коллоидный журнал. 2001. №6. С.735-741.
6. Тарасов О.А. Аддитивность динамической кривизны термокапиллярного углубления и статической кривизны мениска смачивания. // Коллоидный журнал. 2005. Т.67. №2. С.1-9.
Класс G01P5/20 с использованием частиц, погруженных в поток текучей среды
Класс G01F1/704 с использованием меток или существующих неоднородностей внутри потока текучей среды, например статистических отклонений параметров текучей среды