способ и система поверхностной дефектоскопии непрерывно-литой металлической заготовки

Формула изобретения

1. Способ поверхностной дефектоскопии металлической непрерывно-литой заготовки при помощи вихретокового дефектоскопа типа «раздельного излучателя-приемника» с рядами установленных в линию смежных измерительных элементов, управляемых раздельно при помощи мультиплексорного устройства, при этом исследуемое изделие протягивают относительно дефектоскопа, отличающийся тем, что дефектоскоп содержит матрицу измерительных элементов, распределенных по рядам и столбцам, при этом указанная матрица содержит, по меньшей мере, один первый и один второй параллельные ряды (22, 24), каждый из которых содержит, по меньшей мере, три измерительных элемента (С1-С12), мультиплексорное устройство регулируют согласно последовательным этапам управления таким образом, чтобы:

на этапе (60, 62, 64, 66) управления активировать первый и второй элементы в каждом ряду, отделенные друг от друга, по меньшей мере, одним неактивным элементом, при этом на первый элемент подают команду для генерирования токов Фуко на поверхности указанной металлической заготовки, при этом на второй элемент подают команду для обнаружения токов Фуко, генерируемых первым элементом, прохождение которых на поверхности претерпевает изменение по причине наличия поверхностных дефектов, при этом по истечении заранее определенного промежутка времени оба элемента дезактивируют и указанный этап управления повторяют для двух следующих элементов, смещенных, по меньшей мере, на один элемент вдоль этого же ряда относительно двух дезактивированных элементов, и так далее до завершения тестирования всей зоны исследуемой поверхности,

причем указанный этап (60, 62, 64, 66) управления осуществляют одновременно для элементов первого (22) и второго (24) рядов, при этом указанные первые элементы каждого ряда входят в один и тот же столбец и указанные вторые элементы каждого ряда также входят в один и тот же столбец, при этом вторые элементы каждого ряда выполнены с возможностью подачи сигналов противоположной полярности при обнаружении дефекта.

2. Система дефектоскопии, содержащая вихретоковый дефектоскоп (10) типа «раздельного излучателя/приемника» для обнаружения поверхностных дефектов, содержащий матрицу измерительных элементов, распределенных по рядам и столбцам, при этом указанная матрица содержит, по меньшей мере, один первый и один второй параллельные ряды (22, 24), каждый из которых содержит, по меньшей мере, три смежных и управляемых измерительных элемента (С1-С12), и блок (12) многоканального управления, выполненный с возможностью подачи команд управления на указанные измерительные элементы, при этом каждый элемент выполнен с возможностью поочередного выполнения функции создания токов Фуко на поверхности исследуемой металлической заготовки и функции обнаружения токов Фуко на указанной поверхности, отличающаяся тем, что блок (12) многоканального управления выполнен с возможностью:

подачи команд на первый и второй элементы одного ряда, отделенные друг от друга, по меньшей мере, одним неактивным измерительным элементом, при этом первый элемент активируют для генерирования токов Фуко на поверхности металлической заготовки, а второй элемент активируют для обнаружения токов Фуко, генерированных первым элементом, прохождение которых на поверхности изменяется из-за наличия поверхностных дефектов;

подачи команд на элементы второго ряда аналогично подаче команд на элементы первого ряда.

3. Система по п.2, отличающаяся тем, что дефектоскоп (10) содержит основание (20), в котором установлены в линию указанные, по меньшей мере, три элемента, при этом основание (20) размещено на расстоянии, по меньшей мере, 3 мм от тестируемой поверхности.

4. Система по п.3, отличающаяся тем, что содержит устройство (30) охлаждения основания (20).

5. Система по п.4, отличающаяся тем, что устройство (30) охлаждения содержит контур циркуляции охлаждающей текучей среды, проходящей вдоль основания (20).

6. Система по п.5, отличающаяся тем, что устройство (30) охлаждения содержит, по меньшей мере, одну тонкую пластину (40) из керамического материала, установленную напротив основания (20) с возможностью создания пространства для циркуляции охлаждающей текучей среды.

7. Система по п.2, отличающаяся тем, что каждый элемент первого ряда (22) является смежным с элементом второго ряда (24) и выполнен с возможностью активирования для подачи сигнала с полярностью, противоположной полярности сигнала, подаваемого смежным элементом второго ряда, при этом блок (12) управления выполнен с возможностью активирования вторых элементов первого и второго рядов таким образом, чтобы они генерировали сигналы противоположной полярности.

Описание изобретения к патенту

Настоящее изобретение относится к обнаружению поверхностных дефектов на слябе или, в целом, на непрерывно-литой металлической заготовке, в частности, из стали.

В частности, изобретение относится к обнаружению поверхностных дефектов на непрерывно-литой металлической заготовке при помощи дефектоскопа с использованием токов Фуко, содержащего отдельно выполненные излучатель и приемник, установленные напротив и вблизи исследуемой поверхности.

Из документа FR 8414435 известен дефектоскоп такого типа, называемый также «вихретоковым дефектоскопом с анизотропными зондами», в котором зондами являются раздельные излучающая и принимающая катушки, установленные на расстоянии друг от друга на линии, направленной перпендикулярно к направлению движения сляба, который проходит внизу. Такой дефектоскоп обладает чувствительностью к изменениям движения токов Фуко, происходящим в результате наличия поперечного дефекта большой длины на поверхности исследуемого изделия. Таким образом, он позволяет распознавать поперечные трещины на бортовых кромках, так как индуцированные токи, наводимые его магнитным полем под излучателем, не доходят до приемника при отсутствии соединяющихся друг с другом дефектов.

Вместе с тем, поскольку расстояние, разделяющее излучающую и принимающую катушки, является фиксированным в силу конструктивного решения, то можно пропустить короткие трещины, если не сканировать достаточно большую бортовую область сляба либо путем многочисленных проходов дефектоскопа с соответствующим регулируемым боковым пошаговым смещением, либо за счет использования нескольких дефектоскопов, размещенных рядом друг с другом таким образом, чтобы весь их комплекс покрывал тестируемую область.

Задачей настоящего изобретения является решение этих проблем за счет применения новых технологий скоростного получения изображений с использованием кассет (или рядов) из элементарных мини-катушек (или элементов), установленных в линию и активируемых раздельно при помощи программируемого мультиплексорного устройства. Примеры вихретоковых дефектоскопов такого типа можно найти в следующих документах: FR 9300984, US 6339327 или US 5237271, где их используют для дефектоскопии металлических плит, листов, полос или пластин в самых разных областях техники.

В зависимости от способа активации каждый элемент может генерировать или обнаруживать токи Фуко на поверхности исследуемого металлического изделия. За счет этого, подавая команду на первый или на второй смежные элементы ряда, из которых первый генерирует токи Фуко, а второй их обнаруживает, можно выявить под дефектоскопом наличие или отсутствие удлиненных поверхностных дефектов, распространяющихся от одного к другому. От одного смежного элемента к другому пара активируемых элементов смещается на один элемент по ряду при каждом повторе этого этапа подачи команды таким образом, чтобы сканировать и исследовать всю поверхность металлической плиты, находящейся напротив этого ряда элементов, не перемещая при этом ни исследуемую плиту, ни дефектоскоп. Чтобы получить хорошее пространственное разрешение и иметь возможность обнаруживать дефекты порядка нескольких миллиметров, размер элементов, которые в основном имеют квадратную форму, должен составлять порядка нескольких квадратных миллиметров.

Металлические плиты, исследуемые при помощи таких дефектоскопов, должны быть гладкими, и измерительные элементы размещают на расстоянии менее 1,5 мм от поверхности исследуемой плиты. На таком расстоянии от поверхности плиты дефектоскопы быстро и точно обнаруживают любой поверхностный дефект, который вызывает прерывание электрической проводимости. Однако все попытки использовать эти же дефектоскопы для обнаружения трещин на поверхности стальных слябов, выходящих непосредственно из установки непрерывного литья, до сих пор, насколько известно заявителю, оказывались безуспешными. Действительно, неровности поверхности сляба, а также высокая температура этого сляба, как правило превышающая 550°С, не позволяют удерживать дефектоскоп в течение длительного времени на расстоянии менее 1,5 мм от исследуемой поверхности.

Задачей настоящего изобретения является устранение этого недостатка и получение технического решения, позволяющего использовать вихретоковый дефектоскоп с рядами элементов, управляемых многоканальным способом, на металлической непрерывно-литой заготовке.

В связи с этим объектом изобретения является способ обнаружения поверхностных дефектов металлической непрерывно-литой заготовки при помощи вихретокового дефектоскопа типа раздельного излучателя-приемника с рядами установленных в линию смежных измерительных элементов, управляемых раздельно при помощи мультиплексорного устройства, при этом исследуемое изделие протягивают относительно дефектоскопа, отличающийся тем, что дефектоскоп содержит матрицу измерительных элементов, распределенных по рядам и столбцам, при этом указанная матрица содержит, по меньшей мере, один первый и один второй параллельные ряды, каждый из которых содержит, по меньшей мере, три измерительных элемента, при этом мультиплексорное устройство регулируют согласно последовательным этапам управления таким образом, чтобы:

- на этапе управления активировать первый и второй элементы в каждом ряду, отделенные друг от друга, по меньшей мере, одним неактивным элементом, при этом на первый элемент подают команду для генерирования токов Фуко на поверхности указанной металлической заготовки, на второй элемент подают команду для обнаружения токов Фуко, генерируемых первым элементом, прохождение которых на поверхности претерпевает изменение по причине наличия поверхностных дефектов, при этом по истечении заранее определенного промежутка времени оба элемента дезактивируют, и указанный этап управления повторяют для двух следующих элементов, смещенных, по меньшей мере, на один элемент вдоль этого же ряда относительно двух дезактивированных элементов и так далее до завершения тестирования всей зоны исследуемой поверхности,

- причем указанный этап управления осуществляют одновременно для элементов первого и второго рядов, при этом указанные первые элементы каждого ряда входят в один и тот же столбец, а указанные вторые элементы каждого ряда также входят в один и тот же столбец, при этом вторые элементы каждого ряда выполнены с возможностью подачи сигналов противоположной полярности при обнаружении дефекта.

Иначе говоря, элемент, создающий токи Фуко, должен быть обязательно отделен от элемента, который их обнаруживает, в этом же ряду, по меньшей мере, одним неактивным элементом. Действительно, было обнаружено, что увеличение расстояния между двумя излучающими/принимающими элементами позволяет увеличить расстояние между этими элементами и тестируемой поверхностью, сохраняя при этом эффективность элементов, достаточную для данного варианта применения. Появляется возможность использования элементов на расстоянии более 1,5 мм от поверхности сляба, что позволяет использовать эти дефектоскопы для обнаружения поверхностных трещин на металлических слябах, получаемых непосредственно путем непрерывного литья.

Кроме того, этап управления осуществляют одновременно и совершенно одинаково на двух соседних рядах, при этом пары активных элементов во втором ряду выполняют с возможностью подачи сигналов обратной полярности относительно пары активных элементов первого ряда, что позволяет путем сложения сигналов избежать неизбежных помех, возникающих, например, от неровностей на поверхности отливаемого сляба, и выдавать контролеру достаточно чистый сигнал обнаружения дефектов с минимальным фоновым шумом.

Объектом настоящего изобретения является также система дефектоскопии, содержащая вихретоковый дефектоскоп типа раздельного излучателя/приемника для обнаружения поверхностных дефектов, содержащий, по меньшей мере, два ряда, каждый из которых содержит, по меньшей мере, три смежных и управляемых измерительных элемента, и блок многоканального управления, выполненный с возможностью подачи команд управления на указанные измерительные элементы, при этом каждый элемент выполнен с возможностью создания и обнаружения токов Фуко, отличающаяся тем, что оба ряда элементов располагают рядом друг с другом и параллельно друг другу, и тем, что указанный блок управления содержит мультиплексор, выполненный с возможностью подачи команд на первый и второй элементы одного ряда, отделенные друг от друга, по меньшей мере, одним неактивным измерительным элементом, и подачи команд таким же образом, но с обратной полярностью, на соответствующие аналогичные пары элементов второго ряда.

Согласно другим существенным отличительным признакам системы в соответствии с настоящим изобретением:

- дефектоскоп содержит плоское основание, в котором устанавливают указанные ряды элементов заподлицо с его поверхностью, при этом указанное основание предназначено для размещения на расстоянии, по меньшей мере, трех миллиметров от тестируемой поверхности;

- дефектоскоп содержит контур охлаждения основания при помощи циркуляции текучей среды;

- контур охлаждения содержит, по меньшей мере, одну тонкую пластину из керамического материала, установленную напротив основания с возможностью создания пространства для циркуляции охлаждающей текучей среды.

Настоящее изобретение и его другие отличительные признаки и преимущества будут более очевидны из нижеследующего описания, представленного в качестве примера, со ссылками на прилагаемые чертежи, на которых:

фиг.1 - схематичный вид системы дефектоскопии в соответствии с настоящим изобретением;

фиг.2 - вид в вертикальном разрезе вихретокового дефектоскопа, применяемого в системе, показанной на фиг.1;

фиг.3 - схематичный вид активной части дефектоскопа, показанного на фиг.2, в соответствии с настоящим изобретением;

фиг.4 - блок-схема способа обнаружения поверхностных дефектов в соответствии с настоящим изобретением.

На фиг.1 показана система 2 поверхностной дефектоскопии стального сляба 4, выходящего непосредственно из установки непрерывного литья. Сляб 4 расположен горизонтально и именно в таком положении медленно движется (со скоростью немногим более 1 м/мин), проходя под дефектоскопом 2. Для упрощения на фиг.1 показан только левый верхний край этого сляба 4.

Сляб 4 является непрерывно-литой металлической заготовкой.

В том месте, где находится система 2 дефектоскопии, сляб обычно имеет температуру, все еще превышающую 550°С. Его верхняя поверхность, находящаяся напротив дефектоскопа 2, является неровной и содержит многочисленные шероховатости и локальные рельефные выступы, такие как отпечатки от возвратно-поступательного движения кристаллизатора или «островки» окалины, а также, возможно, вытянутые дефекты поверхности, такие как поперечные трещины, различные разрывы и впадины. Эти поверхностные дефекты приводят к локальному разрыву проводимости поверхности сляба 4. Необходимо отметить, что этот разрыв проводимости не обязательно означает наличие разлома на поверхности сляба 4. В данном случае показана только поперечная трещина 6. Эту трещину 6 называют поперечной, так как она расположена перпендикулярно направлению движения сляба 4. На фиг.1 направление движения сляба 4 показано стрелкой F.

Для облегчения установки системы 2 дефектоскопии в среде, где температура превышает 550°С, ни одна из ее деталей не является подвижной, и только сляб 4 поступательно движется под этой системой в направлении перемещения F.

Система 2 содержит дефектоскоп 10, блок 12 управления дефектоскопом, а также насос 14 для нагнетания охлаждающей текучей среды. Дефектоскоп 10 выполнен с возможностью обнаружения дефектов проводимости на поверхности сляба 4 при помощи токов Фуко. Поскольку принцип работы такого дефектоскопа известен, его подробное описание опускается. Например, читатель может обратиться к европейской заявке ЕР 0195794 для получения информации о принципах работы таких дефектоскопов.

В данном случае дефектоскоп 10 имеет форму прямоугольного параллелепипеда, который расположен перпендикулярно к направлению перемещения F и одна из граней которого (называемая «активной гранью», так как на ее поверхность выходят измерительные элементы) расположена параллельно поверхности сляба 4. Этот дефектоскоп 10 располагают таким образом, чтобы его активная грань перекрывала край сляба 4, обеспечивая постоянное тестирование края, даже когда движущаяся заготовка слегка отклоняется в боковом направлении во время своего перемещения.

Как показано на фиг.2, активная грань дефектоскопа образована основанием 20, в которой установлены измерительные элементы 21.

Нижняя поверхность этого основания 20 показана на фиг.3. Это основание 20 содержит, например, два идентичных ряда 22 и 24 абсолютно одинаковых измерительных элементов 21. Эти два ряда расположены параллельно друг другу в направлении длины дефектоскопа 10. Ряды 22 и 24 располагают максимально близко друг к другу таким образом, чтобы их соответственные элементы находились рядом друг с другом и соприкасались друг с другом, по меньшей мере, с одной стороны.

Для упрощения чертежа в каждом ряду показаны только шесть измерительных элементов 21. В действительности ряд может содержать до тридцати двух элементов и даже больше. В данном случае элементы ряда 22 обозначены по порядку снизу вверх соответственно позициями С1, С3, С5, С7, С9 и С11. Аналогично элементы ряда 24 обозначены по порядку снизу вверх соответственно позициями С2, С4, С6, С8, С10 и С12.

Каждый из измерительных элементов 21 выполнен таким образом, чтобы при подаче команды из блока 12 выполнять функцию либо излучающего элемента, либо принимающего элемента.

Когда элемент 21 выполняет функцию излучающего элемента, он может создавать токи Фуко на поверхности сляба 4. Для этого каждый элемент содержит обмотку 26, питаемую переменным током. Ось этой обмотки 26 перпендикулярна к активной грани дефектоскопа 10.

Когда элемент выполняет функцию принимающего элемента, он может обнаруживать токи Фуко на поверхности сляба 4 только в том случае, если токи Фуко, созданные излучающим элементом, отклонились в сторону принимающего элемента поверхностным дефектом, распространяющимся от одного элемента к другому, согласно уже упомянутому принципу, раскрытому в ЕР 0195794. Для этого обмотка 26 образует замкнутую электрическую цепь, используемую для обнаружения электромагнитных полей.

Как уже было указано, смежные элементы рядов 22 и 24 могут быть смонтированы по дифференциальной схеме относительно друг друга на двух рядах таким образом, чтобы избежать погрешностей измерения или обнаружения из-за неровностей поверхности сляба 4, таких как отпечатки от возвратно-поступательного движения кристаллизатора. В частности, элементы каждого ряда 22 и 24, выполняющие функцию принимающих элементов, могут генерировать сигналы обнаружения поверхностного дефекта с противоположной полярностью. В результате этого, когда принимающий элемент ряда 22 обнаруживает дефект, он генерирует сигнал, например, положительной полярности, тогда как соответствующий принимающий элемент ряда 24 генерирует сигнал отрицательной полярности, обнаружив тот же дефект.

В данном случае, как правило, элементы 21 примыкают друг к другу, и обмотки 26 смежных элементов отделены друг от друга промежутком X, меньшим 0,5 мм и предпочтительно равным примерно 0,2 мм. Такая близость различных обмоток 26 позволяет обеспечить почти непрерывное сканирование и тестирование поверхности сляба по всей длине рядов 22 и 24.

Чтобы максимально увеличить общую чувствительную поверхность дефектоскопа, элементы 21 имеют квадратную форму, такую же форму имеет их внутренняя обмотка 26. Кроме того, чтобы обнаруживать поверхностные дефекты или трещины, длина которых едва превышает 4 мм, каждая из обмоток имеет квадратное сечение 4×4 мм².

Для защиты основания 20 от перегрева дефектоскоп 10 также оборудован устройством 30 (фиг.2) охлаждения основания 20. Это устройство содержит контур 32 циркуляции охлаждающей текучей среды. Этот контур 32 опускается вдоль вертикальной стенки 36 дефектоскопа 10, проходит под основанием 20 и поднимается вдоль другой вертикальной стенки 38 дефектоскопа 10. Для формирования части контура 32, проходящей под основанием 20, устройство 30 содержит прямоугольную тонкую пластину 40, установленную напротив и параллельно основанию 20, защищая измерительные элементы. Эту тонкую пластину выполняют, например, из керамического материала, пропускающего электромагнитные волны, генерируемые и принимаемые обмотками 26 различных измерительных элементов. Эта тонкая пластина 40 отстоит, например, примерно на 1 мм от поверхности основания 20. Она удерживается на месте при помощи двух горизонтальных лапок 42 и 44, закрепленных вдоль ее больших сторон. Лапки 42 и 44 выполнены с возможностью скольжения по поверхности сляба 4 наподобие лыж. Каждая из этих горизонтальных лапок 42 и 44 неподвижно соединена с вертикальной металлической пластиной 46 и 48 соответственно.

Пластины 46 и 48 установлены вдоль стенок 36 и 38 дефектоскопа 10. Они отстоят от вертикальных стенок 36 и 38, образуя пространство для контура 32. Для обеспечения термостойкости лапки 42 и 44, а также пластины 46 и 48 выполняют, например, из нержавеющей стали. Толщину лапок 42 и 44, а также толщину тонкой пластины 40 и «толщину» контура 32 под основанием 20 выбирают таким образом, чтобы высота Н, отделяющая основание 20 от верхней поверхности сляба 4, превышала или была равна 3 мм и предпочтительно превышала 4 мм.

Стрелки в контуре 32 показывают направление циркуляции охлаждающей текучей среды. В данном случае охлаждающей средой является вода. Каждый конец контура 32 соединен с насосом 14, выполненным с возможностью обеспечения циркуляции охлаждающей среды в контуре 32.

Блок 12 управления является мультиплексором, выполненным с возможностью индивидуального управления каждым из элементов основания 20. Этот блок управления выполняют, например, на основе обычного программируемого электронного вычислительного устройства, соединенного с запоминающим устройством 50, в котором записаны данные для выполнения способа, показанного на фиг.4.

Далее со ссылкой на фиг.4, показывающей способ в соответствии с настоящим изобретением, следует описание работы системы. Во время работы системы 2 сляб 4 движется горизонтально под дефектоскопом 10 в направлении стрелки F. Когда бортовая трещина 6 проходит под основанием 20, один из элементов ряда 24 обнаруживает эту трещину и генерирует соответствующий сигнал. После этого трещину 6 обнаруживает, по меньшей мере, один из элементов другого ряда 22, который также генерирует соответствующий сигнал, но противоположной полярности.

Работой дефектоскопа 10 управляет мультиплексор 12, содержащий множество временных окошек, при этом каждое временное окошко соответствует установленному интервалу времени. В каждом временном окошке активируется только пара элементов ряда 22 и пара элементов ряда 24, тогда как все другие элементы рядов 22 и 24 остаются неактивными. В неактивном состоянии обмотка 26 элементов разомкнута. Это позволяет избежать проблем перекрестных помех между обмотками 26 разных элементов.

В частности, чтобы дефектоскоп 10 мог работать надежно на расстоянии более трех миллиметров от поверхности сляба 4, блок 12 управления действует следующим образом. При прохождении первого временного окошка на этапе 60 блок 12 активирует элементы С1 и С2 в качестве излучающих элементов, чтобы они генерировали токи Фуко на верхней поверхности сляба 4. В то же время блок 12 активирует элементы С5 и С6 в качестве принимающих элементов, чтобы они обнаруживали токи Фуко на поверхности сляба 4. При таком управлении дефектоскопом 10 между излучающими и принимающими элементами находится неактивный элемент, в данном случае элементы С3 и С4. Во время прохождения первого временного окошка промежуток между излучающими и принимающими элементами превышает, таким образом, 4 мм.

Экспериментальным путем было установлено, что высота, на которой может быть размещено основание 20 относительно поверхности сляба, увеличивается пропорционально промежутку между излучающими элементами и принимающими элементами. Таким образом, при образовании на этапе 60 промежутка между излучающими элементами и принимающими элементами, по меньшей мере, равного 4 мм, работа дефектоскопа 10 не ухудшается, в то время как он находится на расстоянии примерно в 3 мм от поверхности, на которой он должен обнаруживать дефекты.

После этого при прохождении второго временного окошка на этапе 62 блок 12 активирует элементы С3 и С4 и элементы С7 и С8 таким образом, чтобы элементы С3 и С4 работали одновременно как излучающие элементы, а элементы С7 и С8 работали одновременно как принимающие элементы. В это же время другие элементы и, в частности, ранее активированные элементы, то есть элементы С1, С2, С5, С6 становятся неактивными.

При прохождении следующего третьего временного окошка этап 62 повторяется во время этапа 64 со смещением активируемых элементов на один элемент вверх. Таким образом, во время этого этапа 64 в качестве излучающих элементов работают элементы С5 и С6, а элементы С9 и С 10 работают как принимающие элементы.

При прохождении следующего временного окошка блок 12 осуществляет этап 66, идентичный предыдущим, за исключением того, что активируются элементы С7, С8, С11 и С12. После этого процесс возвращается к этапу 60.

Этапы 60, 62, 64 и 66 повторяются, пока работает система 2. Таким образом, отмечается, что, смещая на один элемент активируемые элементы во время каждого из этапов 60, 62, 64 и 66, можно отсканировать весь участок поверхности сляба, находящийся напротив основания 20, с повышенным разрешением, так как сечение элементов составляет порядка 4 мм², не перемещая при этом дефектоскоп 10.

Таким образом, этот способ управления позволяет обнаруживать с хорошим разрешением дефекты на поверхности шириной, соответствующей длине дефектоскопа, причем во время одного прохода под дефектоскопом. Другим преимуществом системы 2 является то, что она не реагирует на положение края сляба 4 относительно положения основания 20. Говоря другими словами, измерительные элементы основания 20, находящиеся за пределами поверхности сляба, то есть за пределами верхнего края сляба 4, никак не мешают работе дефектоскопа 10, поэтому нет необходимости точно позиционировать сляб 4 напротив этого дефектоскопа 10.

Работа системы 2 описана для конкретного случая, когда при прохождении каждого временного окошка излучающие и принимающие элементы разделены только одним неактивным элементов. Чтобы увеличить промежуток между излучающими и принимающими элементами и таким образом иметь возможность разместить дефектоскоп 10 на еще большем расстоянии Н относительно поверхности сляба, в варианте излучающие и принимающие элементы одного ряда могут быть отделены друг от друга одним, двумя, тремя, четырьмя или пятью неактивными элементами.

Кроме того, можно расширить возможность устройства, предусмотрев число рядов элементов более двух.

Кроме того, нет необходимости, чтобы ряды элементов были смежными. Между ними можно предусмотреть промежуток.

Система 2 описана для частного случая, когда ее помещают в среду с температурой, превышающей 550°С. Эту же систему, разумеется, можно использовать для тестирования сляба при окружающей температуре. В этом варианте устройство 30 охлаждения основания становится бесполезным и от него можно отказаться.

Система 2 описана для частного случая, когда обмотки имеют сечение 16 мм². В варианте и в зависимости от длины дефектов каждая обмотка может иметь вытянутое и даже строго прямоугольное сечение, при этом малая и большая стороны этого прямоугольника имеют длину, находящуюся в пределах от 2 до 10 мм.