способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных устройств по сигналам сцены

Классы МПК:H04N5/33 преобразование инфракрасного излучения
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "Орион" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2007-05-28
публикация патента:

Изобретение относится к оптико-электронным системам формирования и обработки инфракрасных изображений, для которых актуальна задача устранения неоднородности фотоприемных устройств (ФПУ) по сигналам сцены, и может использоваться в тепловизионных системах со сканирующими ФПУ. Техническим результатом является коррекция неоднородности для сканирующих ФПУ с половинным, относительно ширины строки линейки, сдвигом сканера. Результат достигается тем, что производится последовательная регистрация сигналов сцены элементами ФПУ при сканировании, по отсчетам пар сигналов соседних элементов определяются функции связи сигналов элементов ФПУ, и с их помощью корректируют неоднородность сигналов. 1 з.п. ф-лы, 3 ил. способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

Формула изобретения

1. Способ коррекции неоднородности многоэлементных фотоприемных устройств со сканированием, заключающийся в том, что сканируют сцену и регистрируют отсчеты сигналов элементов фотоприемного устройства, корректируют отсчеты сигналов сцены, причем для проведения коррекции сканируют в последовательности, обеспечивающей попадание потоков одних и тех же элементов сцены на соседние элементы фотоприемного устройства и попадание потоков соседних элементов сцены на один и тот же элемент устройства, для каждой пары соседних элементов фотоприемного устройства, i-го и i+1-го, iспособ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 N, N - множество элементов фотоприемного устройства, определяют корректирующие воздействия - функции связи сигналов соседних элементов

Si+1=Fi+1,i (Si),

корректируют отсчеты сигналов Si(t) их заменой на способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , где Si(t) - отсчеты сигналов i-го элемента, способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - скорректированные сигналы i-го элемента относительно j-го элемента, i, jспособ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 N, t - параметр времени,

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 ,

где Fj,i(S i(t)) - функция коррекции сигнала Si (t) относительно j-го элемента, которую получают последовательностью применения - начальный аргумент Si(t), функций связей Fi+1,i(), F i+2,i+1(), ..., Fj,j-1() сигналов пар соседних элементов i+1,i; i+2,i+1; ... j,j-1, составляющих путь от элемента i к элементу j, для i=j способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 отличающийся тем, что аппроксимацию проводят по множеству пар отсчетов сигналов Si+1(t) и исправленных отсчетов способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , где

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - отсчет i-го элемента, соответствующий одному и тому же с отсчетом Si(t) состоянию элемента сцены, при этом функции связи имели наименьшее среднеквадратичное отклонение на множестве пар способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и Si+1(t) и отображали любое значение из диапазонов переменных si, соответствующих диапазонам сигналов способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 в значения переменных si+1, соответствующие значениям из диапазонов сигналов Si+1(t).

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что функции F i+1,i() являются линейными зависимостями,

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 ,

имеющими наименьшее среднеквадратичное отклонение

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

от зависимостей Si+1(t) от способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 где исправленный отсчет способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 определяют по правилу

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - отсчет i-го элемента, соответствующий одному и тому же с отсчетом Si(t) состоянию элемента сцены, корректирующие воздействия: коэффициенты линейных зависимостей Ai+1,i - отношение чувствительностей соседних элементов, и Bi+1,i - относительное смещение соседних элементов, определяются по формулам

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

где Ti+1,i - множество пар исправленных отсчетов способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и отсчетов Si+1(t), соответствующих одним и тем же элементам сцены, упорядоченное по времени: значению t=1 соответствует первый по времени отсчет, t=2 - следующий и так далее до Ti+1,i-го отсчета; способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и Si+1 - средние значения исправленных сигналов i-го и сигналов i+1-го элементов на интервале T i+1,i, скорректированные относительно элемента j сигналы способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 элементов i=1, 2, ..., N определяются по исходным, некорректированным сигналам Si(t) и коэффициентам A i+1,i+1-1 и Bi+1,i+1-1, 1=1, 2, ..., j-i, следующим образом:

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к оптико-электронным системам формирования и обработки инфракрасных изображений, для которых актуальна задача устранения неоднородности сигналов, обусловленной различиями в чувствительности к входному потоку и в темновом токе элементов фотоприемных устройств (ФПУ), с использованием только сигналов сцены. Это дает возможность коррекции неоднородности без применения источников эталонных сигналов с их необходимостью подстройки под сцену и поддержания однородности эталонного сигнала. В некоторых случаях наличие эталонных источников неприемлемо по условиям размещения их в аппаратуре.

Изобретение может использоваться в тепловизионных системах со сканированием при использовании многорядных ФПУ.

Известен способ [1, 2] коррекции неоднородности многоэлементных МФПУ в сканирующих тепловизорах (его рассматриваем в качестве аналога), заключающийся в том, что сканируют сцену, регистрируют отсчеты сигналов элементов ФПУ от наблюдаемой сцены, по отсчетам сигналов усреднением определяют строчные корректирующие коэффициенты, корректирование осуществляют умножением значений отсчетов сигналов на соответствующие элементам строчные корректирующие коэффициенты.

Недостатком способа является то, что используется только один корректирующий коэффициент для компенсации сигнала, однородность которого зависит от двух параметров - чувствительности элемента и от смещения, обусловленного, в частности, темновым током. В случае простых сцен с плавным изменением яркости для поддержания корректирующей способности достаточно скользящего по изображению окна усреднения. По мере движения окна корректирующие коэффициенты строк меняют значения от характерных для высокой яркости до соответствующих низкой яркости. С усложнением сцен компенсация неоднородности затрудняется необходимостью использования более сложных окон усреднения. Этот фактор ограничивает применимость способа.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому изобретению является способ [3] коррекции неоднородности ФПУ со сканированием, его рассматриваем в качестве прототипа.

Способ заключается в том, что сканируют сцену и регистрируют отсчеты сигналов элементов фотоприемного устройства, определяют по отсчетам наблюдаемой сцены корректирующие воздействия, корректируют отсчеты сигналов сцены. Сцену сканируют в последовательности, обеспечивающей попадание потоков одних и тех же элементов сцены на соседние элементы фотоприемного устройства и попадание потоков соседних элементов сцены на один и тот же элемент устройства, для каждой пары соседних элементов фотоприемного устройства, i-го и i+1-го, по множеству пар отсчетов сигналов S i(t) и Si+1(t), iспособ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 N, N - множество элементов фотоприемного устройства и t - параметр времени, где каждая пара отсчетов соответствует одному и тому же состоянию элемента сцены, с помощью аппроксимации определяют корректирующие воздействия - функции связи сигналов соседних элементов

Si+1=Fi+1,i (Si),

так чтобы эти функции имели наименьшее среднеквадратичное отклонение на множествах пар отсчетов Si(t) и Si+1(t) и отображали любое значение из диапазонов переменных s i, соответствующих диапазону сигнала Si (t), в значения переменных Si+1, соответствующие значениям из диапазонов сигналов Si+1(t), корректируют отсчеты сигналов сцены Si(t) их заменой на способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , где Si(t) - отсчеты сигналов i-го элемента, способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - скорректированные сигналы i-го элемента относительно j-го элемента, i,jспособ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 N,

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

где Fj,i(S i(t)) - корректирующее воздействие - функция коррекции сигнала Si(t) относительно j-го элемента, которую получают последовательностью применения - начальный аргумент Si(t), функций связей F i+1,i(), Fi+2,i+1(), ..., F j,j-1() сигналов пар соседних элементов i+1,i; i+2,i+1; ... j,j-1, составляющих путь от элемента i к элементу j, для i=j способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 .

Условие сканирования сцены - попадание потоков одних и тех же элементов сцены на соседние элементы фотоприемного устройства, позволяет из последовательностей отсчетов S i(t) и Si+1(t) выбрать пары отсчетов от одних и тех же элементов сцены при одинаковом их состоянии (одинаковых потоках) и по множеству таких пар определить с помощью аппроксимации корректирующие воздействия - функции связи соседних элементов Fi+1,i(),

S i+1=Fi+1,i(Si ),

которые отображают значения отсчетов i-го элемента на значения отсчетов элемента i+1. Отображение означает, что значению si отсчета сигнала Si (t), которому соответствует некоторое значение потока Р на его входе, ставится в соответствие значение si+1 отсчета сигнала Si+1(t), которому соответствует то же самое значение потока Р на его входе.

Условие сканирования - попадание потоков соседних элементов сцены на один и тот же элемент фотоприемного устройства, обеспечивает полноту множества функций связи элементов Fi+1,i() такую, что для всех путей, связывающих с любым элементом фотоприемного устройства все остальные элементы устройства, будут определены функции связи всех пар соседних элементов этих путей.

Выполнение процедуры корректирования элементов фотоприемного устройства относительно j-го элемента состоит в определении значений функций коррекции Fj,i(Si (t)) сигналов Si(t), i,jспособ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 N, определение каждой осуществляется последовательностью применений функций связи (последовательностью корректирующих воздействий) на пути от i-го к j-му элементу.

Первое в последовательности применений функций связи - применение функции Fi+1,i(Si(t)), дает значение способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - скорректированное значение сигнала S i(t) относительно элемента i+1

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

Так как функция связи определяется на последовательности элементов сцены, общей для i-го и i+1-го элементов МФПУ, то подстановка в функцию аргумента Si(t), которому соответствует некоторое значение потока элемента сцены, в качестве результата функции дает значение Si+1(t), которому соответствует то же значение потока.

Для последующих применений, l=1, 2, ..., j-1,

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

которые определяют способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - скорректированные относительно элементов i+1 значения сигнала Si(t), и которые, следуя определениям функций связи, равны Si+1(t). Начальному аргументу применения функций Si(t), которому соответствует некоторое значение потока элемента сцены, функции связи ставят в соответствие значения Si+1 (t), которым соответствует то же самое значение потока, что и сигналу Si(t).

Это значит, что скорректированные по отношению к одному из элементов фотоприемного устройства сигналы остальных элементов будут одинаковы при одинаковых сигналах сцены по всем элементам ФПУ, что соответствует цели коррекции.

В случае небольших изменений сигналов в пределах сцены зависимости Si+1(t) от Si(t) близки к линейным и аппроксимируются прямыми

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

имеющими наименьшее среднеквадратичное отклонение

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

от измеренных зависимостей Si+1 (t) от Si(t).

Корректирующие воздействия: коэффициенты линейных зависимостей Аi+1,i - отношение чувствительностей соседних элементов, и В i+1,i - относительное смещение соседних элементов, определяются по формулам

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

Bi+1,i=S i+1-Ai+1,iSi =Bi+1-Ai+1,iB i,

где Тi+1,i - множество пар отсчетов Si(t) и Si+1 (t) по одним и тем же элементам сцены, упорядоченное по времени: значению t=1 соответствует первый по времени отсчет, t=2 - следующий и так далее до Тi+1,i - го отсчета;

Si и Si+1 - средние значения сигналов i-го и i+1-го элементов на интервале Т i+1,i. При увеличении интервала отношение А i+1,i стремится к Аi+1 i.

Формулы для определения отношений чувствительностей и относительных смещений пар соседних элементов получены из линейной регрессии отсчетов сигналов Si(t) по отсчетам Si+1(t) и линейной регрессии отсчетов S i+1(t) по Si(t). Для устранения смещения величин Аi+1,i по отношению к А i+1i из-за накопления шума в формулах используется перемножение соседних, некоррелированных по шуму, отсчетов.

Скорректированные относительно элемента j сигналы способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 элементов i=1, 2, ..., N определяются по исходным, некорректированным сигналам Si(t) и коэффициентам A i+1,i+1-1 и Вi+1,i+1-1, l=1, 2, ..., j-i, следующим образом:

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

Способ используется в ФПУ с многорядными линейками формата m×N со сканером, где m - число рядов линейки, N - число строк линейки. Сканер работает со сдвигом на целую или половину строки линейки.

Половинный сдвиг используется с целью увеличения пространственного разрешения изображения вдвое в сравнении со сдвигом на строку. Но при этом снижается точность определения функций связи Fi+1,i() из-за неполного совпадения потоков на соседних элементах, при сдвиге на строку совпадение полное. Поясним причины несовпадения потоков с помощью фиг.1, где показывается соотношение потоков сцены и элементов линейки при работе со сдвигом в полстроки. На фиг.1:

1 - линейка ФПУ;

2 - сцена при нечетном ходе сканера;

3 - сцена при четном ходе сканера;

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - потоки, попадающие на верхние и нижние части элемента i-й строки линейки при нечетном ходе сканера;

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - потоки, попадающие на верхние и нижние части элементов i+1-й строки линейки при нечетном ходе сканера;

P i,1(t) и Pi,2(t)- потоки, попадающие на верхние и нижние части элементов i-й строки линейки при четном ходе сканера

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

Pi+1,1(t) и P i+1,2(t) - потоки, попадающие на верхние и нижние части элементов i+1-й строки линейки при четном ходе сканера

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

Потоки на соседних элементах линейки совпадают только частично - по нижней части i-го элемента при четном ходе и верхней части (i+1)-го элемента для нечетного хода.

Условия точного оценивания функции связи - равенства средних потоков соседних элементов, можно достичь либо использованием больших выборок, либо используя подходящие сцены. Но и то и другое задержит корректирование.

В заявляемом способе для сопоставимости потоков в общем случае перед определением корректирующих воздействий - функций связи, изменяют сигналы элементов четного хода по правилу

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

где

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

сигнал с i-го элемента при четном ходе;

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - сигнал с i-го элемента при нечетном ходе;

Аi - чувствительность i-го элемента;

Вi - смещение i-го элемента;

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - шум при нечетном и четном ходе.

Правило изменения основывается на том, что градиент потоков на соседних элементах ввиду его малости точно аппроксимируется линейной зависимостью. В результате потоковые составляющие в сигналах способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 становятся сопоставимыми, что обеспечивает точность оценки функции связи соседних элементов способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 или же отношения чувствительностей элементов в соседних строках линейки и относительных смещений - при линейном виде функций связи.

Целью настоящего изобретения является коррекция по сигналам сцены неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных устройств для изображений с высоким пространственным разрешением.

Цель достигается благодаря тому, что сканируют сцену и регистрируют отсчеты сигналов элементов фотоприемного устройства, корректируют отсчеты сигналов сцены, причем для проведения коррекции сканируют в последовательности, обеспечивающей попадание потоков одних и тех же элементов сцены на соседние элементы фотоприемного устройства и попадание потоков соседних элементов сцены на один и тот же элемент устройства, для каждой пары соседних элементов фотоприемного устройства, i-го и i+1-го, iспособ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 N, N - множество элементов фотоприемного устройства, определяют корректирующие воздействия - функции связи сигналов соседних элементов

Si+1=Fi+1,i (Si),

корректируют отсчеты сигналов Si(t) их заменой на способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , где Si(t) - отсчеты сигналов i-го элемента, способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - скорректированные сигналы i-го элемента относительно j-го элемента, i,jспособ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 N, t - параметр времени

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

где Fj,i(S i(t)) - функция коррекции сигнала Si (t) относительно j-го элемента, которую получают последовательностью применения - начальный аргумент Si(t), функций связей Fi+1,i(), F i+2,i+1(), ..., Fj,j-1() сигналов пар соседних элементов i+1,i; i+2,i+1; ... j,j-1, составляющих путь от элемента i к элементу j, для i=j способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , аппроксимацию проводят по множеству пар отсчетов сигналов Si+1(t) и исправленных отсчетов способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , где

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - отсчет i-го элемента, соответствующий одному и тому же с отсчетом Si(t) состоянию элемента сцены, аппроксимацию проводят так, чтобы функции связи имели наименьшее среднеквадратичное отклонение на множестве пар способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и Si+1(t) и отображали любое значение из диапазонов переменных si, ответствующих диапазонам сигналов способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 , в значения переменных si+1, соответствующие значениям из диапазонов сигналов Si+1(t).

Изобретение поясняется следующими чертежами, где:

фиг.1 показывает соотношение потоков сцены и элементов линейки при работе со сдвигом в полстроки (относится к прототипу и изобретению);

фиг.2 приведена схема варианта устройства, реализующего предлагаемый способ;

фиг.3 представлен вариант расположения фоточувствительных элементов для многорядной линейки формата 4×N.

Сущность способа заключается в следующем.

Условие сканирования сцены - попадание потоков одних и тех же элементов сцены на соседние элементы фотоприемного устройства - позволяет из последовательностей отсчетов Si(t) и отсчетов S i+1(t) выбрать пары отсчетов, включающие одни и те же элементы сцены при одинаковом их состоянии (одинаковых потоках), заменить отсчеты Si(t) на способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и по множеству пар способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и Si+1(t) определить с помощью аппроксимации корректирующие воздействия - функции связи соседних элементов Fi+1,i()

Si+1 =Fi+1,i(Si),

которые отображают значения отсчетов i-го элемента на значения отсчетов элемента i+1. Отображение означает, что значению s i отсчета сигнала Si(t), которому соответствует некоторое значение потока Р на его входе, ставится в соответствие значение si+1 отсчета сигнала Si+1(t), которому соответствует то же самое значение потока Р на его входе.

Использование для аппроксимации пар способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и Si+1(t), в которых

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - отсчет i-го элемента, соответствующий одному и тому же с отсчетом Si(t) состоянию элемента сцены, что приводит к сопоставляемым значениям потоков в парах способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и Si+1(t) и, как следствие, к точной оценке функций связи.

Условие сканирования - попадание потоков соседних элементов сцены на один и тот же элемент фотоприемного устройства, как и в прототипе, обеспечивает полноту множества функций связи элементов Fi+1,i() такую, что для всех путей, связывающих с любым элементом фотоприемного устройства все остальные элементы устройства, будут определены функции связи всех пар соседних элементов этих путей.

Выполнение процедуры корректирования элементов фотоприемного устройства относительно j-го элемента производится, как и в прототипе, и состоит в определении значений функций коррекции F j,i(Si(t)) сигналов S i(t), i,jспособ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 N, определение каждой осуществляется последовательностью применений функций связи (последовательностью корректирующих воздействий) на пути от i-го к j-му элементу.

Первое в последовательности применений функций связи - применение функции Fi+1,i(Si(t)), дает значение способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - скорректированное значение сигнала S i(t) относительно элемента i+1

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

Аналогично, для последующих применений, l=1, 2, ..., j-1,

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

которые определяют способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - скорректированные относительно элементов i+1 значения сигнала Si(t), и которые, следуя определениям функций связи, равны Si+1(t). Начальному аргументу применения функций Si(t), которому соответствует некоторое значение потока элемента сцены, функции связи ставят в соответствие значения Si+1 (t), которым соответствует то же самое значение потока, что и сигналу Si(t).

Это означает, что скорректированные по отношению к одному из элементов фотоприемного устройства сигналы остальных элементов будут одинаковы при одинаковых сигналах сцены по всем элементам ФПУ, что соответствует цели коррекции.

В случае небольших изменений сигналов в пределах сцены зависимости Si+1(t) от способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 близки к линейным и аппроксимируются прямыми

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

имеющими наименьшее среднеквадратичное отклонение

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

от зависимостей Si+1(t) от способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 .

Корректирующие воздействия: коэффициенты линейных зависимостей Аi+1,i - отношение чувствительностей соседних элементов, и Вi+1,i - относительное смещение соседних элементов, определяются по формулам

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

где Тi+1,i - множество пар измененных отсчетов способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и отсчетов Si+1(t), соответствующих одним и тем же элементам сцены, упорядоченное по времени: значению t=1 соответствует первый по времени отсчет, t=2 - следующий и так далее до Тi+1,i-го отсчета;

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 и Si+1 - средние значения сигналов i-го и i+1-го элементов на интервале Тi+1,i .

Скорректированные относительно элемента j сигналы способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 элементов i=1, 2, ..., N определяются по исходным, некорректированным сигналам Si(t) и коэффициентам A i+1,i+1-1 и Bi+1,i+1-1, l=1, 2, ..., j-i, как и в прототипе:

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

На фиг.2 приведена схема варианта устройства, реализующего предлагаемый способ.

На фиг.2 обозначены:

1 - сканер;

2 - сигнал сцены;

3 - фотоприемное устройство;

4 - аналого-цифровой преобразователь сигналов;

5 - определитель корректирующих коэффициентов;

6 - корректор сигналов сцены.

Корректирующие коэффициенты A i+1,i и Вi+1,i определяются по сигналам сцены определителем корректирующих коэффициентов. Перед определением осуществляется замена в парах сигналов соседних элементов отсчетов Si(t) назначения способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 по правилу

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324

способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 - отсчет, предшествующий в последовательности сканирования отсчету Si(t).

В прототипе этот блок определяет корректирующие коэффициенты без операции замены в парах сигналов.

В предлагаемом способе корректор сигналов сцены определяет скорректированные относительно элемента j сигналы способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 элементов i=1, 2, ..., N по исходным, некорректированным сигналам Si(t) и коэффициентам A i+1,i+1-1 и Вi+1,i+1-1, l=1, 2, ..., j-i и заменяет Si(t) на способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных   устройств по сигналам сцены, патент № 2347324 . В прототипе корректор выполняет те же действия.

Условие сканирования сцены в последовательности, обеспечивающей попадание потоков одних и тех же элементов сцены на соседние элементы фотоприемного устройства и попадание потоков соседних элементов сцены на один и тот же элемент устройства, поясним с помощью фиг.3, где представлен вариант расположения фоточувствительных элементов для многорядной линейки формата 4×N. Изображение сканируется в направлении, перпендикулярном линейкам фоточувствительных элементов A, B, ... F, каждый пиксель изображения сцены регистрируется последовательно элементами Аi, В i, Сi, Di, а соседний пиксель - элементами Еi, F i, Gi, Нi. При этом сигналы элементов Аi, В i, Сi, Di могут быть скорректированы по отношению к сигналам любого элемента этой группы, а сигналы элементов Еi, F i, Gi, Нi могут быть скорректированы по отношению - также любого - элемента из этой группы. При втором сканировании изображение может быть сдвинуто на половину шага элементов в линейках. При этом последовательность пикселей, регистрируемых в первом сканировании элементами A i, Вi, Сi, Di, будет регистрироваться элементами Е i, Fi, Gi, Hi. Таким образом, можно скорректировать сигналы элементов Еi, F i, Gi, Hi по отношению к элементам Аi, В i, Сi, Di, а также сигналы элементов Ai+1, B i+1, Сi+1, Di+1 по отношению к элементам Еi, F i, Gi, Hi, и таким образом все элементы ФПУ связываются отношениями коррекции.

Источники информации

1. Патент на изобретение 2113065 РФ. Способ выравнивания неравномерной чувствительности фотоприемников сканирующих линеек тепловизоров. Белоконев В.М., Дегтярев Е.В., Рудый И.В., Малышев И.А., Павлова В.А., Тетерин В.В., Демеш О.В., Кабанов В.Ф. - Опубл. 10.06.98, Бюллетень №16.

2. Павлова В.А. и др. «Иконический подход к решению проблемы коррекции неоднородностей чувствительности многоэлементных МФПУ в сканирующих тепловизорах», «Оптический журнал», том 64, №2, 1997.

3. Патент на изобретение 2297728 РФ. Способ коррекции неоднородности многоэлементных фотоприемных устройств со сканированием. Бурлаков И.Д., Жегалов С.И., Сагинов Л.Д., Свиридов А.Н., Соляков В.Н., Филачев A.M. Опубликован 20.04.07, Бюллетень №11.

Класс H04N5/33 преобразование инфракрасного излучения

устройство формирования изображения -  патент 2515948 (20.05.2014)
устройство для детектирования электромагнитного излучения, содержащее резистивный болометр формирования изображения, система, содержащая матрицу из таких устройств, и способ считывания болометра формирования изображения такой системы -  патент 2486689 (27.06.2013)
тепловизор на основе "смотрящей" матрицы формата 256х256 -  патент 2454022 (20.06.2012)
способ компенсации неоднородности сигнала фоточувствительных элементов многоэлементного фотоприемника -  патент 2449491 (27.04.2012)
способ обработки инфракрасного изображения, система захвата инфракрасного изображения и машиночитаемый носитель -  патент 2437153 (20.12.2011)
способ тепловизионного распознавания формы объектов -  патент 2431936 (20.10.2011)
тепловизионный канал -  патент 2425463 (27.07.2011)
способ дистанционного измерения температурного поля -  патент 2424496 (20.07.2011)
способ электронной обработки сигналов фотоприемника при формировании изображения и устройство для его осуществления -  патент 2423016 (27.06.2011)
способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных устройств по сигналам сцены -  патент 2411684 (10.02.2011)
Наверх