способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств с микросканированием

Классы МПК:H04N5/33 преобразование инфракрасного излучения
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Федеральное государственное унитарное предприятие "НПО "Орион" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2007-07-30
публикация патента:

Изобретение относится к оптико-электронным системам формирования и обработки инфракрасных изображений, для которых актуальна задача устранения неоднородности сигналов, обусловленной различиями в чувствительности к входному потоку и в темновом токе элементов фотоприемных устройств (ФПУ), с использованием только сигналов сцены. Техническим результатом является коррекция по сигналам сцены неоднородности матричных многоэлементных фотоприемных устройств для изображений с высоким пространственным разрешением, получаемых с помощью микросканирования со сдвигом падающего на матрицу фотоприемного устройства изображения сцены на полпиксела по траектории вверх-вправо-вниз-влево. Технический результат достигается тем, что регистрируют отсчеты элементов ФПУ по сигналам сцены, по отсчетам определяют корректирующие коэффициенты по смещению и чувствительности, корректируют отсчеты сцены. Для повышения точности корректирующих коэффициентов изменяют отсчеты сцены по направлениям микросканирования. 4 ил. способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

Формула изобретения

Способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств с микросканированием, заключающийся в том, что регистрируют отсчеты элементов фотоприемного устройства по сигналам сцены, корректируют отсчеты сигналов сцены вычитанием из значений отсчетов сигналов сцены корректирующих коэффициентов элементов по смещению и умножением разности на корректирующие коэффициенты по чувствительности, для проведения коррекции определяют корректирующие коэффициенты элементов по чувствительности и смещению по отсчетам сцены - вначале по множествам пар отсчетов сигналов соседних элементов Si(t) и Si+1(t), iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, N - множество элементов устройства, t-параметр времени, определяют отношения чувствительностей и относительные смещения соседних элементов из линейной регрессии выборки отсчетов сигналов Si(t), t=1, 2, ..., Т по выборке S i+1(t), t=1, 2, ..., Т и линейной регрессии отсчетов S i+1(t) no Si(t),

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

Bi,i+1=S i-Ai,i+1Si+1 ,

где Аi,i+1 - отношение чувствительности i-го элемента к чувствительности соседнего (i+1)-го элемента;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 Si(t)=Si(t)-S i, способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 Si+1(t)=Si+1 (t)-Si+1;

Si и Si+1 - средние значения сигналов соседних i-го и (i+1)-го элементов, определенные на интервале Т;

Вi,i+1 - относительное смещение, затем определяют корректирующие коэффициенты элементов матрицы по чувствительности - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и по смещению - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, начиная с некоторого элемента в центре матрицы или непосредственной близости от центра - ему присваивают индекс 0 и этот элемент называют образующим 1-квадрат элементов матрицы (квадрат со стороной в 1 элемент), для «нулевого» элемента полагают способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ; для каждого из четырех соседних «нулевому» элементов 3-квадрата (квадрата со стороной в 3 элемента) - их обозначают 1-элементы (см. фиг.1) по числу путей в эти элементы из «нулевого» элемента и называют следующими из «нулевого» элемента, полагают) способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 где индекс i проходит по 1-элементам, a j=0; для каждого из четырех 2-элементов (по числу путей в эти элементы из «нулевого» элемента) 3-квадрата, следующих из 1-элементов, полагают

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где индекс i проходит по 2-элементам, индексы j1 и j2 соответствуют паре элементов, предшествующих i-му элементу, а номера i-х элементов, равные 2, берут равными сумме номеров предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты восьми 2-элементов периметра 5-квадрата, следующих из 2-элементов 3-квадрата: способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где индекс i соответствует следующим элементам, а индекс j - предшествующим, номер 2 i-м элементам присваивают по номерам предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 5-элементов периметра 5-квадрата, каждому из которых предшествует три элемента и каждый из которых связан с «нулевым» элементом по пяти путям, по формулам

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где индекс i проходит по 5-элементам, индексы j1, j2 и j 3 проходят по предшествующим элементам, номер 5 i-м элементам присваивают по сумме номеров предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 4-элементов периметра 5-квадрата по формулам для случая двух предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 5-элементов периметра 7-квадрата, следующие из 5-элементов периметра 5-квадрата; определяют корректирующие коэффициенты остальных элементов периметра 7-квадрата в порядке: 7-элементы, 11-элементы, 22-элементы; определяют корректирующие коэффициенты периметра 9-квадрата в порядке: 22-элементы, следующие из 22-элементов периметра 7-квадрата, 33-элементы, 40-элементы, 44-элементы, 85-элементы; по элементам периметра 9-квадрата с максимальным номером 85 определяются корректирующие коэффициенты следующих из них элементов периметра следующего, 11-квадрата, которым присваивается тот же номер; определяют корректирующие коэффициенты остальных элементов периметра 11-квадрата в порядке влево и вправо и вверх и вниз от 85-элементов; из элементов периметра 11-квадрата с максимальным номером - восьми угловых элементов, определяют следующие из этих элементов восемь элементов периметра 13-квадрата; по этим восьми элементам определяют угловые элементы 13-квадрата и по направлениям вверх-вниз и влево-вправо от этих восьми элементов определяют остальные элементы периметра 13-квадрата; определяют по элементам периметра 13-квадрата с максимальным номером - эти элементы находятся в середине сторон периметра, следующие из них элементы с таким же номером в 15-квадрате; определяют остальные элементы периметра 15-квадрата; определяют элементы с максимальным номером в 15-квадрате - они находятся в углах, определяют следующие из них элементы периметра 17-квадрата, определяют остальные элементы периметра 17-квадрата; определяют элементы 17-квадрата с максимальным номером, по ним определяют элементы с тем же номером 19-квадрата и так далее определяют элементы периметров квадратов увеличивающейся размерности, пока не будет достигнута одна или более границ матрицы, начиная откуда множество определяемых элементов наращивают только в трех или менее направлениях возможных движений от определенных к неопределенным элементам и так действуют до определения корректирующих коэффициентов всех элементов матрицы, отличающийся тем, что когда определяют отношения чувствительностей и относительные смещения соседних элементов из линейной регрессии выборки отсчетов сигналов S 1(t), t=1, 2, ..., Т по выборке Si+1 (t), t=1, 2, ..., Т и линейной регрессии отсчетов S i+1(t) no Si(t), для соседних в матрице элементов по вертикали в качестве Si(t) берут измененные отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , которые получают по формуле способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и в качестве Si+1(t) берут, способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 а для соседних в матрице элементов по горизонтали в качестве Si(t) берут отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , которые получают по формуле способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и в качестве Si+1(t) берут способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где величины способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - отсчеты фотоприемного устройства с микросканированием со сдвигом изображения сцены на полэлемента матрицы вверх - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и со сдвигом на полэлемента вправо - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , относительно некоторого положения изображения - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 .

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к оптикоэлектронным системам формирования и обработки инфракрасных изображений, для которых актуальна задача устранения неоднородности сигналов, обусловленной различиями в чувствительности к входному потоку и в темновом токе элементов фотоприемных устройств (ФПУ), с использованием только сигналов сцены. Это дает возможность коррекции неоднородности без применения источников эталонных сигналов с их необходимостью подстройки под сцену и поддержания однородности эталонного сигнала. В некоторых случаях наличие эталонных источников неприемлемо по условиям размещения их в аппаратуре. Еще более актуальна задача коррекции неоднородности по сигналам сцены для ФПУ с микросканированием, используемым для повышения разрешающей способности тепловизионных систем.

Изобретение может использоваться в тепловизионных системах с матричными ФПУ.

Известен [1] способ выравнивания каналов тепловизионных приемников при использовании метода микросканирования (способ рассматривается в качестве аналога), заключающийся в том, что с помощью микросканирования получают два изображения одной и той же сцены, сдвинутые друг относительно друга на один элемент матрицы ФПУ. По разностным сигналам сдвинутых изображений вначале выравнивают чувствительности каналов, а затем, зная чувствительности, выравнивают значения темновых токов каналов. По этим чувствительностям и темновым токам и выравниваются принятые сигналы.

Сущность способа состоит в том, что сдвинутое на элемент матрицы изображение той же сцены обеспечивает сопоставление сигналов соседних элементов при одинаковых потоках (входных сигналах) на этих элементах. Условие одинаковых потоков позволяет оценить отношения чувствительностей соседних элементов и относительные смещения (относительные темновые токи), и через отношения соседних привести чувствительности и смещения всех элементов матрицы к чувствительности и смещению одного из элементов матрицы.

Недостаток способа вытекает из условия, что микросканирование используется только как средство для коррекции неоднородности, включая и устранение влияния неработоспособных элементов. Необходимый для этого способа сдвиг изображения на элемент матрицы не позволяет применить способ для случая сдвига изображения сцены на полпиксела (полэлемента матрицы) [2], при котором достигается увеличение пространственного разрешения вдвое. Используемой на практике траекторией сдвигов - по терминологии [2], является четырехпозиционная траектория: исходное положение, вправо на 1/2 пиксела (элемента матрицы), вниз на 1/ 2 пиксела, влево на 1/ 2 пиксела, вверх на 1/ 2 пиксела, т.е. в исходное положение. В [2] же приведена схема реализации такой траектории.

Наиболее близким по технической сущности к заявляемому изобретению является способ [3] коррекции неоднородности матричных ФПУ, его рассматриваем в качестве прототипа. Этот способ обеспечивает коррекцию неоднородности без учета специфики микросканирования. Добавлением в него операции по изменению сигналов ФПУ с микросканированием, по которым определяются корректирующие коэффициенты, получается заявляемый способ коррекции неоднородности для ФПУ с микросканированием, с высокой разрешающей способностью.

Сущность способа-прототипа заключается в том, что регистрируют отсчеты элементов ФПУ по сигналам сцены, по отсчетам сцены определяют корректирующие коэффициенты по чувствительности и смещению - вначале по множествам пар отсчетов сигналов соседних элементов Si(t) и Si+1 (t), iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, N - множество элементов устройства, t - параметр времени, определяют отношения чувствительностей и относительные смещения соседних элементов из линейной регрессии выборки отсчетов сигналов Si(t), t=1, 2, ..., T по выборке S i+1(t), t=1, 2, ..., T и линейной регрессии отсчетов S i+1(t) по Si(t),

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

Bi,i+1=S i-Ai,i+1Si+1 ,

где Ai,i+1 - отношение чувствительности i-го элемента к чувствительности соседнего (i+1)-го элемента;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 Si(t)=Si(t)-S i, способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 Si+1(t)=Si+1 (t)-Si+1;

Si и Si+1 - средние значения сигналов соседних i-го и (i+1)-го элементов, определенные на интервале Т;

Вi,i+1 - относительное смещение,

затем определяют корректирующие коэффициенты элементов матрицы по чувствительности - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и по смещению - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, начиная с некоторого элемента в центре матрицы или непосредственной близости от центра, ему присваивают индекс 0 и этот элемент называют образующим 1-квадрат элементов матрицы (квадрат со стороной в 1 элемент), для «нулевого» элемента полагают способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ; для каждого из четырех соседних «нулевому» элементов 3-квадрата (квадрата со стороной в 3 элемента) - их обозначают 1-элементы (см. фиг.1) по числу путей в эти элементы из «нулевого» элемента и называют следующими из «нулевого» элемента, полагают способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 где индекс i проходит по 1-элементам, a j=0; для каждого из четырех 2-элементов (по числу путей в эти элементы из «нулевого» элемента) 3-квадрата, следующих из 1-элементов, полагают

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где индекс i проходит по 2-элементам, индексы j1 и j2 соответствуют паре элементов, предшествующих i-му элементу, а номера i-x элементов, равные 2, берут равными сумме номеров предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты восьми 2-элементов периметра 5-квадрата, следующих из 2-элементов 3-квадрата: способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где индекс i соответствует следующим элементам, а индекс j - предшествующим, номер 2 i-м элементам присваивают по номерам предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 5-элементов периметра 5-квадрата, каждому из которых предшествует три элемента и каждый из которых связан с «нулевым» элементом по пяти путям, по формулам

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где индекс i проходит по 5-элементам, индексы j1, j2 и j 3 проходят по предшествующим элементам, номер 5 i-м элементам присваивают по сумме номеров предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 4-элементов периметра 5-квадрата по формулам для случая двух предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 5-элементов периметра 7-квадрата, следующие из 5-элементов периметра 5-квадрата; определяют корректирующие коэффициенты остальных элементов периметра 7-квадрата в порядке: 7-элементы, 11-элементы, 22-элементы; определяют корректирующие коэффициенты периметра 9-квадрата в порядке: 22-элементы, следующие из 22-элементов периметра 7-квадрата, 33-элементы, 40-элементы, 44-элементы, 85-элементы; по элементам периметра 9-квадрата с максимальным номером 85 определяются корректирующие коэффициенты следующих из них элементов периметра следующего, 11-квадрата, которым присваивается тот же номер; определяют корректирующие коэффициенты остальных элементов периметра 11-квадрата в порядке влево и вправо и вверх и вниз от 85-элементов; из элементов периметра 11-квадрата с максимальным номером - восьми угловых элементов, определяют следующие из этих элементов восемь элементов периметра 13-квадрата; по этим восьми элементам определяют угловые элементы 13-квадрата и по направлениям вверх-вниз и влево-вправо от этих восьми элементов определяют остальные элементы периметра 13-квадрата; определяют по элементам периметра 13-квадрата с максимальным номером - эти элементы находятся в середине сторон периметра, следующие из них элементы с таким же номером в 15-квадрате; определяют остальные элементы периметра 15-квадрата; определяют элементы с максимальным номером в 15-квадрате - они находятся в углах, определяют следующие из них элементы периметра 17-квадрата, определяют остальные элементы периметра 17-квадрата; определяют элементы 17-квадрата с максимальным номером, по ним определяют элементы с тем же номером 19-квадрата и так далее определяют элементы периметров квадратов увеличивающейся размерности, пока не будет достигнута одна или более границ матрицы, начиная откуда множество определяемых элементов наращивают только в трех или менее направлениях возможных движений от определенных к неопределенным элементам и так действуют до определения корректирующих коэффициентов всех элементов матрицы; корректируют отсчеты сигналов сцены вычитанием из значений отсчетов сцены корректирующих коэффициентов элементов по смещению и умножением разности на корректирующие коэффициенты по чувствительности,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где Si(t) - корректируемый сигнал, iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - скорректированный сигнал (относительно «нулевого» элемента).

Сущность способа-прототипа состоит в следующем.

Используя статистическую связь сигналов соседних элементов ФПУ, определяются величины Аi,i+1 - отношение чувствительностей i-го элемента к чувствительности соседнего (i+1)-го элемента и Вi,i+1 - относительное смещение этих соседних элементов для всех 2VH-(V+H) пар соседних элементов матрицы, V - высота матрицы (в элементах), Н - ширина, VH=N, соседними являются элементы, принимающие и преобразующие сигнал от смежных участков сцены - в тепловизионном изображении участку сцены соответствует пиксел кадра, смежными данному являются участки (пикселы) в направлениях «вверх-вниз» и «влево-вправо».

С увеличением интервала Т-параметра статистической обработки, относительные смещения Вi,i+1 сходятся к величинам

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

где Аi и А i+1 - чувствительности соседних, i-го и (i+1)-го элементов, Рi и Pi+1 - средние значения потоков соответственно i-го и (i+1)-го элементов; а отношения чувствительностей Аi,i+1 сходятся к величинам

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

где способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 i,i+1 - погрешность величины А i,i+1 относительно величины Аi i+1;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - дисперсия полусуммы потоков i-го и (i+1)-го элементов;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - дисперсия полуразности потоков i-го и (i+1)-го элементов;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - дисперсия потока, эквивалентного шуму i-го элемента;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - дисперсия потока, эквивалентного шуму i+1-го элемента;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - дисперсии потоков соответственно i-го и (i-1)-го элементов.

Определяющей погрешность величин Ai,i+1 и Bi,i+1 является величина

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 i,i+1 - чем ближе она к нулю, тем меньше погрешность. Относительная погрешность корректирующих коэффициентов способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , определяемая погрешностью величин Ai,i+1 и Bi,i+1, оценивается в 2способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - средняя по множеству погрешностей способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 i,i+1 величина, а оценка относительной погрешности скорректированных значений сцены - погрешность метода - оценивается вспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

Увеличение погрешности корректирующих коэффициентов способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 элементов ФПУ относительно способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 только в два раза обеспечивается тем, что при их определении происходит усреднение значений этих коэффициентов по всем путям, ведущим из «нулевого» элемента в остальные элементы ФПУ. И хотя разные пути, ведущие из «нулевого» элемента в некоторый другой элемент ФПУ, содержат и общие элементы, что работает на увеличение погрешности, однако фактор снижения погрешности из-за экспоненциального роста числа путей, с удалением от «нулевого» элемента, не уступает фактору увеличения. Увеличение погрешности метода до величины способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , с величины погрешности корректирующих коэффициентов в 2способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , определяется процедурой корректирования, состоящей в умножении нескорректированного значения сигнала на корректирующий коэффициент по чувствительности и добавлении к результату корректирующего коэффициента по смещению.

В известном способе-прототипе, по мнению авторов предлагаемого изобретения, лежащие в основе погрешности метода величины способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 i,i+1 зависят от соотношения потоков на соседних элементах и, как следует из формулы (2), при стремлении потоков соседних элементов к равенству в среднем - равенству их средних отклонений и равенству средних значений потоков и соответственно стремящейся при этом к нулю дисперсии полуразности этих потоков, будут уменьшаться и зависеть только от отношения «шум элементов/поток элементов» - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 . Практические величины отношения отклонения ошибки к потоку - порядка 0.2 и меньше дают отношение «шум элементов/поток элементов» порядка 1/625 и меньше. Это соответствует ошибке метода около 1%. Погрешность определения Вi,i+1 стремит к нулю равенство средних значений потоков, при этом величина (1) стремится к Вi-(Аii+1i+1 - точному соотношению смещений соседних элементов.

Равенство в среднем потоков соседних элементов достигается тем, что соседние элементы регистрируют соседние элементы сцены, которые сильно коррелированы, и корреляция растет с увеличением интервала Т. Соответственно, с ростом Т увеличивается и точность метода коррекции.

Уменьшить интервал Т, на котором определяются коэффициенты коррекции, и с удовлетворительной точностью - такую возможность дает микросканирование посредством сдвига попадающего на элементы ФПУ сигнала сцены относительно этих элементов и его фиксации для разных направлений сдвига. Сравнением сигналов соседних элементов по вертикали и горизонтали с определенным выбором фаз и модификацией сигналов осуществляется сопоставление сигналов соседних элементов с соизмеримыми потоками.

В известном способе коррекции неоднородности матричных ФПУ не достигается уменьшение интервала Т, возможность которого обеспечивает микросканирование.

Целью настоящего изобретения является коррекция по сигналам сцены неоднородности матричных многоэлементных фотоприемных устройств для изображений с высоким пространственным разрешением, получаемых с помощью микросканирования со сдвигом падающего на матрицу фотоприемного устройства изображения сцены на полпиксела по траектории вверх-вправо-вниз-влево.

Технический результат достигается тем, что регистрируют отсчеты элементов ФПУ по сигналам сцены, по отсчетам сцены определяют корректирующие коэффициенты по чувствительности и смещению - вначале по множествам пар отсчетов сигналов соседних элементов Si(t) и Si+1(t), iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, N - множество элементов устройства, t - параметр времени, определяют отношения чувствительностей и относительные смещения соседних элементов из линейной регрессии выборки отсчетов сигналов Si(t), t=1, 2, ..., T по выборке S i+1(t), t=1, 2, ..., T и линейной регрессии отсчетов S i+1(t) по Si(t), причем для соседних в матрице элементов по вертикали в качестве S i(t) берут отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , которые получают по формуле способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и в качестве Si+1(t) берут способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , для соседних в матрице элементов по горизонтали в качестве Si(t) берут отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , которые получают по формуле способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и в качестве Si+1(t) берут способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где величины способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - отсчеты ФПУ с микросканированием со сдвигом изображения сцены на полэлемента матрицы вверх - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и на полэлемента вправо - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , относительно некоторого положения изображения - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

Bi,i+1=S i-Ai,i+1Si+1 ,

где Аi,i+1 - отношение чувствительности i-го элемента к чувствительности соседнего (i+1)-го элемента;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 Si(t)=Si(t)-S i, способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 Si+1(t)=Si+1 (t)-Si+1;

Si и Si+1 - средние значения сигналов соседних i-го и (i+1)-го элементов, определенные на интервале Т;

Вi,i+1 - относительное смещение,

затем определяют корректирующие коэффициенты элементов матрицы по чувствительности - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и по смещению - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, начиная с некоторого элемента в центре матрицы или непосредственной близости от центра - ему присваивают индекс 0, и этот элемент называют образующим 1-квадрат элементов матрицы (квадрат со стороной в 1 элемент), для «нулевого» элемента полагают способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 для каждого из четырех соседних «нулевому» элементов 3-квадрата (квадрата со стороной в 3 элемента) - их обозначают 1-элементы (см. фиг.1) по числу путей в эти элементы из «нулевого» элемента и называют следующими из «нулевого» элемента, полагают способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 где индекс i проходит по 1-элементам, a j=0; для каждого из четырех 2-элементов (по числу путей в эти элементы из «нулевого» элемента) 3-квадрата, следующих из 1-элементов, полагают

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где индекс i проходит по 2-элементам, индексы j1 и j2 соответствуют паре элементов, предшествующих i-му элементу, а номера i-x элементов, равные 2, берут равными сумме номеров предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты восьми 2-элементов периметра 5-квадрата, следующих из 2-элементов 3-квадрата: способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и, где индекс i соответствует следующим элементам, а индекс j - предшествующим, номер 2 i-м элементам присваивают по номерам предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 5-элементов периметра 5-квадрата, каждому из которых предшествует три элемента и каждый из которых связан с «нулевым» элементом по пяти путям, по формулам

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где индекс i проходит по 5-элементам, индексы j1, j2 и j 3 проходят по предшествующим элементам, номер 5 i-м элементам присваивают по сумме номеров предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 4-элементов периметра 5-квадрата по формулам для случая двух предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 5-элементов периметра 7-квадрата, следующие из 5-элементов периметра 5-квадрата; определяют корректирующие коэффициенты остальных элементов периметра 7-квадрата в порядке: 7-элементы, 11-элементы, 22-элементы; определяют корректирующие коэффициенты периметра 9-квадрата в порядке: 22-элементы, следующие из 22-элементов периметра 7-квадрата, 33-элементы, 40-элементы, 44-элементы, 85-элементы; по элементам периметра 9-квадрата с максимальным номером 85 определяются корректирующие коэффициенты следующих из них элементов периметра следующего, 11-квадрата, которым присваивается тот же номер; определяют корректирующие коэффициенты остальных элементов периметра 11-квадрата в порядке влево и вправо и вверх и вниз от 85-элементов; из элементов периметра 11-квадрата с максимальным номером - восьми угловых элементов определяют следующие из этих элементов восемь элементов периметра 13-квадрата; по этим восьми элементам определяют угловые элементы 13-квадрата и по направлениям вверх-вниз и влево-вправо от этих восьми элементов определяют остальные элементы периметра 13-квадрата; определяют по элементам периметра 13-квадрата с максимальным номером - эти элементы находятся в середине сторон периметра, следующие из них элементы с таким же номером в 15-квадрате; определяют остальные элементы периметра 15-квадрата; определяют элементы с максимальным номером в 15-квадрате - они находятся в углах, определяют следующие из них элементы периметра 17-квадрата, определяют остальные элементы периметра 17-квадрата; определяют элементы 17-квадрата с максимальным номером, по ним определяют элементы с тем же номером 19-квадрата и так далее определяют элементы периметров квадратов увеличивающейся размерности, пока не будет достигнута одна или более границ матрицы, начиная откуда множество определяемых элементов наращивают только в трех или менее направлениях возможных движений от определенных к неопределенным элементам и так действуют до определения корректирующих коэффициентов всех элементов матрицы: корректируют отсчеты сигналов сцены вычитанием из значений отсчетов сцены корректирующих коэффициентов элементов по смещению и умножением разности на корректирующие коэффициенты по чувствительности,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

где Si(t) - корректируемый сигнал, iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - скорректированный сигнал (относительно «нулевого» элемента).

Предлагаемое изобретение поясняется следующими чертежами, где:

фиг.1. Схема обхода элементов матрицы ФПУ (относится и к прототипу);

фиг.2. Фазы сдвига сцены относительно элемента (пиксела) матрицы при микросканировании на половину пиксела;

фиг.3. Соотношение потоков сцены и элементов некоторого (любого) столбца матрицы соответственно для фаз 0 и 1;

фиг.4. Схема устройства, реализующего предлагаемый способ.

Сущность заявляемого способа состоит в следующем.

Способ регистрируют отсчеты элементов ФПУ по сигналам сцены, по отсчетам сцены определяют корректирующие коэффициенты по чувствительности и смещению - вначале по множествам пар отсчетов сигналов соседних элементов Si(t) и Si+1(t), iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, N - множество элементов устройства, t - параметр времени, определяют отношения чувствительностей и относительные смещения соседних элементов из линейной регрессии выборки отсчетов сигналов Si(t), t=1, 2, ..., T по выборке S i+1(t), t=1, 2, ...,T и линейной регрессии отсчетов S i+1(t) по Si(t), причем для соседних в матрице элементов по вертикали в качестве S i(t) берут отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , которые получают по формуле способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и в качестве Si+1(t) берут способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , для соседних в матрице элементов по горизонтали в качестве Si(t) берут отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , которые получают по формуле способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и в качестве Si+1(t) берут способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где величины способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - отсчеты ФПУ с микросканированием со сдвигом изображения сцены на полэлемента матрицы вверх - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и на полэлемента вправо - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , относительно некоторого положения изображения - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

Bi,i+1=S i-Ai,i+1+Si+1 ,

где Ai,i+1 - отношение чувствительности i-го элемента к чувствительности соседнего (i+1)-го элемента;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 Si(t)=Si(t)-S i, способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 Si+1(t)=Si+1 (t)-Si+1;

Si и Si+1 - средние значения сигналов соседних i-го и (i+1)-го элементов, определенные на интервале Т;

Вi,i+1 - относительное смещение,

затем определяют корректирующие коэффициенты элементов матрицы по чувствительности - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и по смещению - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, начиная с некоторого элемента в центре матрицы или непосредственной близости от центра, ему присваивают индекс 0 и этот элемент называют образующим 1-квадрат элементов матрицы (квадрат со стороной в 1 элемент), для «нулевого» элемента полагают способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ; для каждого из четырех соседних «нулевому» элементов 3-квадрата (квадрата со стороной в 3 элемента) - их обозначают 1-элементы (см. фиг.1) по числу путей в эти элементы из «нулевого» элемента и называют следующими из «нулевого» элемента, полагают способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где индекс i проходит по 1-элементам, a j=0; для каждого из четырех 2-элементов (по числу путей в эти элементы из «нулевого» элемента) 3-квадрата, следующих из 1-элементов, полагают

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где индекс i проходит по 2-элементам, индексы j1 и j2 соответствуют паре элементов, предшествующих i-му элементу, а номера i-x элементов, равные 2, берут равными сумме номеров предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты восьми 2-элементов периметра 5-квадрата, следующих из 2-элементов 3-квадрата: способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где индекс i соответствует следующим элементам, а индекс j - предшествующим, номер 2 i-м элементам присваивают по номерам предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 5-элементов периметра 5-квадрата, каждому из которых предшествует три элемента и каждый из которых связан с «нулевым» элементом по пяти путям, по формулам

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ,

где индекс i проходит по 5-элементам, индексы j1, j2 и j 3 проходят по предшествующим элементам, номер 5 i-м элементам присваивают по сумме номеров предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 4-элементов периметра 5-квадрата по формулам для случая двух предшествующих элементов; определяют корректирующие коэффициенты 5-элементов периметра 7-квадрата, следующие из 5-элементов периметра 5-квадрата; определяют корректирующие коэффициенты остальных элементов периметра 7-квадрата в порядке: 7-элементы, 11-элементы, 22-элементы; определяют корректирующие коэффициенты периметра 9-квадрата в порядке: 22-элементы, следующие из 22-элементов периметра 7-квадрата, 33-элементы, 40-элементы, 44-элементы, 85-элементы; по элементам периметра 9-квадрата с максимальным номером 85 определяются корректирующие коэффициенты следующих из них элементов периметра следующего, 11-квадрата, которым присваивается тот же номер; определяют корректирующие коэффициенты остальных элементов периметра 11-квадрата в порядке влево и вправо и вверх и вниз от 85-элементов; из элементов периметра 11-квадрата с максимальным номером - восьми угловых элементов определяют следующие из этих элементов восемь элементов периметра 13-квадрата; по этим восьми элементам определяют угловые элементы 13-квадрата и по направлениям вверх-вниз и влево-вправо от этих восьми элементов определяют остальные элементы периметра 13-квадрата; определяют по элементам периметра 13-квадрата с максимальным номером - эти элементы находятся в середине сторон периметра, следующие из них элементы с таким же номером в 15-квадрате; определяют остальные элементы периметра 15-квадрата; определяют элементы с максимальным номером в 15-квадрате - они находятся в углах, определяют следующие из них элементы периметра 17-квадрата, определяют остальные элементы периметра 17-квадрата; определяют элементы 17-квадрата с максимальным номером, по ним определяют элементы с тем же номером 19-квадрата и так далее определяют элементы периметров квадратов увеличивающейся размерности, пока не будет достигнута одна или более границ матрицы, начиная откуда множество определяемых элементов наращивают только в трех или менее направлениях возможных движений от определенных к неопределенным элементам и так действуют до определения корректирующих коэффициентов всех элементов матрицы; корректируют отсчеты сигналов сцены вычитанием из значений отсчетов сцены корректирующих коэффициентов элементов по смещению и умножением разности на корректирующие коэффициенты по чувствительности,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

где Si(t) - корректируемый сигнал, i способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - скорректированный сигнал (относительно «нулевого» элемента).

На фиг.2 приведены фазы сдвига сцены относительно элемента (пиксела) матрицы при микросканировании на половину пиксела. Жирным обозначено положение элемента матрицы, тонким - сканирование сцены - изменение положения участка сцены размером в пиксел относительно элемента матрицы. На фиг.2 обозначены:

1 - фаза 1: сдвиг на полпиксела вверх;

2 - фаза 2: сдвиг на полпиксела вверх-вправо;

3 - фаза 3: сдвиг на полпиксела вправо;

4 - фаза 0: исходное положение;

5 - фаза 1: сдвиг на полпиксела вверх.

Фазы 0 и 1 показывают, что на рассматриваемый элемент матрицы и вышерасположенный элемент попадают частично одни и те же участки сцены - половина участка сцены, попавшего в фазе 0 на рассматриваемый элемент, в фазе 1 попадает на соседний элемент, и этот факт может быть использован для уточнения сопоставления потоков этих элементов. Подобно - фазы 0 и 3 показывают, что на рассматриваемый и соседний по горизонтали элемент попадают частично одни и те же участки сцены. Понятие «один и тот же участок сцены» подразумевает, что и состояние этого участка - его поток, остается на интервале сопоставления фаз неизменным или мало меняющимся. Практическое значения интервала между сменами фаз - 1/100 сек дает предпосылку считать поток практически неизменным. Усиливает эту предпосылку и превращает ее в основание неизменности потока статистический подход - неизменность потока рассматривается не для отдельного сопоставления фаз, а для множества таких сопоставлений.

Фиг.3 показывает соотношение потоков сцены и элементов некоторого (любого) столбца матрицы соответственно для фаз 0 и 1.

На фиг.3:

1 - столбец элементов ФПУ;

2 - сцена для фазы 0;

3 - сцена для фазы 1;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - потоки, попадающие на верхние и нижние части i-го элемента столбца для фазы 0;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - потоки для фазы 0, попадающие на верхние и нижние части элемента i+1;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - потоки для фазы 1, попадающие на верхние и нижние части элемента i, для них можно записать:

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - потоки, попадающие на верхние и нижние части элемента i+1 при фазе 1, и можно записать

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 ;

Знак способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 (приблизительно равно) отражает тот факт, что строгого совпадения нет, хотя это потоки для одного и того же участка сцены, но разнесенные - пусть и на малый промежуток, во времени.

Совпадение потоков на соседних элементах, - по нижней части i-го элемента при фазе 0 и верхней части (i+1)-го элемента для фазы 1, потоки от одних и тех же участков сцены, - назовем совпадением по участкам сцены. Потоки на других частях соседних элементов совпадают на уровне близости соседних участков сцены.

Условия точного сопоставления - равенства потоков соседних элементов в среднем достигается в общем случае и без совпадения по участкам сцены - на большом интервале Т, за счет усреднения статистика соседних участков сближается, и чем ближе участки, тем быстрее она сближается. Т.е. разные, но близкие участки сцены, накрывающие соседние элементы, с увеличением интервала Т будут иметь совпадающие статистики - средние значения и средние отклонения, значит, и статистики соседних элементов будут сближаться. Максимальный же темп сближения будет при совпадении всех участков сцены, накрывающих соседние элементы. Для этого изменяют сигналы элементов нулевой фазы способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 на способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

где, в свою очередь,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - сигнал с i-го элемента при фазе 1;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - сигнал с i-го элемента при фазе 0;

А i - чувствительность i-го элемента;

В i - смещение i-го элемента;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - шум при фазе 0 и 1 соответственно.

Правило изменения, направленное на уравнивание потоковых составляющих в сравниваемых сигналах соседних элементов, основывается на том, что градиент потоков на соседних элементах ввиду его малости достаточно точно аппроксимируется линейной зависимостью. В результате потоковые составляющие в сигналах способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 становятся сопоставимыми, что несложно проверяется подстановкой в эти сигналы линейно связанной по величине последовательности потоков для соседних участков сцены, например, такой: способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 .

Аналогично изменению сигнала (3), с целью уравнивания потоков соседних по горизонтали элементов матрицы изменяют сигналы элементов нулевой фазы способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 на способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 по правилу

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053

где способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - сигнал при фазе 3.

Сформулируем правило изменения сигналов перед сопоставлением, переходя к обозначению элементов к двумерной (матричной) индексации: если через способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 обозначим сигналы элемента матрицы соответственно фазам 0, 1, 2, 3 (каждому значению параметра t соответствуют 4 отсчета), то измененные сигналы, для сопоставлений по вертикали и горизонтали, соответственно запишутся

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 .

Для одномерной индексации правило изменения имеет вид:

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - при сопоставлении элементов по вертикали,

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - при сопоставлении элементов по горизонтали.

Сопоставление элементов производят по сигналам:

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - двумерная индексация, сопоставление по вертикали;

способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - двумерная индексация, сопоставление по горизонтали.

Для одномерной индексации сопоставление записывается в виде способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 где в случае сопоставления по вертикали в качестве способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 используется результат применения формулы (3), а по горизонтали - формулы (4).

Используя статистическую связь сигналов соседних элементов ФПУ, определяются величины А i,i+1 - отношение чувствительностей i-го элемента к чувствительности соседнего (i+1)-го элемента и Вi,i+1 - относительное смещение соседних элементов для всех пар соседних элементов матрицы. Микросканирование и правила (3) и (4) изменения значений выборок обеспечивают точное сопоставление по потокам сигналов соседних элементов матрицы. Тем самым достигается точность определения отношений чувствительности и относительных смещений соседних элементов.

Отличие заявляемого способа от прототипа состоит в том, что на этапе определения относительных характеристик соседних элементов по выборкам Si(t) и Si+1(t), iспособ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 N, N - множество элементов устройства, t - параметр времени, когда определяют отношения чувствительностей и относительные смещения соседних элементов из линейной регрессии выборки отсчетов сигналов Si(t), t=1, 2, ..., T по выборке Si+1(t), t=1, 2, ..., T и линейной регрессии отсчетов Si+1(t) по Si (t), для соседних в матрице элементов по вертикали в качестве Si(t) берут измененные отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , которые получают по формуле способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и в качестве Si+1(t) берут способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , а для соседних в матрице элементов по горизонтали в качестве Si(t) берут отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , которые получают по формуле способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , и в качестве Si+1(t) берут способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , где величины способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 - отсчеты ФПУ с микросканированием со сдвигом изображения сцены на полэлемента матрицы вверх - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 и на полэлемента вправо - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 , относительно некоторого положения изображения - отсчеты способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 .

Изменение выборок обеспечивает равенство потоков соседних элементов в среднем - равенство их средних отклонений и равенство средних значений потоков и соответственно приближение к нулю дисперсии полуразности этих потоков, тем самым погрешность определения отношений чувствительностей соседних элементов будет зависеть только от отношения «шум элементов/поток элементов» - способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств   с микросканированием, патент № 2349053 . Практические величины этого отношения составляют порядка 1/625 и меньше, что соответствует ошибке метода около 1%. Погрешность определения Вi,i+1 стремится к нулю из-за равенства средних значений потоков.

На фиг.4 приведена схема устройства, реализующего предлагаемый способ.

На схеме обозначены:

1 - сигнал сцены;

2 - микросканер;

3 - матричное фотоприемное устройство;

4 - аналого-цифровой преобразователь сигналов;

5 - определитель корректирующих коэффициентов;

6 - корректор сигналов сцены;

7 - скорректированный сигнал;

8 - оптический элемент.

Микросканер обеспечивает сдвиги сигнала сцены на полпиксела относительно матрицы по четырехпозиционной траектории [2].

Определитель корректирующих коэффициентов определяет отношения чувствительностей и относительные смещения соседних элементов матрицы, по которым затем формируются корректирующие коэффициенты.

Корректор сигналов сцены с помощью корректирующих коэффициентов формирует скорректированные сигналы.

Источники

1. Статья в журнале: В.И. Соловьев, И.Ю. Анисимов. «Оценка качества выравнивания каналов тепловизионных приемников при использовании метода микросканирования». Оптический журнал, том 72, №6, 2005.

2. Статья в журнале: В.В.Тарасов, Ю.Г.Якушенков. «Некоторые пути совершенствования тепловизионных систем». Специальная техника, №2, 2004.

3. RU 2298884 C2, кл. H04N 5/33. Способ коррекции неоднородности матричных фотоприемных устройств.

Класс H04N5/33 преобразование инфракрасного излучения

устройство формирования изображения -  патент 2515948 (20.05.2014)
устройство для детектирования электромагнитного излучения, содержащее резистивный болометр формирования изображения, система, содержащая матрицу из таких устройств, и способ считывания болометра формирования изображения такой системы -  патент 2486689 (27.06.2013)
тепловизор на основе "смотрящей" матрицы формата 256х256 -  патент 2454022 (20.06.2012)
способ компенсации неоднородности сигнала фоточувствительных элементов многоэлементного фотоприемника -  патент 2449491 (27.04.2012)
способ обработки инфракрасного изображения, система захвата инфракрасного изображения и машиночитаемый носитель -  патент 2437153 (20.12.2011)
способ тепловизионного распознавания формы объектов -  патент 2431936 (20.10.2011)
тепловизионный канал -  патент 2425463 (27.07.2011)
способ дистанционного измерения температурного поля -  патент 2424496 (20.07.2011)
способ электронной обработки сигналов фотоприемника при формировании изображения и устройство для его осуществления -  патент 2423016 (27.06.2011)
способ коррекции неоднородности сканирующих многоэлементных фотоприемных устройств по сигналам сцены -  патент 2411684 (10.02.2011)
Наверх