способ определения глубины каверны на оптической поверхности внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата

Классы МПК:G01N21/88 выявление дефектов, трещин или загрязнений
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Открытое акционерное общество "Ракетно-космическая корпорация "Энергия" имени С.П. Королева (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2007-08-02
публикация патента:

Способ определения глубины каверны на оптической поверхности внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата включает стереосъемку каверны, измерение расстояния от центра каждого снимка стереопары до одной и той же точки изображения каверны. А также измерение расстояния между оптическими осями объектива для первого и второго снимка, измерение расстояния от главной плоскости объектива до поверхности внутреннего стекла иллюминатора и измерение давления воздушной среды в гермоотсеке и в межстекольном пространстве. При этом глубину каверны определяют по формуле:

способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254

Технический результат - достоверное определение глубины каверны (дефекта) внешнего стекла иллюминатора в условиях полета с заданной точностью. 2 ил. способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254

способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254 способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254

Формула изобретения

Способ определения глубины каверны на оптической поверхности внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, включающий: стереосъемку каверны, измерение расстояния от центра каждого снимка стереопары до одной и той же точки изображения каверны, измерение расстояния между оптическими осями объектива для первого и второго снимка, измерение расстояния от главной плоскости объектива до поверхности внутреннего стекла иллюминатора, измерение давления воздушной среды в гермоотсеке и в межстекольном пространстве, при этом глубину каверны определяют по формуле:

способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254

где способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254 - глубина каверны,

x1 - расстояние от изображения измеряемой точки повреждения (каверны) на первом снимке относительно центра снимка,

х2 - расстояние от изображения измеряемой точки повреждения (каверны) на втором снимке относительно центра снимка,

В - расстояние между оптическими осями объектива для первого и второго снимка,

h0 - расстояние от главной плоскости объектива до поверхности внутреннего стекла иллюминатора,

Р ГО - давление в гермоотсеке,

PB12 - давление в межстекольном пространстве,

f - фокусное расстояние объектива,

hCT1 - толщина первого стекла иллюминатора,

hCT2 - толщина второго стекла иллюминатора,

hB12 - толщина межстекольного пространства иллюминатора,

nKB - показатель преломления кварцевого стекла,

k - коэффициент пропорциональности в зависимости между показателем преломления и давлением воздушной среды:

способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254 ,

где nВ - показатель преломления воздушной среды в ГО или в межстекольном пространстве,

Р - давление воздушной среды в ГО или в межстекольном пространстве.

Описание изобретения к патенту

В процессе полета космический аппарат (КА) подвергается воздействию окружающей среды: ионизирующих излучений, частиц, а также метеоритов. Большую опасность представляют даже микрометеориты, соударяющиеся со стеклами иллюминаторов КА, вследствие огромной (~8 км/с) скорости соударения, что приводит к образованию каверен на внешнем стекле иллюминатора. В качестве примера на фиг.1 приведено фото каверны на внешнем стекле иллюминатора МКС. Образовавшиеся каверны снижают прочность иллюминатора, а в критических случаях могут привести к потере его герметичности, т.е. к аварийной ситуации.

До настоящего времени непосредственно измерить величину каверны не представлялось возможным на КА в условиях полета и такие измерения не проводились. По одиночному фото невозможно достоверно определить глубину каверны.

Прототипа данного способа не обнаружено.

Задачей изобретения является достоверное определение глубины каверны (дефекта) внешнего стекла иллюминатора в условиях полета с заданной точностью.

Задача решается с помощью описываемого ниже способа.

В предлагаемом способе определения глубины каверны на оптической поверхности иллюминатора КА производят следующие действия (см. фиг.2): измеряют расстояние от центра каждого снимка стереопары до одной и той же точки изображения каверны (x 1 и х2), измеряют расстояние между оптическими осями объективов 1 и 2 для первого и второго снимков стереопары, измеряют расстояние от главной плоскости 4 объективов 1 и 2 до поверхности внутреннего стекла 5 иллюминатора, измеряют давление воздушной среды в гермоотсеке (ГО) и в межстекольном пространстве иллюминатора, а глубину каверны определяют по следующей формуле:

способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254

где

способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254 - глубина каверны,

х1- расстояние от изображения измеряемой точки повреждения (каверны) на первом снимке относительно центра снимка,

х2 - расстояние от изображения измеряемой точки повреждения (каверны) на втором снимке относительно центра снимка,

В - расстояние между оптическими осями объектива для первого и второго снимка,

h0 - расстояние от главной плоскости объектива до поверхности внутреннего стекла иллюминатора,

PГО - давление в гермоотсеке,

РВ12 - давление в межстекольном пространстве,

f - фокусное расстояние объектива,

hСТ1 - толщина первого стекла иллюминатора,

hСТ2 - толщина второго стекла иллюминатора,

hВ12 - толщина межстекольного пространства иллюминатора,

nКВ - показатель преломления кварцевого стекла,

k - коэффициент пропорциональности в зависимости между показателем преломления и давлением воздушной среды:

способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254

где nB - показатель преломления воздушной среды в ГО или в межстекольном пространстве,

Р - давление воздушной среды в ГО или в межстекольном пространстве. Зависимость между показателем преломления и давлением показана в книге К.У.Ален Астрофизические величины. Издательство иностранной литературы, 1960, §53. Атмосферная рефракция и путь луча в воздухе.

Величины х1, x2 , В, h0, PГО, РВ12 - измеряемые. В, h0, f - известные величины, hСТ1,

hСТ2, hВ12 - конструктивные параметры иллюминатора.

Фотоснимок каверны, приведенный на фиг.1, был сделан на российском сегменте международной космической станции (PC MKC) при фотосъемке иллюминатора № 7 в 2002 г. На снимке на внешнем стекле иллюминатора на фоне оправы иллюминатора можно различить кратер со сколами. Диаметр кратера ~ 1,5 мм. Поскольку был сделан одиночный снимок, глубина кратера не была определена.

На фиг.2 приведена схема стереосъемки каверны на внешнем стекле 6 иллюминатора. Показано два положения 1 и 2 объектива, при которых выполняется съемка двух кадров и ход двух лучей, участвующих в построении изображения точки вершины каверны 7 в фокальной плоскости объектива на обоих снимках (точки на расстояниях х1 и х 2 от оси объектива на одном и на другом снимке соответственно). На границе перехода из одной среды в другую (из стекла в воздушную среду и из воздушной среды в стекло) луч изменяет направление в соответствии с законом преломления:

способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254

где i1 - угол между направлением луча в первой среде и нормалью к границе раздела двух сред,

i2 - угол направлением луча во второй среде и нормалью к границе раздела двух сред,

n1 - показатель преломления первой среды,

n2 - показатель преломления второй среды.

Поскольку показатель преломления стекла иллюминатора больше показателя преломления воздушной среды: nкв>nвГО и nкв>nв12, углы наклона лучей в воздушной среде больше углов наклона лучей в стекле, что показано на фиг.2, в частности i10>i11.

В результате проведения стереосъемки измерения расстояний между оптическими осями объектива при выполнении первого и второго кадра стереопары, измерения расстояния от оптической поверхности внутреннего стекла илллюминатора и главной плоскостью объектива, измерения давления в ГО и межстекольном пространстве и, наконец, вычисления по приведенной выше формуле получается искомая величина способ определения глубины каверны на оптической поверхности   внешнего стекла иллюминатора пилотируемого космического аппарата, патент № 2359254 , на основании которой специалисты по прочности дают заключение о надежности иллюминатора.

Класс G01N21/88 выявление дефектов, трещин или загрязнений

способ диагностики дефектов на металлических поверхностях -  патент 2522709 (20.07.2014)
способ контроля внешнего композиционного армирования строительных конструкций -  патент 2519843 (20.06.2014)
способ определения плотности дефектов поверхности оптической детали -  патент 2515119 (10.05.2014)
способ определения места повреждения оптического волокна -  патент 2503939 (10.01.2014)
способ дистанционного определения характеристик среды открытого водоема -  патент 2503041 (27.12.2013)
способ контроля качества очистки кристаллов алмазов -  патент 2498276 (10.11.2013)
способ оценки эффективности очистки природных алмазов -  патент 2495405 (10.10.2013)
способ неразрушающего контроля деталей из полимерных композиционных материалов -  патент 2488772 (27.07.2013)
способ выявления структурных дефектов в кремнии -  патент 2486630 (27.06.2013)
способ распознавания поверхностных признаков металлургических изделий, в частности заготовок, полученных непрерывной разливкой, и прокатных изделий, а также устройство для осуществления способа -  патент 2480738 (27.04.2013)
Наверх