способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном вч поле и устройство для его осуществления
Классы МПК: | H01J49/22 электростатическое отклонение |
Автор(ы): | Мамонтов Евгений Васильевич (RU), Гуров Виктор Сергеевич (RU), Трубицын Андрей Афанасьевич (RU), Дягилев Александр Александрович (RU) |
Патентообладатель(и): | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Рязанский государственный радиотехнический университет (RU) |
Приоритеты: |
подача заявки:
2008-06-10 публикация патента:
10.09.2009 |
Изобретение относится к области масс-селективного анализа заряженных частиц в двумерных линейных ВЧ полях и может быть использовано для улучшения аналитических, эксплуатационных и потребительских свойств масс-спектрометров времяпролетного типа. Способ масс-селективного анализа состоит в формировании двумерного линейного периодического по оси Х ВЧ поля и осуществления в нем времяпролетного разделения ионов по удельному заряду. Периодическое поле состоит из элементарных двумерных линейных электрических ВЧ полей в областях у>0 и у<0, сдвинутых относительно друг друга по оси Х на величину х0. Анализируемые ионы вводятся в рабочий объем анализатора и совершают в плоскости XOY(n-2)/2 близких к периодическим с периодом 2х0 колебаний. Время дрейфа ионов в анализаторе оказывается пропорциональным массе заряженных частиц и числу (n-2) элементарных ВЧ полей. Способ и устройство масс-селективного разделения заряженных частиц в периодических двумерных линейных ВЧ полях увеличивают время движения ионов в анализаторе, обладают свойством пространственно-временной фокусировки ионов с различными начальными координатами по осям Х и Z, энергиям и углам влета, что позволяет улучшить аналитические характеристики радиочастотных времяпролетных масс-спектрометров и усовершенствовать их конструкцию. 2 н.п. ф-лы, 1 ил.
Формула изобретения
1. Способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном ВЧ поле, отличающийся тем, что с помощью системы из двух наборов по n/2 в положительной у>0 и отрицательной у 0 полусферах граничных поверхностей x=(i-1)x0 , где i=1, 3 (n-1) при у 0 и i=2, 4 n при у 0, с размерами Ly>>x0 и L z>4x0 по осям Y и Z, с противофазными дискретно-линейными по оси Y распределениями ВЧ потенциала на них, и одной заземленной поверхности у=0, формируются (n-2) периодических областей с двумерными линейными ВЧ полями и на ионы, образованные с начальными координатами хН х0/2, yH=0, |zH|<x 0/2 и начальными скоростями по осям Х и Y, x 0, y>0 воздействуют линейным по координатам х и у периодическим с периодом 2х0 по оси Х ВЧ полем, при этом ионы за время tA, пропорциональное их массе m и числу периодов (n-2)/2, совершают на плоскости XOY (n-2)/2 циклов близких к гармоническим с периодом 2х0 колебаний с конечными координатами х(tA)=хH+(n-2)х 0 и у(tA)=0.
2. Устройство для масс-селективного анализа ионов по времени пролета, содержащее электродную систему для формирования двумерного линейного ВЧ поля, отличающееся тем, что в качестве электродной системы используют n ограниченных плоскостью у=0 дискретных по оси Y с шагом d электродов с размерами Ly и Lz по осям Y и Z, расположенных в полуплоскостях x=(i-1)x0, у 0 при нечетных i и у 0 при четных i, выполненных в виде равномерно распределенных по оси Y с шагом d плоских металлических пластин, и заземленного электрода с рабочей поверхностью в плоскости у=0, причем в заземленном электроде имеются щели с координатами центров x=x0 (1+2i)/2, шириной х<<х0, длиной z<x0/2 для ввода-вывода и перевода ионов из одной области периодического поля в другую.
Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к области масс-селективного анализа заряженных частиц в двумерных линейных ВЧ полях и может быть использовано для улучшения аналитических, эксплуатационных и потребительских свойств масс-спектрометров времяпролетного типа. Времяпролетное разделение ионов по удельному заряду может осуществляться в линейных ВЧ полях, создаваемых плоскими электродами с дискретным линейным распределением ВЧ потенциала на них [1, 2]. Разрешающая способность времяпролетных масс-спектрометров возрастает при увеличении времени дрейфа заряженных частиц в рабочем пространстве анализаторов, которое ограничивается их линейными размерами L. Техническая задача предлагаемого изобретения состоит в усовершенствовании способа масс-анализа заряженных частиц и конструкций анализаторов, использующих масс-селективное разделение ионов по времени пролета в линейных ВЧ полях.
Предлагаемый способ масс-селективного анализа состоит в формировании периодического с периодом 2х0 по оси Х двумерного линейного ВЧ поля и осуществления в нем времяпролетного разделения ионов по удельному заряду. Периодическое поле (Фиг.1) состоит из (n-2) элементарных двумерных линейных электрических ВЧ полей с распределением потенциала вида
где i=1, 2 (n-2) - порядковый номер элементарных полей, - геометрический параметр, - потенциал на электродах анализатора. Элементарные поля в областях y>0 и y<0 сдвинуты относительно друг друга по оси Х на величину x0.
Формирование элементарных полей с распределением потенциала (1) осуществляется с помощью системы из n плоских с размерами y0 и 4х0 по осям У и Z электродов с линейным дискретным распределением потенциала по координате у на них [2] (чертеж). Соседние электроды в каждой полусфере y 0 и y 0 расположены на расстоянии 2х0 друг от друга и к ним приложены противофазные ВЧ потенциалы и - . Системы электродов в положительной и отрицательной областях координаты у смещены по оси X относительно друг друга на величину x0.
Анализируемые ионы с начальными координатами x0/4<xН<3х0 /4, уН 0 и начальными скоростями x 0, y>0 в течении короткого интервала времени tИ импульсным пакетом через щель для ввода в заземленном электроде вводятся в рабочий объем анализатора. В каждом i-м элементарном поле анализатора траектории движения ионов по координатам х и у описываются периодическими с периодом Т= / функциями
где е, m - заряд и масса ионов, V и - амплитуда и частота ВЧ питающего напряжения. В пространстве элементарного поля заряженные частицы по оси Y совершают возвратные колебания с начальной и конечной координатой y=0, а по оси Х их координата возрастает на величину 2х0. При этом в координатах х, y ионы совершают близкие к периодическим с периодом 2х0 колебания. За время tA=(n-2)T координаты заряженных частиц по оси Х изменяются от начальной хН до конечной xK=х0(n-2)+хH и ионы выводятся из анализатора. Полное время движения ионов в анализаторе с периодическим полем составляет
Таким образом время дрейфа заряженных частиц в пространстве анализатора с периодическими двумерными линейными ВЧ полями по сравнению с анализатором с элементарным полем увеличивается в (n-2) раза. Периодическое линейное ВЧ поле для заряженных частиц можно рассматривать как замедляющую систему, которая увеличивает время их пребывания в рабочем пространстве анализатора и тем самим повышает разрешающую способность масс-спектрометра.
При углах влета ионов | |<0.5 arctg(x0/y0) и числе периодов поля n/2<5 периодическое линейное поле сохраняет свойство пространственно-временной фокусировки ионов с различными энергиями влета WB и начальными координатами xH присущее элементарному двумерному линейному полю.
Предлагаемый способ масс-селективного разделения заряженных частиц в периодических двумерных линейных ВЧ полях и устройство для его осуществления увеличивают время движения ионов в анализаторе, обладают свойством пространственно-временной фокусировки ионов с различными начальными координатами по осям Х и Z, энергиям и углам влета, что позволяет улучшить аналитические характеристики радиочастотных времяпролетных масс-спектрометров. Технологичная конструкция электродной системы предлагаемого масс-анализатора и простой способ его ВЧ питания улучшает эксплуатационные и потребительские качества приборов подобного типа.
На чертеже распределение потенциала во времяпролетном масс-анализаторе с периодическим двумерным линейным ВЧ полем | |=100 В и траектории движения заряженных частиц в плоскости XOY.
Литература
1. Гуров B.C., Мамонтов Е.В., Дягилев А.А. Электродные системы с дискретным линейным распределением ВЧ потенциала для масс-анализаторов заряженных частиц. // Масс-спектрометрия, 2007, том 4, № 2. С.139-142.
2. Мамонтов Е.В., Филиппов И.В. Способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета и устройство для его осуществления. // Решение о выдаче патента на изобретение по заявке № 2006115270/28, 03.05.2006.
Класс H01J49/22 электростатическое отклонение