устройство для определения строения молекулы электронографическим методом и способ его эксплуатации

Формула изобретения

1. Устройство для определения строения молекулы электронографическим методом, формирующее область дифракции, включающее испаритель с камерой для исследуемого вещества со щелью для выхода пара с возможностью формирования пучка электронов, отличающееся тем, что камера и щель выполнены кольцевыми, при этом испаритель установлен с возможностью прохождения электронного пучка по центру кольцевой щели перпендикулярно его плоскости.

2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что оно выполнено с возможностью формирования электронного пучка в виде конуса.

3. Способ эксплуатации устройства для определения строения молекул, включающий нагревание вещества, отличающийся тем, что нагревание вещества производят до температуры, обеспечивающей превышение длины свободного пути молекул по сравнению с размерами камеры испарителя.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области физических методов определения строения свободных молекул, основанных на геометрической теории дифракции монохроматического пучка быстрых электронов на "точечном" объеме молекул исследуемого вещества, а также может быть использовано для определения строения короткоживущих радикалов, кластеров и исследования молекулярных и ионных пучков.

Электронограф, по сути, является устройством для измерения меры длины в области 1Å, причем, среднее значение межатомных расстояний вычисляется с точностью 0,0001Å. Точность электронографа зависит от качества измерения положения центра области дифракции, измерения линейных размеров геометрии движения рассеянных электронов и измерения их интенсивности по радиальному распределению.

С другой стороны, параметры строения молекулы напрямую зависят от состояния вещества, при котором происходит испарение. В настоящее время электронографический метод позволяет определять строение молекул при температурах пара, которые соответствуют давлениям от 0,5 мм рт.ст. и выше, что существенно ограничивает область применения метода.

Электронографический эксперимент определения строения молекулы вещества заключается в следующем.

Осветительная система электронографа формирует тонкий электронный пучок, ток которого составляет 0,05-1 мкА. Диаметр электронного пучка в области рассеяния равен диаметру сопла испарителя. В дифракционной камере электронографа электронный пучок претерпевает рассеяние на молекулах струи вещества, истекающей из сопла испарителя диаметром 0,2-0,5 мм. Температура испарения соответствует давлению пара над веществом от 0,5 до 5 мм рт.ст., что приводит к резкой делокализации струи пара на выходе из сопла в разреженное (до 1·10^-6 мм рт.ст.) пространство дифракционной камеры. В результате концентрация молекул в рассеивающем объеме практически не возрастает, а увеличивается высота объема рассеивания, причем, часть молекул в струе, находящихся слева и справа от электронного пучка, находятся за пределами области дифракции. Время регистрации интенсивности на максимальных углах рассеяния около 1 минуты. Указанные условия эксперимента позволяют достигать углы рассеяния до 35S, Å^-1:

S=[4· / ]·sin /2

где - длина волны электронов;

- угол рассеяния.

Чтобы получить такие же углы рассеяния при температурах, соответствующих более низкому давлению пара над веществом, потребуется увеличить ток электронного пучка и экспозицию, однако при этом все большую долю в дифракционной картине начинает составлять посторонний приборный фон от делокализованной части струи пара. Поэтому не удается получать электронограммы при температурах, соответствующих давлению в испарителе ниже 0,5 мм рт.ст. Более подробное описание деталей электронографической аппаратуры и техники получения электронограмм содержится в монографиях и журнальных публикациях:

Теоретические основы газовой электронографии (Коллектив авторов) // 1974. Изд. МГУ. М.

L.S.Bartell // Physical Methode in Chemistry. 1972. № 1. Part IIID, Ed, by Y.Murata, K.Kuchitsu, M.Kimure, // Japan. J.Appl. Phys. 1970. № 9, P.491.

Ю.М.Кушнир, Н.В.Алексеев. Н.П.Левкин // ПТЭ. 1967. № 1.

А.А.Иванов, В.П.Спиридонов, А.В.Демидов, Е.З.Засорин // ПТЭ. 1974. № 2. С.270.

П.А.Акишин, М.И.Виноградов и др. // ПТЭ. 1958. № 2. С.70.

O.Bastiansen, O.Hassel, E.Risberger // Acta Chem. Scand. 1955. № 9. P.232.

А.А.Иванов, Е.З.Засорин // ПТЭ. 1980. № 6. С.170.

Необходимость испарять вещества при температурах, соответствующих давлениям пара до нескольких мм рт.ст., приводит к следующим недостаткам:

- отсутствует возможность исследования строения огромного количества соединений, поскольку многие из них при температурах, требуемых для электронографического исследования, становятся термически неустойчивыми;

- состав пара при электронографическом исследовании несопоставим с данными, полученными масс-спектральным методом при более низких давлениях;

- нарушаются условия термодинамического равновесия в источнике при испарении исследуемого вещества из-за быстрого расхода пара вещества, вытекающего через сопло в дифракционную камеру электронографа;

- увеличиваются погрешности определения структурных параметров вследствие того, что с повышением температуры возрастает заселенность возбуждаемых колебательных и вращательных уровней, увеличиваются амплитуды колебаний атомов в исследуемых молекулах и, следовательно, в регистрируемой дифракционной картине уменьшается информация о некоторых межядерных расстояниях, амплитуды колебаний для которых становятся велики;

- при больших давлениях в испарителе, на выходе из сопла, увеличивается высота рассеивающего объема, что приводит к большей неопределенности положения центра рассеивания и размыванию дифракционной картины;

- режим испарения не соответствует условиям состояния идеального газа, что приводит к неправомерности использования уравнения состояния идеального газа;

- молекулы вещества, рассеянные в сторону регистрирующего устройства, конденсируются на его поверхности, выводя его из строя;

- не представляется возможным исследовать кластеры, короткоживущие радикалы, молекулярные и ионные пучки малой интенсивности;

- не представляется возможным определять строение вещества в условиях, необходимых для производственных процессов.

Предложено устройство электронографа (S.H.Bauer, K.Kimyra, // 1961. J.Phys. Soc. Japan, № 17, Supplement В 11, P.300) с целью определения структуры молекул при низком давлении пара. Осветительной системой электронографа формируется область дифракции с помощью плоского пучка электронов, направленного перпендикулярно вдоль плоской струи молекул, выходящих из щелевого сопла испарителя. Затем с помощью магнитных линз дифракционная картина фокусируется на регистрирующем устройстве.

Методика, предложенная Бауэром и Кимурой, не устраняет один из важнейших приборных параметров, снижающих точность получаемых структурных данных, - расстояние от центра дифракции до регистрируемого устройства, к тому же давление пара над веществом (температура вещества) остается достаточно высокими. Увеличивается вероятность многократного рассеяния, поскольку электроны взаимодействуют с молекулами исследуемого вещества на всем пути следования сквозь плоскую струю пара (более 10 мм с учетом некоторого естественного размывания струи в вакууме). Регистрируемая дифракционная картина содержит дополнительные погрешности, обусловленные аберрацией, неточности изготовления, установки и калибровки проекционных линз. Поэтому описанный выше способ определения структуры молекул при низких давлениях пара не нашел практического применения в электронографических исследованиях.

Целью настоящего изобретения является устранение всех вышеуказанных недостатков.

Поставленная задача решается настоящим изобретением. В устройстве для определения строения молекулы электронографическим методом, формирующем область дифракции, включающем испаритель с камерой для исследуемого вещества со щелью для выхода пара с возможностью формирования ленточного пучка электронов, согласно изобретению камера и щель выполнены кольцевыми, при этом испаритель установлен с возможностью прохождения электронного пучка по центру кольцевой щели перпендикулярно его плоскости.

Предпочтительно устройство выполнено с возможностью формирования электронного пучка в виде конуса.

Поставленная цель достигается также другим изобретением - способом эксплуатации устройства формирования области дифракции для определения строения молекулы.

В устройстве для определения строения молекулы, формирующем область дифракции, включающем нагревание вещества, согласно изобретению нагревание вещества производят до температуры, обеспечивающей превышение длины свободного пути молекул по сравнению с размерами камеры.

Для этого область дифракции располагается внутри камеры испарителя в центре плоскопараллельной кольцевой щели, где концентрация молекул в 4 раза выше, чем на выходе из сопла испарителя, при тех же температурах испарения вещества. С целью устранения упругого столкновения молекул давление пара над веществом должно быть таким, что длина свободного пути молекул больше размеров камеры испарителя ( >d). В этих условиях испарения появляется возможность увеличить ток электронного пучка в десятки раз, придав пучку вид конуса, при этом в области дифракции плотность тока остается без изменения.

Предлагаемое изобретение иллюстрируется на фиг.1 и 2.

Устройство (фиг.1) состоит из верхней части, которая имеет канавку для нагревателя 1 и отверстие 2 для входа электронного пучка 3, и нижней части, в которой расположена кольцевая камера для исследуемого вещества 4, нижний нагреватель 1 и отверстие 5 для выхода рассеянных 6 и нерассеянных 7 электронов. В центральной части кольцевой щели испарителя находится область дифракции 8.

Устройство работает следующим образом. Температура испарителя и вещества устанавливается до значений, при которых длина свободного пути молекул не превышает размеры камеры испарителя. В этих условиях перемещение молекул обусловлено только тепловым движением, т.е. молекулы двигаются вдоль щели навстречу друг другу без столкновений. Незначительное количество рассеянных молекул через отверстия в центре щели покидает камеру испарителя. Поток электронов, проходящий через центральные отверстия, пересекает щель с молекулами исследуемого вещества, образуя область дифракции. Уменьшение количества молекул в объеме дифракции необходимо компенсировать количеством электронов, чтобы получить необходимые углы рассеивания. Экспериментально установлено, что достаточно поддерживать заряд ~5·10^-4 Кл при давлении в дифракционной камере 1·10^-6 мм рт.ст.

Рассеянные на молекулах электроны в виде дифракционной картины попадают на регистрирующее устройство, а нерассеянный поток в электронную ловушку.

Отличительные особенности изобретения для определения строения молекул при температурах испарения вещества, соответствующих условию состояния идеального газа, и способа его эксплуатации:

- Технический результат, достигаемый изобретением, заключается в практически полном отсутствии отклонения траектории движения молекул исследуемого вещества от плоскости расположения щели.

- Технический результат в части, относящейся к устройству, достигается тем, что в известном способе определения строения молекул, включающем формирование области дифракции электронов за пределами испарителя на выходе из сопла, камера и щель выполнены кольцевыми, при этом испаритель установлен с возможностью прохождения электронного пучка по центру кольцевой щели перпендикулярно ее плоскости.

- Устройство выполнено с возможностью формования электронного пучка в виде конуса в отличие от ленточного пучка электронов.

- Кроме того, отсутствие делокализованной струи пара позволило увеличить ток электронного пучка более чем в 30 раз, причем плотность тока в объеме дифракции осталась без изменения.

- Отличие в эксплуатации устройства состоит в том, что нагрев вещества производят до температуры, обеспечивающей превышение длины свободного пути молекул по сравнению с размерами камеры. Давление пара над веществом отличается в 5000 раз от традиционной методики.

- Отличается тем, что концентрация молекул в объеме дифракции такая же, как в камере испарителя над веществом.

- Другое отличие состоит в том, что размеры и положение области рассеяния в приборе являются постоянной величиной.

Устройство для определения строения молекул и способ его эксплуатации реализованы на электронографе ЭГ-100А. В осветительную систему прибора установлена длиннофокусная электронная пушка и увеличена ограничительная диафрагма, что дало возможность повысить ток электронного пучка до 25 мкА и увеличить диаметр электронного пучка в области дифракции до 1,6 мм, при этом плотность тока осталась прежней. Была установлена более эффективная ловушка нерассеянного электронного пучка.

В качестве исследуемого вещества использовалась двухатомная молекула иода. Электронограммы получены при ускоряющем напряжении 60 кВ, с расстояния 200 мм, при температуре -30°С, что соответствует давлению пара над веществом 1·10^-3 мм рт.ст. Время экспозиции 12 с. Ток электронного пучка 22 мкА. Вакуум в дифракционной камере 1,2·10^-6 мм рт.ст. В качестве испарителя (фиг.2) использовалось устройство с двойной кольцевой щелью 1 (высота щели 0,5 мм) и промежуточным объемом 2 для удаления рассеянных молекул через отверстия 3 и последующей конденсацией на поверхности вымораживающей азотной ловушке 4. Длина свободного пути молекулы =25 мм, что меньше размеров камеры испарителя:

где N₁ - концентрация молекул в камере испарителя 4·10¹³ мол./см³ ;

- диаметр молекулы=5Å;

Т -абсолютная температура вещества и пара=243К (-30°С);

С - постоянная, зависящая от вещества 10:

N₁=P·V/k·T=[133,3·10 ^-3·1]/[1,38·10^-16·243]=4·10 ¹³ мол./см³,

где Р - давление в камере испарителя=1·10^-3 мм рт.ст.;

k - постоянная Больцмана=1,38·10^-16.

Концентрация молекул в области дифракции (N₁) определяется (на основании закона распределения скоростей) количеством молекул, ударяющихся на площадь в 1 см² стенки испарителя за 1 с:

Nq=N₁· /4=[4·10¹³·15400]/4=1,54·10 ¹⁷ мол.

где М - молекулярный вес=254

Объем V, занимаемый Nq молекулами за 1 с.

V=S· =15400 см³

Концентрация молекул в потоке

N₁=Nq/V=1,54·10¹⁷ /15400=1·10¹³ мол./см³

В случае с кольцевой щелью, когда имеется четыре стенки, количество молекул в объеме в 4 раза больше

Nq=N₁ · =4·10¹³ мол./см³

Объем дифракции, Vдиф.=1·10^-3 см³

Количество молекул в объеме дифракции Nдиф.=4·10 ¹⁰ мол.

Количество электронов, прошедших через объем дифракции, равен

Nэ=(I·t)/q=[22·10 ^-6·12]/1,6·10^-19=1,65·10 ¹⁵ электрона.

где I - ток электронного пучка, А;

t - время экспозиции, с.;

q - заряд одного электрона, Кл.

Количество электронов, прошедших через рассеивающий объем, 1,65·10¹⁵ .

Количество молекул в рассеивающем объеме составило 4·10¹⁰. В результате проведенного эксперимента установлено, что произведение количества электронов (Nэ=1,65·10 ¹⁵) на количество молекул (Nдиф.=4·10¹⁰ ) в области дифракции, равное 6,6·10²⁵, которое соответствует максимальным углам рассеивания S=28,Å ^-1.

В результате проведенного эксперимента получена зависимость Nэ·Nмол. (S, Å).