способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы по данным вертикального зондирования

Классы МПК:G01S13/95 радиолокационные или аналогичные системы, предназначенные для метеорологических целей
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ставропольский военный институт связи ракетных войск" Министерства обороны Российской Федерации (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2009-03-30
публикация патента:

Изобретение может быть использовано для радиозондирования ионосферы, определения критической частоты отражения, определения интенсивности ионосферных неоднородностей в условиях проявления диффузности. Достигаемый технический результат изобретения - определение глубины интерференционных замираний принимаемых сигналов в декаметровых каналах связи. Указанный результат достигается тем, что собирают данные вертикального зондирования ионосферы и на каждой из частот зондирования определяют действующие высоты отражения, сортируют полученные данные по частоте - каждой из частот зондирования ставятся в соответствие все те действующие высоты отражения, от которых отражалась волна, сортируют полученные данные по высоте - каждой из высот отражения ставятся в соответствие все те частоты, на которых происходило отражение от данной высоты, определяют среднее значение критической частоты отражения, соответствующей каждой из высот отражения, сравнивают средние значения частот отражения на соседних высотах отражения поочередно, начиная с первой, при этом, когда разница между двумя средними значениями частот отражения на соседних высотах будет меньше, чем половина шага перестройки, определяют среднее значение критической частоты, определяют действующую высоту отражения, соответствующую среднему значению критической частоты, вычисляют значение среднеквадратического отклонения критической частоты, определяют значение величины интенсивности неоднородностей ионосферы. 5 ил.

способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592

Формула изобретения

Способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы по данным вертикального зондирования, заключающийся в том, что вначале синтезатором передатчика формируют сетку частот с шагом перестройки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 fв, затем излучают сигнал вертикально вверх, отраженный через время способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 сигнал принимают и вычисляют значение действующей высоты отражающего слоя ионосферы, которое записывают в ячейку памяти высотного блока обработки данных, соответствующую частоте сигнала, затем все полученные значения сортируют и каждому из значений высот отражения ставят в соответствии все те значения частот, на которых происходило отражение на данной высоте, и записывают в ячейку памяти частотного блока обработки данных, соответствующую высоте отражения, после определяют средние значения частоты отражения, соответствующие каждой из высот, сравнивают средние значения частот отражения на соседних, по шагу квантования способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 hд, высотах отражения поочередно, начиная с первой, определяют среднее значение критической частоты, когда разница между двумя средними значениями частот отражения на соседних высотах будет меньше, чем половина шага перестройки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 fв, определяют ячейку частотного блока обработки данных, среднее значение частоты в которой будет равно среднему значению критической частоты, по данным, хранящимся в этой ячейке, определяют среднеквадратическое значение критической частоты, удваивают полученное значение и определяют величину интенсивности неоднородностей ионосферы как частное от деления удвоенного значения среднеквадратического отклонения критической частоты на среднее значение критической частоты.

Описание изобретения к патенту

Область техники, к которой относится изобретение

Изобретение относится к радиолокации, радиосвязи и радионавигации и может быть использовано для радиозондирования ионосферы, построения высотно-частотных характеристик, определения критической частоты отражения, определения интенсивности ионосферных неоднородностей в условиях проявления диффузности.

Уровень техники

Известен способ вертикального зондирования ионосферы [1]. Осуществляется вертикальное зондирование ионосферы специальными станциями, работающими в импульсном режиме, у которых излучение и прием радиоволн производятся с помощью диапазонной антенны зенитного излучения. Станция имеет передатчик, приемник и индикаторное устройство, работа которого синхронизирована.

Однако данный способ не позволяет по измеренным высотно-частотным характеристикам (ВЧХ) автоматически определять параметры ионосферы в условиях ее диффузности, которая проявляется в виде уширения (расплывчатости, размытости) ВЧХ [2].

Известно определение диффузности ионосферы как явления, связанного с интенсивным образованием неоднородностей различных масштабов в области F ионосферы, приводящего к рассеянию радиоволн и изменению формы зондирующих радиосигналов [3]. В настоящее время диффузность принято оценивать в баллах по продолжительности явления и степени искажения принимаемых сигналов [2]. Однако, судя по определению диффузности ионосферы, ее целесообразно оценивать первопричиной ее проявления (т.е. интенсивностью неоднородностей), а не последствиями (степенью ухудшения качества приема).

Известен метод определения интенсивности ионосферных неоднородностей по данным вертикального зондирования ионосферы [4], позволяющий количественно оценить величину интенсивности неоднородностей (способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ).

Раскрытие изобретения

Задачей изобретения является разработка способа, позволяющего на основе результатов вертикального зондирования ионосферы производить построение ВЧХ, определять критическую частоту отражения, величину интенсивности неоднородностей ионосферы способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 по уширению ВЧХ (т.е. зависимости hд=способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 (fB) действующей высоты отражения hд от частоты вертикально направленной волны (частоты вертикального зондирования) fв) в условиях диффузности.

Технический результат, который может быть получен с помощью предлагаемого изобретения, сводится к определению глубины интерференционных замираний принимаемых сигналов в декаметровых каналах связи, которая прямо пропорционально зависит от величины интенсивности неоднородностей способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ионосферы [5].

Для разработки способа проанализируем процесс формирования ВЧХ известной [1] станции вертикального зондирования ионосферы (СВЗИ) (Фиг.1) в условиях отсутствия (Фиг.2а) и наличия (Фиг.2б) диффузности ионосферы.

В состав СВЗИ входят: передатчик 1, приемник 2, индикатор 3, синхронизатор 4, антенный переключатель 5, антенна 6.

Формируемые синхронизатором 4 синхроимпульсы одновременно поступают на передатчик 1 и горизонтальные пластины индикатора 3. Передатчик 1 формирует радиоимпульс с частотой fв (в диапазоне от fв1 =1 МГц до fвN=30 МГц с шагом перестройки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 fв=1 кГц), который через антенный переключатель 5 поступает на антенну 6 вертикального (зенитного) излучения.

После отражения волны от ионосферы радиоимпульс с частотой fв1 через антенный переключатель 5 поступает на вход приемника 2 со временем задержки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 1=2hд1/с, зависящим от действующей частоты ионосферы hд1(fв1). Значение последней hд1=0,5cспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 1 измеряется в индикаторе 3 и подается на его вертикальные пластины [1]. Синхронизатор 4 координирует работу передатчика 1 и индикатора 3. В результате на экране индикатора 3 с длительным послесвечением образуется яркостная отметка (точка), соответствующая значению действующей высоте отражения hд1 волны с частотой fв1. Аналогично формируются радиоимпульсы с другими частотами fвi и яркостные отметки с соответствующими значениями действующих высот отражения hдi. В результате за множество (~102) циклов изменения fвi от fв1 до fвN на экране индикатора 3 вырисовывается ВЧХ вида Фиг.2а при отсутствии диффузности ионосферы. В условиях проявления диффузности ионосферы за множество циклов изменения fвi от fв1 до fвN на экране индикатора 3 будет вырисовываться уширенная ВЧХ вида Фиг.2б. При этом частоте fвi будет соответствовать не одно значение действующей высоты отражения hдi, как на Фиг.2а, а множество значений в интервале от hдimin до hдimax со средним значением способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Поэтому очевидно, что при наличии диффузности ионосферы от некоторой высоты отражения hдj будут отражаться волны с частотами в диапазоне от fвjmin fвjmax средним значением способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592

По ВЧХ вида Фиг.2а вручную приближенно находят критическую частоту отражающего слоя ионосферы как частоту вертикально отраженной волны fвk=fкp, для которой действующая высота стремится к бесконечности (hдk способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ), а истинная высота отражения соответствует высоте максимума ионизации слоя (hдkспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 hm).

Многие современные станции зондирования позволяют проводить статистическое усреднение результатов. Вид ВЧХ в условиях диффузности после усреднения будет выглядеть как штрихпунктирная линия на Фиг.2б (соответствующая ВЧХ на Фиг.2а в отсутствие диффузности). Однако проводимое усреднение приводит к потере информации, необходимой для определения величины интенсивности ионосферных неоднородностей.

Для определения величины интенсивности ионосферных неоднородностей (способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ) по ВЧХ предлагается способ, реализованный в несколько этапов.

На первом этапе происходит сбор данных вертикального зондирования ионосферы. На каждой из частот зондирования fвi определяются действующие высоты отражения по формуле hдi=0,5 сспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 i.

На втором этапе происходит сортировка полученных данных по частоте. Здесь каждой из частот зондирования fвi (1способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 30 МГц с шагом перестройки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 fв=1 кГц) ставятся в соответствие все те действующие высоты отражения hдi, от которых отражалась волна (например интервал значений действующих высот от hдimin до hдimax, как на Фиг.2б).

На третьем этапе происходит сортировка полученных данных по высоте. Здесь каждой из высот отражения hдj (обычно 90-2000 км с шагом способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ставятся в соответствие все те частоты fвj, на которых происходило отражение от данной высоты (например, интервал частот в диапазоне от fвj min до fвj max, как на Фиг.2б).

На четвертом этапе происходит определение среднего значения критической частоты отражения способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Сначала проводится статистическое усреднение результатов с целью определения средних значений частот отражения способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 соответствующих каждой из высот hдj. Усредненная ВЧХ (т.е. зависимость способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 действующей высоты отражения hд от среднего значения частоты вертикально направленной волны способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 получаемая при этом (Фиг.3), выглядит как штрихпунктирная линия на Фиг.2б. После этого происходит сравнение средних значений частот отражения на соседних (по шагу квантования способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 hд) высотах отражения способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поочередно, начиная с первой (т.е. способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и т.д.). Когда разница между двумя средними значениями частот отражения на соседних высотах (например, способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 будет меньше, чем половина шага перестройки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 , определяется среднее значение критической частоты как

способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592

На пятом этапе определяется действующая высота отражения, соответствующая среднему значению критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 т.е. hдnспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 hm.

На шестом этапе вычисляется значение среднеквадратического отклонения (СКО) критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Для этого производится статистическая обработка случайных значений критической частоты fкр j в интервале f кр j minспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 fкр j max, соответствующем высоте hm (Фиг.4). Вычисление СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 происходит по формуле способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592

где способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 - среднее значение критической частоты, определяемое в четвертом этапе.

На седьмом этапе происходит определение величины интенсивности неоднородностей ионосферы согласно известному [4] выражению

способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592

Разработанный выше 7-этапный алгоритм измерения интенсивности неоднородностей ионосферы по данным вертикального зондирования позволяет реализовать способ измерения интенсивности неоднородностей (способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ) на основе автоматической обработки ВЧХ и оценок ее статистических характеристик способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592

Для реализации предлагаемого способа за прототип взята известная (Фиг.1) СВЗИ [1].

В нее добавлены следующие блоки (Фиг.5): вычислительный блок 7, высотный блок 8 обработки данных, блок 9 перебора данных, частотный блок 10 обработки данных, усреднитель 11, блок 12 определения среднего значения критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 блок 13 выбора, блок 14 определения СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и блок 15 определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы.

Синтезатор передатчика 1 формирует сетку частот от 1 МГц до 30 МГц с шагом перестройки 1 кГц; сигнал с выхода синтезатора поступает на вход индикатора 3, а также усиливается передатчиком 1 и через антенный переключатель 5 подается на антенну 6 и излучается вертикально вверх. Отраженный сигнал возвращается к станции через время способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и через антенну 6 и антенный переключатель 5 поступает на вход приемника 2. С выхода приемника 2 сигнал поступает на вход вычислительного блока 7, в котором вычисляется значение высоты отражающего слоя ионосферы (действующей высоты) по формуле hд=0,5сспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 . Данными устройствами реализуется первый этап.

Вычисленное значение hд поступает на вход высотного блока 8 обработки данных, в котором записывается в ячейку памяти (ЯП) действующей высоты, соответствующей частоте сигнала способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 реализуя тем самым второй этап. Синхронная работа синтезатора передатчика 1, вычислительного блока 7 и высотного блока 8 обработки данных обеспечивается синхронизатором 4.

Данные с каждой из ячеек памяти высотного блока 8 обработки данных способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поступают на вход блока 9 перебора данных и на вход усреднителя 11 значений действующей высоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 отражения, с выхода которого сигнал, соответствующий способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 подается на индикатор 3.

Блок 9 перебора данных производит сортировку данных и каждому из значений высот отражения hдj (90-2000 км с шагом способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ставит в соответствие все те значения частот fвj , на которых происходило отражение на данной высоте. Далее данные поступают на вход частотного блока 10 обработки данных, где записываются в ячейку памяти, соответствующую частоте отражения (ЯП способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Этим реализуется третий этап.

На четвертом этапе данные с первых выходов каждой из ячеек памяти частотного блока 10 обработки данных способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поступают на вход блока 12 определения среднего значения критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 В данном блоке определяются средние значения частоты отражения способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 соответствующие каждой из высот способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 после чего происходит сравнение средних значений частот отражения на соседних (по шагу квантования способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 hд) высотах отражения способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поочередно, начиная с первой (т.е. способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и т.д.). Когда разница между двумя средними значениями частот отражения на соседних высотах (например, способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 будет меньше, чем половина шага перестройки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 определяется среднее значение критической частоты как способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592

Пятый этап заключается в определении действующей высоты отражения hдnспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 hm, соответствующей среднему значению критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Блок 12 определения среднего значения критической частоты подает данное значение способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 на первый вход блока 15 определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы и на вход блока 13 выбора. В последнем определяется номер ячейки частотного блока 10 обработки данных способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 в которой среднее значение частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 равно среднему значению критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 отражения от высоты hm. Блок 13 выбора формирует сигнал на выбор ячейки памяти ЯП способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 которая соответствует высоте hm максимума ионизации слоя. В данной ячейке содержится информация о частотах в интервале fкр j minспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 fкр j max, на которых происходило отражение от высоты hm. Далее сигнал на выбор ячейки памяти ЯП способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 подается на управляющий вход частотного блока 10 обработки данных.

Со второго выхода выбранной ячейки памяти способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 сигнал поступает на вход блока 14 определения СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Происходит вычисление СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 - шестой этап.

С выхода блока 14 определения СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 сигнал поступает на второй вход блока 15 определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы. В блоке 15 определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 происходит удвоение измеренного значения СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и деление удвоенного значения СКО критической частоты на среднее значение критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поступающее с блока 12 определения среднего значения критической частоты, реализуя седьмой этап.

Таким образом, в разработанном устройстве (Фиг.5) реализуются все семь этапов, составляющих предлагаемый способ, и на основе измеренных параметров ВЧХ способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 согласно известному выражению [4] определяется значение величины интенсивности неоднородностей способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ионосферы.

Краткое описание чертежей

На Фиг.1 представлена функциональная схема известной станции вертикального зондирования ионосферы; на Фиг.2 представлены высотно-частотные характеристики ионосферы в отсутствие (а) и наличии (б) диффузности; на Фиг.3 представлен порядок определения среднего значения критической частоты; на Фиг.4 представлены основные параметры ВЧХ, используемые для определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы; на Фиг.5 представлена функциональная схема станции вертикального зондирования ионосферы, реализующей предлагаемый способ.

Осуществление изобретения

Структурная схема устройства, реализующего предлагаемый способ, представлена на Фиг.1. Устройство состоит из передатчика 1, выход которого соединен с антенным переключателем 5; первый выход антенного переключателя 5 соединен с антенной 6, второй выход антенного переключателя 5 соединен со входом приемника 2, выход которого соединен со входом вычислительного блока 7; выход вычислительного блока соединен со входом высотного блока 8 обработки данных; первый выход высотного блока 8 обработки данных соединен со входом усреднителя 11, выход которого соединен со входом индикатора 3; синхронизатор 4 координирует работу передатчика 1, высотного блока 8 обработки данных и индикатора 3; второй выход высотного блока 8 обработки данных соединен со входом блока 9 перебора данных, выход которого соединен с первым входом частотного блока 10 обработки данных, первый выход которого соединен со входом блока 12 определения среднего значения критической частоты; выход блока 12 определения среднего значения критической частоты соединен со входом блока 13 выбора, выход которого соединен со вторым входом частотного блока 10 обработки данных; второй выход частотного блока 10 обработки данных соединен со входом блока 14 определения СКО критической частоты, выход которого соединен со входом блока 15 определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы.

Предлагаемый способ реализован следующим образом.

Синтезатор передатчика формирует сетку частот от 1 МГц до 30 МГц с шагом перестройки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 fв=1 кГц; сигнал с выхода синтезатора поступает на вход индикатора, а также усиливается передатчиком и через антенный переключатель подается на антенну и излучается вертикально вверх. Отраженный сигнал возвращается к станции через время способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и через антенну, и антенный переключатель поступает на вход приемника. С выхода приемника сигнал поступает на вход вычислительного блока, в котором вычисляется значение высоты отражающего слоя ионосферы (действующей высоты) по формуле hд=0,5 сспособ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 . Вычисленное значение поступает на вход высотного блока обработки данных, в котором записывается в ячейку памяти, соответствующую частоте сигнала способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Синхронная работа синтезатора передатчика, вычислительного блока и высотного блока обработки данных обеспечивается синхронизатором.

Данные с каждой из ячеек памяти высотного блока обработки данных (ЯП способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поступают на вход блока перебора данных и на вход усреднителя, с выхода которого сигнал подается на индикатор.

Блок перебора данных производит сортировку данных и каждому из значений высот отражения hдj (90-2000 км с шагом способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ставит в соответствие все те значения частот fвj , на которых происходило отражение на данной высоте. Далее данные поступают на вход частотного блока 10 обработки данных, где записываются в ячейку памяти, соответствующую частоте отражения способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Данные с первых выходов каждой из ячеек памяти частотного блока обработки данных способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поступают на вход блока определения среднего значения критической частоты. В данном блоке определяются средние значения частоты отражения способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 соответствующие каждой из высот способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 после чего происходит сравнение средних значений частот отражения на соседних (по шагу квантования способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 hд) высотах отражения способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поочередно, начиная с первой (т.е. способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и т.д.). Когда разница между двумя средними значениями частот отражения на соседних высотах (например, способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 будет меньше, чем половина шага перестройки способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 определяется среднее значение критической частоты как способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 Блок определения среднего значения критической частоты подает данное значение способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 на первый вход блока определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы и на вход блока выбора. В последнем определяется номер ячейки частотного блока обработки данных способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 в которой среднее значение частоты равно среднему значению критической частоты (ЯП fкр(hm)). Блок выбора формирует сигнал на выбор соответствующей ячейки памяти ЯП fкр(hm), которая соответствует высоте максимума ионизации слоя hm. Далее сигнал на выбор ячейки памяти ЯП fкр(hm) подается на управляющий вход частотного блока обработки данных. Со второго выхода выбранной ячейки памяти ЯП fкр(hm) сигнал поступает на вход блока определения СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 . Происходит вычисление СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592

С выхода блока определения СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 сигнал поступает на второй вход блока определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы. В блоке определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 происходит удвоение измеренного значения СКО критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и деление удвоенного значения СКО критической частоты на среднее значение критической частоты способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 поступающее с блока определения среднего значения критической частоты.

Таким образом, в разработанном устройстве на основе измеренных параметров ВЧХ способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 и способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 согласно известному выражению [4] определяется значение величины интенсивности неоднородностей способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 ионосферы.

Предлагаемое изобретение позволяет на основе результатов вертикального зондирования ионосферы производить построение высотно-частотных характеристик, определять среднее значение критической частоты отражения и величину интенсивности неоднородностей ионосферы способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 в зависимости от уширения высотно-частотной характеристики hд=способ определения величины интенсивности неоднородностей ионосферы   по данным вертикального зондирования, патент № 2403592 (fB) в условиях диффузности.

Источники информации

1. Ионосферно-волновая служба связи/ Под ред. М.М.Крылова. - М.: Военное издательство, 1989. - 152 с.

2. Серков В.П., Слюсарев П.В. Теория электромагнитного поля и распространение радиоволн. Часть 2. Распространение радиоволн. - Л.: ВАС, 1973. - 255 с.

3. Толковый словарь по радиофизике. Основные термины. - М.: Рус. яз., 1993. - 357 с.

4. Пашинцев В.П., Омельчук А.В., Коваль С.А., Галушко Ю.И. Метод определения интенсивности неоднородностей по данным ионосферного зондирования // Двойные технологии, 2009, т.46, № 2. - С.38-42.

5. Пашинцев В.П., Колосов Л.В., Тишкин С.А., Антонов В.В. Применение теории фазового экрана для разработки модели односкачкового декаметрового канала связи // Радиотехника и электроника, 1996, т.41, № 1. - С.21-26.

Класс G01S13/95 радиолокационные или аналогичные системы, предназначенные для метеорологических целей

способ определения пространственного распределения ионосферных неоднородностей -  патент 2529355 (27.09.2014)
система радиозондирования атмосферы с пакетной передачей метеорологической информации -  патент 2529177 (27.09.2014)
устройство пеленгации исскуственных ионосферных образований -  патент 2523912 (27.07.2014)
устройство для измерения параметров морских волн -  патент 2523102 (20.07.2014)
устройство определения дальности до ионосферы -  патент 2510772 (10.04.2014)
способ раннего обнаружения атмосферных вихрей в облаках некогерентным радаром -  патент 2503030 (27.12.2013)
радиолокационный способ определения параметров крупномасштабного волнения водной поверхности -  патент 2501037 (10.12.2013)
способ радиолокационного измерения заряда частиц облаков и осадков -  патент 2491574 (27.08.2013)
переносной дистанционный измеритель параметров слоя нефти, разлитой на водной поверхности -  патент 2478915 (10.04.2013)
способ регулировки выходных параметров сверхрегенеративного приемопередатчика радиозонда -  патент 2470323 (20.12.2012)
Наверх