способ прогнозирования развития вторичной катаракты

Формула изобретения

Способ прогнозирования развития вторичной катаракты, заключающийся в проведении диагностического обследования и выявлении контрольных параметров, в сравнении с которыми прогнозируют риск возникновения вторичной катаракты, отличающийся тем, что в качестве диагностического обследования в раннем послеоперационном периоде проводят ультразвуковую биомикроскопию, а контрольным параметром, служащим критерием прогнозирования возникновения вторичной катаракты, служит выявление неполного прилегания задней поверхности интраокулярной линзы к задней капсуле хрусталика.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к медицине, а именно к офтальмологии, и может быть использовано для прогнозирования развития вторичной катаракты.

Известен способ прогнозирования развития катаракты (описание изобретения к патенту № 2021610 от 28.06.1991), заключающийся в проведении диагностического обследования и выявлении контрольных параметров, в сравнении с которыми прогнозируют риск возникновения вторичной катаракты.

Однако известный способ требует специфического серологического анализа сыворотки и слезной жидкости, что предполагает наличие специализированного лабораторного оборудования, иммунодиагностических препаратов и квалифицированных специалистов. Кроме того, это требует значительных дополнительных затрат времени и средств.

Предлагаемое изобретение решает задачу разработки нового способа прогнозирования развития вторичной катаракты. Получаемый при этом технический результат состоит в возможности прогнозирования в раннем послеоперационном периоде риска возникновения вторичной катаракты. Предлагаемый нами метод не требует специальных специфических серологических анализов. Раннее выявление риска возникновения вторичной катаракты позволит взять этих пациентов под наблюдение для своевременной разработки необходимой тактики дальнейшего лечения.

Указанный технический результат достигается тем, что в способе прогнозирования развития вторичной катаракты, заключающемся в проведении диагностического обследования и выявлении контрольных параметров, в сравнении с которыми прогнозируют риск возникновения вторичной катаракты, в качестве диагностического обследования в раннем послеоперационном периоде проводят ультразвуковую биомикроскопию, а контрольным параметром, служащим критерием прогнозирования возникновения вторичной катаракты, служит выявление неполного прилегания задней поверхности интраокулярной линзы к задней капсуле хрусталика.

Способ прогнозирования развития вторичной катаракты осуществляют следующим образом.

В раннем послеоперационном периоде после выполнения экстракции катаракты с имплантацией интраокулярной линзы пациенту проводят ультразвуковую биомикроскопию. При этом точно определяют наличие контакта задней поверхности интраокулярной линзы с задней капсулой хрусталика, который служит барьером для миграции эпителиальных клеток. При наличии контакта на снимках, полученных при ультразвуковой биомикроскопии, виден акустический сигнал от задней поверхности интраокулярной линзы в виде одной сплошной линии. При отсутствии контакта виден акустический сигнал от задней поверхности интраокулярной линзы и от задней капсулы хрусталика в виде двойной линии. При этом высока вероятность развития процесса миграции эпителиальных клеток по задней капсуле хрусталика. Прогнозируют возможность развития вторичной катаракты. Таких пациентов берут на контроль, вызывают на профилактические осмотры и в случае обнаружения вторичной катаракты своевременно оперируют.

Клинический пример применения предлагаемого способа

Пациент П., 1941 г.р., диагноз: OD - незрелая катаракта.

Проведена факоэмульсификация катаракты по стандартной методике. Имплантирована ИОЛ Hanita See Lens, Hanita Lenses. На 4 сутки после операции проведено диагностическое обследование, а именно ультразвуковая биомикроскопия. На снимке, полученном при ультразвуковой биомикроскопии, определен акустический сигнал от задней поверхности интраокулярной линзы и от задней капсулы хрусталика в виде двойной линии, что указывает на неполное прилегание задней поверхности интраокулярной линзы к задней капсуле хрусталика. Учитывая высокий риск развития вторичной катаракты, пациенту назначены повторные осмотры через 1, 6, 12, 24, 36 месяцев. На повторном осмотре через 6 месяцев пациентом предъявлены жалобы на субъективное значимое снижение остроты зрения. Выявлена вторичная катаракта. Пациенту проведена лазерная дисцизия задней капсулы хрусталика.