способ определения диэлектрической проницаемости материала

Классы МПК:G01R27/26 для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных 
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Федеральное государственное унитарное предприятие "Научно-производственное предприятие "Алмаз" (ФГУП "НПП "Алмаз") (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2010-08-31
публикация патента:

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению диэлектрической проницаемости материала опорных стержней для ламп бегущей волны. Техническим результатом является ослабление ограничительного условия «малости возмущения» самого чувствительного к диэлектрическим потерям доминантного ТМ010-вида колебаний измерительного неперестраиваемого резонатора, предназначенного для измерений стержней с приведенным радиусом способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 , где R - радиус пустого резонатора, r1max - максимально допустимый радиус стержня на данной частоте, r - радиус измеряемого стержня. Определение диэлектрической проницаемости опорных стержней для ламп бегущей волны проводят с помощью двух неперестраиваемых резонаторов, настроенных на одну и ту же частоту f0 и расстройку способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 f0, и двух калибровочных стержней с «охватывающими» измеряемые стержни приведенными радиусами S1 первого резонатора и S2 второго резонатора.

Формула изобретения

Способ определения диэлектрической проницаемости материала, например опорных стержней для лампы бегущей волны, включающий измерения на двух неперестраиваемых частично открытых цилиндрических ТМ010-резонаторах, настроенных на одну и ту же частоту f0 и расстройку способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 f0, с двумя калибровочными стержнями, причем стержень, вводимый в отверстие первого резонатора, имеет приведенный радиус

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300

(где способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 - радиус каждого резонатора, здесь с - скорость света, f0 - резонансные частоты пустых резонаторов)

меньший, чем величина способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300

(где способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 ' - действительная часть диэлектрической проницаемости способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 =способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 '-j·способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 ''), причем стержень, вводимый в отверстие второго резонатора, имеет приведенный радиус способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 , больший, чем та же величина способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 , при способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 а в качестве основного измерительного резонатора используется второй резонатор и определение диэлектрической проницаемости измеряемых стержней с приведенными радиусами способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 осуществляется по формулам, справедливым в интервале приведенных радиусов калибровочных стержней способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 .

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерению диэлектрической проницаемости материала опорных стержней для ламп бегущей волны и других подобных приборов.

Способ основан на использовании двух неперестраиваемых резонаторов с осевыми отверстиями разных размеров для ввода контролируемых стержней, которые позволяют переразложить операторы возмущенных собственных функций и собственных значений исходных замкнутых полых резонаторов с диэлектриком по обращенным операторам частично заполненных измеряемым диэлектриком полуоткрытых измерительных резонаторов, один из которых удовлетворяет условиям теории «малых возмущений», а другой - нет.

Это позволяет правильно определять количество дополнительных резонаторов, требуемых для исключения погрешности определения диэлектрической проницаемости за счет излучения энергии из резонаторов в отверстия по предполагаемому поперечному сечению измеряемого стержня и его предполагаемой диэлектрической проницаемости, а также получить явные интерполяционные формулы, включающие измерения в разных резонаторах.

Известные резонаторные методы неразрушающего контроля диэлектрической проницаемости материалов сводятся к измерению параметров пустого и заполненного (частично заполненного) резонатора, на базе которых и вычисляются диэлектрические свойства контролируемых материалов.

При этом существующие соотношения требуют либо тонких вычислительных процессов, либо применения явных простых формул первого приближения теории «малых возмущений», вызывающих, однако, такие размерные ограничения контролируемых образцов (особенно в коротковолновой части сантиметрового диапазона электромагнитных волн), что метод становится совершенно непригодным для практики.

Так, например, для наиболее простых и явных формул первого приближения Боргниса [1] (в наших обозначениях)

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300

где способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 ', способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 '' - действительная и мнимая части диэлектрической проницаемости способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 =способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 '-jспособ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 '';

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 - тангенс угла диэлектрических потерь стержня радиусом r1, помещенного в пустой цилиндрический ТМ010 -резонатор с резонансной частотой f0 и приведенной расстройкой частоты способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 f0/f0, вызвавшего в нем изменение резонансной частоты и приведенной расстройки до значений f 11 и способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 f11/f11 соответственно,

существует серьезное ограничение, связывающее максимально допустимый радиус r1max стержня на данной частоте (т.е. при данном радиусе пустого резонатора R) с предполагаемым значением способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 ' диэлектрического материала в виде [2]

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300

где способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 . Здесь с - скорость света, f0 - резонансная частота пустого ТМ010-резонатора правильной цилиндрической формы поперечного сечения с радиусом R.

Это приближенное ограничение, например, для частот выше 10 ГГц и материалов с способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 '>6 требует слишком малого радиуса r1max стержней, вплоть до 0,4 мм, что заметно повышает процент сломанных стержней в процессе их измерений.

В формулах (1) и (2):

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 - изменение приведенной резонансной частоты резонатора при внесении стержня радиусом r1;

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 - приведенный радиус стержня в резонаторе радиусом R;

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 - изменение приведенной расстройки пустого резонатора способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 до расстройки способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 .

Для ламп бегущей волны со спиральной замедляющей системой в качестве опорных изолирующих стержней обычно применяют теплопроводный низкопотерный материал в виде стержней протяженной длины (кратной 3-4 высотам измерительного резонатора), свойства которого необходимо оценивать на стержнях радиусом, большим по сечению, чем сечения, рекомендуемые ограничением (3).

Целью данного изобретения является ослабление ограничительного условия «малости возмущения» (3) самого чувствительного к диэлектрическим потерям доминантного ТМ010-вида колебаний измерительного неперестраиваемого резонатора, предназначенного для измерений стержней с приведенным радиусом способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 .

Технический результат достигается с помощью перехода к двум неперестраиваемым резонаторам, настроенным на одну и ту же частоту f0 и расстройку способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 f0, и двух калибровочных стержней с «охватывающими» измеряемые стержни приведенными радиусами способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 и способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 причем калибровочный стержень, вводимый в отверстие первого резонатора, имеет приведенный радиус способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 , который удовлетворяет ограничительному условию (3), а калибровочный стержень второго резонатора, у которого приведенный радиус способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 - нет, при этом способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 , причем в качестве основного измерительного резонатора используется второй резонатор.

На основе формул второго приближения обращенного оператора возмущения резонаторов для «охватывающих» приведенных радиусов калибровочных стержней и линейной интерполяции в интервале способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 получаем явные формулы для измерения партии стержней с приведенным радиусом способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 в резонаторе с большими отверстиями под калибровочный стержень способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 , характеризующийся изменением резонансной частоты способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 и приведенной расстройкой способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 .

При этом для стержня с приведенным радиусом S будем иметь способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 и способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300 .

В вышеприведенных обозначениях рабочими формулами являются

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300

способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300

причем способ определения диэлектрической проницаемости материала, патент № 2449300

Источники информации

1. Borgnis F. Die elektrische Grundschwingumg des kreiszylindrischen Zweischichten-Hohlraum. Hochfrequenztechnik und Elektroakustik, 1942, Bd 59, Heft 1, Seiten 22-26.

2. Брандт А.А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. - М.: ГИФМЛ, 1963. Стр.102.

Класс G01R27/26 для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных 

резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов -  патент 2529417 (27.09.2014)
устройство для измерения свойства диэлектрического материала -  патент 2528130 (10.09.2014)
микроконтроллерный измерительный преобразователь с уравновешиванием резистивного моста уитстона методом широтно-импульсной модуляции -  патент 2515309 (10.05.2014)
способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости жидких и сыпучих веществ -  патент 2509315 (10.03.2014)
микроконтроллерный измерительный преобразователь сопротивления в двоичный код с генератором, управляемым напряжением -  патент 2502076 (20.12.2013)
способ определения коэффициента потерь tg диэлектриков -  патент 2501028 (10.12.2013)
микроконтроллерное устройство диагностики межвитковой изоляции обмотки электродвигателя по эдс самоиндукции -  патент 2498327 (10.11.2013)
способ определения сопротивления и индуктивности рассеяния первичной обмотки трансформатора напряжения -  патент 2491559 (27.08.2013)
сканирующий измеритель параметров cg-двухполюсников -  патент 2488130 (20.07.2013)
способ и устройство для емкостного обнаружения объектов -  патент 2486530 (27.06.2013)
Наверх