способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной обработки

Классы МПК:G01B7/34 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ "УФИМСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ АВИАЦИОННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2011-11-07
публикация патента:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки. Сущность: прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом. Измеряют значения плотности тока j и высоковольтного напряжения U. Шероховатость поверхности в ходе обработки определяют по формуле: способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 , где Rmin - минимально достижимая для используемого электролита шероховатость поверхности; R0 - начальное значение шероховатости поверхности обрабатываемой детали; t - время; j - плотность тока; U - напряжение; способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0 - среднее значение постоянной времени; k 1, k2 - коэффициенты пропорциональности, зависящие от материала детали, природы и концентрации электролита. Величины способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0, k1, k2 вычисляют по семейству тарировочных кривых зависимости постоянной времени снижения шероховатости от напряжения U и плотности тока j. Технический результат: увеличение быстродействия измерения. 1 табл., 2 ил. способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700

Формула изобретения

Способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий в процессе электролитно-плазменной обработки, по которому прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом, отличающийся тем, что измеряют значения плотности тока и высоковольтного напряжения, а шероховатость в ходе обработки определяют по формуле:

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700

где Rmin - минимально достижимая для используемого электролита шероховатость поверхности;

R0 - начальное значение шероховатости поверхности обрабатываемой детали;

t - время;

j - плотность тока;

U - напряжение;

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0 - среднее значение постоянной времени;

k1, k2 - коэффициенты пропорциональности, зависящие от материала детали, природы и концентраций электролита, а величины способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0, k1, k2 вычисляют по семейству тарировочных кривых зависимости постоянной времени снижения шероховатости от напряжения U и плотности тока j.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки. Способ позволяет определять шероховатость поверхности детали непосредственно в процессе ее обработки.

Известен способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий, заключающийся в том, что контролируемое изделие и измерительный электрод помещают в диэлектрическую жидкость, прикладывают высоковольтное напряжение и измеряют ток между ними, по величине которого определяют степень шероховатости [а.с. СССР № 1474452, МКИ4 G01B 7/34. Публ. 23.04.89].

Недостатком аналога является невозможность использования его для определения шероховатости поверхности в ходе электролитно-плазменной обработки в связи с необходимостью прерывания процесса.

Известен способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих деталей в процессе электролитно-плазменной обработки, заключающийся в том, что прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом. Измеряют ширину нормированного частотного спектра переменной составляющей тока разрядов по уровню среза, выбираемою из диапазона 0,2способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0,5 в зависимости от рабочего напряжения. Определяют шероховатость по формуле

Ra=k·f+R0,

где Ra - шероховатость поверхности, мкм; k - коэффициент пропорциональности, зависящий от материала детали, природы и концентрации электролита; f - измеренная ширина спектра при определенном уровне среза, Гц; R0 - эмпирический параметр. При этом значения к и R0 вычисляют по тарировочной кривой зависимости шероховатости от ширины спектра [патент РФ № 2133943, МКИ6 G01B 7/34. Публ. 27.07.99].

Недостатком данного аналога является необходимость измерения спектральной плотности сигнала переменной составляющей тока в ряде диапазонов частот для построения частотного спектра, определения его ширины и, соответственно, шероховатости поверхности.

Наиболее близким по технической сущности является способ измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий в процессе электролитно-плазменной обработки, заключающийся в том, что прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом и переменную составляющую тока подают на полосовой фильтр с граничными частотами 500-700 и 1300-1500 Гц, измеряют действующее значение напряжения на выходе фильтра u, рассчитывают начальное значение напряжения u0 путем усреднения значения и в течение 20-40 с от начала процесса, шероховатость в ходе обработки определяют но формуле

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700

где u - текущее значение напряжения на выходе полосового фильтра;

u0 - начальное значение напряжения на выходе полосового фильтра;

Ra0 - начальное значение шероховатости обрабатываемой поверхности [патент РФ № 2240500, МКИ6 G01B 7/34. Публ. 20.11.04].

Недостатком прототипа является недостаточное быстродействие, обусловленное тем, что первое измеренное значение шероховатости может быть получено только через существенный промежуток времени 20-40 с от начала электролитно-плазменной обработки, тогда как скорость изменения шероховатости на начальном этапе обработки имеет наибольшее значение, а вся длительность процесса в ряде случаев может составлять 30-60 с.

Задачей, решаемой заявляемым изобретением, является повышение быстродействия измерения шероховатости поверхности в ходе электролитно-плазменной обработки за счет исключения операции усреднения регистрируемых электрических параметров в течение 20-40 с от начала процесса.

Поставленная задача решается способом измерения шероховатости поверхности электропроводящих изделий в процессе электролитно-плазменной обработки, по которому прикладывают высоковольтное напряжение между обрабатываемой деталью, являющейся анодом, и катодом, согласно изобретению измеряют значения плотности тока и высоковольтного напряжения, а шероховатость в ходе обработки определяют по формуле:

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700

где Rmin - минимально достижимая для используемого электролита шероховатость поверхности;

R0 - начальное значение шероховатости поверхности обрабатываемой детали;

t - время;

j - плотность тока;

U - напряжение;

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0 - среднее значение постоянной времени;

k1, k2 - коэффициенты пропорциональности, зависящие от материала детали, природы и концентрации электролита,

а величины способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0, k1, k2 вычисляют по семейству тарировочных кривых зависимости постоянной времени снижения шероховатости от напряжения U и плотности тока j.

Существо способа поясняется чертежами. На Фиг.1 показан типичный характер изменения шероховатости Ra во времени t при начальной шероховатости R0 и минимально достижимой для используемого электролита шероховатости поверхности R min. На Фиг.2 показана типичная тарировочная кривая зависимости постоянной времени способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 от высоковольтного напряжения U и плотности тока j.

Закономерность изменения шероховатости Ra (Фиг.1) имеет экспоненциальный характер и объясняется уменьшением степени воздействия парогазовой оболочки на обрабатываемую поверхность при сглаживании микронеровностей, что приводит к снижению скорости изменения шероховатости. Скорость снижения шероховатости по экспоненциальному закону характеризуется постоянной времени способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 , на которую влияет прикладываемое высоковольтное напряжение U и характер воздействия парогазовой оболочки, который отражается в значениях плотности тока j.

Тарировочная кривая зависимости постоянной времени способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 (Фиг.2) может быть описана функцией вида:

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700

где t - время;

j - плотность тока;

U - напряжение;

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0 - среднее значение постоянной времени.

Изменение напряжения U, связанное с нестабильностью напряжения питающей сети, и изменение плотности тока j, связанное с изменением шероховатости, с нестабильностью температуры электролита и его концентрации, а также с выработкой электролита, влияют на скорость электролитно-плазменной обработки при полировании поверхностей. Уравнение (2) учитывает указанные неопределенности и позволяет измерять шероховатость поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки.

Пример конкретной реализации способа.

Образцы из стали 20X13 обрабатывали электролитно-плазменным методом в 5% растворе сульфата аммония при различных начальных шероховатостях поверхности, напряжениях и температурах электролита. Между поверхностью детали, являющейся анодом, и катодом прикладывали высоковольтное напряжение, измеряли плотность тока j и высоковольтное напряжение U, а шероховатость в ходе обработки определяли по формуле:

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 ,

где Rmin=0,09 мкм,

при этом величины

способ измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной   обработки, патент № 2475700 0=0,072 мин;

k1=-5,296 мин·см2·A-1;

k 2=0,0165 мин·B-1

вычисляли по семейству тарировочных кривых зависимости постоянной времени снижения шероховатости от напряжения U и плотности тока j, показанному на Фиг.2. Шероховатость поверхности измерялась также профилометром после обработки. Результаты приведены в таблице. Как видно из таблицы, незначительное расхождение рассчитанной (6-й столбец таблицы) и измеренной (7-й столбец таблицы) шероховатости свидетельствует о применимости способа.

Таким образом, заявляемое изобретение позволяет увеличить быстродействие измерения шероховатости поверхности в процессе электролитно-плазменной обработки за счет исключения операции усреднения регистрируемых электрических параметров в течение 20-40 с от начала процесса. Предлагаемый способ имеет простое техническое исполнение, не требует прерывания процесса и обеспечивает высокую точность измерений.

Способ измерения шероховатости в процессе электролитно-плазменной обработки
U, BT, °C Время t, мин Начальное значение шероховатости Ra0, мкм Плотность тока j, А/см 2Рассчитанная шероховатость Ra, мкм Измеренная шероховатость Ra, мкм
12 34 56 7
250 70 30,32 0,390,18±0,02 0,15±0,02
300 806 0,330,27 0,16±0,02 0,13±0,02
35090 90,35 0,190,15±0,02 0,16±0,02
250 7012 0,600,36 0,11±0,02 (),12±0,02
30080 150,49 0,240,11±0,02 0,14±0,02
350 9015 0,490,20 0,12±0,02 0,15±0,02

Класс G01B7/34 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 

устройство автоматического контроля прямолинейности сварных стыков рельсов и способ его использования -  патент 2520884 (27.06.2014)
способ определения кинетики износа поверхностей деталей машин -  патент 2494342 (27.09.2013)
способ обнаружения дефектов поверхности катания колес железнодорожных транспортных средств в движении -  патент 2480711 (27.04.2013)
профилометр для контроля микрогеометрии коллекторов электрических машин -  патент 2422767 (27.06.2011)
сканирующий зондовый микроскоп, совмещенный с устройством измерения массы и диссипативных свойств -  патент 2407021 (20.12.2010)
сканирующий зондовый микроскоп с контролируемой средой измерения -  патент 2401983 (20.10.2010)
устройство для измерения шероховатости наружной сферической поверхности детали (варианты) -  патент 2392583 (20.06.2010)
способ контроля плоскостности поверхностей трубопроводной арматуры и устройство для его осуществления -  патент 2386104 (10.04.2010)
нутромер -  патент 2381440 (10.02.2010)
способ изготовления ступенчатого высотного калибровочного стандарта для профилометрии и сканирующей зондовой микроскопии -  патент 2371674 (27.10.2009)
Наверх