фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения и устройство, его реализующее

Классы МПК:G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения
G01B11/14 для измерения расстояния или зазора между разнесенными предметами или отверстиями
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет геодезии и картографии" (МИИГАиК) (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2011-11-30
публикация патента:

Способ заключается в том, что изображение объекта фокусируют объективом в плоскости приемника, сканируют его возвратно-поступательно вдоль линейки элементов приемника, предварительно определяют номер N облучаемого элемента приемника, выключают выходы остальных элементов, осуществляют периодическое равномерное возвратно-поступательное сканирование изображения объекта облучаемым элементом с амплитудой, равной ширине элемента b, формируют опорные импульсы в середине каждого полупериода сканирования, измеряют временные интервалы фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 между фронтами сигналов и опорными импульсами в каждом полупериоде сканирования и измеряют их разность фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t=фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2-фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1. Линейное перемещение х изображения объекта определяют по формуле x=Nb+bфотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t/T, где T - полупериод сканирования. Устройство содержит объектив, многоэлементный приемник излучения в виде линейки, электронный модуль обработки сигнала при сканировании изображения объекта в пределах ширины одного элемента приемника и линейный двигатель для обеспечения возвратно-поступательного перемещения оправы приемника в пределах ширины его элемента. Технический результат - повышение точности измерений линейных перемещений. 2 н.п. ф-лы, 2 ил. фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524

фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524

Формула изобретения

1. Фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения, заключающийся в том, что изображение объекта фокусируют объективом в плоскости приемника, сканируют его возвратно-поступательно вдоль линейки элементов приемника, отличающийся тем, что предварительно определяют номер N облучаемого элемента приемника, например, по наличию максимального сигнала с его выхода, выключают выходы остальных элементов, осуществляют периодическое равномерное возвратно-поступательное сканирование изображения объекта облучаемым элементом с амплитудой, равной ширине элемента b, формируют опорные импульсы в середине каждого полупериода сканирования, измеряют временные интервалы фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 между фронтами сигналов и опорными импульсами соответственно в каждом полупериоде сканирования, вычисляют разность этих интервалов фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t=фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1-фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2, а линейное перемещение х изображения объекта определяют по формуле

фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 ,

где N - номер засвечиваемого элемента приемника;

b - ширина элемента;

фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 - временные интервалы между фронтами сигналов и опорными импульсами в первом и втором полупериоде сканирования соответственно;

Т - полупериод сканирования.

2. Устройство для измерения линейных перемещений малоразмерных объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения, содержащее объектив, многоэлементный приемник излучения в виде линейки с традиционными блоками его функционирования и выполнения произвольной выборки сигналов с элементов для определения положения изображения объекта, отличающееся тем, что оно снабжено дополнительным электронным модулем обработки сигнала при сканировании изображения объекта в пределах ширины одного элемента приемника, включающим формирователь остроконечных импульсов с фронтов сигнала на выходе элемента, подключенный через коммутатор к выходу усилителя элемента приемника, формирователь опорных импульсов в середине каждого полупериода сканирования, подключенный к генератору тактовых импульсов, электронный ключ, входы которого соединены с выходами формирователя опорных импульсов и формирователя остроконечных импульсов, счетчик импульсов, подключенный к генератору тактовых импульсов и электронному ключу, и блок вычисления разности числа импульсов, возникающих в первую и вторую половину периода сканирования, подключенный к счетчику импульсов и блоку управления, выход которого подключен к микропроцессору; и линейным двигателем, подключенным к блоку управления с возможностью обеспечения возвратно-поступательного перемещения оправы приемника в пределах ширины его элемента.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к способам для дистанционного измерения и контроля перемещений объектов, частей и узлов различных машин, оборудования и сооружений в геодезии, машиностроении, строительстве и астрономии.

Известен способ измерения перемещений объектов, заключающийся в том, что изображение излучающего объекта проецируют с помощью объектива в плоскость многоэлементного приемника излучения и вычисляют координату центра тяжести его изображения по алгоритму центроиды [1]

фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 ,

где xi - координаты центров засвечиваемых элементов многоэлементного приемника излучения; Ui - сигналы с выхода элементов приемника; n - число засвечиваемых элементов.

Недостатками этого способа являются погрешности, обусловленные пространственной дискретизацией сигнала, неравномерным и нестабильным распределением освещенности в изображении объекта, а также погрешности из-за неоднородности чувствительностей и шумов элементов приемника.

Наиболее близкими по технической сущности и достигаемому результату являются фотоэлектрический способ и устройство его реализующее, согласно которым изображение объекта, полученное с помощью объектива в плоскости многоэлементного приемника излучения в виде линейки, перемещают вдоль линейки в обоих направлениях, придают элементам определенные веса, суммируют сигналы с отдельных элементов, фильтруют их и по значению суммарного сигнала судят о смещении объекта [2].

Недостатками этого технического решения являются погрешности измерений вследствие дискретизации сигнала, неоднородности чувствительностей отдельных элементов и их шумов, погрешность, обусловленная неравномерным распределением освещенности изображения объекта или изменением этого распределения при измерениях, а также погрешности из-за нестабильности амплитуды сигнала от объектов и шумов.

Целью изобретения является повышение точности измерений линейных перемещений малоразмерных излучающих объектов путем уменьшения погрешностей из-за пространственной дискретизации сигнала, неравномерности распределения освещенности изображения объекта, неодинаковой чувствительности и шумов отдельных элементов приемника и нестабильности амплитуды полезного сигнала и шумов.

Поставленная цель в способе реализуется за счет того, что по положению изображения малоразмерного объекта, полученного в плоскости многоэлементного приемника излучения, определяют номер N облучаемого элемента приемника, например по максимуму амплитуды сигнала с его выхода, отключают сигналы с выходов остальных элементов, сканируют изображение объекта облучаемым элементом возвратно-поступательно с амплитудой, равной ширине элементов b, формируют опорные импульсы в середине каждого полупериода сканирования, измеряют временные интервалы фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 между характерными точками полезных сигналов, образующихся на выходе элемента за каждый полупериод, например их фронтами, и соответствующими опорными импульсами, вычисляют разность этих интервалов фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t=фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1-фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2, а искомое линейное перемещение х изображения объекта определяют из соотношения

фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 ,

где N - номер облучаемого элемента, Т - полупериод сканирования.

Поставленная цель в устройстве достигается тем, что в обычный датчик перемещений с многоэлементным приемником излучения в виде линейки с блоками для выполнения им операций произвольной выборки сигналов с элементов введен дополнительный модуль, включаемый после установления положения изображения малоразмерного объекта на определенном элементе приемника, снабженный линейным двигателем, кинематически связанным с оправой приемника излучения, для равномерного сканирования изображения путем линейного возвратно-поступательного перемещения приемника излучения с амплитудой, равной ширине элемента, и электронным блоком обработки сигнала, образующегося при сканировании, состоящим из формирователя остроконечных импульсов подключенного через коммутатор к выходу усилителя элементов, формирователя опорных импульсов в середине каждого полупериода сканирования, подключенного к генератору тактовых импульсов, электронного ключа, входы которого соединены с выходами формирователей опорных и остроконечных импульсов, счетчика импульсов, подключенного к генератору тактовых импульсов и электронному ключу, и блока вычисления разности числа импульсов, возникающих в первую и вторую половину периода сканирования, подключенного к счетчику импульсов и блоку управления, выход которого подключен к микропроцессору.

Сущность изобретения поясняется чертежами, где на фиг.1 изображена структурная схема, а на фиг.2(а, б, в, г) приведены фрагмент элементов приемника и диаграммы формирования сигналов в способе при различных перемещениях х изображения малоразмерного объекта.

Устройство, реализующее способ, состоит из малоразмерного источника излучения 1, объектива 2, многоэлементного приемника излучения 3 в виде линейки с произвольной выборкой сигнала, подключенного к блоку управления 4, выходы элементов которого электрически соединены с усилителем 5, коммутатора 6, входы которого подключены к блоку управления 4 и усилителю 5, а выходы - к аналого-цифровому преобразователю (АЦП) 7 и блоку формирования остроконечных импульсов сигнала 8, выход которого электрически соединен с электронным ключом 9, другой вход которого подключен к формирователю опорных импульсов 10, электрически связанному с генератором тактовых импульсов 11, подключенным к счетчику импульсов 12, соединенному через блок 13 вычисления разности числа импульсов с микропроцессором 14, и линейного двигателя 15 с приводом, кинематически связанного с оправой многоэлементного приемника излучения 3. Микропроцессор 14 подключен на вход блока управления 4, который соединен с блоком 13, а генератор тактовых импульсов 11 подключен также к многоэлеметному приемнику излучения 3 и счетчику импульсов 12.

Работа устройства для измерения линейных перемещений малоразмерных объектов реализуется следующим образом (фиг.1).

По программе, заложенной в микропроцессор 14, через блок управления 4 осуществляется последовательный опрос элементов приемника излучения 3 при включенном через коммутатор 6 АЦП 7 и отключенных блоках 8, 9, 10, 12 и 13. При этом микропроцессор 14 регистрирует засвечиваемый элемент N, например, по величине сигнала на его выходе, запоминает его, после чего блок управления 4 по сигналу с микропроцессора 14 через коммутатор 6 прерывает передачу информации через АЦП 7, отключает выходы всех элементов приемника излучения 3, за исключением выхода засвечиваемого элемента, включает линейный двигатель 15, осуществляющий возвратно-поступательное движение с постоянной скоростью (колебания) оправы приемника относительно неподвижного изображения объекта с амплитудой, равной ширине b элементов линейки, и включает канал преобразования сигнала 8, 9, 10, 11, 12 и 13.

При этом блок 8, содержащий, например, амплитудный ограничитель и дифференцирующую цепь, формирует от фронтов сигнала Uc (фиг 2) на выходе N-го элемента остроконечные импульсы (не показаны), временные сдвиги фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 которых относительно соответствующих опорных импульсов Uоп, формируемых блоком 10 в середине каждого полупериода сканирования элемента, открывает ключ 9 на соответствующее время фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2. В результате высокочастотные импульсы от генератора 11 в течение интервалов времени, равных фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2, попадают на счетчик 12, а блок 13 осуществляет вычитание чисел импульсов, возникших за соответствующие полупериоды сканирования. Их разность ность зависит от значения разности интервалов фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 которая изменяется с изменением перемещений изображения х.

Для установления аналитической связи между перемещением х точечного изображения объекта относительно середины элемента приемника (начала координат) с разностью фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 обратимся к фиг.2. Если изображение малоразмерного, например точечного излучателя, находится в середине среднего (нулевого) элемента (фиг.2а), то при линейном сканировании этого изображения с амплитудой b относительно этого элемента возникают прямоугольные импульсы с Uc. Для случая, когда х=0 и за начало координат этих импульсов (t=0) принимается левое крайнее положение элемента приемника, временное положение импульсов Uc=f(t) показано на фиг.26. При этом временные интервалы фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 между фронтами обоих импульсов Uc , возникающих за полный период сканирования 2Т, и соответствующими опорными импульсами Uon равны друг другу, т.е. фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1=A t2=0,25Т, где Т - полупериод сканирования. Следовательно, фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t=фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1-фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2=0.

Если изображение точечного излучателя смещается на определенную величину х относительно середины нулевого элемента вправо, то первый из импульсов тоже смещается вправо на величину фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t, пропорциональную х, в то время как импульс за второй полупериод сканирования смещается влево на ту же величину фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t (фиг.2в). В результате разность временных интервалов фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t2 и фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t1 станет равной 2фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t. При смещении изображения излучателя на ту же величину х относительно нулевого положения в противоположную сторону знак разности 2фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t меняется на обратный (фиг.2 г). Максимальное смещение изображения относительно середины элемента равно xmax =±0,5b. Ему соответствует временной интервал AUax=0,5Т. Отсюда следует, что при линейной скорости сканирования зависимость перемещений х от значений фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t принимает вид

фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 .

Основными преимуществами предлагаемого способа по сравнению с аналогами и прототипом являются следующие:

1. Неоднородность чувствительностей и шумов отдельных элементов приемника излучения не влияет на точность измерений перемещений объектов, так как сканирование производится относительно одного и того же элемента при отключенных выходах остальных.

2. Неравномерное и изменяющееся распределение освещенности изображения объекта в плоскости приемника и шумы в сигнале вызывают значительно меньшую погрешность, так как используется импульсный способ обработки информации, при котором изменение амплитуды сигнала и шумы оказывает на точность измерений значительно меньшее влияние, чем при амплитудных способах, используемых в аналоге и прототипе.

3. Повышается пороговая чувствительность измерений, т.е. разрешающая способность фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 xmin, т.к. интервал времени фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 t измеряется путем счета высокочастотных импульсов, заполняющих этот интервал. Например при используемой часто частоте f=20Мгц период импульса Тимп=5·10-4 с. Отсюда минимальная чувствительность при Т=1с равна

фотоэлектрический способ измерения линейных перемещений малоразмерных   объектов в датчиках с многоэлементными приемниками излучения   и устройство, его реализующее, патент № 2508524 .

4. Устранена частная погрешность измерений из-за дискретной структуры приемника излучения, которая растет с увеличением размера элементов (частоты Найквиста) и равна 2b, поскольку высокая разрешающая способность легко реализуется при достаточно высоком отношении сигнал/шум.

Класс G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения

способ определения остаточной сферичности отражающей поверхности -  патент 2528272 (10.09.2014)
устройство для изучения геометрических несовершенств резервуаров муаровым методом с двумя опорами -  патент 2528122 (10.09.2014)
устройство для диагностики состояния внутренней поверхности труб -  патент 2528033 (10.09.2014)
способ измерения толщин нанометровых слоев многослойного покрытия, проводимого в процессе его напыления -  патент 2527670 (10.09.2014)
способ анализа фазовой информации, носитель информации и устройство формирования рентгеновских изображений -  патент 2526892 (27.08.2014)
способ геодезических измерений инженерных объектов и устройство для его осуществления -  патент 2523751 (20.07.2014)
способ измерения двугранных углов зеркально-призменных элементов и устройство для его осуществления -  патент 2523736 (20.07.2014)
способ и устройство для измерения геометрии профиля сферически изогнутых, в частности, цилиндрических тел -  патент 2523092 (20.07.2014)
способ фотограмметрического измерения размеров и контроля формы тела, ограниченного набором связанных между собой поверхностей -  патент 2522809 (20.07.2014)
способ пассивной локализации ребер прямоугольного металлического параллелепипеда в инфракрасном излучении -  патент 2522775 (20.07.2014)

Класс G01B11/14 для измерения расстояния или зазора между разнесенными предметами или отверстиями

способ измерения линейных перемещений -  патент 2515339 (10.05.2014)
оптическая измерительная система и способ измерения критического размера -  патент 2509718 (20.03.2014)
устройство для линейных перемещений с нанометровой точностью в большом диапазоне возможных перемещений -  патент 2502952 (27.12.2013)
устройство контроля положения объекта нано- и субнанометровой точности -  патент 2502951 (27.12.2013)
способ и устройство измерения зазора и выравнивания между деталями, закрепленными на узле при отсутствии одной из них -  патент 2491502 (27.08.2013)
лазерное устройство для измерения воздушного зазора электрической машины -  патент 2469264 (10.12.2012)
способ измерения межэлектродного расстояния в электровакуумных приборах -  патент 2468335 (27.11.2012)
устройство для определения расстояния между рабочей лопаткой и окружающей рабочую лопатку стенкой машины для превращения кинетической энергии потока в механическую энергию -  патент 2440555 (20.01.2012)
устройство для определения расстояния между рабочей лопаткой и окружающей рабочую лопатку стенкой машины для превращения кинетической энергии потока в механическую энергию -  патент 2439488 (10.01.2012)
устройство для измерения пролета кранового пути грузоподъемного крана -  патент 2425328 (27.07.2011)
Наверх