способ определения угла наклона плоскости

Классы МПК:G01C9/22 с сообщающимися сосудами, находящимися в постоянном взаимоположении 
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Объединенный Институт Ядерных Исследований (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2013-01-22
публикация патента:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в ускорительной и измерительной технике физического эксперимента, а также в области геодезии при строительстве протяженных гидротехнических сооружений, при создании приборов и устройств, требующих привязки к уровню горизонта; в измерительной технике. Техническим результатом изобретения является повышение точности измерения угла наклона; малый вес и габариты элементов. Способ заключается в определении высоты столба жидкости в двух сообщающихся сосудах, расположенных на фиксированном расстоянии относительно друг друга на подложке, устанавливаемой на измеряемую поверхность, путем одновременного измерения электрической емкости конденсаторов, расположенных в этих сосудах, между обкладками которых находится жидкость. По измеренным значениям емкостей вычисляют угол наклона с применением соответствующих формул. Одновременно с измерением емкостей измеряют температуру окружающей среды и корректируют погрешность изменения столба жидкости в сосудах, связанную с температурным расширением используемой жидкости и материала сосудов, исходя из их известной зависимости от температуры. 1 з.п. ф-лы, 3 ил. способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

Формула изобретения

1. Способ определения угла наклона плоскости, включающий регистрацию величины электрической емкости в сосуде с жидкостью, расположенном на плоскости, по значению величины которой судят об угле наклона, отличающийся тем, что высоту столба жидкости определяют в двух сообщающихся сосудах, расположенных на фиксированном расстоянии относительно друг друга на измеряемой плоскости, путем одновременного измерения электрической емкости конденсаторов, помещенных в сосуды, между обкладками которых находится жидкость, и по измеренным значениям емкостей вычисляют угол наклона плоскости, определяемый линией горизонта и линией, проходящей через центры оснований сосудов, по формулам:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

k - коэффициент отношения калиброванных площадей обкладок конденсаторов;

С - емкость конденсатора в первом сосуде, измеряемая при калибровке;

С - емкость конденсатора во втором сосуде, измеряемая при калибровке;

S - калиброванная площадь обкладки первого конденсатора;

S - калиброванная площадь обкладки второго конденсатора;

HК - калиброванное значение высоты столба жидкости в сосуде;

L - расстояние между сосудами, определяемое по линии между центрами их оснований;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 0 - диэлектрическая постоянная вакуума;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 - диэлектрическая проницаемость жидкости;

С 1 - емкость первого конденсатора при измерении наклона;

С2 - емкость второго конденсатора при измерении наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора в первом сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора во втором сосуде.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что одновременно с измерением емкостей конденсаторов измеряют температуру окружающей среды и корректируют погрешность изменения столба жидкости в сосудах, связанную с температурным расширением используемой жидкости и материала сосудов, исходя из их известной зависимости от температуры, а угол наклона вычисляют по формуле:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

HК - калиброванное значение высоты столба жидкости в сосуде;

L - расстояние между сосудами, определяемое по линии между центрами их оснований;

ТК - фиксированная температура при калибровке;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 ж(T) - значение коэффициента температурного расширения жидкости при температуре измерения наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 жК) - значение коэффициента температурного расширения жидкости при температуре калибровки;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 с(T) - значение коэффициента температурного расширения материала сосуда при температуре измерения наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 сК) - значение коэффициента температурного расширения материала сосуда при температуре калибровки;

C1 - емкость конденсатора в первом сосуде при измерении наклона;

С2 - емкость конденсатора во втором сосуде при измерении наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора в первом сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора во втором сосуде;

k - коэффициент отношения калиброванных площадей обкладок конденсаторов.

Описание изобретения к патенту

Область техники

Способ может быть использован при создании приборов и устройств, требующих привязки к уровню горизонта; в области геодезии; при строительстве протяженных гидротехнических сооружений; в том числе измерительной технике и технике физического эксперимента.

Уровень техники

Многие приборы для измерения угла наклона поверхности работают на принципе сообщающихся сосудов: теодолиты, манометры, нивелиры. Для определения угла наклона с помощью сообщающихся сосудов требуется знать уровень жидкости в них. Точность измерений таких приборов зависит от устройства измерения высоты столба жидкости в сосуде. Для измерения высоты столба жидкости используется либо шкала, нанесенная на сосуд, либо шкала, специально разработанная для данного устройства. Как правило, точность измерения с помощью обычных шкал не превышает 0.5 мм. Лучшую точность имеют инклинометры, обладающие двойной шкалой измерения. Их точность для большинства моделей составляет ±0.1°. Лучшую точность имеют инклинометры NB3 фирмы Seika (0.001° в диапазоне углов ±10°) [1], что для ряда приложений является недостаточным как по диапазону измеряемых углов, так и точности измерения. Для решения данной задачи были предложены различные способы. Известен способ [2] измерения уровня диэлектрической жидкости с помощью емкостного уровнемера в виде ряда одинаковых по емкости конденсаторов, расположенных вертикально один над другим снизу вверх. Емкость конденсаторов, междуэлектродное пространство которых заполнено диэлектрической жидкостью, превышает емкость конденсаторов при отсутствии жидкости. Измеряя и сравнивая величины емкостей конденсаторов, определяют уровень жидкости по их известному положению. Известен способ [3] измерения уровня жидкости и уровнемер типа штанги для его осуществления. В данном способе на штанге, которая погружается в жидкость для измерения уровня, установлены единичные емкости, служащие датчиками положения. Величина емкости зависит от наличия жидкости между обкладками. Последовательный опрос величины емкости конденсаторов с помощью электронных средств позволяет определить уровень жидкости, так как емкость конденсатора при наличии между обкладками жидкости превышает емкость воздушного конденсатора. Перечисленные способы [2,3] имеют ограниченную точность измерения уровня жидкости вследствие дискретного положения конденсаторов и расстояния между ними, а также ошибки в определении уровня жидкости, когда жидкость перекрывает обкладку не полностью. Известен датчик углов наклона объекта [4], содержащий два электролитических уровня, выполненные в виде ампулы цилиндрической формы с двумя электродами и наполненные электролитической жидкостью. Электроды устанавливаются симметрично относительно третьего - среднего, расположенного на противоположной части ампулы. Оба уровня повернуты относительно своих продольных осей на 180° и наклонены к горизонту на заданный угол в противоположных направлениях. Средние электроды соединены последовательно с конденсаторами фиксированной емкости, которые образуют два плеча измерительного моста. В первую диагональ моста включен источник напряжения переменного сигнала с заданной частотой, а во вторую - электрометрический усилитель и электроника регистрации сигнала. Усилитель сравнивает и усиливает разность сигналов со средних электродов датчика. В зависимости от угла наклона меняются величины сопротивления и емкости центральных электродов диэлектрических уровней, что вызывает изменение амплитуды сигнала измерительного моста, по которому судят об угле наклона. Режим измерения не учитывает влияние температуры, а датчик имеет трудности в изготовлении наружных выводов к электродам в герметичной ампуле с жидкостью.

Известен способ определения угла наклона и устройство для его осуществления [5], выбранный в качестве прототипа. Работа устройства основана на перемещении тела качения относительно стационарного положения в камере с жидкостью под действием силы тяжести. Перемещение тела происходит в чувствительной зоне, создаваемой активным элементом, расположенным ниже корпуса с камерой. Расстояние между активным элементом и телом качения регулируется. В случае емкостного способа создания чувствительной зоны активный элемент состоит из металлических обкладок, расположенных концентрическим образом и образующих электрическую емкость. В качестве тела качения может использоваться шар или диск, или цилиндр, а поверхность качения выполняют в виде сферы, конуса или поверхности с заданной кривизной. Поверхность качения имеет фиксированный угол относительно уровня горизонта. При наклоне устройства, превышающем заданный угол, тело начинает катиться под действием силы тяжести до точки, касательная в которой параллельна уровню горизонта. Величина измеряемой емкости между концентрическими обкладками активного элемента зависит от положения тела качения, что позволяет определить угол наклона. Данное техническое решение имеет следующие недостатки:

- активный элемент экранируется корпусом и жидкостью камеры, что уменьшает чувствительность способа;

- в предложенном способе направление угла наклона в плоскости XY задается с помощью концентрических обкладок, расположенных дискретно по окружности, что ограничивает точность определения угла в радиальном направлении;

- способ имеет температурную зависимость из-за диэлектрической постоянной жидкости и коэффициента расширения материала тела качения, которые вносят неучитываемую ошибку в результат измерения;

- способ не чувствителен к наклонам менее угла, фиксированного при изготовлении устройства, а при нулевом угле наклона нет фиксации нулевой точки координат;

- создание поверхности качения и тела качения (сфера, шар, цилиндр и других сложных форм) требует специального оборудования с высокой точностью и высокого качества обработки для уменьшения трения качения.

Перечисленные недостатки данного способа не позволяют обеспечить требуемую точность измерения угла наклона 10-5 -10-6, необходимую в технике физического эксперимента.

Ставилась задача разработать надежный, простой, доступный в реализации и удобный в применении способ измерения угла наклона плоскости и расположенных на ней объектов с высокой точностью для техники физического эксперимента. Например, проектируемый ускоритель в рамках международного проекта способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 Компактный Линейный Коллайдерспособ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 (The Compact Linear Collider) [6] должен обеспечить электронный пучок по вертикальной координате порядка 5·10-9 метра [7]. Поэтому монтаж ускорительных элементов пучка, криомодулей, необходимо выполнять с прецизионной точностью, и задача контроля их установки соосно является важной проблемой.

Раскрытие изобретения

Поставленная задача решается с помощью использования сообщающихся сосудов с жидкостью, установленных на общей подложке и разнесенных на фиксированное расстояние. Высота столба жидкости в сосудах, необходимая для вычисления угла наклона, определяется путем одновременного измерения емкости конденсаторов, помещенных в сосуды, между обкладками которых находится жидкость. По измеренным значениям емкостей вычисляют угол наклона плоскости или объекта, определяемый линией горизонта и линией, проходящей через центры оснований сосудов, по формуле:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 - измеряемый угол наклона;

H0 - высота столба жидкости в сосудах при нулевом угле наклона;

L - расстояние между сосудами, определяемое по линии между центрами их оснований;

C1 - емкость первого конденсатора при измерении наклона;

С 2 - емкость второго конденсатора при измерении наклона.

Чтобы повысить точность определения угла наклона, площади обкладок конденсаторов, высоту столба жидкости в сосудах и паразитные емкости измерительных проводов калибруют при нулевом угле наклона, а угол наклона вычисляют по формулам:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

k - коэффициент отношения калиброванных площадей обкладок конденсаторов;

С - емкость конденсатора в первом сосуде, измеряемая при калибровке;

С - емкость конденсатора во втором сосуде, измеряемая при калибровке;

S - калиброванная площадь верхней обкладки конденсатора в первом сосуде;

S - калиброванная площадь верхней обкладки конденсатора во втором сосуде;

HК - калиброванное значение высоты столба жидкости в сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 0 - диэлектрическая постоянная вакуума;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 - диэлектрическая проницаемость жидкости;

С1 - емкость конденсатора в первом сосуде при измерении наклона;

С2 - емкость конденсатора во втором сосуде при измерении наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора в первом сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора во втором сосуде;

L - расстояние между сосудами, определяемое по линии между центрами их оснований.

Для учета влияния температуры одновременно с измерением емкостей конденсаторов измеряют температуру окружающей среды и корректируют погрешность изменения столба жидкости в сосудах, связанную с температурным расширением используемой жидкости и материала сосудов, исходя из их известной зависимости от температуры, а угол наклона вычисляют по формуле:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

HК - калиброванное значение высоты столба жидкости в сосуде;

L - расстояние между сосудами, определяемое по линии между центрами их оснований;

Т - температура окружающей среды при измерении наклона;

TK - температура окружающей среды при калибровке;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 ж(Т) - значение коэффициента температурного расширения жидкости при температуре измерения наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 ж(TK) - значение коэффициента температурного расширения жидкости при температуре калибровки;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 с(Т) - значение коэффициента температурного расширения материала сосуда при температуре измерения наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 сK) - значение коэффициента температурного расширения материала сосуда при температуре калибровки;

С1 - емкость конденсатора в первом сосуде при измерении наклона;

С2 - емкость конденсатора во втором сосуде при измерении наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора в первом сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора во втором сосуде.

Совокупность выше указанных признаков позволяет повысить точность измерения угла наклона и обеспечить требования, предъявляемые в технике физического эксперимента.

Заявляемое техническое решение поясняется чертежами.

1. Фигура 1, где:

1 - прибор для одновременного измерения емкости конденсаторов в сосудах; 2 и 3 -сообщающиеся сосуды с жидкостью; 4 и 5 - верхние обкладки конденсаторов; 6 и 7 - уровни жидкости в сосудах; 8 - соединительная трубка; 9 - подложка для установки сосудов; 10 и 11 - нижние обкладки конденсаторов.

2. Фигура 2, где элементы с 1 по 11, обозначенные на фиг.1, показаны в режиме измерения.

3. Фигура 3 - зависимость диэлектрической проницаемости воды от температуры.

Принцип сообщающихся сосудов позволяет определить угол наклона плоскости. Для этого требуется знать разность высот столбов жидкости в сосудах и расстояние между сосудами:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

H1 - уровень жидкости в первом сосуде;

Н2 - уровень жидкости во втором сосуде;

L - расстояние между сосудами.

В случае измерения высоты столба жидкости по величине емкости, между обкладками которых находится жидкость, приведенная выше формула имеет вид:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 - измеряемый угол наклона;

H0 - высота столба жидкости в сосудах при нулевом угле наклона;

L - расстояние между сосудами, определяемое по линии между центрами их оснований;

С1 - емкость первого конденсатора при измерении наклона;

С 2 - емкость второго конденсатора при измерении наклона.

Точность измерения угла наклона зависит от точности определения этих параметров. Работу способа иллюстрируют фиг.1 и 2. Чтобы обеспечить высокую точность определения угла наклона, площади верхних обкладок конденсаторов и высота столба жидкости в сосудах калибруются при нулевом угле наклона и измеренной температуре. Элементы способа в режиме калибровки показаны на фиг.1. Калибровка позволяет учесть паразитную емкость соединительных проводов, нелинейные эффекты на краях конденсаторов, компенсировать ошибку измерения площади обкладок и с высокой точностью определить высоту столба жидкости в сосудах. Калибровка выполняется следующим образом. Предварительно с высокой точностью измеряется площадь верхних обкладок (4, 5) конденсаторов, которые плавают на поверхности жидкости и равны S и S соответственно для первого и второго конденсатора. Нижние обкладки конденсаторов (10, 11) крепятся на дне сосудов и могут иметь большую площадь. Критичной является площадь верхних обкладок. Далее сосуды 2 и 3 закрепляют на подложке 9, которую устанавливают на плоскость с нулевым уклоном, причем сосуды сообщаются с помощью трубки 8. При отключенных обкладках измеряют паразитные емкости проводов, соединяющих конденсаторы с прибором одновременного измерения емкости 1, определяя погрешности, вносимые проводами (способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1 - для первого конденсатора и способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2 - для второго). Затем провода подключают к обкладкам конденсаторов 4, 10 и 5, 11 и в сосуды наливают определенное количество жидкости. В этом случае уровни жидкости в сосудах 6 и 7 будут одинаковыми, и емкости конденсаторов между обкладками 4, 10 (С) и обкладками 5, 11 (С), измеряемые с помощью прибора 1, будут определяться соотношениями:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

Отношение измеренных при калибровке величин емкостей C и C с учетом измеренных поправок равно отношению компенсированных площадей конденсаторов, которое будет константой при любом количестве жидкости в сосудах. Это позволяет компенсировать относительную ошибку в измерении площадей и учесть краевые эффекты конденсаторов.

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 , способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 .

В приведенных соотношениях:

C - емкость конденсатора в первом сосуде, измеренная при калибровке;

C2K - емкость конденсатора во втором сосуде, измеренная при калибровке;

S - площадь верхней обкладки конденсатора с учетом коррекции в первом сосуде;

S - площадь верхней обкладки конденсатора с учетом коррекции во втором сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора в первом сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора во втором сосуде;

k - коэффициент отношения компенсированных площадей обкладок конденсаторов.

Алгоритм компенсации площадей конденсаторов основывается на измерении отношения емкостей k и предположении равных ошибок измерения площадей: способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 S1=способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 S2. В связи с тем, что краевые эффекты уменьшают величину емкости, корректирующая ошибка измерения площади будет отрицательной. По аналогии можно определить ошибку, когда отклонения имеют разные знаки. Ошибка вычисляется из соотношения:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

Коэффициент k вычисляется из независимого соотношения емкостей:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

Корректировка измеренных значений площадей конденсаторов на величину способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 S1 позволяет более точно определить высоту столба жидкости в сосудах HK по соотношениям:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

HК - калиброванное значение высоты столба жидкости в сосуде;

S - калиброванное значение площади верхней обкладки первого конденсатора;

S - калиброванное значение площади верхней обкладки второго конденсатора;

S - измеренное значение площади верхней обкладки первого конденсатора;

S - измеренное значение площади верхней обкладки второго конденсатора;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 0 - диэлектрическая постоянная вакуума;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 - диэлектрическая проницаемость жидкости.

Калиброванная высота столба жидкости, налитой в сосуды, зависит и от величины диэлектрической проницаемости жидкости. В качестве жидкости предпочтительно выбрать воду. Она обладает высоким значением коэффициента диэлектрической проницаемости (~80), что позволяет сделать компактными размеры конденсаторов и сосудов, и безопасна в работе. График зависимости диэлектрической проницаемости воды способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 от температуры Т приведен на фиг.3. Зависимость имеет вид: способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 =0.00079T2-0.4T+88 и ошибку менее 2×10 -6 практически во всем диапазоне рабочих температур. Ошибка измерения высоты НК складывается из ошибки определения площади конденсатора, ошибки измерения емкости и ошибки значения величины диэлектрической проницаемости.

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

Калибровка помогает на два порядка повысить относительную точность определения эффективных площадей конденсаторов, которая составляет порядка 10-6. При емкости в 50 пспособ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 и точности ее измерения 10-5 пспособ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 ошибка измерения емкости составляет менее 10-7 . Ошибка определения диэлектрической проницаемости воды составляет менее 2×10-6. Суммарная ошибка определения высоты НК с учетом калибровки не превышает 2.1×10 -6.

Процесс измерения угла наклона иллюстрируется на фиг.2. При указанном на фигуре наклоне часть жидкости из сосуда 3 по соединительной трубке 8 будет перетекать в сосуд 2 до установления одинакового уровня в обоих сосудах относительно уровня горизонта. При этом высота столба жидкости 6 в сосуде 2 относительно нулевого угла наклона увеличится на величину h, а высота столба жидкости 7 в сосуде 3 уменьшится на величину h, что приведет к изменению величины емкостей конденсаторов. Емкость конденсатора в сосуде 2 (обкладки 4, 10) уменьшится и составит

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

Емкость конденсатора в сосуде 3 (обкладки 5, 11) увеличится и составит:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

Измеренные значения емкостей С1 и С2 позволяют определить величину изменения столба жидкости в сосудах h:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

Из тригонометрических соотношений следует, что угол наклона равен:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 - измеряемый угол наклона;

HК - калиброванное значение высоты столба жидкости в сосуде;

L - расстояние между сосудами, определяемое по линии между центрами их оснований;

С1 - емкость первого конденсатора при измерении наклона;

С2 - емкость второго конденсатора при измерении наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора в первом сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора во втором сосуде;

k - коэффициент отношения калиброванных площадей обкладок конденсаторов.

Знак разности емкостей (С1-способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1)-k(С2-способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2) определяет знак наклона. Ошибка в определении угла наклона включает погрешности двух сомножителей. Погрешность первого сомножителя 2HК/L складывается из ошибки измерения высоты столба жидкости при калибровке и ошибки измерения расстояния между сосудами. Для сосудов, разнесенных на расстояние 1 метр и ошибке измерения расстояния в 10 микрон, погрешность измерения расстояния между сосудами является определяющей и составляет 10-5. Погрешность второго сомножителя (С1 -kС2)/(С1+kС2) имеет величину порядка 0.5×10-6. Суммарная погрешность составляет 1.05×10-5, что отвечает поставленным требованиям и значительно превосходит точность, достигаемую другими способами. Правильность калибровки можно проверить дополнительными измерениями параметра k при нулевом угле наклона путем добавления жидкости в сосуды при постоянной температуре. Чтобы избежать процесса калибровки перед каждым измерением, сосуды покрывают крышками для предотвращения испарения жидкости. При этом необходимо обеспечить одинаковое атмосферное давление в каждом сосуде и учесть температурное расширение жидкости. Влияние температуры на изменение уровня жидкости в сосуде можно учесть с помощью коэффициентов температурного расширения используемой жидкости и материала сосудов. В зависимости от температуры будет изменяться величина столба жидкости и расстояние между сосудами. Изменение расстояния между сосудами от температуры можно уменьшить до величины (0.9-3)×10-6 выбором материала для подложки. Основное влияние оказывает температурное расширение жидкости, которые имеют коэффициент расширения порядка (1-3)×10-4, и расширение объема сосудов. С учетом коэффициентов расширения жидкости и сосудов угол наклона определяется по формуле:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270

где:

HK - калиброванное значение высоты столба жидкости в сосуде;

L - расстояние между сосудами, измеряемое по линии между центрами их оснований;

ТК - фиксированная температура при калибровке;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 ж(T) - значение коэффициента температурного расширения жидкости при температуре измерения наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 ж(TК) - значение коэффициента температурного расширения жидкости при калибровке;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 с(T) - значение коэффициента температурного расширения материала сосуда при температуре измерении наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 сК) - значение коэффициента температурного расширения материала сосуда при температуре калибровке;

С1 - емкость первого конденсатора при измерении наклона;

С2 - емкость второго конденсатора при измерении наклона;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С1 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора в первом сосуде;

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 С2 - паразитная емкость проводов для подключения конденсатора во втором сосуде;

k - коэффициент отношения калиброванных площадей обкладок конденсаторов.

Для реализации способа (элементы 1-11) известны приборы для измерения емкости [8] и температуры [9]. Точность устройства измерения емкости составляет 10-5 пспособ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 . Для одновременного измерения емкости требуются два прибора, работающие в режиме одновременного запуска измерения. Точность измерения температуры составляет 0.1°С, что отвечает требованиям. Верхние обкладки конденсаторов (4. 5) изготавливают из металлической фольги, которые свободно плавают на поверхности жидкости. Нижние обкладки конденсаторов (10, 11) могут быть интегрированы в подложку или быть изготовленными из фольги и иметь выводы на подложку. Сосуды изготавливаются из диэлектрика. Характерные размеры сосудов составляют 4×5 см2, что характеризует миниатюрность элементов для реализации способа. В зависимости от требуемого диапазона измеряемых углов выбирают расстояние между сосудами на подложке и уровень жидкости в сосудах. Предельная величина измеряемого угла составляет:

способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 max=arcsin(2HК/L)

При выбранных размерах сосуда и величине столба жидкости H К=5 см, емкость конденсатора при нулевом угле наклона составляет порядка 30 пспособ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 , а предельный угол наклона для L=20 см составит 30°. Стеклянную трубку, соединяющую сосуды, можно выбрать в каталоге компании SCHOT Tubing [10]. Малый диаметр трубки позволяет компенсировать вибрацию жидкости. Компания выпускает трубки диаметром 1-10 мм и длиной до 3 м.

Литература

1. Датчик угла наклона NB3 фирмы SEIKA Mikrosystemtechnik GmbH, www.prosensor.ru/aiticle63.html

2. Заявка на изобретение № 2003100414.

3. Патент на изобретение № 2286551.

4. Патент на изобретение № 2330241.

5. Патент на изобретение № 2455616.

6. The Compact Linear Collider, http://clic-study.org

7. способ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 CLIC design, parameters and layoutспособ определения угла наклона плоскости, патент № 2521270 , http://clic-study.org

8. Прецизионные измерители параметров LCR цифровые GW Instek LCR-816, www.gwinstek.com

9. Термометр цифровой PMTEMP1, www.chipdip.ru

10. Стеклянные трубки компании SCHOT Tubing, www.schot.com

Класс G01C9/22 с сообщающимися сосудами, находящимися в постоянном взаимоположении 

датчик угла наклона -  патент 2397443 (20.08.2010)
гидроуровень -  патент 2338156 (10.11.2008)
динамико-статический жидкостной нивелир -  патент 2303764 (27.07.2007)
ультразвуковой наклономер -  патент 2084823 (20.07.1997)
Наверх