диффузия фосфора из нитрида фосфора (p2n5)

Классы МПК:H01L21/225 диффузия из твердой фазы в твердую фазу или обратно, например легирование оксидного слоя
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ "ДАГЕСТАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ" (ДГТУ) (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2013-01-10
публикация патента:

Изобретение относится к технологии получения мощных кремниевых транзисторов, в частности к способам получения фосфоросиликатного стекла для формирования p-n-переходов. Изобретение обеспечивает получение равномерного значения поверхностной концентрации по всей поверхности кремниевой пластины и уменьшение длительности процесса. Способ диффузии фосфора включает образование фосфоросиликатного стекла на поверхности кремниевой пластины. В качестве источника диффузанта используют нитрид фосфора. Процесс проводят при расходе газов: O2=70 л/ч, азот N2=700 л/ч, при температуре 1020°C и времени проведения процесса 30 минут. Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления (RS). Поверхностное сопротивление равно RS =155±5 Ом/см.

Формула изобретения

Способ диффузии фосфора из нитрида фосфора (P2N 5), включающий процесс образования фосфоросиликатного стекла на поверхности кремниевой пластины, отличающийся тем, что в качестве источника диффузанта используется нитрид фосфора (P2 N5) при следующем соотношении компонентов: кислород - О2=70 л/ч, азот - N2=700 л/ч, при температуре процесса 1020°С, при времени диффузии фосфора 30 минут причем поверхностное сопротивление равно RS=155±5 Ом/см.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к технологии получения мощных кремниевых транзисторов, в частности к способам получения фосфоросиликатного стекла для формирования p-n переходов.

Известны способы получения p-n-переходов на основе различных диффузантов: твердый планарный источник (ТПИ); жидкие - POСl3, РСl3 и газообразные - РН3 [1].

Недостатками этих способов является неравномерное распределение концентрации на поверхности пластин и длительность процесса.

Образующиеся в процессе диффузии фосфора пленки фосфоросиликатного стекла (ФСС) являются хорошим средством геттерирования примесей в полупроводниковой технологии.

Целью изобретения является получение равномерного значения поверхностной концентрации по всей поверхности кремниевой пластины и уменьшение длительности процесса.

Поставленная цель достигается проведением технологического процесса диффузии фосфора в диффузионной печи типа на установке СДОМ-3/100 с применением источника диффузанта из нитрида фосфора (P2N5).

Сущность способа диффузии фосфора заключается в том, что кремниевые пластины загружают в кварцевую лодочку, помещенную в кварцевую трубу, находящуюся внутри нагретой диффузионной печи СДОМ-3/100. В газ-носитель добавляют небольшое количество кислорода до 1%, что в свою очередь оказывает влияние на поверхностную концентрацию атомов фосфора в кремнии.

В газ-носитель добавляют небольшое количество кислорода до 1%, через трубу пропускается поток газа носителя - водород (H2), а нитрид фосфора (P2N5) помещают в зону источника и нагревают до температуры 600°C, при котором происходит испарение источника. Процесс проводят при следующем расходе газов: O2=70 л/ч, азот - N2=700 л/ч.

Температура процесса 1020°C и время проведения процесса равно 30 минут. Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления (RS). Поверхностное сопротивление равно - Rs =155±5 Ом/см.

Сущность изобретения подтверждается следующими примерами:

ПРИМЕР 1: Технологический процесс диффузии фосфора проводят в диффузионной печи типа на установке СДОМ-3/100. В газ-носитель добавляют небольшое количество кислорода до 1%, что в свою очередь оказывает влияние на поверхностную концентрацию атомов фосфора в кремнии.

Кремниевые пластины загружают в кварцевую лодочку, помещенную в кварцевую трубу диффузионной печи СДОМ-3/100. В качестве диффузанта используется нитрид фосфора (P2N5).

Процесс проводят при следующем расходе газов: O2=50 л/ч, азот - N2=500 л/ч. Температура процесса 1100°C и время проведения процесса загонки - 35 минут.

Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления (RS). Поверхностное сопротивление - RS=175±5 Ом/см.

ПРИМЕР 2: Способ осуществляют аналогично условию примера 1.

Технологический процесс проводят при следующем расходе газов:

O2=60 л/ч, азот - N2=600 л/ч. Температура процесса 1040°C и время проведения процесса загонки - 30 минут.

Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления (RS). Поверхностное сопротивление - RS=165±5 Ом/см.

ПРИМЕР 3: Способ осуществляют аналогично условию примера 1.

Технологический процесс проводят при следующем расходе газов: O2=70 л/ч, азот - N 2=700 л/ч. Температура процесса 1020°C и время проведения процесса загонки -30 минут.

Контроль процесса проводят путем измерения поверхностного сопротивления (R S). Поверхностное сопротивление - RS=155±5 Ом/см.

Таким образом, предлагаемый способ по сравнению с прототипами позволяет проводить процесс диффузии фосфора с применением твердого источника диффузанта-фосфорный ангидрид (P2O5) при температуре 1020°C и времени - 30 минут и получить RS=155±5 Ом/см, при котором обеспечивается уменьшение разброса значений поверхностной концентрации по кремниевой пластине, снижение длительности и температуры процесса.

Литература

1. Курносов А.И. Материалы для полупроводниковых приборов и интегральных схем. - М.: Высшая школа. 1980. 327 с.

Класс H01L21/225 диффузия из твердой фазы в твердую фазу или обратно, например легирование оксидного слоя

способ нанесения борных и фосфорных легирующих композиций для изготовления солнечных фотоэлектрических элементов (сфэ) -  патент 2444810 (10.03.2012)
способ диффузии фосфора из фосфорно-силикатных пленок -  патент 2371807 (27.10.2009)
способ диффузии бора -  патент 2361316 (10.07.2009)
способ диффузии фосфора из твердого планарного источника -  патент 2359355 (20.06.2009)
способ получения электропроводящего полианилинового слоя -  патент 2315066 (20.01.2008)
способ изготовления p-n-перехода, легированного элементами или изотопами с аномально высоким сечением поглощения нейтронов -  патент 2156009 (10.09.2000)
диффузант для легирования полупроводников типа a3b5 -  патент 2050031 (10.12.1995)
установка легирования полупроводников в коронном разряде -  патент 2017264 (30.07.1994)
Наверх