рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов

Классы МПК:G01N23/223 облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции
Патентообладатель(и):Никифоров Алексей Никифорович (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2013-05-16
публикация патента:

Использование: для рентгеноспектрального анализа негомогенных материалов. Сущность изобретения заключается в том, что определяют интенсивность IA аналитической линии определяемого элемента А в анализируемом материале, рассчитывают интенсивности IA2I в образцах-смесях из анализируемого материала и образца сравнения с заданным содержанием CBji определяемого элемента А и сравнивают количественно интенсивности IA и IA2I, обеспечивая оценку содержания СA определяемого элемента в анализируемом материале, при этом оценку содержания определяемого элемента в анализируемом материале производят в порядке определения изначально интенсивности IA0 и содержания СA0 определяемого элемента в образце сравнения, а также значимых коэффициентов влияния «мешающих» элементов, содержащихся в анализируемом материале, на интенсивность определяемого элемента в материале, определения экспериментально интенсивностей аналитических линий «мешающих» элементов, содержащихся в анализируемом материале и образце сравнения, преобразования интенсивностей IA и IA0 определяемого элемента А в анализируемом материале и образце сравнения соответственно путем учета интенсивностей и значимых коэффициентов влияния «мешающих» элементов и количественного сравнения преобразованных интенсивностей IAj и IA2I в анализируемом материале и расчетных образцах-смесях соответственно. Технический результат: повышение точности оценки содержания элемента. 5 табл., 4 ил. рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

Формула изобретения

Рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, заключающийся в определении интенсивности IA аналитической линии определяемого элемента А в анализируемом материале и расчетных интенсивностей IA2I в образцах-смесях из анализируемого материала и образца сравнения с заданным содержанием CBji определяемого элемента А и количественном сравнении интенсивностей IA и IA2I, обеспечивающем оценку содержания СA определяемого элемента в анализируемом материале, отличающийся тем, что оценку содержания определяемого элемента в анализируемом материале производят в порядке определения изначально интенсивности IA0 и содержания СA0 определяемого элемента в образце сравнения, а также значимых коэффициентов влияния «мешаюших» элементов, содержащихся в анализируемом материале, на интенсивность определяемого элемента в материале, определения экспериментально интенсивностей аналитических линий «мешающих» элементов, содержащихся в анализируемом материале и образце сравнения, преобразования интенсивностей IA и IA0 определяемого элемента А в анализируемом материале и образце сравнения соответственно путем учета интенсивностей и значимых коэффициентов влияния «мешающих» элементов, и количественного сравнения преобразованных интенсивностей I Aj и IA2I в анализируемом материале и расчетных образцах-смесях соответственно.

Описание изобретения к патенту

Разработанный способ рентгеноспектрального анализа (далее-РСА) материалов, содержащих взаимовлияющие «мешающие» элементы, может быть применен в производстве керамических изделий, а также в минералогии. Известный способ РСА материалов, патент № 2054660 - прототип, основанный на использовании для оценки содержания элемента в материале двух зависимостей интенсивности аналитической линии элемента от его содержания: базовой, составляемой с помощью калиброванных образцов, и вспомогательной, составляемой расчетным путем и имеющей общее решение с базовой.

Указанный способ оценки содержания элемента в материале, снимающий вырождение интенсивности определяемого элемента, вызываемое влиянием дисперсного (гранулометрического) состава материала, основан на количественном сравнении интенсивности элемента в материале с интенсивностями в образцах-смесях, определяемыми расчетным путем без их экспериментального составления.

Однако указанный способ на снимает вырождение интенсивности определяемого элемента, вызываемое влиянием «мешающих» элементов, содержащихся в анализируемом материале, и снижающее точность оценки содержания элемента.

С целью устранения этого недостатка указанного способа оценку содержания элемента производят по преобразованной интенсивности определяемого элемента в соответствии с ее зависимостью от значимых коэффициентов влияния «мешающих» элементов, содержащихся в анализируемом материале, и их интенсивностей.

Далее рассматривают преобразование интенсивности IA определяемого элемента А с учетом значимых коэффициентов влияния «мешающих « элементов. Для этого изначально определяют значимые коэффициенты рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 i влияния «мешающих « элементов на интенсивность IA определяемого элемента с помощью группы (выборки) образцов из анализируемого материала, содержащего «мешающие « элементы, по формуле (1)

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

где ai, bi - постоянные величины для i-го определяемого элемента; n=1, 2, 3рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 ;

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 i - значимые коэффициенты влияния «мешающих» элементов материала;

CAi1 - стартовое содержание определяемого элемента, определяемое по формуле (1.1);

yi - интенсивность i-го «мешающего» элемента в анализируемой пробе или образце сравнения

CAj1 = IA CA0/IA0, (1.1)

где IA0 и CA0 - интенсивность линии определяемого элемента и его содержание в образце сравнения соответственно;

i - порядковый номер преобразования интенсивности определяемого элемента.

При выборе образца сравнения предпочтение отдают пробе из анализируемого материала с интенсивностью определяемого элемента IA0 , большей интенсивности определяемого элемента IA в анализируемой пробе; при этом темп приближения к содержанию CA определяемого элемента в пробе в ходе его поиска тем выше, чем ближе IA0 к IA; при значительном отдалении IA0 от IA преобразование интенсивности IA определяемого элемента производят несколько раз.

Таким образом, исходными данными для оценки содержания определяемого элемента в анализируемом материале являются: параметры определяемого элемента в анализируемой пробе - IA и yAi, а также параметры определяемого элемента в образце сравнения - IA0, CA0 и yA0i со значимыми коэффициентами рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 i влияния «мешающих» элементов.

Далее рассматривают оценку содержания определяемого элемента методом количественного сравнения преобразованной интенсивности IAj в анализируемой пробе с интенсивностями I A2i определяемого элемента в образцах-смесях, составляемых расчетным путем, с использованием регрессии (2) или (3); при этом регрессия (2) обеспечивает более высокий темп приближения к искомому содержанию определяемого элемента в анализируемой пробе, а регрессия (3) - поступательное приближение к CA умеренным темпом в ходе поиска содержания определяемого элемента.

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 ,

где рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 ,

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 ,

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

CAI - значение текущего содержания определяемого элемента в i-й точке интервала поиска содержания элемента,

IA2I - интенсивность элемента в образце-смеси в i-ой точке интервала поиска содержания элемента;

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 - доля анализируемого материала в расчетных смесях из анализируемого материала и образца сравнения;

b - постоянная величина, опредееляемая по (2, 6);

CMI - значение i-й точки интервала поиска содержания определяемого элемента.

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

где рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 - постоянная величина, выбираемая из интервала ±(10 -4-10-5); при изменении рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 в сторону 10-5 число дробных разрядов численных значений CAi, регрессий (2) и (3) следует увеличивать.

рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

Параметры IAj, b и C Bji задает пользователь, обеспечивающий экспрессность анализа материала с помощью компьютера; при этом рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 выбирается из интервале 0.9<рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 <1 Рассматривают оценку содержания алюминия в образце керамического сырья с исходными данными: IA=1,10355 ед., yFE=0,14242ед., yk=0,76439 ед. y CA=5,84509 ед.;

Исходные данные образца сравнения: IA0=1, 2371 ед., CA0=24,57%, yFE=0,424 ед., Yk=0,8603 ед.,yCA =0,7955 ед.

Значимые коэффициенты влияния «мешающих» элементов на интенсивность алюминия в керамическом сырье, железа, калия и кальция: рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 1=-0.04, рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 2=-0.026 и рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 3=0.009 соответственно, и при ai=-0,75 bi=20,33 формулы (1)

Определяют по (1) значения преобразованной интенсивности алюминия: при стартовом содержании CAL, равном 21,92%, - в анализируемой пробе - IA1, при CA0 - в образце сравнения - IA01

IA1=1.1265344 ед., IA01=1,19563 ед.

Корректируют по (1,1) значение содержания алюминия в анализируемой пробе

CAL1=CB11=IA1 CA0 /IA01=23, 2%

Откорректированное значение содержания алюминия приравнивают содержанию алюминия в образце сравнения CB11 в первом приближении количественного сравнения интенсивности IA1 алюминия с расчетными интенсивностями IA2I образцов-смесей.

Приводят общие исходные данные для преобразованной интенсивности алюминия в анализируемой пробе и образце сравнения, необходимые для расчета значений CA по регрессиям (2) и (3)

IA1=1.1265344, CB11=23.2%, b=0.04866239316, b1=0.04876263045. рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 =0.99. рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 =10-4, µ=-0,00010024

По регрессии (2) или (3) составляют таблицу-клин для интервала поиска содержания элемента в первом приближении к CA в соответствии со следующими условиями: при IA01, большем чем I A1, поиск содержания элемента производят в точках интервала, больших чем CB11; при IA0j, меньшем чем IAj, - в точках интервала, меньших чем CBj1 ; интервал поиска содержания элемента в первом приближении разбивают на участки с шагом h, равным 0.4% от CB1; при следующих приближениях к CA шаг h постепенно уменьшают; шаг h интервала поиска содержания алюминия при исходных данных, приведенных выше, равен 0.1%.

В таблице 1 приводят данные поиска содержания алюминия в образце в первом приближении, выполненные с использованием регрессии (2.)

По критериям K jI таблицы - клин строят выходные кривые; определяют экстремальные (крайние) точки, по абсциссам которых определяют содержания элемента в материале в первом приближении к CA.

На фиг.1 приведены выходные кривые, построенные по критериям K3i, и K5i, экстремумам которых соответствует значение CA1, равное 23.9%. Этой точке табл.1 соответствует текущее содержание алюминия CAI, равное 23.92%. При CB12, равном 23.92%, составляют таблицу - клин во втором приближении к CA с использованием регрессии (3). Переход на регрессию (3) вызван тем, что регрессия (2) обусловила очень высокий темп поиска содержания алюминия. При этом параметр рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 регрессии не подлежит изменению, т.к последнее может привести к выходным кривым без экстремума. На фиг.2 приведена выходная кривая второго приближения к CAl алюминия в анализируемой пробе с экстремумом в точке интервала поиска содержания C AL, которой соответствует текущее содержание CA , равное 24.055%. При CB13, равном 24.055%, составляют таблицу - клин третьего приближения к CA, выходная кривая которой с экстремумом - минимумом m в точке в 24.%, представлена на фиг.3. По указанной схеме составляют таблицы последующих приближений к CA до получения, практически, постоянного значения содержания алюминия. В табл.2 приведены оценки содержания алюминия в керамическом сырье методом количественного сравнения преобразованной интенсивности IA1 определяемого элемента с интенсивностями IA2i в образцах-смесях.

С целью иллюстрации в табл.2.1 приведены результаты оценки содержания алюминия в образце керамического сырья при втором контрольном преобразовании интенсивности определяемого элемента IA. Преобразование IA по (1) производилось при CAI, равном 24.0475%, и IA2 равно 1.2394536 ед/

Таблица 2
Оценка содержания AL в i-ом приближении к CA?% Результат химанализа CA ,%
i 23,92924.055 24.024.05 24.047524.045 24.03
б, % -0.420.14 -0.1250.083 0.0730.062 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
Таблица 2.1
Содержание CAL ,%, в i-ом приближении к CA при втором преобразовании IA
i 24.512 24.26524.111 24.081724.0617 24.0512
б, % 2 0.980.34 0.2150.132 0.088

Таблица 1
Данные поиска содержания алюминия в керамическом сырье в первом приближении к CA при рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 =0.99 и h=0,1%
CMI CAI рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
24,4 24.47390484850.739048485 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -1.1243833 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
24.3 24.36266101550.626610155 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 1.1918129 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -1.01020201 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.319947 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
24,2 24.25255899540.5255899 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 1.1098182 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 0.10689
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0,89922019 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.309258 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
24.1 24,14356679350.435667935 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 1.0788924 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -14.11487
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.79133095 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -1.720745 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
24.0 24.0356534840.35653484 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 0.9068179 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 57.10268
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.70064916 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 3.989523рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
23.9 23.92864699240.286469924 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 1.3057702 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -85.38924
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0,57007214 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -4.549401 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
23.8 23.8229462710,22946271 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 0.8508301 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 57.08695
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.48498913 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 1.159294рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
23.7 23.71809637970.180963797 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 0.9667595 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -14,12542
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.38831318 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.253248 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
23.6 23,61421324790.142132479 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 0.9414347 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 0.05057
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.29416971 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 -0.248101 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
23.5 23.51127155080,11275508 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 0.9166156 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 0.20250915 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559
23.4 23.40924646930.092464693 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559

Решающее значение при выборе оптимального темпа приближения к содержанию определяемого элемента имеют данные о зависимости оценки CA в первом приближении от параметра рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 регрессий (2) и (3), приведенные на фиг.4. Кривая 1 представляет зависимость оценки CA алюминия в керамическом сырье в первом приближении от параметра рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 регрессии (2), а кривая 2 - от параметра рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 регрессии (3).

В обоснование разработанного способа оценки содержания элемента в материале, содержащем взаимовлияющие «мешающие» элементы, определены содержания алюминия и кремния в керамическом сырье, приведенные в табл.3. В таблице также приведены сравнительные данные оценок содержаний AL и Si, полученные без учета интенсивностей и значимых коэффициентов влияния «мешающих « элементов. Экспериментальным материалом для обоснования предлагаемого способа оценки содержания элементов в негомогенном материале послужили данные о составе керамического сырья, содержащего взаимовлияющие «мешающие» элементы, приведенные в табл.5.

Таблица 3
№ пробыЭлемент Оценка содержания элемента, CA, % Данные химанализа, CA, % б,%
С учетом yi и рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 iБез учета yi и рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 iС yi, и рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 i,Без yi, и рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 i
2 AL11.31511,29 11.32-0.044 -0.265
33 AL18.17518,13 18.18-0.03 -0.275
18 AL19.8119,77 19.83-0.1 -.3
62 AL15.55215,52 15.57-0.12 -0.385
96 AL24.04524,09 24.030.062 0.25
62 Si65.2565,1 65.29-0.06 -0.29
34 Si60.05559,9 60.12-0.11 -0.37
51 Si70.5570,5 70.61- 0.085 -0,16
66 Si63.2363,39 63.28-0.08 0.17
33 Si60.45560,4 60.51-0.09 -0,18
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 |б| 0.079 0.26

В табл.4 приводят значения значимых коэффициентов рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 i влияния «мешающих» элементов на интенсивности аналитических линий алюминия и кремния в керамическом сырье

Таблица 4
Определяемый элементFe рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 i kCa рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 i формулы (1)
AL-0,04-0.026 0.0090.052
Si-0.017 -0.0530.0106

Таблица 5
Интенсивности аналитических линий элементов образцов керамического сырья
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов, патент № 2524559 Интенсивность Y A (IA/IA'ЭТ) Данные химанализа CA,%
№ пробыAL SiFeK СаAL SI
20.6060 1.33230.1202 0.52130.6572 AAL11.3280.90
51.25700.9987 0.19920.5932 0,955322,10 63.41
12 0.89450.89510.8484 0.92994.0099 18.5959.05
180.98990.9796 0.94140.9970 1.007319.83 62.06
33 0.92000.97801.7500 0.78860.6867 18.1860.51
340.90670.9680 1.90960.7738 0.682718.68 60.12
51 0.865861.14638 0.501080.72108 0.7590916.76 70.61
62 0.776861.02423 1.908400.68494 0.7778115.57 65.29
66 0.801780.96665 0.465510.72904 5.5301016.88 63.28
91 1.360980.78029 1.922080.70017 0.717528.13 50.43
96 1.103550.80830 0.142420.76439 5.8450924.03 54.48
41 1.23710.95720.4240 0.86030.7955 24.5759.45

Приведенные оценки содержаний алюминия и кремния в керамическом сырье получены, практически, с достоверностью на уровне химического анализа и близкой к уроню ошибок квантометрирования проб, и разработанный способ РСА обеспечивает высокоточные оценки содержания элементов в системе управления качеством керамической продукции на новом технологическом уровне

Класс G01N23/223 облучением образца рентгеновскими лучами и измерением рентгенофлуоресценции

способ изготовления эталонов для рентгенофлуоресцентного анализа состава тонких пленок малокомпонентных твердых растворов и сплавов -  патент 2523757 (20.07.2014)
способ измерения весовой концентрации глины в образце пористого материала -  патент 2507510 (20.02.2014)
рентгеновский анализатор -  патент 2504756 (20.01.2014)
устройство и способ для рентгеновского флуоресцентного анализа образца минерала -  патент 2499252 (20.11.2013)
энергодисперсионный поляризационный рентгеновский спектрометр -  патент 2494382 (27.09.2013)
поляризационный спектрометр -  патент 2494381 (27.09.2013)
поляризационный рентгеновский спектрометр -  патент 2494380 (27.09.2013)
способ поузловой трибодиагностики авиационной техники по параметрам частиц изнашивания -  патент 2491536 (27.08.2013)
устройство для рентгенофлуоресцентного анализа вещества -  патент 2490617 (20.08.2013)
устройство для рентгенофлуоресцентного анализа вещества -  патент 2489708 (10.08.2013)
Наверх